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ISO 22415:2019 表面化学分析—二次イオン質量分析—有機材料のアルゴンクラスタースパッタ深さプロファイリングにおける収量量を決定する方法

ISO 22415:2019の概要

ISO22415:2019の規格概要

閲覧 情報

Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Method for determining yield volume in argon cluster sputter depth profiling of organic materials

このドキュメントでは、特定の有機材料のアルゴンクラスタースパッタリング収率を測定および報告する方法を指定します。

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

ISO22415:2019 国際規格 情報

ISO 国際規格番号
ISO 22415:2019
ISO 国際規格名称
Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Method for determining yield volume in argon cluster sputter depth profiling of organic materials
ISO 規格名称 日本語訳
表面化学分析 — 二次イオン質量分析 — 有機材料のアルゴンクラスタースパッタ深さプロファイリングにおける収量量を決定するための方法
発行日 (Publication date)
2019-05-10
更新日：確認日 (Update date,Date confirmed)
2019-05-10
状態 (Status)
公開中,公開済み (Published)
改訂 (Edition)
1
PDF ページ数 (Number of pages)
30
TC（専門委員会）:Technical Committee
ISO/TC 201/SC 6：二次イオン質量分析法 (Secondary ion mass spectrometry)
ICS：International Classification for Standards（国際規格分類）
71.040.40：化学分析 (Chemical analysis)
ISO 対応 JIS 規格
ICS 対応 JIS 規格
ICS > 71 > 71.040 > 71.040.40

ISO 22415:2019 関連規格 履歴一覧

ISO22415:2019 対応 JIS 規格一覧

ISO22415:2019 ICS 対応 JIS 規格

ICS > 71：化学技術  > 71.040：分析化学  > 71.040.40：化学分析

正誤表/修正 一覧 (Corrigenda/Amendments)

改訂 一覧 (Revised)

SDGs 情報

この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。