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ISO 18554:2016 表面化学分析—電子分光法— X線光電子分光法による分析を受けている材料のX線による意図しない劣化を特定、推定、および修正するための手順

ISO 18554:2016の概要

ISO18554:2016の規格概要

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Surface chemical analysis — Electron spectroscopies — Procedures for identifying, estimating and correcting for unintended degradation by X-rays in a material undergoing analysis by X-ray photoelectron spectroscopy

ISO 18554:2016は、試料材料がX線に曝されている間にX線の結果として発生する、材料の元素組成または化学状態の意図しない劣化を特定、推定、および修正するための簡単な手順を提供します。

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

ISO18554:2016 国際規格 情報

ISO 国際規格番号
ISO 18554:2016
ISO 国際規格名称
Surface chemical analysis — Electron spectroscopies — Procedures for identifying, estimating and correcting for unintended degradation by X-rays in a material undergoing analysis by X-ray photoelectron spectroscopy
ISO 規格名称 日本語訳
表面化学分析 — 電子分光法 — X線光電子分光法による分析を受けている材料のX線による意図しない劣化を特定、推定、および補正するための手順
発行日 (Publication date)
2016-03-18
更新日：確認日 (Update date,Date confirmed)
2021-06-17
状態 (Status)
公開中,公開済み (Published)
改訂 (Edition)
1
PDF ページ数 (Number of pages)
17
TC（専門委員会）:Technical Committee
ISO/TC 201/SC 7：電子分光法 (Electron spectroscopies)
ICS：International Classification for Standards（国際規格分類）
71.040.40：化学分析 (Chemical analysis)
ISO 対応 JIS 規格
ICS 対応 JIS 規格
ICS > 71 > 71.040 > 71.040.40

ISO 18554:2016 関連規格 履歴一覧

ISO18554:2016 対応 JIS 規格一覧

ISO18554:2016 ICS 対応 JIS 規格

ICS > 71：化学技術  > 71.040：分析化学  > 71.040.40：化学分析

正誤表/修正 一覧 (Corrigenda/Amendments)

改訂 一覧 (Revised)

SDGs 情報

この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。