この規格 プレビューページの目次
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
序文
ISO (国際標準化機構) は、各国の標準化団体 (ISO メンバー団体) の世界的な連合です。国際規格の作成作業は、通常、ISO 技術委員会を通じて行われます。技術委員会が設立された主題に関心のある各会員団体は、その委員会に代表される権利を有します。 ISOと連携して、政府および非政府の国際機関もこの作業に参加しています。 ISO は、電気技術の標準化に関するすべての問題について、国際電気標準会議 (IEC) と緊密に協力しています。
この文書の作成に使用された手順と、今後の維持のために意図された手順は、ISO/IEC 指令のPart 1 で説明されています。特に、さまざまな種類の ISO 文書に必要なさまざまな承認基準に注意する必要があります。この文書は、ISO/IEC 指令のPart 2 の編集規則に従って起草されました ( www.iso.org/directives を参照)
このドキュメントの要素の一部が特許権の対象となる可能性があることに注意してください。 ISO は、そのような特許権の一部または全部を特定する責任を負わないものとします。ドキュメントの開発中に特定された特許権の詳細は、序文および/または受信した特許宣言の ISO リストに記載されます ( www.iso.org/patents を 参照)
このドキュメントで使用されている商号は、ユーザーの便宜のために提供された情報であり、保証を構成するものではありません。
規格の自主的な性質の説明、適合性評価に関連する ISO 固有の用語と表現の意味、および技術的貿易障壁 (TBT) における世界貿易機関 (WTO) の原則への ISO の準拠に関する情報については、以下を参照してください。 www.iso.org/iso/foreword.html .
このドキュメントは、欧州標準化委員会 (CEN) 技術委員会 CEN/TC 290, 寸法および幾何学的製品の仕様および検証と協力して、技術委員会 ISO/TC 213, 寸法および幾何学的製品の仕様および検証によって作成されました。 ISOとCENの技術協力協定（ウィーン協定）。
この第 2 版は、技術的に改訂された第 1 版 (ISO 12179:2000) を取り消して置き換えるものです。また、技術正誤表 ISO 12179:2000/Cor も組み込まれています。 1:200
旧版からの主な変更点は次のとおりです。
- 附属書 C が修正されました。
序章
このドキュメントは、幾何学的製品仕様 (GPS) 規格であり、一般的な GPS 規格と見なされます (ISO 14638 を参照)プロファイルの表面テクスチャの規格チェーンのチェーン リンク G に影響を与えます。
ISO GPS マトリックス モデルは、ISO 14638 に記載されています。このドキュメントと GPS マトリックス モデルとの関係の詳細については、付録 F を参照してください。プロファイルと面のテクスチャに関する規格の概要は、付録 E に記載されています。
このドキュメントでは、ISO 3274 で定義されている接触 (スタイラス) 機器の校正について説明します。校正は、測定標準を使用して実行されます。
1 スコープ
この文書は、ISO 3274 で定義されているプロファイル法による表面テクスチャの測定のための接触 (スタイラス) 機器の計測特性の校正と調整を規定しています。
附属書 B は、ISO 3274 に適合しない単純化されたオペレータ接触式 (スタイラス) 計器の計量特性の校正と調整を規定しています。
2 参考文献
以下のドキュメントは、その内容の一部またはすべてがこのドキュメントの要件を構成するように、本文で参照されています。日付のある参考文献については、引用された版のみが適用されます。日付のない参照については、参照文書の最新版 (修正を含む) が適用されます。
- ISO 3274, Geometrical Product Specifications (GPS) — 表面テクスチャ: プロファイル法 — 接触 (スタイラス) 器具の公称特性
- ISO 5436-1:2000, Geometrical Product Specifications (GPS) — 表面テクスチャ: プロファイル法;測定基準 — Part 1: 材料測定
- ISO 10012, 測定管理システム — 測定プロセスおよび測定機器の要件
- ISO 14253-1, 幾何学的製品仕様 (GPS) — ワークピースおよび測定機器の測定による検査 — Part 1: 仕様への適合または不適合を検証するための決定規則
- ISO 14253-2, 幾何学的製品仕様 (GPS) — ワークピースおよび測定機器の測定による検査 — Part 2: GPS 測定、測定機器の校正、および製品検証における不確かさの推定に関するガイダンス
- ISO 21920-2, 幾何学的製品仕様 (GPS) — 表面性状: プロファイル — Part 2: 用語、定義および表面性状パラメータ
- ISO 25178-73, 幾何学的製品仕様 (GPS) — 表面テクスチャ: 面 — Part 73: 材料測定における表面欠陥の用語と定義
- ISO/IEC Guide 98-3, 測定の不確かさ — Part 3: 測定における不確かさの表現へのガイド (GUM:1995)
- ISO/IEC Guide 99, 計量に関する国際語彙 — 基本的および一般的な概念と関連用語 (VIM)
3 用語と定義
このドキュメントの目的のために、ISO 3274, ISO 14253-1, ISO 21920-2, GUM および VIM に記載されている用語と定義、および以下が適用されます。
ISO と IEC は、次のアドレスで標準化に使用する用語データベースを維持しています。
3.1
較正
- a）最初のステップでは、測定標準によって提供される測定の不確実性を伴う量の値と、関連する測定の不確実性を伴う対応する指示との間の関係を確立します。他の
- b) 2 番目のステップで、この情報を使用して、表示から測定結果を取得するための関係を確立します。
[出典:ISO/IEC Guide 99:2007 (VIM), 2.39, modified — エントリへの注記を削除]
3.2
タスク関連のキャリブレーション
指定された条件下で、測定器によって示される量の値と、測定器の測定機能のサブセットを構成する正確に定義された測定量の限られたファミリーの対応する既知の値との関係を確立する一連の操作
3.3
調整
測定システムの調整
測定される量の与えられた値に対応する所定の指示を提供するために測定システムで実行される一連の操作
[出典:ISO/IEC Guide 99:2007 (VIM), 3.11, modified — エントリへの注記を削除]
3.4
測定基準
エタロン
規定された量の値と関連する測定の不確かさを参照として使用して、与えられた量の定義を実現すること。
注記1：測定基準は「校正試料」とも呼ばれる。
[出典: ISO/IEC Guide 99:2007 (VIM), 5.1, modified — エントリの例と注記を削除]
3.5
測定の不確かさ
測定の不確かさ
不確実性
使用された情報に基づいて、測定量に起因する量の値の分散を特徴付ける非負のパラメータ
[出典:ISO/IEC Guide 99:2007 (VIM), 2.26, modified — エントリへの注記を削除]
3.6
計量トレーサビリティ
それぞれが測定の不確かさに寄与する、文書化された切れ目のない一連の校正を通じて結果を基準に関連付けることができる測定結果の特性。
[出典:ISO/IEC Guide 99:2007 (VIM), 2.41, modified — エントリへの注記を削除]
3.7
欠陥
<材料測定値> 幾何学的形状および幾何学的寸法が公称特徴 (理想的な表面) から逸脱している、測定基準の幾何学的特徴 (非理想的な表面) の一部。 、そのような合意されたまたは規定された最大値がない場合、測定標準の製造に使用されるプロセスの典型的または特徴的な量よりも大きい量
[出典:ISO 25178-73:2019, 3.1.2, 修正 — エントリへの注記を削除]
参考文献
| 1 | ISO 8015, 幾何学的製品仕様 (GPS) — 基礎 — 概念、原則、および規則 |
| 2 | ISO 12085, Geometrical Product Specifications (GPS) — 表面テクスチャ: プロファイル法 — モチーフ パラメータ |
| 3 | ISO 14638, 幾何学的製品仕様 (GPS) — マトリックス モデル |
| 4 | ISO Guide 35, 参考資料 — 均質性と安定性の特性評価と評価のためのガイダンス |
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular, the different approval criteria needed for the different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www.iso.org/directives ).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or on the ISO list of patent declarations received (see www.iso.org/patents ).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not constitute an endorsement.
For an explanation of the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT), see www.iso.org/iso/foreword.html .
This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 213, Dimensional and geometrical product specifications and verification, in collaboration with the European Committee for Standardization (CEN) Technical Committee CEN/TC 290, Dimensional and geometrical product specification and verification, in accordance with the Agreement on technical cooperation between ISO and CEN (Vienna Agreement).
This second edition cancels and replaces the first edition (ISO 12179:2000), which has been technically revised. It also incorporates Technical Corrigendum ISO 12179:2000/Cor. 1:2003.
The main changes to the previous edition are as follows:
- Annex C has been amended.
Introduction
This document is a geometrical product specification (GPS) standard and is to be regarded as a general GPS standard (see ISO 14638). It influences chain link G of the chain of standards on profile surface texture.
The ISO GPS matrix model is given in ISO 14638, For more detailed information on the relationship of this document to the GPS matrix model, see Annex F. An overview of standards on profiles and areal surface texture is given in Annex E.
This document introduces calibration of contact (stylus) instruments as defined in ISO 3274. The calibration is carried out with the aid of measurement standards.
1 Scope
This document specifies the calibration and adjustment of the metrological characteristics of contact (stylus) instruments for the measurement of surface texture by the profile method as defined in ISO 3274. The calibration and adjustment is intended to be carried out with the aid of measurement standards.
Annex B specifies the calibration and adjustment of metrological characteristics of simplified operator contact (stylus) instruments which do not conform with ISO 3274.
2 Normative references
The following documents are referred to in the text in such a way that some or all of their content constitutes requirements of this document. For dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.
- ISO 3274, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Nominal characteristics of contact (stylus) instruments
- ISO 5436-1:2000, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method; Measurement standards — Part 1: Material measures
- ISO 10012, Measurement management systems — Requirements for measurement processes and measuring equipment
- ISO 14253-1, Geometrical product specifications (GPS) — Inspection by measurement of workpieces and measuring equipment — Part 1: Decision rules for verifying conformity or nonconformity with specifications
- ISO 14253-2, Geometrical product specifications (GPS) — Inspection by measurement of workpieces and measuring equipment — Part 2: Guidance for the estimation of uncertainty in GPS measurement, in calibration of measuring equipment and in product verification
- ISO 21920-2, Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Profile — Part 2: Terms, definitions and surface texture parameters
- ISO 25178-73, Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal — Part 73: Terms and definitions for surface defects on material measures
- ISO/IEC Guide 98-3, Uncertainty of measurement — Part 3: Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995)
- ISO/IEC Guide 99, International vocabulary of metrology — Basic and general concepts and associated terms (VIM)
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 3274, ISO 14253-1, ISO 21920-2, GUM and VIM and the following apply.
ISO and IEC maintain terminological databases for use in standardization at the following addresses:
3.1
calibration
- a) in a first step, establishes a relation between the quantity values with measurement uncertainties provided by measurement standards and corresponding indications with associated measurement uncertainties; and
- b) in a second step, uses this information to establish a relation for obtaining a measurement result from an indication
[SOURCE:ISO/IEC Guide 99:2007 (VIM), 2.39, modified — Notes to entry removed.]
3.2
task-related calibration
set of operations which establish, under specified conditions, the relationship between values of quantities indicated by a measuring instrument and the corresponding known values of a limited family of precisely defined measurands which constitute a subset of the measuring capabilities of the measuring instrument
3.3
adjustment
adjustment of a measuring system
set of operations carried out on a measuring system so that it provides prescribed indications corresponding to given values of a quantity to be measured
[SOURCE:ISO/IEC Guide 99:2007 (VIM), 3.11, modified — Notes to entry removed.]
3.4
measurement standard
etalon
realization of the definition of a given quantity, with stated quantity value and associated measurement uncertainty, used as a reference
Note 1 to entry: Measurement standards are also referred to as “calibration specimens”.
[SOURCE:ISO/IEC Guide 99:2007 (VIM), 5.1, modified — Examples and Notes to entry removed.]
3.5
measurement uncertainty
uncertainty of measurement
uncertainty
non-negative parameter characterizing the dispersion of the quantity values being attributed to a measurand, based on the information used
[SOURCE:ISO/IEC Guide 99:2007 (VIM), 2.26, modified — Notes to entry removed.]
3.6
metrological traceability
property of a measurement result whereby the result can be related to a reference through a documented unbroken chain of calibrations, each contributing to the measurement uncertainty
[SOURCE:ISO/IEC Guide 99:2007 (VIM), 2.41, modified — Notes to entry removed.]
3.7
defect
<material measures> part of the measurement standard’s geometrical feature (non‐ideal surface) on which the geometrical shape and geometrical dimensions deviate from those on the nominal feature (ideal surface) either by an amount greater than some agreed or stated maximum value, or, in the absence of any such agreed or stated maximum value, by an amount greater than what is typical or characteristic for the processes used in manufacturing the measurement standard
[SOURCE:ISO 25178-73:2019, 3.1.2, modified — Notes to entry removed.]
Bibliography
| 1 | ISO 8015, Geometrical product specifications (GPS) — Fundamentals — Concepts, principles and rules |
| 2 | ISO 12085, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Motif parameters |
| 3 | ISO 14638, Geometrical product specifications (GPS) — Matrix model |
| 4 | ISO Guide 35, Reference materials — Guidance for characterization and assessment of homogeneity and stability |