ISO 12005:2003 レーザーおよびレーザー関連機器—レーザービームパラメーターの試験方法—偏光

ISO 12005:2003の概要

ISO12005:2003の規格概要

閲覧 情報

Lasers and laser-related equipment — Test methods for laser beam parameters — Polarization

ISO 12005:2003は、偏光状態と、可能な場合は常に連続波 (cw) レーザーからのビームの偏光度を決定する方法を指定しています、電界ベクトルの向きがパルスごとに変化しない場合は、繰り返しパルスレーザーにも適用できます、ISO12005:2003は、直線偏光の場合の振動面の方向を決定する方法も指定しています(完全にまたは部分的に)レーザービーム、レーザー放射は準単色であり、測定の目的のために十分に安定していると想定されます、偏光状態の知識は、たとえば、そのようなビームのビームが高い発散角を持つレーザーのいくつかのアプリケーションにとって非常に重要になる可能性があります、レーザーは、偏光に依存するデバイス(たとえば、偏光維持ファイバー)と結合する必要があります、 ISO 12005:2003は、高度に発散するレーザービームの偏光状態を決定する方法、および大口径のビームを測定する方法も指定しています、

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

ISO12005:2003 国際規格 情報

ISO 国際規格番号
ISO 12005:2003
ISO 国際規格名称
Lasers and laser-related equipment — Test methods for laser beam parameters — Polarization
ISO 規格名称 日本語訳
レーザーおよびレーザー関連機器 — レーザービームパラメーターの試験方法 — 偏光
発行日 (Publication date)
2003-04-08
更新日:確認日 (Update date,Date confirmed)
2019-01-09
状態 (Status)
公開中,公開済み (Published)
改訂 (Edition)
2
PDF ページ数 (Number of pages)
11
TC(専門委員会):Technical Committee
ISO/TC 172/SC 9:エレクトロオプティカルシステム (Laser and electro-optical systems)
ICS:International Classification for Standards(国際規格分類)
31.260:オプトエレクトロニクス.レーザー設備 (Optoelectronics. Laser equipment)
ISO 対応 JIS 規格
ICS 対応 JIS 規格
ICS > 31 > 31.260

ISO 12005:2003 関連規格 履歴一覧

ISO12005:2003 対応 JIS 規格一覧

ISO12005:2003 ICS 対応 JIS 規格

ICS > 31:エレクトロニクス  > 31.260:オプトエレクトロニクス.レーザー設備

正誤表/修正 一覧 (Corrigenda/Amendments)

改訂 一覧 (Revised)

SDGs 情報

この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。