ISO 15470:2017 表面化学分析— X線光電子分光法—選択された機器性能パラメータの説明

ISO 15470:2017の概要

ISO15470:2017の規格概要

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Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Description of selected instrumental performance parameters

ISO 15470:2017は、X線光電子分光計の性能の特定の側面を説明する方法を説明しています。

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

ISO15470:2017 国際規格 情報

ISO 国際規格番号
ISO 15470:2017
ISO 国際規格名称
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Description of selected instrumental performance parameters
ISO 規格名称 日本語訳
表面化学分析 — X線光電子分光法 — 選択された機器性能パラメータの説明
発行日 (Publication date)
2017-03-02
更新日:確認日 (Update date,Date confirmed)
2017-03-02
状態 (Status)
公開中,公開済み (Published)
改訂 (Edition)
2
PDF ページ数 (Number of pages)
5
TC(専門委員会):Technical Committee
ISO/TC 201/SC 7:電子分光法 (Electron spectroscopies)
ICS:International Classification for Standards(国際規格分類)
71.040.40:化学分析 (Chemical analysis)
ISO 対応 JIS 規格
ICS 対応 JIS 規格
ICS > 71 > 71.040 > 71.040.40

ISO 15470:2017 関連規格 履歴一覧

ISO15470:2017 対応 JIS 規格一覧

ISO15470:2017 ICS 対応 JIS 規格

ICS > 71:化学技術  > 71.040:分析化学  > 71.040.40:化学分析

正誤表/修正 一覧 (Corrigenda/Amendments)

改訂 一覧 (Revised)

SDGs 情報

この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。