ISO 25297-1:2012 光学とフォトニクス—光学データの電子交換—パート1：NODIF情報モデル

ISO25297-1:2012の規格概要

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Optics and photonics — Electronic exchange of optical data — Part 1: NODIF information model

ISO 25297のこの部分は、光学システムおよび部品の情報要件を指定し、CADおよびCAEを備えたコンピューターを使用する場合に、これらの光学システムおよび部品の光学設計、光学評価、および分析のプロセスをサポートする情報モデルを提供します、注一般に、光学システムは、光学機能を実行する光学製品としての光学ユニットを意味し、光学要素とこれらの要素が取り付けられているバレルで構成されています、 ISO 25297のこの部分では、光学システムは光学部品と光学アセンブリの集合体です、たとえば、ビューファインダーシステムやリーフシャッターカメラの撮影レンズシステムです、この情報モデルは、STEPに基づく光学設計仕様に固有のデータをISO10303に追加します、 （すべての部品）、追加情報は、製品仕様情報、光設計情報、光評価情報、および分析情報です、ISO25297のこの部分は、一般にニュートラル光データ交換フォーマット (NODIF) と呼ばれます、以下は範囲内です、 — 製品仕様に関する情報、光設計、光学評価および分析; — カメラやコピー機などのイメージングシステムの光学システムおよび部品、望遠鏡および顕微鏡用の表示システム、およびプロジェクターやピックアップレンズなどの他の光学システム; — 以下を含む複数構成の光学システムズームレンズと内部集束システム; — 光線経路シーケンスと光学表面配置を含む光学経路の定義; — 接合部品と動的部品を含む光学アセンブリ; — 光学表面形状の数学的記述; — 回折表面の記述; — 機械加工研磨、成形、複製などのプロセス指定; — 光学材料固有材料名、ロット番号、測定された屈折率などのイオン; — 各光学部品の形状と材料特性の光学公差; — 分離、平行度、変位、傾斜などのアセンブリ公差 — 有効直径、コーティング、保護面処理; — 焦点長、後焦点長、主点、f数などの近軸評価; — 幾何学的光線追跡結果（つまり、各表面の光線方向と交差点、および光路長）などの光線追跡評価、収差および波面収差;-幾何学的および/または物理的光学に基づくOTF評価;-検出面または投影面上の輝度分布;-スペクトル特性;-ゴースト画像評価;-光学面の変形および材料特性値の変化に伴う熱分析; — 光学表面の変形と材料特性の値の変化に伴う応力分析; — ベールのグレアと表面の欠陥、f以下は、ISO 25297のこの部分の範囲外です、 — 機械設計、電子設計、および組み込みソフトウェア設計; — ビームスプリッターや可変倍率コンバーターなど、光路が変更可能な光学システム; — 機械部品の許容誤差; — 部品光の波長の10倍未満の直径を持つ; — 誘電率σ、電気誘電率ε、および磁気誘電率μが材料と光の間の相互作用の影響を受けない材料で作られた部品; — 製品の設計、評価、分析; — 光通信用の光導波路; — 市場調査と顧客分析に関する製品計画情報; — 設計、評価、分析に関係のない製品定義と構成制御情報; — 熱と応力を除く分析情報分析、例えば振動分析; — 試験生産、生産計画を含む生産プロセスに関する情報および生産管理、および出荷や修理などの生産後のプロセス; — 眼科用光学部品、

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。