ISO 16526-2:2011 非破壊検査— X線管電圧の測定と評価—パート2:シックフィルター法による不変性チェック

ISO 16526-2:2011の概要

ISO16526-2:2011の規格概要

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Non-destructive testing — Measurement and evaluation of the X-ray tube voltage — Part 2: Constancy check by the thick filter method

ISO 16526-2:2011は、主にX線電圧をチェックするX線システムの不変性チェックと、チューブの経年変化によって変化する可能性のあるチューブ電流とターゲットの構成を規定しています、厚いフィルターこの方法は、X線管、フィルター、および測定装置の間の定義された距離を使用して、定義された厚いフィルターの背後の線量率を測定することに基づいています、この方法は、電圧の変化に非常に敏感ですが、絶対的なものではありません、 X線管電圧の値、したがって、基準値が必要であり、たとえば、システムの受け入れテスト内でこの基準を見つけることをお勧めします、シックフィルター法はかなり単純な手法であり、X線システムのオペレーターが適用できます、この方法は、X線管の電圧に影響を与える可能性のあるコンポーネントを変更した後の一貫性チェックにも適用できます、この方法は、すべてのタイプのX線システム、つまり定電位に適用できます、 、1mAを超える管電流を備えた半波およびインパルス波発生器、

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

ISO16526-2:2011 国際規格 情報

ISO 国際規格番号
ISO 16526-2:2011
ISO 国際規格名称
Non-destructive testing — Measurement and evaluation of the X-ray tube voltage — Part 2: Constancy check by the thick filter method
ISO 規格名称 日本語訳
非破壊検査 — X線管電圧の測定と評価 — Part 2: シックフィルター法による不変性チェック
発行日 (Publication date)
2011-12-15
更新日:確認日 (Update date,Date confirmed)
2021-09-08
状態 (Status)
公開中,公開済み (Published)
改訂 (Edition)
1
PDF ページ数 (Number of pages)
5
TC(専門委員会):Technical Committee
ISO/TC 135/SC 5:放射線試験 (Radiographic testing)
ICS:International Classification for Standards(国際規格分類)
19.100:非破壊試験 (Non-destructive testing)
ISO 対応 JIS 規格
ICS 対応 JIS 規格
ICS > 19 > 19.100

ISO 16526-2:2011 関連規格 履歴一覧

ISO16526-2:2011 対応 JIS 規格一覧

ISO16526-2:2011 ICS 対応 JIS 規格

ICS > 19:試験  > 19.100:非破壊試験

正誤表/修正 一覧 (Corrigenda/Amendments)

改訂 一覧 (Revised)

SDGs 情報

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