※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
序文
ISO (国際標準化機構) は、各国の標準化団体 (ISO メンバー団体) の世界的な連合です。国際規格の作成作業は、通常、ISO 技術委員会を通じて行われます。技術委員会が設立された主題に関心のある各会員団体は、その委員会に代表される権利を有します。 ISOと連携して、政府および非政府の国際機関もこの作業に参加しています。 ISO は、電気技術の標準化に関するすべての問題について、国際電気標準会議 (IEC) と緊密に協力しています。
国際規格は、ISO/IEC 指令で指定された規則に従って起草されます。 2.
技術委員会の主な任務は、国際規格を準備することです。技術委員会によって採択されたドラフト国際規格は、投票のためにメンバー団体に回覧されます。国際規格として発行するには、投票するメンバー団体の少なくとも 75% による承認が必要です。
このドキュメントの要素の一部が特許権の対象となる可能性があることに注意してください。 ISO は、そのような特許権の一部または全部を特定する責任を負わないものとします。
ISO 16526-2 は CEN によって (EN 12544-2:2000 として) 作成され、技術委員会 ISO/TC 135, 非破壊検査、小委員会 SC 5, 放射線による特別な「ファストトラック手順」の下で承認のために提出されます。 ISO会員団体による承認と並行して、 ISO/IEC 指令を参照してください。 1, 「ファストトラック手順」）。
ISO 16526 は、一般的なタイトルである非破壊検査 - X 線管電圧の測定と評価の下に、次の部分で構成されています。
- Part 1：分圧方式
- Part ２：厚フィルター法による不変性チェック
- Part 3: 分光法
序章
X 線管電圧の測定に関するさまざまな要件に対応するために、ISO 16526-1 から ISO 16526-3 には 3 つの異なる方法が記載されています。
分圧方式 (ISO 16526-1) により、高電圧発生器の二次側にある定電位 X 線システムの平均高電圧を直接かつ絶対的に測定できます。
シック フィルター法 (ISO 16526-2) では、不変性チェックについて説明しています。この方法は、X 線システムの定期的な安定性チェックに推奨されます。
分光法 (ISO 16526-3) は、X 線のエネルギー スペクトルを使用して X 線管電圧を非侵襲的に測定する手順です。この方法は、すべての X 線システムに適用でき、分圧器を接続できないタンクユニットの場合など、分圧器法が適用できない場合は常に適用する必要があります。
1 スコープ
ISO 16526 のこの部分では、主に X 線電圧がチェックされる X 線システムの定常性チェックが指定されており、管電流と、管の経年劣化によって変化する可能性のあるターゲットの構成もチェックされます。
厚膜フィルター法は、X 線管、フィルター、および測定装置の間の定義された距離を使用して、定義された厚膜フィルターの背後の線量率の測定に基づいています。
この方法は電圧の変化に非常に敏感ですが、X 線管電圧の絶対値は得られません。したがって、基準値が必要であり、たとえばシステムの受け入れテスト内でこの基準を見つけることをお勧めします。
厚フィルター法はかなり単純な技術であり、X 線システムのオペレーターがシステムの絶え間ないチェックを定期的に実行するために適用することができます。
この方法は、X 線管電圧に影響を与える可能性のあるコンポーネントを変更した後の整合性チェックにも適用できます。
この方法は、すべてのタイプの X 線システム、つまり管電流が 1 mA を超える定電位、半波、およびインパルス波発生器に適用できます。
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.
International Standards are drafted in accordance with the rules given in the ISO/IEC Directives, 2.
The main task of technical committees is to prepare International Standards. Draft International Standards adopted by the technical committees are circulated to the member bodies for voting. Publication as an International Standard requires approval by at least 75 % of the member bodies casting a vote.
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
ISO 16526-2 was prepared by CEN (as EN 12544-2:2000) and is submitted for approval under a special"fast-track procedure", by Technical Committee ISO/TC 135, Non-destructive testing, Subcommittee SC 5, Radiation methods, in parallel with its approval by the ISO member bodies (see the ISO/IEC Directives, 1,"Fast-track procedure").
ISO 16526 consists of the following parts, under the general title Non-destructive testing — Measurement and evaluation of the X-ray tube voltage:
- Part 1: Voltage divider method
- Part 2: Constancy check by the thick filter method
- Part 3: Spectrometric method
Introduction
In order to cover the different requirements for the measurement of the X-ray tube voltage, three different methods are described in ISO 16526-1 to ISO 16526-3.
The voltage divider method (ISO 16526-1) enables a direct and absolute measurement of the average high voltage of constant potential X-ray systems on the secondary side of the high voltage generator.
The thick filter method (ISO 16526-2) describes a constancy check. This method is recommended for the regular stability check of an X-ray system.
The spectrometric method (ISO 16526-3) is a procedure for non-invasive measurement of the X-ray tube voltage using the energy spectrum of the X-rays. This method can be applied for all X-ray systems and shall be applied whenever the voltage divider method is not applicable, e. g. in case of tank units where it is not possible to connect the voltage divider device.
1 Scope
This part of ISO 16526 specifies a constancy check of a X-ray system where mainly the X-ray voltage is checked and also the tube current and the constitution of the target which can be changing due to ageing of the tube.
The thick filter method is based on a measurement of the dose rate behind a defined thick filter using defined distances between the X-ray tube, the filter and the measuring device.
This method is very sensitive to changes of the voltage, but it does not provide an absolute value for the X-ray tube voltage. Therefore, a reference value is needed and, it is recommended to find this reference, for example, within the acceptance test of the system.
The thick filter method is a rather simple technique and may be applied by the operator of an X-ray system to perform regularly a constancy check of the system.
The method can also be applied for consistency checks after changing components which may affect the X-ray tube voltage.
This method can be applied for all types of X-ray systems, i. e. for constant potential, half wave and impulse wave generators with a tube current larger than 1 mA.