/

ISO 19318:2004 (W) 表面化学分析 — X線光電子分光法 — 電荷制御および電荷補正に使用される方法の報告

ISO 19318:2004の概要

ISO19318:2004の規格概要

閲覧 情報

Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Reporting of methods used for charge control and charge correction

ISO 19318:2004は、分析結果とともに報告されるX線光電子分光法による絶縁試料のコアレベルの結合エネルギーの測定における電荷制御と電荷補正の方法を説明する最小限の情報を指定しています。結合エネルギーの測定における電荷制御および電荷補正に役立つことがわかっている方法に関する情報も提供されます。

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

ISO19318:2004 国際規格 情報

ISO 国際規格番号
ISO 19318:2004
ISO 国際規格名称
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Reporting of methods used for charge control and charge correction
ISO 規格名称 日本語訳
表面化学分析 — X線光電子分光法 — 電荷制御および電荷補正に使用される方法の報告
発行日 (Publication date)
2004-05
廃止日：撤回日 (Abolition date,Withdrawal date)
2021-06-04
状態 (Status)
撤回されました (Withdrawn)
改訂 (Edition)
1
PDF ページ数 (Number of pages)
11
TC（専門委員会）:Technical Committee
ISO/TC 201/SC 7 電子分光法：(Electron spectroscopies)
ICS：International Classification for Standards（国際規格分類）
71.040.40：Chemical analysis,
ISO 対応 JIS 規格
ICS 対応 JIS 規格

ISO 19318:2004 関連規格 履歴一覧

ISO19318:2004 対応 JIS 規格一覧

ISO19318:2004 ICS 対応 JIS 規格

ICS > 71：化学技術 > 71.040：分析化学 > 71.040.40：化学分析

ISO 19318:2004 修正 一覧 (Amendments)

ISO 19318:2004 正誤表 一覧 (Corrigenda)

ISO 19318:2004 規格の現段階 ステージ (Stage codes: 95) 撤回、削除

サブステージコード 95.99 国際規格の撤回 (Withdrawal of International Standard)

ISO 19318:2004 持続可能な開発目標 SDGS

この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。