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ISO 20903:2019 表面化学分析—オージェ電子分光法およびX線光電子分光法—結果を報告するときに必要なピーク強度および情報を決定するために使用される方法

ISO 20903:2019の概要

ISO20903:2019の規格概要

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Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy — Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results

この文書は、オージェ電子およびX線光電子スペクトルのピークの強度の測定に基づく分析結果のレポートに必要な情報を指定します。

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

ISO20903:2019 国際規格 情報

ISO 国際規格番号
ISO 20903:2019
ISO 国際規格名称
Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy — Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results
ISO 規格名称 日本語訳
表面化学分析 — オージェ電子分光法およびX線光電子分光法 — 結果を報告するときに必要なピーク強度および情報を決定するために使用される方法
発行日 (Publication date)
2019-02-13
更新日：確認日 (Update date,Date confirmed)
2019-02-13
状態 (Status)
公開中,公開済み (Published)
改訂 (Edition)
3
PDF ページ数 (Number of pages)
17
TC（専門委員会）:Technical Committee
ISO/TC 201/SC 7：電子分光法 (Electron spectroscopies)
ICS：International Classification for Standards（国際規格分類）
71.040.40：化学分析 (Chemical analysis)
ISO 対応 JIS 規格
ICS 対応 JIS 規格
ICS > 71 > 71.040 > 71.040.40

ISO 20903:2019 関連規格 履歴一覧

ISO20903:2019 対応 JIS 規格一覧

ISO20903:2019 ICS 対応 JIS 規格

ICS > 71：化学技術  > 71.040：分析化学  > 71.040.40：化学分析

正誤表/修正 一覧 (Corrigenda/Amendments)

改訂 一覧 (Revised)

SDGs 情報

この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。