※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
序文
ISO (国際標準化機構) は、各国の標準化団体 (ISO メンバー団体) の世界的な連合です。国際規格の作成作業は、通常、ISO 技術委員会を通じて行われます。技術委員会が設立された主題に関心のある各会員団体は、その委員会に代表される権利を有します。 ISOと連携して、政府および非政府の国際機関もこの作業に参加しています。 ISO は、電気技術の標準化に関するすべての問題について、国際電気標準会議 (IEC) と緊密に協力しています。
この文書の作成に使用された手順と、今後の維持のために意図された手順は、ISO/IEC 指令のPart 1 で説明されています。特に、さまざまな種類の ISO 文書に必要なさまざまな承認基準に注意する必要があります。この文書は、ISO/IEC 指令のPart 2 の編集規則に従って起草されました ( www.iso.org/directives を参照)
このドキュメントの要素の一部が特許権の対象となる可能性があることに注意してください。 ISO は、そのような特許権の一部または全部を特定する責任を負わないものとします。ドキュメントの開発中に特定された特許権の詳細は、序文および/または受信した特許宣言の ISO リストに記載されます ( www.iso.org/patents を参照)
このドキュメントで使用されている商号は、ユーザーの便宜のために提供された情報であり、保証を構成するものではありません。
適合性評価に関連する ISO 固有の用語および表現の意味に関する説明、および技術的貿易障壁 (TBT) における WTO 原則への ISO の準拠に関する情報については、次の URL を参照して ください 。
この文書を担当する委員会は、ISO/TC 226, 生産一次アルミニウムの材料です。
序章
この国際規格は、オーストラリア規格 AS 2879.3-2010, アルミナ - X 線回折によるアルファ アルミナ含有量の測定に基づいています。
1 スコープ
この国際規格は、製錬所グレードのアルミナのアルファ アルミナ含有量を決定するための X 線回折法を規定しています。この方法は、最大 50% のレベルでアルファ相を含む製錬所グレードのアルミナに適用できます。 αアルミナの質量パーセントは、「受け取ったまま」で決定される。
2 参考文献
以下の文書の全体または一部は、この文書で規範的に参照されており、その適用に不可欠です。日付のある参考文献については、引用された版のみが適用されます。日付のない参照については、参照文書の最新版 (修正を含む) が適用されます。
- AS 4538.2, アルミナのサンプリングガイド — サンプルの準備
参考文献
| [1] | Klug HP, Alexander LE, 多結晶および非晶質材料の X 線回折手順。ワイリー、ニューヨーク、第 2 版、1974 年 |
| [2] | Burke VE, Jenkins R, Smith DK, 蛍光 X 線および X 線回折分析用の標本の準備に関する実用的なガイド。ジョン・ワイリー・アンド・サンズ、ニューヨーク、1998 |
| [3] | International Center for Diffraction Data, JCPDS-ICDD file no 46-1212, 2003 年版 |
| [4] | AS 2879.3-2010, アルミナ — X 線回折によるアルファ アルミナ含有量の測定 |
| [5] | AS 2850, 化学分析 - 研究所間試験プログラム - 分析方法の精度を決定するため - 計画と実施のガイド |
| [6] | AS 4538.1, アルミナのサンプリングガイド — サンプリング手順 |
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular the different approval criteria needed for the different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www.iso.org/directives ).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or on the ISO list of patent declarations received (see www.iso.org/patents ).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not constitute an endorsement.
For an explanation on the meaning of ISO specific terms and expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the WTO principles in the Technical Barriers to Trade (TBT) see the following URL: Foreword - Supplementary information
The committee responsible for this document is ISO/TC 226, Materials for the production primary aluminium.
Introduction
This International Standard is based on an Australian Standard AS 2879.3-2010, Alumina — Determination of alpha alumina content by X-ray diffraction.
1 Scope
This International Standard sets out an X-ray diffraction method for the determination of the alpha alumina content of smelter grade alumina. The method is applicable to smelter grade alumina containing alpha phase at levels up to 50 %. The percentage by mass of alpha alumina is determined on an “as received” basis.
2 Normative references
The following documents, in whole or in part, are normatively referenced in this document and are indispensable for its application. For dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.
- AS 4538.2, Guide to the sampling of alumina — Preparation of samples
Bibliography
| [1] | Klug H.P., Alexander L.E., X-ray diffraction procedures for polycrystalline and amorphous materials. Wiley, New York, Second Edition, 1974 |
| [2] | Burke V.E., Jenkins R., Smith D.K., A practical guide for preparation of specimens for X-ray fluorescence and X-ray diffraction analysis. John Wiley and Sons, New York, 1998 |
| [3] | International Centre for Diffraction Data, JCPDS-ICDD file no 46-1212, year 2003 version |
| [4] | AS 2879.3-2010, Alumina — Determination of alpha alumina content by X-ray diffraction |
| [5] | AS 2850, Chemical analysis—Inter-laboratory test programs—For determining precision of analytical method(s)—Guide to the planning and conduct |
| [6] | AS 4538.1, Guide to the sampling of alumina — Sampling procedures |