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※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
序章
多電極アレイ技術は、1970 年代[1] から [5]まで、金属や合金の電気化学的挙動や局所的な腐食を研究するために使用されてきました。多電極アレイは、実験室[2] から [16]で金属の時空間挙動を研究し、不均一な腐食、特に実験室や工場での局部腐食を監視するための非常に強力なツールであることが実証されています[17] 。マルチ電極アレイは、金属腐食の統計的挙動の研究[1] [18]および阻害剤の評価[19]のためのハイスループット プローブとしても使用されます。
このドキュメントは、多電極アレイを使用して腐食測定を実施するための要件と手順の概要を説明することを目的としています。
国際標準化機構 (ISO) は、この文書への準拠には特許の使用が含まれる可能性があると主張しているという事実に注目しています。
ISO は、この特許権の証拠、有効性、および範囲に関していかなる立場も取りません。
この特許権の所有者は、世界中の申請者と合理的かつ非差別的な条件の下でライセンスを交渉する意思があることを ISO に保証しています。この点、本特許権者の陳述書はISOに登録されています。情報は、 www.iso.org/patents で入手できる特許データベースから入手できます。
このドキュメントの一部の要素が、特許データベース内のもの以外の特許権の対象である可能性があることに注意してください。 ISO は、そのような特許権の一部または全部を特定する責任を負わないものとします。
Introduction
Multielectrode array technology has been used to study electrochemical behaviours and the localized corrosion of metals and alloys since the 1970s[1] to [5]. It has been demonstrated that multielectrode arrays are highly powerful tools for studying the spatiotemporal behaviour of metals in laboratories[2] to [16] and for monitoring non-uniform corrosion, especially localized corrosion in laboratories and plants[17]. Multielectrode arrays are also used as high throughput probes for studying the statistical behaviour of metal corrosion[1][18] and for the evaluation of inhibitors[19].
This document is designed to outline the requirements and procedures for conducting corrosion measurements using multielectrode arrays.
The International Organization for Standardization (ISO) draws attention to the fact that it is claimed that compliance with this document may involve the use of a patent.
ISO takes no position concerning the evidence, validity and scope of this patent right.
The holder of this patent right has assured ISO that he/she is willing to negotiate licences under reasonable and non-discriminatory terms and conditions with applicants throughout the world. In this respect, the statement of the holder of this patent right is registered with ISO. Information may be obtained from the patent database available at www.iso.org/patents .
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent rights other than those in the patent database. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.