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ISO 29301:2017 (W) マイクロビーム分析 — 分析電子顕微鏡法 — 周期的構造を持つ参照物質を使用して画像倍率を較正する方法

この規格には改訂版があります。

ISO 29301:2017の概要

ISO29301:2017の規格概要

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Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures

ISO 29301:2017は、透過型電子顕微鏡 (TEM) で広い倍率範囲で記録された画像に適用できる校正手順を指定しています、校正に使用する参照物質は、回折格子のレプリカ、半導体またはX線分析用の分析結晶の超格子構造、炭素、金、シリコンの結晶格子像などの周期構造を持っています、このドキュメントは、写真フィルムやイメージングプレートに記録された、またはデジタルカメラに組み込まれたイメージセンサーによって検出されたTEM画像の倍率に適用できます、このドキュメントでは、スケールバーのキャリブレーションについても説明しています、この文書は、専用の限界寸法測定TEM (CD-TEM) および走査型透過電子顕微鏡 (STEM) には適用されません、

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

ISO29301:2017 国際規格 情報

ISO 国際規格番号
ISO 29301:2017
ISO 国際規格名称
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures
ISO 規格名称 日本語訳
マイクロビーム分析 — 分析電子顕微鏡法 — 周期的構造を持つ参照物質を使用して画像倍率を較正する方法
発行日 (Publication date)
2017-12
廃止日：撤回日 (Abolition date,Withdrawal date)
2023-10-16
状態 (Status)
撤回されました (Withdrawn)
改訂 (Edition)
2
PDF ページ数 (Number of pages)
44
TC（専門委員会）:Technical Committee
ISO/TC 202/SC 3 (Analytical electron microscopy)
ICS：International Classification for Standards（国際規格分類）
37.020：光学設備 (Optical equipment)
ISO 対応 JIS 規格
ICS 対応 JIS 規格
ICS > 37 > 37.020

ISO 29301:2017 関連規格 履歴一覧

ISO29301:2017 対応 JIS 規格一覧

ISO29301:2017 ICS 対応 JIS 規格

ICS > 37：映像技術  > 37.020：光学設備

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改訂 一覧 (Revised)

SDGs 情報

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