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ISO 11952:2019 表面化学分析—走査型プローブ顕微鏡法— SPMを使用した幾何学的量の決定：測定システムのキャリブレーション

ISO 11952:2019の概要

ISO11952:2019の規格概要

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Surface chemical analysis — Scanning-probe microscopy — Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems

このドキュメントでは、最高レベルで幾何学的量を測定するための走査型プローブ顕微鏡 (SPM) のスキャン軸の特性評価とキャリブレーションの方法を指定します。

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

ISO11952:2019 国際規格 情報

ISO 国際規格番号
ISO 11952:2019
ISO 国際規格名称
Surface chemical analysis — Scanning-probe microscopy — Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems
ISO 規格名称 日本語訳
表面化学分析 — 走査型プローブ顕微鏡法 — SPMを使用した幾何学的量の決定:測定システムのキャリブレーション
発行日 (Publication date)
2019-05-21
更新日：確認日 (Update date,Date confirmed)
2019-05-21
状態 (Status)
公開中,公開済み (Published)
改訂 (Edition)
2
PDF ページ数 (Number of pages)
58
TC（専門委員会）:Technical Committee
ISO/TC 201/SC 9：走査型プローブ顕微鏡 (Scanning probe microscopy)
ICS：International Classification for Standards（国際規格分類）
71.040.40：化学分析 (Chemical analysis)
ISO 対応 JIS 規格
ICS 対応 JIS 規格
ICS > 71 > 71.040 > 71.040.40

ISO 11952:2019 関連規格 履歴一覧

ISO11952:2019 対応 JIS 規格一覧

ISO11952:2019 ICS 対応 JIS 規格

ICS > 71：化学技術  > 71.040：分析化学  > 71.040.40：化学分析

正誤表/修正 一覧 (Corrigenda/Amendments)

改訂 一覧 (Revised)

SDGs 情報

この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。