ISO 25178-701:2010 幾何学的製品仕様(GPS)—表面テクスチャ:面積—パート701:接触(スタイラス)機器の校正および測定基準 | ページ 2

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

序文

ISO (国際標準化機構) は、各国の標準化団体 (ISO メンバー団体) の世界的な連合です。国際規格の作成作業は、通常、ISO 技術委員会を通じて行われます。技術委員会が設立された主題に関心のある各会員団体は、その委員会に代表される権利を有します。 ISOと連携して、政府および非政府の国際機関もこの作業に参加しています。 ISO は、電気技術の標準化に関するすべての問題について、国際電気標準会議 (IEC) と緊密に協力しています。

国際規格は、ISO/IEC 指令のPart 2 部で規定されている規則に従って作成されます。

技術委員会の主な任務は、国際規格を準備することです。技術委員会によって採択されたドラフト国際規格は、投票のためにメンバー団体に配布されます。国際規格として発行するには、投票するメンバー団体の少なくとも 75% による承認が必要です。

このドキュメントの要素の一部が特許権の対象となる可能性があることに注意してください。 ISO は、そのような特許権の一部または全部を特定する責任を負わないものとします。

ISO 25178-701 は、技術委員会 ISO/TC 213, 寸法および幾何学的製品の仕様と検証によって作成されました。

ISO 25178 は、次の部分で構成されており、一般的なタイトルは「幾何学的製品仕様 (GPS) - 表面テクスチャ: 面積」です。

  • Part 2: 用語、定義、および表面テクスチャ パラメータ
  • Part 3: 指定演算子
  • 第6部:表面性状の測定方法の分類
  • Part 7: ソフトウェア測定基準
  • Part 601: 接触 (スタイラス) 器具の公称特性
  • パート602:非接触(共焦点クロマティックプローブ)機器の公称特性
  • Part 603: 非接触 (位相シフト干渉顕微鏡) 機器の公称特性
  • Part 701: 接触 (スタイラス) 機器の校正および測定基準

次の部分は準備中です。

  • Part 604: 非接触 (コヒーレンス走査干渉法) 機器の公称特性
  • パート605:非接触(ポイントオートフォーカス)機器の公称特性

序章

ISO 25178 のこの部分は、幾何学的な製品仕様規格であり、一般的な GPS 規格とみなされます (ISO/TR 14638 を参照)それは面の表面性状の標準のチェーンのチェーン リンク 6 に影響を与えます。

この規格と GPS マトリックス モデルとの関係の詳細については、付録 C を参照してください。

ISO 25178 のこの部分は、それが定義する面積表面性状測定機器に関するものです。

  • メーカーから提供されていない場合、機器の主な計測特性に関連する系統誤差
  • キャリブレーション操作モード、
  • 潜在的なエラーの評価のための結果の分析、および
  • 是正措置の決定規則。

これにより、計測器の計測特性に関連し、面のテクスチャ パラメータの評価に影響を与える測定の不確かさの一部を評価できます。

これらの計測特性は、以下に定義する測定基準、または ISO 5436-1 と ISO 5436-2 で説明されている測定基準、およびオプティカル フラットなどの補完的な基準を使用して機器をテストすることによって検証されます。

目的は、補正された X, Y, および Z 量の誤差を、単純な形状 (つまり、オプティカル フラット、球体など) を持つ材料測定基準を使用して評価することです。

  • 不確実性は表面性状標準よりも低く、
  • それらの特性は、表面テクスチャ パラメータとは無関係です。

校正手順は、測定機器のステータスを報告します。レポートに応じて、ユーザーは是正措置を実行するか、機器メーカーに警告するかを決定できます。

方法は次のとおりです。

  • a)基本的に補正された量 X, Y および Z の誤差の評価。
  • b) ISO 5436-2 および ISO 25178-7 で定義されているソフトウェア測定規格の助けを借りてチェックされた、フィルタリングおよびパラメーターの計算に使用される数学的アルゴリズムによる不確実性の評価。

1 スコープ

ISO 25178 のこの部分は、

  • 測定基準として使用される材料メジャーの特性、
  • 残差の推定方法、および
  • 受け入れおよび定期的な再検証のための校正方法と試験

面粗さ接触(スタイラス)測定器用。

2 参考文献

本書の適用には、以下の参考文献が不可欠です。日付のある参考文献については、引用された版のみが適用されます。日付のない参照については、参照文書の最新版 (修正を含む) が適用されます。

  • ISO 3274, Geometrical Product Specifications (GPS) — 表面テクスチャ: プロファイル法 — 接触 (スタイラス) 器具の公称特性
  • ISO 5436-1:2000, Geometrical Product Specifications (GPS) — 表面テクスチャ: プロファイル法;測定基準 — Part 1: 材料測定
  • ISO 5436-2, 幾何学的製品仕様 (GPS) — 表面テクスチャ: プロファイル法;測定基準 — Part 2: ソフトウェア測定基準
  • ISO 12085, Geometrical Product Specifications (GPS) — 表面テクスチャ: プロファイル法 — モチーフ パラメータ
  • ISO 12179:2000, Geometrical Product Specifications (GPS) — 表面テクスチャ: プロファイル法 — 接触 (スタイラス) 器具の校正
  • ISO/TS 12181-1, Geometrical Product Specifications (GPS) — 真円度 — Part 1: 真円度の語彙とパラメーター
  • ISO/TS 12780-1, Geometrical Product Specifications (GPS) — 真直度 — Part 1: 真直度の語彙とパラメーター
  • ISO/TS 12781-1, Geometrical Product Specifications (GPS) — Flatness — Part 1: Vocabulary and parameters of flatness
  • ISO/TS 14253-2, Geometrical Product Specifications (GPS) — ワークピースおよび測定機器の測定による検査 — Part 2: GPS 測定、測定機器の校正、および製品検証における不確かさの推定に関するガイド
  • ISO 25178-2, 幾何学的製品仕様 (GPS) — 表面テクスチャ: 面 — Part 2: 用語、定義、および表面テクスチャ パラメータ
  • ISO 25178-601, 幾何学的製品仕様 (GPS) — 表面テクスチャ: 面 — Part 601: 接触 (スタイラス) 器具の公称特性
  • ISO/IEC Guide 99:2007, 計量に関する国際語彙 — 基本的および一般的な概念と関連用語 (VIM)

3 用語と定義

このドキュメントの目的のために、ISO 3274, ISO 25178-2, ISO 25178-601, および ISO/IEC Guide 99 に記載されている用語と定義が適用されます。

参考文献

[1]ISO 4287, Geometrical Product Specifications (GPS) — 表面テクスチャ: プロファイル法 — 用語、定義、および表面テクスチャ パラメータ
[2]ISO 4288, Geometrical Product Specifications (GPS) — 表面性状: プロファイル法 — 表面性状の評価のための規則と手順
[3]ISO 11562, Geometrical Product Specifications (GPS) — 表面テクスチャ: プロファイル法 — 位相補正フィルターの計測特性
[4]ISO 14406, 幾何学的製品仕様 (GPS) — データ抽出
[5]ISO/TR 14638, 幾何学的製品仕様 (GPS) — マスター プラン
[6]ISO 14978, 幾何学的製品仕様 (GPS) — GPS 測定機器の一般的な概念と要件
[7]ISO 25178-3, 幾何学的製品仕様 (GPS) — 表面テクスチャ: 面積 — Part 3: 仕様演算子
[8]ISO 25178-6, 幾何学的製品仕様 (GPS) — 表面性状: 面積 — Part 6: 表面性状測定方法の分類
[9]ISO 25178-7, 幾何学的製品仕様 (GPS) — 表面テクスチャ: 面積 — Part 7: ソフトウェア測定規格
[10]B lunt , L. and Jiang , X., Advanced Techniques for Assessment Surface Topography: Development of a Basis for 3D Surface Texture Standards , Kogan Page Science, London; 2003年、ISBN 1-903996-11-2

Foreword

ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.

International Standards are drafted in accordance with the rules given in the ISO/IEC Directives, Part 2.

The main task of technical committees is to prepare International Standards. Draft International Standards adopted by the technical committees are circulated to the member bodies for voting. Publication as an International Standard requires approval by at least 75 % of the member bodies casting a vote.

Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.

ISO 25178-701 was prepared by Technical Committee ISO/TC 213, Dimensional and geometrical product specifications and verification.

ISO 25178 consists of the following parts, under the general title Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal:

  • Part 2: Terms, definitions and surface texture parameters
  • Part 3: Specification operators
  • Part 6: Classification of methods for measuring surface texture
  • Part 7: Software measurement standards
  • Part 601: Nominal characteristics of contact (stylus) instruments
  • Part 602: Nominal characteristics of non-contact (confocal chromatic probe) instruments
  • Part 603: Nominal characteristics of non-contact (phase-shifting interferometric microscopy) instruments
  • Part 701: Calibration and measurement standards for contact (stylus) instruments

The following parts are under preparation:

  • Part 604: Nominal characteristics of non-contact (coherence scanning interferometry) instruments
  • Part 605: Nominal characteristics of non-contact (point autofocusing) instruments

Introduction

This part of ISO 25178 is a geometrical product specification standard and is to be regarded as a general GPS standard (see ISO/TR 14638). It influences chain link 6 of the chains of standards on areal surface texture.

For more detailed information of the relation of this standard to the GPS matrix model, see Annex C.

This part of ISO 25178 concerns the areal surface texture measuring instruments for which it defines

  • the systematic errors linked with main metrological characteristics of the instrument if they are not given by the manufacturer,
  • the calibration operation mode,
  • the analysis of the results for the assessment of the potential errors, and
  • the decision rules for corrective actions.

It allows the evaluation of the part of the measurement uncertainty which is linked with the metrological characteristics of the instrument and which influences the assessment of areal surface texture parameters.

These metrological characteristics are verified by testing the instrument with the measurement standards defined hereafter or with the measurement standards described in ISO 5436-1 and ISO 5436-2, and with complementary standards like optical flats.

The aim is to assess the errors in the corrected X, Y and Z quantities by using material measurement standards having simple geometry (i.e. optical flat, sphere, etc.) for which

  • the uncertainty is lower than for surface texture standards,
  • their characteristics are independent of the surface texture parameters.

The calibration procedure reports on the status of the measurement equipment. Depending on the report, the user can decide to perform the corrective actions or to alert the equipment manufacturer.

The method is as follows:

  • a) assessment of the errors on the fundamental corrected quantities X, Y and Z;
  • b) assessment of the uncertainty due to the mathematical algorithms used for filtering and for computation of parameters, checked with the help of software measurement standards as defined in ISO 5436-2 and ISO 25178-7.

1 Scope

This part of ISO 25178 specifies

  • the characteristics of material measures used as measurement standards,
  • the estimation methods of the residual errors, and
  • the calibration methods and tests for acceptance and periodical re-verification

for areal surface texture contact (stylus) measurement instruments.

2 Normative references

The following referenced documents are indispensable for the application of this document. For dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.

  • ISO 3274, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Nominal characteristics of contact (stylus) instruments
  • ISO 5436-1:2000, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method; Measurement standards — Part 1: Material measures
  • ISO 5436-2, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method; Measurement standards — Part 2: Software measurement standards
  • ISO 12085, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Motif parameters
  • ISO 12179:2000, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Calibration of contact (stylus) instruments
  • ISO/TS 12181-1, Geometrical Product Specifications (GPS) — Roundness — Part 1: Vocabulary and parameters of roundness
  • ISO/TS 12780-1, Geometrical Product Specifications (GPS) — Straightness — Part 1: Vocabulary and parameters of straightness
  • ISO/TS 12781-1, Geometrical Product Specifications (GPS) — Flatness — Part 1: Vocabulary and parameters of flatness
  • ISO/TS 14253-2, Geometrical Product Specifications (GPS) — Inspection by measurement of workpieces and measuring equipment — Part 2: Guide to the estimation of uncertainty in GPS measurement, in calibration of measuring equipment and in product verification
  • ISO 25178-2, Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal — Part 2: Terms, definitions and surface texture parameters
  • ISO 25178-601, Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal — Part 601: Nominal characteristics of contact (stylus) instruments
  • ISO/IEC Guide 99:2007, International vocabulary of metrology — Basic and general concepts and associated terms (VIM)

3 Terms and definitions

For the purpose of this document, the terms and definitions given in ISO 3274, ISO 25178-2, ISO 25178-601 and ISO/IEC Guide 99 apply.

Bibliography

[1]ISO 4287, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Terms, definitions and surface texture parameters
[2]ISO 4288, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Rules and procedures for the assessment of surface texture
[3]ISO 11562, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Metrological characteristics of phase correct filters
[4]ISO 14406, Geometrical product specifications (GPS) — Data extraction
[5]ISO/TR 14638, Geometrical product specification (GPS) — Masterplan
[6]ISO 14978, Geometrical product specifications (GPS) — General concepts and requirements for GPS measuring equipment
[7]ISO 25178-3, Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal — Part 3: Specification operators
[8]ISO 25178-6, Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal — Part 6: Classification of methods for measuring surface texture
[9]ISO 25178-7, Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal — Part 7: Software measurement standards
[10]Blunt, L. and Jiang, X., Advanced Techniques for Assessment Surface Topography: Development of a Basis for 3D Surface Texture Standards, Kogan Page Science, London; 2003, ISBN 1-903996-11-2