ISO 16610-1:2015 幾何学的製品仕様(GPS)—ろ過—パート1:概要と基本概念 | ページ 6

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

3 用語と定義

このドキュメントの目的のために、ISO/IEC Guide 99, ISO 17450-1, ISO 17450-2, および以下に記載されている用語と定義が適用されます。

3.1

不可欠な機能

ワークピースの実際の表面または表面モデルに属する幾何学的特徴

注記 1:不可欠な形体は、本質的に定義されています。たとえば、ワークピースのスキンです。

注記2仕様書については,表面モデル又は被加工物の実表面の分割から得られる幾何学的特徴を定義しなければならない。 「統合フィーチャー」と呼ばれるこれらのフィーチャーは、特定の機能を持つワークピースのさまざまな物理的部分のモデルであり、特に隣接するワークピースと接触するものです。

注記3不可欠な特徴は、例えば、
  • サーフェス モデルのパーティション、
  • 別の不可欠な機能の分割、または
  • その他の不可欠な機能のコレクション。

[出典:ISO 17450-1:2011, 3.3.5]

3.1.1

表面部分

SP

分割された 積分機能 (3.1) の一部。

3.1.2

表面プロファイル

表面部分(3.1.1) と理想平面との交点から生じる線。

注記 1:理想的な平面の向きは、通常、表面部分の接平面に対して垂直です。

注記 2:プロファイルの概念は開発中であり、表面プロファイルの定義が改訂される可能性があります。

3.2

一次数学モデル

表面部分の入れ子になった階層的な数学的モデルのセット (3.1.1) 。セット内の各モデルは、有限数のパラメーターによって記述できます。

注記 1:例には、切り捨てられたフーリエ級数、曲率制限 (ゼロから ± 値) プロファイル、および制限された Wolf 剪定高さ (100% からそれより小さい正のパーセンテージ) セグメントが含まれます。

注記 2切り捨てられたフーリエ級数を使用した主要な数学的モデルの例は、A.1 に示されています。

3.2.1

ネスティング インデックス

いいえ

特定の 一次数学モデル (3.2) の入れ子になった階層の相対的なレベルを示す値

注記 1:特定のネスティング インデックスが与えられた場合、インデックスが低いモデルにはより多くの表面情報が含まれ、ネスティング インデックスが高いモデルにはより少ない表面情報が含まれます。

注記 2:慣例により、ネスティング インデックスがゼロ (または一連のすべてゼロ) に近づくと、ワークピースの実際の表面を特定の近接度の範囲内で近似する主要な数学的モデルが存在します。

注記 3:ガウシアン フィルターのカットオフ波長は、ネスティング インデックスの例です (3.2.1.1 を参照)形態学的フィルターの場合、ネスティング インデックスは、「カットオフ」の概念の根底にある波長の概念とは異なる構造要素 (たとえば、ディスクの半径) のサイズです (3.2.1.2 および 3.2.1.3 を参照) .

注記 4:ネスティング インデックスという用語は、インデックス セットからのインデックスとネストされた階層からのネスティングの組み合わせに由来し、どちらも数学用語です。

3.2.1.1

カットオフ波長

表面成分を長波長と短波長に分離するために使用される、線形フィルターに適用可能な特定のタイプの ネスティングインデックス (3.2.1) 。

注記 1:たとえば、ISO 16610-21, ISO 16610-22, および ISO 16610-61 を参照してください。

3.2.1.2

垂直円板半径

円形ディスクに関して構造化要素を持つプロファイル形態学的フィルタに適用可能な特定のタイプの ネスティング インデックス (3.2.1) 。

注記 1:例えば、ISO 16610-41 および ISO 16610-49 を参照。

3.2.1.3

水平線の長さ

水平線に関する構造化要素を持つプロファイル形態学的フィルタに適用可能な特定のタイプの ネスティング インデックス (3.2.1) 。

注記 1:例えば、ISO 16610-41 および ISO 16610-49 を参照。

3.2.1.4

球の半径

球の半径に関する構造化要素を持つ面形態学的フィルターに適用可能な特定のタイプの 入れ子インデックス (3.2.1) 。

3.2.1.5

円板半径

円形ディスクに関して構造化要素を持つ面モルフォロジカル フィルタに適用可能な特定のタイプの ネスティング インデックス (3.2.1) 。

注記 1:例えば、ISO 16610-40 および ISO 16610-41 を参照。

3.2.1.6

ウルフ剪定高さ

重要な表面特徴と重要でない表面特徴を区別するために使用される領域セグメンテーション フィルタに適用される特定のタイプの ネスティング インデックス(3.2.1) 。

注記 1例えば ISO 16610-85 を参照。

3.2.2

自由度

一次数学モデル 特定の 一次数学モデルを完全に記述するために必要な独立パラメータの数 (3.2)

3.3

一次表面

ps

表面部分 (3.1.1) 後者が指定された ネスティング インデックス (3.2.1) を持つ指定された 一次数学モデル (3.2) として表されるときに得られる

3.3.1

プライマリ プロファイル

一次面(3.3) と理想平面との交点から生じる線。

注記 1:プロファイルの概念は開発中であり、プライマリ プロファイルの定義が改訂される可能性があります。

3.4

プライマリ マッピング

ふるいと投影基準を満たす 表面部分(3.1.1) を表すために,指定された ネスティングインデックス(3.2.1) で特定の 一次表面(3.3) を識別するために使用される ネスティングインデックス(3.2.1) によってインデックス付けされたマッピング。

注記 1次マッピングは、特定のネスティング インデックスより大きい「特徴」を持つ表面部分を識別します。

3.4.1

ふるい基準

サーフェス部分に次々に適用される 2 つの プライマリ マッピング (3.4) は、これら 2 つのプライマリ マッピングの 1 つだけをサーフェス部分に適用することと完全に同等です。つまり、最高 のネスティング インデックスを持つプライマリ マッピング (3.2.1)

3.4.2

投影基準

指定された ネスティング インデックス (3.2.1) を持つ プライマリ サーフェス (3.3) が、同じ指定された ネスティング インデックス (3.2.1) を持つ プライマリ マッピング (3.4) を使用してそれ自体にマッピングされる基準

注記 1:これは、同じネスティング インデックスを使用してプライマリ マッピングをサーフェスに 2 回適用すると、プライマリ マッピングが 1 回だけ適用された場合と同じサーフェスが得られることを意味します。たとえば、特定の半径の円形構造要素を持つクロージング フィルターをプロファイルに 2 回適用すると、クロージング フィルターが 1 回だけ適用された場合と同じフィルター処理されたプロファイルが得られます。

3.4.3

基本音階

関連付けられた プライマリ マッピング (3.4) に割り当てられた ネスティング インデックス (3.2.1) を数値関係システムとして使用するときに確立されるスケール

注記 1:切り捨てられたフーリエ級数から導出された一次写像に関連付けられたカットオフ値を使用する場合の正弦波に基づく基本的なスケールの例.

注記2関係システムが安定しているためには,それらの関係を持つ実体の集合が最大の要素を持つ部分的に順序付けられた集合を形成しなければならない。

3.5

濾過

機能操作:非理想的な機能から非理想的な機能を作成するため、または情報のレベルを下げることによって、ある変動曲線を別の変動曲線に変換するために使用される操作

注記 1この一連の国際規格の目的のために、フィルターは一次写像であるか、一次写像の加重平均、一次写像の最高値などのような一次写像の組み合わせを使用して構築することができます。たとえば、切り捨てられたフーリエ級数から導出されたプライマリ マッピングの加重和からガウス フィルタを構築できます。

[出典:ISO 17450‑1:2011, 3.4.1.3, 変更エントリに注 1 が追加されました。]

3.5.1

プロファイル フィルタ

表面プロファイル(3.1.2) で使用するための ろ過(3.5) 操作からなる演算子。

注記 1この規格全体を通して,「演算子」という用語はその数学的な文脈で解釈される。 ISO 17450-2:2012 のコンテキストで使用される場合、修飾子「仕様」または「検証」は、用語「オペレーター」の前に使用されます。

3.5.2

面フィルター

表面部分(3.1.1) で使用するための ろ過(3.5) 操作からなるオペレーター。

3.6

外れ値

代表的ではない、または分割された 積分機能 (3.1) の典型的ではない、大きさとスケールによって特徴付けられるデータセット内の局所部分

注記 1:データのみを使用してすべての異常値を決定できるわけではなく、スタイラス先端の形状と物理的に一致しない異常値のみを決定できます。マグニチュード/スケール基準に基づいて警告を発することが可能な場合があります。

3.7

プロフィールを開く

2 つの端を持つ有限長 の表面プロファイル (3.1.2)

注記 1:表面プロファイルはそれ自体と交差しません。

3.8

閉じたプロファイル

端のない接続された有限長 の表面プロファイル (3.1.2)

注記 1:サーフェス プロファイルはそれ自体と交差しません。つまり、単純な閉曲線またはジョルダン曲線です。

3.9

堅牢性

入力データの特定の現象に対する出力データの鈍感さ

注記 1:異常値、スクラッチ、およびステップは、特定の現象の例です。詳細については、ISO 16610-30 を参照してください。

3.10

フィルタ式

フィルタの数学的記述の方程式

注記 1:フィルタ方程式は、必ずしもフィルタの数値実現のためのアルゴリズムを指定するわけではありません。

参考文献

[1]ISO 3274:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) — 表面テクスチャ: プロファイル法 — 接触 (スタイラス) 器具の公称特性
[2]ISO 4287:1997, Geometrical Product Specifications (GPS) — 表面テクスチャ: プロファイル法 — 用語、定義、および表面テクスチャ パラメータ
[3]ISO 8015:2011, 幾何学的製品仕様 (GPS) — 基本 — 概念、原則、および規則
[4]ISO 12085:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) — 表面テクスチャ: プロファイル法 — モチーフ パラメータ
[5]ISO 13565-1:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) — 表面テクスチャ: プロファイル法;階層化された機能特性を持つ表面 — 1: フィルタリングと一般的な測定条件
[6]ISO 14253-1:2013, 製品の幾何学的仕様 (GPS) — ワークおよび測定機器の測定による検査 — 1: 仕様への適合または不適合を証明するための判定規則
[7]ISO/TR 14638:1995, 幾何学的製品仕様 (GPS) — マスター プラン
[8]ISO 16610-20, 幾何学的製品仕様 (GPS) — ろ過 — 20: 線形プロファイル フィルター: 基本概念
[9]ISO 16610-21, 幾何学的製品仕様 (GPS) — ろ過 — 21: 線形プロファイル フィルター: ガウス フィルター
[10]ISO 16610-22, 幾何学的製品仕様 (GPS) — ろ過 — 22: 線形プロファイル フィルター: スプライン フィルター
[11]ISO 16610-26 1幾何学的製品仕様 (GPS) — ろ過 — 26: 線形プロファイル フィルター: 公称直交グリッド平面データ セットのフィルター処理
[12]ISO 16610-27 2幾何学的製品仕様 (GPS) — ろ過 — 27: 線形プロファイル フィルター: 公称直交グリッド円筒データ セットのフィルター処理
[13]ISO 16610-29, 幾何学的製品仕様 (GPS) — ろ過 — 29: 線形プロファイル フィルター: スプライン ウェーブレット
[14]ISO 16610-30, 幾何学的製品仕様 (GPS) — ろ過 — 30: 堅牢なプロファイル フィルター: 基本概念
[15]ISO 16610-31, 幾何学的製品仕様 (GPS) — ろ過 — 31: 堅牢なプロファイル フィルター: ガウス回帰フィルター
[16]ISO 16610-32, 幾何学的製品仕様 (GPS) — ろ過 — 32: 堅牢なプロファイル フィルター: スプライン フィルター
[17]ISO 16610-40, 幾何学的製品仕様 (GPS) — ろ過 — 40: 形態プロファイル フィルター: 基本概念
[18]ISO 16610-41, 幾何学的製品仕様 (GPS) — ろ過 — 41: 形態プロファイル フィルター: ディスクと水平線分フィルター
[19]ISO 16610-42 3幾何学的製品仕様 (GPS) — ろ過 — 42: 形態プロファイルフィルター: モチーフフィルター
[20]ISO 16610-49, 幾何学的製品仕様 (GPS) — ろ過 — 49: 形態学的プロファイル フィルター: スケール スペース手法
[21]ISO 16610-60, 幾何学的製品仕様 (GPS) — ろ過 — 60: 線形領域フィルター: 基本概念
[22]ISO 16610-61, 幾何学的製品仕様 (GPS) — ろ過 — 61: 線形領域フィルター: ガウス フィルター
[23]ISO 16610-62 4幾何学的製品仕様 (GPS) — ろ過 — 62: 線形領域フィルター: スプライン フィルター
[24]ISO 16610-69 5幾何学的製品仕様 (GPS) — ろ過 — 69: 線形領域フィルター: スプライン ウェーブレット
[25]ISO 16610-70 6幾何学的製品仕様 (GPS) — ろ過 — 70: ロバスト エリア フィルター: 基本概念
[26]ISO 16610-71 7幾何学的製品仕様 (GPS) — ろ過 — 71: ロバスト エリア フィルター: ガウス回帰フィルター
[27]ISO 16610-72 8幾何学的製品仕様 (GPS) — ろ過 — 72: ロバスト エリア フィルター: スプライン フィルター
[28]ISO 16610-80 9幾何学的製品仕様 (GPS) — ろ過 — 80: 形態学的領域フィルター: 基本概念
[29]ISO 16610-81 10幾何学的製品仕様 (GPS) — ろ過 — 81: モルフォロジー エリア フィルター: 球面フィルターと水平平面セグメント フィルター
[30]ISO 16610-82 11幾何学的製品仕様 (GPS) — ろ過 — 82: 形態領域フィルター: モチーフフィルター
[31]ISO 16610-89 12幾何学的製品仕様 (GPS) — ろ過 — 89: モルフォロジー エリア フィルター: スケール スペース手法
[32]ISO 80000-2:2009, 数量および単位 — 2: 自然科学や技術で使用される数学的記号と記号
[33]ISO/IEC Guide 98-3:2008, 測定の不確実性 — 3: 測定における不確かさの表現の手引き (GUM:1995)
[34]マセロン G.ランダム集合と積分幾何。ジョン・ワイリー&サンズ。 1975年

3 Terms and definitions

For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO/IEC Guide 99, ISO 17450-1, ISO 17450-2, and the following apply.

3.1

integral feature

geometrical feature belonging to the real surface of the workpiece or to a surface model

Note 1 to entry: An integral feature is intrinsically defined, e.g. skin of the workpiece.

Note 2 to entry: For a statement of specifications, geometrical features obtained from partition of the surface model or of real surface of workpiece shall be defined. These features, called “integral features”, are models of the different physical parts of the workpiece that have specific functions, especially those in contact with adjacent workpieces.

Note 3 to entry: An integral feature can be identified, for example, by
  • a partition of the surface model,
  • a partition of another integral feature, or
  • a collection of other integral features.

[SOURCE:ISO 17450‑1:2011, 3.3.5]

3.1.1

surface portion

SP

portion of a partitioned integral feature (3.1)

3.1.2

surface profile

line resulting from the intersection between a surface portion (3.1.1) and an ideal plane

Note 1 to entry: The orientation of the ideal plane is usually perpendicular to the tangent plane of the surface portion.

Note 2 to entry: The concept of profiles is under development and it is possible that the definition of surface profile will be revised.

3.2

primary mathematical model

set of nested hierarchical mathematical models of the surface portion (3.1.1) , wherein each model in the set can be described by a finite number of parameters

Note 1 to entry: Examples include truncated Fourier series, curvature limited (zero to ± value) profiles, and limited Wolf pruning height (100 % to smaller positive percentage) segments.

Note 2 to entry: An example of a primary mathematical model using a truncated Fourier series is given in A.1.

3.2.1

nesting index

NI

value indicating the relative level of nested hierarchy for a particular primary mathematical model (3.2)

Note 1 to entry: Given a particular nesting index, models with lower indices contain more surface information, whereas models with higher nesting indices contain less surface information.

Note 2 to entry: By convention, as the nesting index approaches zero (or a series of all zeros), there exists a primary mathematical model that approximates the real surface of a workpiece to within any given measure of closeness.

Note 3 to entry: The cut-off wavelength for the Gaussian filter is an example of a nesting index (see 3.2.1.1). For the morphological filter, the nesting index is the size of the structuring element (e.g. the radius of the disc) which is different from the wavelength concept that underlies the notion of “cut-off” (see 3.2.1.2 and 3.2.1.3).

Note 4 to entry: The term nesting index is derived from a combination of index from index set and nesting from nested hierarchy, both of which are mathematical terms.

3.2.1.1

cut-off wavelength

particular type of nesting index (3.2.1) applicable to linear filters, used to separate surface components into long and short wavelengths

Note 1 to entry: See, for example, ISO 16610-21, ISO 16610-22, and ISO 16610-61.

3.2.1.2

vertical circular disc radius

particular type of nesting index (3.2.1) applicable to profile morphological filters with a structuring element in terms of a circular disc

Note 1 to entry: See, for example, ISO 16610-41 and ISO 16610-49.

3.2.1.3

horizontal line length

particular type of nesting index (3.2.1) applicable to profile morphological filters with a structuring element in terms of a horizontal line

Note 1 to entry: See, for example, ISO 16610-41 and ISO 16610-49.

3.2.1.4

sphere radius

particular type of nesting index (3.2.1) applicable to areal morphological filters with a structuring element in terms of a sphere radius

3.2.1.5

circular disc radius

particular type of nesting index (3.2.1) applicable to areal morphological filters with a structuring element in terms of a circular disc

Note 1 to entry: See, for example, ISO 16610-40 and ISO 16610-41.

3.2.1.6

Wolf pruning height

particular type of nesting index (3.2.1) applicable to areal segmentation filters used to discriminate between significant and non-significant surface features

Note 1 to entry: See, for example, ISO 16610-85.

3.2.2

degree of freedom

primary mathematical model number of independent parameters required to fully describe a particular primary mathematical model (3.2)

3.3

primary surface

ps

surface portion (3.1.1) obtained when the latter is represented as a specified primary mathematical model (3.2) with specified nesting index (3.2.1)

3.3.1

primary profile

line resulting from the intersection between the primary surface (3.3) and an ideal plane

Note 1 to entry: The concept of profiles is under development and it is possible that the definition of primary profile will be revised.

3.4

primary mapping

mapping indexed by the nesting index (3.2.1) used to identify a particular primary surface (3.3) with a specified nesting index (3.2.1) in order to represent a surface portion (3.1.1) that satisfies the sieve and projection criteria

Note 1 to entry: A primary mapping identifies surface portions which have “features” larger than a particular nesting index.

3.4.1

sieve criterion

criterion where two primary mappings (3.4) applied one after another to a surface portion is entirely equivalent to only applying one of these two primary mappings to the surface portion namely that primary mapping with the highest nesting index (3.2.1)

3.4.2

projection criterion

criterion wherein a primary surface (3.3) with a specified nesting index (3.2.1) is mapped onto itself using the primary mapping (3.4) with the same specified nesting index (3.2.1)

Note 1 to entry: This implies that if you apply the primary mapping twice with the same nesting index to a surface, one obtains the same surface as if the primary mapping was applied only once. For example, applying a closing filter with a circular structural element of a given radius twice to a profile results in the same filtered profile as if the closing filter is only applied once.

3.4.3

basic scale

scale established when using a nesting index (3.2.1) assigned to an associated primary mapping (3.4) as a numerical relational system

Note 1 to entry: An example is a basic scale based on sinewaves when using cut-off values associated with a primary mapping derived from a truncated Fourier series.

Note 2 to entry: For a relational system to be stable, the set of entities with their relations have to form a partially ordered set with a greatest element.

3.5

filtration

feature operation used to create a non-ideal feature from a non-ideal feature or to transform one variation curve to another by reducing the level of information

Note 1 to entry: For the purposes of this series of International Standards, a filter is either a primary mapping or can be constructed using a combination of primary mappings, e.g. the weighted mean of primary mappings, the supremum of primary mappings, etc. For example, a Gaussian filter can be constructed from a weighted sum of primary mappings derived from a truncated Fourier series.

[SOURCE:ISO 17450‑1:2011, 3.4.1.3, modified Note 1 to entry has been added.]

3.5.1

profile filter

operator consisting of a filtration (3.5) operation for use on a surface profile (3.1.2)

Note 1 to entry: Throughout this International Standard, the term “operator” is interpreted in its mathematical context. When it is used in the context of ISO 17450-2:2012, the qualifier “specification” or “verification” is used in front of the term “operator”.

3.5.2

areal filter

operator consisting of a filtration (3.5) operation for use on a surface portion (3.1.1)

3.6

outlier

local portion in a data set that is not representative or not typical for the partitioned integral feature (3.1) and which is characterized by magnitude and scale

Note 1 to entry: Not all outliers can be determined using data alone, but only those that are physically inconsistent with stylus tip geometry. It is sometimes possible to give a warning based on magnitude/scale criteria.

3.7

open profile

finite length surface profile (3.1.2) with two ends

Note 1 to entry: The surface profile does not intersect with itself.

3.8

closed profile

connected finite length surface profile (3.1.2) without ends

Note 1 to entry: The surface profile does not intersect with itself, i.e. it is a simple closed curve or Jordan curve.

3.9

robustness

insensitivity of the output data against specific phenomena in the input data

Note 1 to entry: Outliers, scratches, and steps are examples of specific phenomena. More details can be found in ISO 16610-30.

3.10

filter equation

equation for the mathematical description of the filter

Note 1 to entry: Filter equations do not necessarily specify an algorithm for the numerical realization of the filter.

Bibliography

[1]ISO 3274:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Nominal characteristics of contact (stylus) instruments
[2]ISO 4287:1997, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Terms, definitions and surface texture parameters
[3]ISO 8015:2011, Geometrical product specifications (GPS) — Fundamentals — Concepts, principles and rules
[4]ISO 12085:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Motif parameters
[5]ISO 13565-1:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method; Surfaces having stratified functional properties — 1: Filtering and general measurement conditions
[6]ISO 14253-1:2013, Geometrical product specifications (GPS) — Inspection by measurement of workpieces and measuring equipment — 1: Decision rules for proving conformity or nonconformity with specifications
[7]ISO/TR 14638:1995, Geometrical product specification (GPS) — Masterplan
[8]ISO 16610-20, Geometrical product specifications (GPS) — Filtration — 20: Linear profile filters: Basic concepts
[9]ISO 16610-21, Geometrical product specifications (GPS) — Filtration — 21: Linear profile filters: Gaussian filters
[10]ISO 16610-22, Geometrical product specifications (GPS) — Filtration — 22: Linear profile filters: Spline filters
[11]ISO 16610-26 1 , Geometrical product specifications (GPS) — Filtration — 26: Linear profile filters: Filtration on nominally orthogonal grid planar data sets
[12]ISO 16610-27 2 , Geometrical product specifications (GPS) — Filtration — 27: Linear profile filters: Filtration on nominally orthogonal grid cylindrical data sets
[13]ISO 16610-29, Geometrical product specifications (GPS) — Filtration — 29: Linear profile filters: Spline wavelets
[14]ISO 16610-30, Geometrical product specifications (GPS) — Filtration — 30: Robust profile filters: Basic concepts
[15]ISO 16610-31, Geometrical product specifications (GPS) — Filtration — 31: Robust profile filters: Gaussian regression filters
[16]ISO 16610-32, Geometrical product specifications (GPS) — Filtration — 32: Robust profile filters: Spline filters
[17]ISO 16610-40, Geometrical product specifications (GPS) — Filtration — 40: Morphological profile filters: Basic concepts
[18]ISO 16610-41, Geometrical product specifications (GPS) — Filtration — 41: Morphological profile filters: Disk and horizontal line-segment filters
[19]ISO 16610-42 3 , Geometrical product specifications (GPS) — Filtration — 42: Morphological profile filters: Motif filters
[20]ISO 16610-49, Geometrical product specifications (GPS) — Filtration — 49: Morphological profile filters: Scale space techniques
[21]ISO 16610-60, Geometrical product specifications (GPS) — Filtration — 60: Linear areal filters: Basic concepts
[22]ISO 16610-61, Geometrical product specifications (GPS) — Filtration — 61: Linear areal filters: Gaussian filters
[23]ISO 16610-62 4 , Geometrical product specifications (GPS) — Filtration — 62: Linear areal filters: Spline filters
[24]ISO 16610-69 5 , Geometrical product specifications (GPS) — Filtration — 69: Linear areal filters: Spline wavelets
[25]ISO 16610-70 6 , Geometrical product specifications (GPS) — Filtration — 70: Robust areal filters: Basic concepts
[26]ISO 16610-71 7 , Geometrical product specifications (GPS) — Filtration — 71: Robust areal filters: Gaussian regression filters
[27]ISO 16610-72 8 , Geometrical product specifications (GPS) — Filtration — 72: Robust areal filters: Spline filters
[28]ISO 16610-80 9 , Geometrical product specifications (GPS) — Filtration — 80: Morphological areal filters: Basic concepts
[29]ISO 16610-81 10 , Geometrical product specifications (GPS) — Filtration — 81: Morphological areal filters: Sphere and horizontal planar segment filters
[30]ISO 16610-82 11 , Geometrical product specifications (GPS) — Filtration — 82: Morphological areal filters: Motif filters
[31]ISO 16610-89 12 , Geometrical product specifications (GPS) — Filtration — 89: Morphological areal filters: Scale space techniques
[32]ISO 80000-2:2009, Quantities and units — 2: Mathematical signs and symbols to be used in the natural sciences and technology
[33]ISO/IEC Guide 98-3:2008, Uncertainty of measurement — 3: Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995)
[34]Matheron G., Random sets and integral geometry. John Wiley & Sons. 1975