ISO 10110-19:2015 光学およびフォトニクス—光学要素およびシステムの図面の作成—パート19:表面およびコンポーネントの一般的な説明 | ページ 2

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

序文

ISO (国際標準化機構) は、各国の標準化団体 (ISO メンバー団体) の世界的な連合です。国際規格の作成作業は、通常、ISO 技術委員会を通じて行われます。技術委員会が設立された主題に関心のある各会員団体は、その委員会に代表される権利を有します。 ISOと連携して、政府および非政府の国際機関もこの作業に参加しています。 ISO は、電気技術の標準化に関するすべての問題について、国際電気標準会議 (IEC) と緊密に協力しています。

この文書の開発に使用された手順と、今後の維持のために意図された手順は、ISO/IEC 指令で説明されています。 1. 特に、さまざまなタイプの ISO 文書に必要なさまざまな承認基準に注意する必要があります。この文書は、ISO/IEC 指令の編集規則に従って作成されました。 2 ( www.iso.org/directives を参照)

このドキュメントの要素の一部が特許権の対象となる可能性があることに注意してください。 ISO は、そのような特許権の一部または全部を特定する責任を負わないものとします。ドキュメントの開発中に特定された特許権の詳細は、序文および/または受信した特許宣言の ISO リストに記載されます ( www.iso.org/patents を参照)

このドキュメントで使用されている商号は、ユーザーの便宜のために提供された情報であり、保証を構成するものではありません。

適合性評価に関連する ISO 固有の用語および表現の意味に関する説明、および技術的貿易障壁 (TBT) における WTO 原則への ISO の準拠に関する情報については、次の URL を参照して ください 。

この文書を担当する委員会は、ISO/TC 172, 光学およびフォトニクス、小委員会 SC 1, 基本規格です。

ISO 10110 は、次の部分で構成されており、一般的なタイトルは「光学およびフォトニクス — 光学要素およびシステムの図面の作成」の下にあります。

  • Part 1: 一般
  • Part 2: 材料の欠陥 — 応力複屈折
  • Part 3: 素材の欠陥 — 気泡と内包物
  • Part 4: 材料の欠陥 — 不均一性と脈理
  • Part 5: 表面形状公差
  • Part 6: センタリング公差
  • Part 7: 表面の欠陥の公差
  • Part 8: 表面の質感。粗さとうねり
  • Part 9:表面処理とコーティング
  • Part 10: 光学素子と接合アセンブリのデータを表す表
  • Part 11: 非許容データ
  • Part 12: 非球面
  • Part 14:波面変形許容値
  • Part 17:レーザー照射損傷閾値
  • Part 19: 表面とコンポーネントの一般的な説明

1 スコープ

ISO 10110 は、製造および検査に使用される技術図面における光学要素およびシステムの設計および機能要件の提示を規定しています。

ISO 10110 のこの部分は、表面とコンポーネントを記述する一般的な方法を提供します。 ISO 10110 のこの部分は、連続面と不連続面に適用されます。回折面、フレネル面、眼鏡ガラス、マイクロ光学面には適用されません。

ISO 10110 のこの部分は、NURBS, スプライン、点群などを使用する場合など、必要に応じて球面または回転対称面を含め、あらゆる一般的な面またはコンポーネントに適用されます。

ISO 10110 のこの部分は、仕様への準拠をテストする方法を指定していません。

2 参考文献

以下のドキュメントの全体または一部は、このドキュメントで規範的に参照されており、その適用に不可欠です。日付のない参照については、参照文書の最新版 (修正を含む) が適用されます。

  • ISO 1101, 幾何学的製品仕様 (GPS) — 幾何公差 — 形状、方向、位置、振れの公差
  • ISO 5459, 幾何学的製品仕様 (GPS) — 幾何公差 — データムおよびデータム システム
  • ISO 10110-5, 光学およびフォトニクス — 光学要素およびシステムの図面の作成 — Part 5: 表面形状公差
  • ISO 10110-6, 光学およびフォトニクス — 光学要素およびシステムの図面の準備 — Part 6: センタリング公差
  • ISO 10110-7, 光学およびフォトニクス — 光学素子およびシステムの図面の作成 — 7: 表面の欠陥の許容範囲
  • ISO 10110-8, 光学およびフォトニクス — 光学素子およびシステムの図面の作成 — 8: 表面テクスチャ;粗さとうねり
  • ISO 10110-14, 光学およびフォトニクス — 光学素子およびシステムの図面の作成 — 14:波面変形許容値

3 用語と定義

このドキュメントでは、次の用語と定義が適用されます。

3.1

一般的な表面

対称性および/または形状の制約がないものを含む任意の表面

注記 1一般面は,連続面でも不連続面でもあり得る。ローカルの規則的な幾何学的プロパティを含めることができます。原則として、ISO 10110 のこの部分では、任意の面 (球を含む円錐曲線など) を一般面として記述することができます。 ISO 10110-12 は、より直接的なアプローチである形式化された特定の数学的アプローチを提供します。所定の要件を満たす最も簡単な説明を使用する必要があります。

3.2

基準軸

光学設計者によって与えられた理論上の軸で、表面の対称性に依存せず、通常は主関数の光路の中心を表します。

注記 1:公差の影響を最小限に抑え、生産の柔軟性を高める必要があります。基準軸は変更できず、一度定義されます。基準軸の位置と方向は、一般的な表面/コンポーネントで、および/または一般的な表面/コンポーネント上の測定可能な基準によって、または公称表面の近似によって定義されます。

3.3

転送フォーマット

ソフトウェアシステムと加工機および測定機の間でデータを転送するためのファイル形式

例:

典型的な転送形式は、XML と STEP です。

参考文献

[1]Born M., Wolf E., Principles of Optics, Pergamon press, Elmsford, New York.
[2]Forbes GW, フリーフォーム オプティクスの形状の特徴付け。オプトエクスプレス。 2012 年 1 月 30 日 20 日 (3) pp. 2483-249 DOI:10.1364/OE.20.002483
[3]Piegl L, Tiller W NURBS ブック。 XIV, 第 2 版、1997 年、646 ページ。
[4]IEC 62050:2005, VHDL Register Transfer Level (RTL) 合成 (IEEE 1076.6:2004)
[5]初期グラフィック交換仕様 IGES, 5.3 ANS US PRO/IPO-100-1996 ANSI 1996 年 9 月 23 日承認
[6]ISO 10110-1, 光学およびフォトニクス — 光学素子およびシステムの図面の作成 — 1: 一般
[7]ISO 10110-2, 光学および光学機器 — 光学要素およびシステムの図面の作成 — 2: 材料の欠陥 — 応力複屈折
[8]ISO 10110-3, 光学および光学機器 — 光学要素およびシステムの図面の作成 — 3: 素材の欠陥 — 気泡や内包物
[9]ISO 10110-4, 光学および光学機器 — 光学要素およびシステムの図面の作成 — 4: 材料の欠陥 - 不均一性と脈理
[10]ISO 10110-9, 光学および光学機器 — 光学要素およびシステムの図面の作成 — 9: 表面処理およびコーティング
[11]ISO 10110-10, 光学およびフォトニクス — 光学素子およびシステムの図面の作成 — 10: 光学要素と接合アセンブリのデータを表す表
[12]ISO 10110-11, 光学およびフォトニクス — 光学素子およびシステムの図面の作成 — 11: 非許容データ
[13]ISO 10110-12, 光学およびフォトニクス — 光学素子およびシステムの図面の作成 — 12: 非球面
[14]ISO 10110-17, 光学およびフォトニクス — 光学素子およびシステムの図面の作成 — 17:レーザー照射ダメージ閾値
[15]ISO 10303, 産業オートメーション システムと統合 — 製品データの表現と交換
[16]ISO 13584-42, 産業オートメーション システムと統合 — パーツ ライブラリ — 42: 記述方法論: パーツファミリーを構成するための方法論
[17]ISO 25178, 幾何学的製品仕様 (GPS) — 表面テクスチャ: 面積
[18]ISO 25297-1, 光学とフォトニクス — 光データの電子交換 — 1: NODIF情報モデル
[19]ISO/TR 14999-2:2005, 光学およびフォトニクス — 光学素子および光学システムの干渉測定 — 2:測定・評価技術
[20]Malacara D オプティカル ショップ テスト。ワイリー、第 3 版、2007 年

Foreword

ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.

The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are described in the ISO/IEC Directives, 1. In particular the different approval criteria needed for the different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the editorial rules of the ISO/IEC Directives, 2 (see www.iso.org/directives ).

Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or on the ISO list of patent declarations received (see www.iso.org/patents ).

Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not constitute an endorsement.

For an explanation on the meaning of ISO specific terms and expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the WTO principles in the Technical Barriers to Trade (TBT) see the following URL: Foreword - Supplementary information

The committee responsible for this document is ISO/TC 172, Optics and photonics, Subcommittee SC 1, Fundamental standards.

ISO 10110 consists of the following parts, under the general title Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems:

  • Part 1: General
  • Part 2: Material imperfections — Stress birefringence
  • Part 3: Material imperfections — Bubbles and inclusions
  • Part 4: Material imperfections — Inhomogeneity and striae
  • Part 5: Surface form tolerances
  • Part 6: Centring tolerances
  • Part 7: Surface imperfection tolerances
  • Part 8: Surface texture; roughness and waviness
  • Part 9: Surface treatment and coating
  • Part 10: Table representing data of optical elements and cemented assemblies
  • Part 11: Non-toleranced data
  • Part 12: Aspheric surfaces
  • Part 14: Wavefront deformation tolerance
  • Part 17: Laser irradiation damage threshold
  • Part 19: General description of surfaces and components

1 Scope

ISO 10110 specifies the presentation of design and functional requirements for optical elements and systems in technical drawings used for manufacture and inspection.

This part of ISO 10110 provides a general method of describing surfaces and components. This part of ISO 10110 applies to continuous and discontinuous surfaces. It does not apply to diffractive surfaces, Fresnel surfaces, ophthalmic glasses, and micro-optical surfaces.

This part of ISO 10110 applies to any general surface or component, even including spherical or rotationally symmetric surfaces if it is necessary, i.e. when NURBS, splines, point clouds, etc. are used.

This part of ISO 10110 does not specify the method by which compliance with the specifications is to be tested.

2 Normative references

The following documents, in whole or in part, are normatively referenced in this document and are indispensable for its application. For undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.

  • ISO 1101, Geometrical Product Specifications (GPS) — Geometrical tolerancing — Tolerances of form, orientation, location and run-out
  • ISO 5459, Geometrical product specifications (GPS) — Geometrical tolerancing — Datums and datum systems
  • ISO 10110-5, Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems —Part 5: Surface form tolerances
  • ISO 10110-6, Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems —Part 6: Centring tolerances
  • ISO 10110-7, Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — 7: Surface imperfection tolerances
  • ISO 10110-8, Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — 8: Surface texture; roughness and waviness
  • ISO 10110-14, Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — 14: Wavefront deformation tolerance

3 Terms and definitions

For the purposes of this document, the following terms and definitions apply.

3.1

general surface

any surface including those free from constraints of symmetry and/or form

Note 1 to entry: A general surface can be both a continuous as well as a discontinuous surface. It can contain local regular geometrical properties. In principle, any surface (e.g. conic sections, including the sphere) can be described by this part of ISO 10110 as a general surface. ISO 10110-12 offers a formalized and specific mathematical approach that is a more direct approach. The simplest description that fulfils the given requirements shall be used.

3.2

reference axis

theoretical axis given by the optical designer which does not depend on symmetries of the surface and which usually represents the centre of the optical path for the main function

Note 1 to entry: It should ensure a minimum of tolerance influence and enhance the flexibility for production. The reference axis cannot be changed and is defined once. The position and orientation of the reference axis is defined by measurable references at and/or on the general surface/component or by an approximation of the nominal surface.

3.3

transport formats

file formats for transfer of data between software systems and processing and measuring machines

EXAMPLE:

Typical transport formats are XML and STEP.

Bibliography

[1]Born M., Wolf E., Principles of Optics, Pergamon press, Elmsford, New York.
[2]Forbes G.W., Characterizing the Shape of Freeform Optics. Opt. Express. 2012 January 30, 20 (3) pp. 2483–2499. DOI:10.1364/OE.20.002483
[3]Piegl L., Tiller W., The NURBS Book. XIV, Second Edition, 1997, 646 p.
[4]IEC 62050:2005, VHDL Register Transfer Level (RTL) synthesis (IEEE 1076.6:2004)
[5]Initial Graphics Exchange Specification IGES, 5.3 ANS US PRO/IPO-100-1996 ANSI Approved September 23, 1996
[6]ISO 10110-1, Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — 1: General
[7]ISO 10110-2, Optics and optical instruments — Preparation of drawings for optical elements and systems — 2: Material imperfections — Stress birefringence
[8]ISO 10110-3, Optics and optical instruments — Preparation of drawings for optical elements and systems — 3: Material imperfections — Bubbles and inclusions
[9]ISO 10110-4, Optics and optical instruments — Preparation of drawings for optical elements and systems — 4: Material imperfections — Inhomogeneity and striae
[10]ISO 10110-9, Optics and optical instruments — Preparation of drawings for optical elements and systems — 9: Surface treatment and coating
[11]ISO 10110-10, Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — 10: Table representing data of optical elements and cemented assemblies
[12]ISO 10110-11, Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — 11: Non-toleranced data
[13]ISO 10110-12, Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — 12: Aspheric surfaces
[14]ISO 10110-17, Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — 17: Laser irradiation damage threshold
[15]ISO 10303, Industrial automation systems and integration — Product data representation and exchange
[16]ISO 13584-42, Industrial automation systems and integration — Parts library — 42: Description methodology: Methodology for structuring parts families
[17]ISO 25178, Geometrical product specification (GPS) — Surface texture: Areal
[18]ISO 25297-1, Optics and photonics — Electronic exchange of optical data — 1: NODIF information model
[19]ISO/TR 14999-2:2005, Optics and photonics — Interferometric measurement of optical elements and optical systems — 2: Measurement and evaluation techniques
[20]Malacara D., Optical Shop Testing. Wiley, Third Edition, 2007