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ISO 14880-3:2006 光学およびフォトニクス—マイクロレンズアレイ—パート3：波面収差以外の光学特性のテスト方法

ISO 14880-3:2006の概要

ISO14880-3:2006の規格概要

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Optics and photonics — Microlens arrays — Part 3: Test methods for optical properties other than wavefront aberrations

ISO 14880-3:2006 は、マイクロレンズ アレイ内のマイクロレンズの波面収差以外の光学特性をテストする方法を指定しています。

これは、共通の基板の 1 つまたは複数の表面上に形成された非常に小さなレンズを備えたマイクロレンズ アレイおよびグレーデッド インデックス マイクロレンズに適用できます。

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

ISO14880-3:2006 国際規格 情報

ISO 国際規格番号
ISO 14880-3:2006
ISO 国際規格名称
Optics and photonics — Microlens arrays — Part 3: Test methods for optical properties other than wavefront aberrations
ISO 規格名称 日本語訳
光学とフォトニクス — マイクロレンズ アレイ — Part 3: 波面収差以外の光学特性のテスト方法
発行日 (Publication date)
2006-06
更新日：確認日 (Update date,Date confirmed)
2022-10-20
状態 (Status)
公開中,公開済み (Published)
改訂 (Edition)
1
PDF ページ数 (Number of pages)
14
TC（専門委員会）:Technical Committee
ISO/TC 172/SC 9：エレクトロオプティカルシステム (Laser and electro-optical systems)
ICS：International Classification for Standards（国際規格分類）
31.260：オプトエレクトロニクス．レーザー設備 (Optoelectronics. Laser equipment)
ISO 対応 JIS 規格
ICS 対応 JIS 規格
ICS > 31 > 31.260

ISO 14880-3:2006 関連規格 履歴一覧

ISO14880-3:2006 対応 JIS 規格一覧

ISO14880-3:2006 ICS 対応 JIS 規格

ICS > 31：エレクトロニクス  > 31.260：オプトエレクトロニクス．レーザー設備

正誤表/修正 一覧 (Corrigenda/Amendments)

改訂 一覧 (Revised)

SDGs 情報

この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。

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