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ISO 5436-1:2000の概要
ISO5436-1:2000の規格概要
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Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method; Measurement standards — Part 1: Material measures
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
ISO5436-1:2000 国際規格 情報
- ISO 国際規格番号
- ISO 5436-1:2000
- ISO 国際規格名称
- Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method; Measurement standards — Part 1: Material measures
- ISO 規格名称 日本語訳
- 幾何製品仕様 (GPS) — 表面テクスチャ:プロファイル法。測定基準 — Part 1:材料の測定
- 発行日 (Publication date)
- 2000-03
- 更新日：確認日 (Update date,Date confirmed)
- 2025-03-17
- 状態 (Status)
- 公開済み (Published)
- 改訂 (Edition)
- 1
- PDF ページ数 (Number of pages)
- 14
- TC（専門委員会）:Technical Committee
- ISO/TC 213 寸法および幾何学的な製品仕様と検証：(Dimensional and geometrical product specifications and verification)
- ICS：International Classification for Standards（国際規格分類）
- 17.040.30：Measuring instruments,
- ISO 対応 JIS 規格
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―表面性状:輪郭曲線方式;測定標準―第1部:標準片,
- ICS 対応 JIS 規格
- 17.040.20, 17.040.30
ISO 5436-1:2000 関連規格 履歴一覧
- ISO 5436-2:2001
(W) 幾何学的製品仕様（GPS）—表面テクスチャ:プロファイル法;測定標準— Part 2: ソフトウェア測定標準
- ISO 5436-2:2012
幾何学的製品仕様（GPS）—表面テクスチャ：プロファイル法; 測定標準—パート2：ソフトウェア測定標準
- ISO 5436:1985
(W) 校正標本—スタイラス機器—標本の種類、校正、および使用
ISO5436-1:2000 対応 JIS 規格一覧
ISO5436-1:2000 ICS 対応 JIS 規格
ICS > 17：度量衡及び測定．物理的現象 > 17.040：線及び角度の測定 > 17.040.30：測定機器
ISO 5436-1:2000 修正 一覧 (Amendments)
ISO 5436-1:2000 正誤表 一覧 (Corrigenda)
- ISO 5436-2:2001/Cor 1:2006
(W) 幾何学的製品仕様（GPS）—表面テクスチャ:プロファイル法;測定基準— Part 2: ソフトウェア測定基準—技術正誤表1
- ISO 5436-2:2001/Cor 2:2008
(W) 幾何学的製品仕様（GPS）—表面テクスチャ:プロファイル法;測定基準— Part 2: ソフトウェア測定基準—技術正誤表2
ISO 5436-1:2000 規格の現段階 ステージ (Stage codes: 90) 見直
サブステージコード 90.92 国際規格が改訂される (International Standard to be revised)
ISO 5436-1:2000 持続可能な開発目標 SDGS
この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。
- 17の目標 : [Sustainable Development Goal]
SDGsとは、「Sustainable Development Goals（持続可能な開発目標）」の略称で、2015年9月に国連で採択された2030年までの国際開発目標。17の目標と169のターゲット達成により、「誰一人取り残さない」社会の実現に向け、途上国及び先進国で取り組むものです。