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ISO 18118:2004 (W) 表面化学分析 — オージェ電子分光法およびX線光電子分光法 — 均質材料の定量分析のための実験的に決定された相対感度係数の使用へのガイド

ISO 18118:2004の概要

ISO18118:2004の規格概要

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Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy — Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials

ISO 18118:2004は、オージェ電子分光法とX線光電子分光法による均質材料の定量分析のための実験的に決定された相対感度係数の測定と使用に関するガイダンスを提供します。

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

ISO18118:2004 国際規格 情報

ISO 国際規格番号
ISO 18118:2004
ISO 国際規格名称
Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy — Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
ISO 規格名称 日本語訳
表面化学分析 — オージェ電子分光法およびX線光電子分光法 — 均質材料の定量分析のための実験的に決定された相対感度係数の使用へのガイド
発行日 (Publication date)
2004-05
廃止日：撤回日 (Abolition date,Withdrawal date)
2015-04-08
状態 (Status)
撤回されました (Withdrawn)
改訂 (Edition)
1
PDF ページ数 (Number of pages)
23
TC（専門委員会）:Technical Committee
ISO/TC 201/SC 7 電子分光法：(Electron spectroscopies)
ICS：International Classification for Standards（国際規格分類）
71.040.40：Chemical analysis,
ISO 対応 JIS 規格
表面化学分析―オージェ電子分光法及びX線光電子分光法―均質物質定量分析のための実験的に求められた相対感度係数の使用指針,
ICS 対応 JIS 規格
71.040.40

ISO 18118:2004 関連規格 履歴一覧

ISO18118:2004 対応 JIS 規格一覧

ISO18118:2004 ICS 対応 JIS 規格

ICS > 71：化学技術 > 71.040：分析化学 > 71.040.40：化学分析

ISO 18118:2004 修正 一覧 (Amendments)

ISO 18118:2004 正誤表 一覧 (Corrigenda)

ISO 18118:2004 規格の現段階 ステージ (Stage codes: 95) 撤回、削除

サブステージコード 95.99 国際規格の撤回 (Withdrawal of International Standard)

ISO 18118:2004 持続可能な開発目標 SDGS

この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。

  • 17の目標 : [Sustainable Development Goal]

    SDGsとは、「Sustainable Development Goals（持続可能な開発目標）」の略称で、2015年9月に国連で採択された2030年までの国際開発目標。17の目標と169のターゲット達成により、「誰一人取り残さない」社会の実現に向け、途上国及び先進国で取り組むものです。