この規格 プレビューページの目次
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
3 用語と定義
このドキュメントの目的のために、ISO 11145 および以下に記載されている用語と定義が適用されます。
3.1
表面損傷
対象製品の意図された動作に関連する検査技術と感度で観察できる、試験片の表面の特性におけるレーザー放射による永久的な変化。
注記 1:光学部品の前面または背面に損傷が生じる場合があります。表面と裏面で損傷閾値が異なる場合があります。
3.2
バルクダメージ
検査技術と関連する製品の意図された操作に関連する感度で観察できる、試験片のバルクの特性の永久的なレーザー放射誘起変化。
3.3
1対1のテスト
試験片表面の非露光部位ごとに 1 ショットのレーザー放射を使用する試験プログラム
3.4
線形電力密度
Fth
これを超えると損傷が発生する可能性がある、1 センチメートルあたりのワット数 (W/cm) で表される線形電力密度のしきい値
注記 1:線形電力密度は、連続発振および長パルス動作に適用されます。レーザー損傷を考慮すると、熱遷移距離 (2 Dτeff ) 1/2 ( Dは熱拡散率) がテスト スポットの直径dT,effと同じオーダーのサイズである場合、長いパルスが想定されます。
3.5
S-on-1 テスト
一連のパルス間の時間間隔の長さは、パルス繰り返しの逆数によって与えられる。レーザー光源の速度
3.6
尋問サイトあたりの発砲数
S
S-on-1 テストで使用されるパルス列のパルス数
3.7
しきい値
外挿された損傷確率がゼロである光学部品に入射するレーザー放射の最大量。レーザー放射の量は、エネルギー密度Hth 、パワー密度Eth 、または線形パワー密度Fthとして表すことができます。
3.8
目標面
試験レーザー光線の軸と試験片の表面との交点における試験片の表面に接する平面。
3.9
有効面積
AT,eff
ターゲット面におけるレーザーパルスの最大エネルギー密度に対するパルスエネルギーの比
注記 1:ビーム伝搬方向に垂直な空間ビーム プロファイリングおよび 0 rad とは異なる入射角の場合、入射角の余弦が有効面積の計算に含まれます。
3.10
有効ビーム径
dT,eff
(1)
3.11
実効パルス持続時間
τeff
パルスエネルギーとパルスのピークパルスパワーの比
3.12
典型的なパルス
S-on-1 テストで使用される一連のパルスを形成するパルスの平均特性を表す時間的および空間的形状をもつパルス。
3.13
最小パルス数
N分
検出可能な損傷を引き起こすのに必要な入射パルスの数
3.14
特徴的なダメージ曲線
指定されたパルス繰り返し率でのサイトあたりのパルス数の関数としての S-on-1 レーザー誘起損傷閾値の表現
参考文献
| [1] | ISO 10110-17, 光学およびフォトニクス — 光学素子およびシステムの図面の作成 — 17：レーザー照射ダメージ閾値 |
| [2] | ISO/TR 11146-3, レーザーおよびレーザー関連機器 — レーザービーム幅、発散角、およびビーム伝搬比の試験方法 — 3: 本質的および幾何学的なレーザー ビームの分類、伝播、およびテスト方法の詳細 |
| [3] | ISO 11554, 光学およびフォトニクス - レーザーおよびレーザー関連機器 - レーザー ビームの出力、エネルギー、および時間特性の試験方法 |
| [4] | ISO 14997, 光学およびフォトニクス — 光学要素の表面欠陥の試験方法 |
| [5] | McCullagh , P. and Nelder, JA Generalized Linear Models , 2nd edition, Chapman and Hall, London, 1989. ISBN 0-412-31760-5 .第 4 章、バイナリ データ |
レーザーガラスの損傷:
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レーザー材料の損傷:
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| [8] | G lass , AJ および G uenther , AH, eds.レーザー材料の損傷: 1971 年、Nat.バー。 Stand. (US) Spec.パブリケーション 356 (1971) |
光学材料のレーザー誘起損傷 (1972 年から 2010 年):
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| [27] | Bennett 、彼、 Case 、LL, G uenther 、AH, Newnam 、BE, およびSoileau 、MJ, 編。光学材料のレーザー誘起損傷: 1990 、ASTM STP 1141 および Proc. SPIE 1441 (1991) |
| [28] | Bennett 、彼、 Case 、LL, G uenther 、AH, Newnam 、BE, およびSoileau 、MJ, 編。光学材料のレーザー誘起損傷: 1991 、Pro SPIE 1624 (1992) |
| [29] | Bennett 、彼、 Case 、LL, G uenther 、AH, Newnam 、BE, および Soileau, MJ, 編。光学材料のレーザー誘起損傷: 1992 、Pro SPIE 1848 (1993) |
| [30] | Bennett 、彼、 Case 、LL, G uenther 、AH, Newnam 、BE, およびSoileau 、MJ, 編。光学材料のレーザー誘起損傷：1993年、Pro SPIE 2114 (1994) |
| [31] | Bennett, HE, Günther , AH, Kozlowski , MR, Newnam , BE and Soileau , MJ, eds.光学材料のレーザー誘起損傷: 1994 、Pro SPIE 2428 (1995) |
| [32] | Bennett, HE, Günther , AH, Kozlowski , MR, Newnam , BE and Soileau , MJ, eds.光学材料のレーザー誘起損傷: 1995 、Pro SPIE 2714 (1996) |
| [33] | Bennett, HE, Günther , AH, Kozlowski , MR, Newnam , BE and Soileau , MJ, eds.光学材料のレーザー誘起損傷: 1996 、Pro SPIE 2966 (1997) |
| [34] | Exarhos , GJ, Guenther , AH, Kozlowski , MR and Soileau , MJ, eds.光学材料のレーザー誘起損傷: 1997 、Pro SPIE 3244 (1998) |
| [35] | Exarhos 、GJ, Guenther 、AH, Kozlowski 、MR, Lewis, K.およびSoileau, MJ, 編。光学材料のレーザー誘起損傷: 1998 、Pro SPIE 3578 (1999) |
| [36] | Exarhos 、GJ, Guenther 、AH, Kozlowski 、MR, Lewis, K.およびSoileau, MJ, 編。光学材料のレーザー誘起損傷: 1999 、Pro SPIE 3902 (2000) |
| [37] | Exarhos 、GJ, Guenther 、AH, Kozlowski 、MR, Lewis, K.およびSoileau, MJ, 編。光学材料のレーザー誘起損傷：2000年、Pro SPIE 4347 (2001) |
| [38] | Exarhos , GJ, Guenther , AH, Lewis, K., Soileau, MJ and Stolz , CJ, eds.光学材料のレーザー誘起損傷：2001年、Pro SPIE 4679 (2002) |
| [39] | Exarhos 、GJ, G uenther 、AH, Lewis 、K, Kaiser 、N, S oileau 、MJ, およびStolz 、CJ, 編。光学材料のレーザー誘起損傷: 2002 、Pro SPIE 4932 (2003) |
| [40] | Exarhos 、GJ, G uenther 、AH, Lewis 、K, Kaiser 、N, S oileau 、MJ, およびStolz 、CJ, 編。光学材料のレーザー誘起損傷：2003年、Pro SPIE 5273 (2004) |
| [41] | Exarhos 、GJ, G uenther 、AH, Lewis 、K, Kaiser 、N, S oileau 、MJ, およびStolz 、CJ, 編。光学材料のレーザー誘起損傷: 2004 、Pro SPIE 5647 (2005) |
| [42] | Exarhos , GJ, Guenther , AH, Lewis , K, Ristau , D, Soileau , MJ and Stolz , CJ, eds.光学材料のレーザー誘起損傷: 2005 、Pro SPIE 5991 (2006) |
| [43] | Exarhos , GJ, Guenther , AH, Lewis , K, Ristau , D, Soileau , MJ and Stolz , CJ, eds.光学材料のレーザー誘起損傷: 2006 、Pro SPIE 6403 (2007) |
| [44] | Exarhos , GJ, Guenther , AH, Lewis , K, Ristau , D, Soileau , MJ and Stolz , CJ, eds.光学材料のレーザー誘起損傷: 2007 、Pro SPIE 6720 (2008) |
| [45] | Exarhos , GJ, Ristau , D., Soileau , MJ and Stolz , CJ, eds.光学材料のレーザー誘起損傷: 2008 、Pro SPIE 7132 (2008) |
| [46] | Exarhos , GJ, Gruzdev , VE, Ristau , D., Soileau , MJ and Stolz , CJ, eds.光学材料のレーザー誘起損傷: 2009 、Pro SPIE 7504 (2009) |
| [47] | Exarhos 、GJ, Gruzdev 、VE, Menapace 、JA, Ristau 、D.およびSoileau 、MJ, 編。光学材料のレーザー誘起損傷: 2010 、Pro SPIE 7842 (2010) |
コンパクトディスク：
| [48] | Gunther , AH, ed. Laser-Induced Damage in Optical Materials: Collected papers 1969-1998 (SPIE, PO Box 10, Bellingham, WA 98227-0010, USA) (1999) |
| [49] | Gunther , AH, ed. Laser-Induced Damage in Optical Materials: Collected papers 1999-2003 (CD-ROM は SPIE, PO Box 10, Bellingham, WA 98227-0010, USA から入手可能) (2004) |
| [50] | Laser-Induced Damage in Optical Materials: 40th Anniversary Collected Papers on DVD, 1969-2008 (特別コレクション) , Proceedings of SPIE Volume CDP50 |
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 11145 and the following apply.
3.1
surface damage
any permanent laser-radiation-induced change in the characteristics of the surface of the specimen which can be observed by an inspection technique and at a sensitivity related to the intended operation of the product concerned
Note 1 to entry: Damage may occur on the front surface or the rear surface of the optical component. The damage threshold value for the front surface may differ from that for the rear surface.
3.2
bulk damage
any permanent laser-radiation-induced change in the characteristics of the bulk of the specimen which can be observed by an inspection technique and at a sensitivity related to the intended operation of the product concerned
3.3
1-on-1 test
test programme that uses one shot of laser radiation on each unexposed site on the specimen surface
3.4
linear power density
Fth
linear power density threshold, expressed in watts per centimetre (W/cm), above which damage might occur
Note 1 to entry: The linear power density is applicable for cw and long-pulse operation. For laser damage considerations, a long pulse is assumed when the thermal transit distance (2 Dτeff)1/2, where D is the thermal diffusivity, is of the same order of size as the test spot diameter dT,eff.
3.5
S-on-1 test
test programme that uses a series of pulses with constant energy density on each unexposed site with a short and constant time interval between two successive pulses, where the length of the time interval between the pulses of a series is given by the reciprocal of the pulse repetition rate of the laser source
3.6
number of shots per interrogation site
S
number of pulses in a pulse train used in an S-on-1 test
3.7
threshold
highest quantity of laser radiation incident upon the optical component for which the extrapolated probability of damage is zero, where the quantity of laser radiation may be expressed as energy density Hth, power density Eth, or linear power density Fth
3.8
target plane
plane tangential to the surface of the specimen at the point of intersection of the test laser beam axis with the surface of the specimen
3.9
effective area
AT,eff
ratio of pulse energy to maximum energy density of the laser pulse in the target plane
Note 1 to entry: For spatial beam profiling perpendicular to the direction of beam propagation and for angles of incidence differing from 0 rad, the cosine of the angle of incidence is included in the calculation of the effective area.
3.10
effective beam diameter
dT,eff
(1)
3.11
effective pulse duration
τeff
ratio of pulse energy to peak pulse power of the pulse
3.12
typical pulse
pulse with temporal and spatial shapes that represent the average properties of the pulses forming a pulse series used in an S-on-1 test
3.13
minimum number of pulses
Nmin
number of incident pulses necessary to cause detectable damage
3.14
characteristic damage curve
representation of the S-on-1 laser-induced damage threshold as a function of the number of pulses per site at a specified pulse repetition rate
Bibliography
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| [2] | ISO/TR 11146-3, Lasers and laser-related equipment — Test methods for laser beam widths, divergence angles and beam propagation ratios — 3: Intrinsic and geometrical laser beam classification, propagation and details of test methods |
| [3] | ISO 11554, Optics and photonics — Lasers and laser-related equipment — Test methods for laser beam power, energy and temporal characteristics |
| [4] | ISO 14997, Optics and photonics — Test methods for surface imperfections of optical elements |
| [5] | McCullagh, P. and Nelder, J.A. Generalized Linear Models, 2nd edition, Chapman and Hall, London, 1989. ISBN 0-412-31760-5. Chapter 4, Binary data |
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| [45] | Exarhos, G.J., Ristau, D., Soileau, M.J. and Stolz, C.J., eds. Laser-Induced Damage in Optical Materials: 2008, Proc. SPIE 7132 (2008) |
| [46] | Exarhos, G.J., Gruzdev, V.E., Ristau, D., Soileau, M.J. and Stolz, C.J., eds. Laser-Induced Damage in Optical Materials: 2009, Proc. SPIE 7504 (2009) |
| [47] | Exarhos, G.J., Gruzdev, V.E., Menapace, J.A., Ristau, D. and Soileau, M.J., eds. Laser-Induced Damage in Optical Materials: 2010, Proc. SPIE 7842 (2010) |
Compact discs:
| [48] | Guenther, A.H., ed. Laser-Induced Damage in Optical Materials: Collected papers 1969-1998 (a three CD-ROM set available from SPIE, P.O. Box 10, Bellingham, WA 98227-0010, USA) (1999) |
| [49] | Guenther, A.H., ed. Laser-Induced Damage in Optical Materials: Collected papers 1999-2003 (CD-ROM available from SPIE, P.O. Box 10, Bellingham, WA 98227-0010, USA) (2004) |
| [50] | Laser-Induced Damage in Optical Materials: 40th Anniversary Collected Papers on DVD, 1969-2008 (Special Collection), Proceedings of SPIE Volume CDP50 |