この規格 プレビューページの目次
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
3 用語と定義
この文書の目的上、ISO 8015, ISO 1101, ISO 17450-1, ISO 17450-2, ISO 22432 および以下で与えられる用語と定義が適用されます。
ISO と IEC は、標準化に使用する用語データベースを次のアドレスで維持しています。
3.1
パターン指定
一連の幾何学的仕様によって示され、公差ゾーン パターンによって制御される複合要件
注記 1:パターン仕様によって制御される幾何学的フィーチャーは、複合フィーチャー、結合フィーチャー、または単一フィーチャーのセットであり、サイズのフィーチャー (直線または角度) にすることができます。
注記 2: 付録 C には、表 C.1 のパターン仕様の例が記載されています。
注記 3:パターン仕様によって制御されるパターン機能のセットは、統合された機能を定義しません。統合されたフィーチャはパターン フィーチャ、つまりパターン仕様によって制御される許容フィーチャのメンバーの 1 つである場合があります。
3.2
パターンの特徴
パターン仕様によって制御される一連のフィーチャーのメンバーである幾何学的フィーチャー
3.3
許容範囲パターン
複数の公差ゾーンの組み合わせ。それらの間に優先順位はなく、方向と位置の制約、または方向の制約があります。
注記 1:公差域パターンは、異なる公称形状を持つことができる複数の公差域で構成されます。
注記 2:公差ゾーンのパターンは、外部制約を使用せずに、またはデータム系からの方向制約や位置制約を使用して確立できます。
3.4
パターンの特徴
パターン仕様によって制御される幾何学的特性
3.5
理論的に正確な特徴パターン
TEFパターン
パターン特性を確立するために使用される、方向と位置の制約、または方向の制約をそれらの間で優先することなく持つ複数の TEF の組み合わせ。
注記 1: TEF パターンは、異なる公称形状を持つことができる複数の TEF で構成され、相対的な位置および/または方向に関してそれらの間で制約されます。
注記 2: TEF パターンは、外部制約を使用せずに、またはデータム系からの方向制約や位置制約を使用して確立できます。
3.6
単一インジケーターパターンの指定
パターン仕様、1 つの公差インジケータ仕様によって制御される
3.7
複数のインジケーターパターンの指定
パターン仕様、複数の公差インジケータ仕様によって制御される
3.8
マルチレベル単一インジケーターパターン仕様
単一のインジケーター パターンの仕様が、許容される機能の複数のグループに適用される
3.9
内部制約
公差ゾーン パターンの個々の公差ゾーン間の位置制約および/または方向制約
3.10
外部制約
公差ゾーンまたは公差ゾーンパターンとデータムシステムの間の位置拘束および/または方向拘束
参考文献
| 1 | ISO 2692, 幾何製品仕様 (GPS) — 幾何公差 — 最大材料要件 (MMR)、最小材料要件 (LMR)、および相反性要件 (RPR) |
| 2 | ISO 3098-2, 製品技術文書 — レタリング — Part 2: ラテン文字、数字および記号 |
| 3 | ISO 3098-5, 製品技術文書 — レタリング — Part 5: ラテン文字、数字およびマークの CAD レタリング |
| 4 | ISO 5459, 幾何製品仕様 (GPS) — 幾何公差 — データムおよびデータム システム |
| 5 | ISO 81714-1, 製品の技術文書で使用するための図記号の設計 — Part 1: 基本規則 |
| 6 | ISO 14253-1, 幾何学的製品仕様書 (GPS) — ワークピースおよび測定装置の測定による検査 — Part 1 部: 仕様への適合または不適合を証明するための決定ルール |
| 7 | ISO 14638, 幾何製品仕様 (GPS) — マトリックス モデル |
| 8 | ISO 17450-4, 幾何学的製品仕様 (GPS) — 一般概念 — Part 4: GPS 偏差を定量化するための幾何学的特性 |
| 9 | ISO 22432, 幾何製品仕様 (GPS) — 仕様と検証に利用される機能 |
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 8015, ISO 1101, ISO 17450-1, ISO 17450-2, ISO 22432 and the following apply.
ISO and IEC maintain terminological databases for use in standardization at the following addresses:
3.1
pattern specification
combined requirement indicated by a set of geometrical specifications, and controlled by a tolerance zone pattern
Note 1 to entry: The geometrical features controlled by a pattern specification can be a set of compound features, united features or single features, which can be features of size (linear or angular).
Note 2 to entry: Annex C provides examples of pattern specifications in Table C.1.
Note 3 to entry: The set of pattern features controlled by a pattern specification does not define a united feature. A united feature can be a pattern feature, i.e. one of the members of the toleranced features controlled by a pattern specification.
3.2
pattern feature
geometrical feature which is a member of the set of features controlled by a pattern specification
3.3
tolerance zone pattern
combination of more than one tolerance zone, having, without priority between them, constraints of orientation and location, or constraints of orientation
Note 1 to entry: A tolerance zone pattern is composed of several tolerance zones which can have different nominal geometries.
Note 2 to entry: A tolerance zone pattern can be established without external constraint or with orientation constraint and/or location constraint from a datum system.
3.4
pattern characteristic
geometrical characteristic controlled by a pattern specification
3.5
theoretical exact feature pattern
TEF pattern
combination of more than one TEF having, without priority between them, constraints of orientation and location, or constraints of orientation, used to establish the pattern characteristic
Note 1 to entry: A TEF pattern is composed of several TEFs which can have different nominal geometries and constrained between them, with respect to their relative location and/or orientation.
Note 2 to entry: A TEF pattern can be established without external constraint or with orientation constraint and/or location constraint from a datum system.
3.6
single indicator pattern specification
pattern specification, controlled by one tolerance indicator specification
3.7
multiple indicator pattern specification
pattern specification, controlled by more than one tolerance indicator specification
3.8
multi-level single indicator pattern specification
single indicator pattern specification applied to more than one group of toleranced features
3.9
internal constraint
location constraint and/or orientation constraint between the individual tolerance zones of the tolerance zone pattern
3.10
external constraint
location constraint and/or orientation constraint between a tolerance zone or tolerance zone pattern and a datum system
Bibliography
| 1 | ISO 2692, Geometrical product specifications (GPS) — Geometrical tolerancing — Maximum material requirement (MMR), least material requirement (LMR) and reciprocity requirement (RPR) |
| 2 | ISO 3098-2, Technical product documentation — Lettering — Part 2: Latin alphabet, numerals and marks |
| 3 | ISO 3098-5, Technical product documentation — Lettering — Part 5: CAD lettering of the Latin alphabet, numerals and marks |
| 4 | ISO 5459, Geometrical product specifications (GPS) — Geometrical tolerancing — Datums and datum systems |
| 5 | ISO 81714-1, Design of graphical symbols for use in the technical documentation of products — Part 1: Basic rules |
| 6 | ISO 14253-1, Geometrical Product Specifications (GPS) — Inspection by measurement of workpieces and measuring equipment — Part 1: Decision rules for proving conformance or non-conformance with specifications |
| 7 | ISO 14638, Geometrical product specifications (GPS) — Matrix model |
| 8 | ISO 17450-4, Geometrical product specifications (GPS) — General concepts — Part 4: Geometrical characteristics for quantifying GPS deviations |
| 9 | ISO 22432, Geometrical product specifications (GPS) — Features utilized in specification and verification |