この規格 プレビューページの目次
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
3 用語、定義、記号
3.1 一般
このドキュメントの目的のために、ISO 3534-2:2006 に記載されている用語と定義が適用されます。
3.2 アイコン
注ISO/IEC 指令では、略語と記号の区別に関して、一般的な SPC の使用法から逸脱する必要があります。 ISO 標準では、略語とその記号は、フォントとレイアウトの 2 つの点で外観が異なる場合があります。略語と記号を区別するために、略語はカンブリア直立体で、記号はカンブリア語またはギリシャ語のイタリック体で示します。略語には複数の文字が含まれる場合がありますが、記号は 1 文字のみで構成されます。たとえば、上限管理限界の従来の省略形である UCL は有効ですが、方程式内の記号はUCLになります。この理由は、複合文字が乗算を示すものとして誤解されるのを避けるためです。
記号および/または略語が異なるアプリケーションで異なるものを意味するという長い間確立された慣行の場合、それらを区別するためにフィールド リミッタ (< >) を使用する必要があります。これにより、関連するすべてのテキスト、操作マニュアル、および専用のソフトウェア プログラムとは異なり、特定の分野でなじみのない略語や記号を作成することによって、実務家が疎外されることを回避できます。例として、省略された用語「R」と記号「 R 」があります。これは、計量学では、受け入れサンプリングや統計的プロセス制御とは異なるものを意味します。略語「R」は次のように区別されます。
| R 〈計測学〉 | 再現限界 |
| R 〈SPCと検収〉 | 範囲 |
このドキュメントでは、次の記号が適用されます。
| サブグループのサイズ;サブグループごとの標本観測数 | |
| サブグループ数 | |
| 下側規格限界 | |
| L_ | 下限管理限界 |
| 仕様上限 | |
| U_ | 管理上限 |
| X | 測定された品質特性 (個々の値は ( X1 、 X2 、 X3 、... として表されます) X の代わりに記号 Y が使用される場合があります。 |
| ( Xバー) サブグループ平均 | |
| ( X二重棒) サブグループ平均の平均 | |
| µ | 真の工程平均値 |
| σ | 真のプロセス標準偏差値 |
| σ0 | 与えられたσの値 |
| サブグループの中央値 | |
| サブグループ中央値の平均 | |
| R | サブグループ範囲: サブグループの最大観測値と最小観測値の差 |
| すべてのサブグループのR値の平均 | |
| Rm | 移動範囲: 連続する 2 つの値の差の絶対値 | | X1 - XX , |X-X3Xなど |
| nの観測値のセットにおける ( n − 1) Rm値の平均 | |
| サブグループ内の値から得られたサンプル標準偏差: | |
| サブグループ標本標準偏差の平均 | |
| 推定工程標準偏差値 | |
| p | 特定の分類を持つサブグループ内のユニットの割合または割合 |
| 割合または分数の平均値 | |
| n.p | サブグループ内の特定の分類を持つユニットの数 |
| p_ | pの与えられた値 |
| n p0 | npの特定の値 (特定のp0 に対して) |
| c | サブグループ内の発生数 |
| c0 | 与えられたcの値 |
| すべてのサブグループのc値の平均値 | |
| u | サブグループ内の単位あたりの発生数 |
| u値の平均値 | |
| u0 | uの与えられた値 |
参考文献
| [1] | Shewhart WA製造された製品の経済管理。 D. Van Norstrand, Co, New York, 1931, pp. 501. |
| [2] | Nelson LS, The Shewhart Control Chart - 特殊原因のテスト。品質技術ジャーナル。 1984年10月16日(4) pp.237-239 |
| [3] | Nelson LS, シューハート管理図の解釈。品質技術ジャーナル。 1985年4月17日(2) pp.114–116 |
| [4] | Klein M.、シューハート管理図の 2 つの代替案。品質技術ジャーナル。 2000, 32 pp. 427–431 |
| [5] | グラント E, レブンワース R 統計的品質管理。インダストリアル エンジニアリングとマネジメントのマグロウヒル シリーズ、1996 年 |
| [6] | Prabhu SS, Montgomery DC, Runger GC, 組み合わせた適応サンプル サイズとサンプリング間隔制御スキーム。品質技術ジャーナル。 1994年、26 pp.164–176 |
| [7] | Tagaras G 適応管理図の設計における最近の開発の調査。品質技術ジャーナル。 1998, 30 pp. 212–231 |
| [8] | 仁科浩一、葛谷浩二、石直、日本における管理図の再考.統計的品質管理の最前線。 2005年8月号 pp.136-150 |
3 Terms, definitions and symbols
3.1 General
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 3534-2:2006 apply.
3.2 Symbols
NOTE The ISO/IEC Directives makes it necessary to depart from common SPC usage in respect to the differentiation between abbreviated terms and symbols. In ISO standards an abbreviated term and its symbol can differ in appearance in two ways: by font and by layout. To distinguish between abbreviated terms and symbols, abbreviated terms are given in Cambria upright and symbols in Cambria or Greek italics, as applicable. Whereas abbreviated terms can contain multiple letters, symbols consist only of a single letter. For example, the conventional abbreviation of upper control limit, UCL, is valid but its symbol in equations becomes UCL. The reason for this is to avoid misinterpretation of compound letters as an indication of multiplication.
In cases of long established practice where a symbol and/or abbreviated term means different things in different applications, it is necessary to use a field limiter, thus 〈 〉, to distinguish between them. This avoids the alienation of practitioners by the creation of unfamiliar abbreviated terms and symbols in their particular field that are unlike all related texts, operational manuals and dedicated software programs. An example is the abbreviated term ‘R’ and symbol ‘R’ which means different things in metrology from that in acceptance sampling and statistical process control. The abbreviated term ‘R’ is differentiated thus:
| R 〈metrology〉 | reproducibility limit |
| R 〈SPC and acceptance sampling〉 | range |
For the purposes of this document, the following symbols apply.
| Subgroup size; the number of sample observations per subgroup | |
| Number of subgroups | |
| Lower specification limit | |
| LCL | Lower control limit |
| Upper specification limit | |
| UCL | Upper control limit |
| X | Measured quality characteristic (individual values are expressed as (X1, X2, X3,...). Sometimes the symbol Y is used instead of X |
| (X bar) Subgroup average | |
| (X double bar) Average of the subgroup averages | |
| μ | True process mean value |
| σ | True process standard deviation value |
| σ0 | A given value of σ |
| Median of a subgroup | |
| Average of the subgroup medians | |
| R | Subgroup range: difference between the largest observation and smallest observation of a subgroup |
| Average of the R values for all subgroups | |
| Rm | Moving range: the absolute value of the difference between two successive values |X1 – X2|,|X2 – X3|, etc. |
| Average of the (n − 1) Rm values in a set of n observed values | |
| Sample standard deviation obtained from values within a subgroup: | |
| Average of the subgroup sample standard deviations | |
| Estimated process standard deviation value | |
| p | Proportion or fraction of units in a subgroup with a given classification |
| Average value of the proportion or fraction | |
| np | Number of units with a given classification in a subgroup |
| p0 | A given value of p |
| np0 | A given value of np (for a given p0) |
| c | Number of incidences in a subgroup |
| c0 | A given value of c |
| Average value of the c values for all subgroups | |
| u | Number of incidences per unit in a subgroup |
| Average value of the u values | |
| u0 | A given value of u |
Bibliography
| [1] | Shewhart W.A. Economic Control of Manufactured Product. D. Van Norstrand, Co, New York, 1931, pp. 501. |
| [2] | Nelson L.S., The Shewhart Control Chart – Test for Special Causes. Journal of Quality Technology. 1984 October, 16 (4) pp. 237–239 |
| [3] | Nelson L.S., Interpreting Shewhart Control Charts. Journal of Quality Technology. 1985 April, 17 (2) pp. 114–116 |
| [4] | Klein M., Two Alternatives to the Shewhart Control Chart. Journal of Quality Technology. 2000, 32 pp. 427–431 |
| [5] | Grant E., Leavenworth R., Statistical Quality Control. McGraw-Hill Series in Industrial Engineering and Management, 1996 |
| [6] | Prabhu S.S., Montgomery D.C., Runger G.C., A Combined Adaptive Sample Size and Sampling Interval Control Scheme. Journal of Quality Technology. 1994, 26 pp. 164–176 |
| [7] | Tagaras G., A Survey of Recent Developments in the Design of Adaptive Control Charts. Journal of Quality Technology. 1998, 30 pp. 212–231 |
| [8] | Nishina K., Kuzuya K., Ishi N., Reconsideration of Control Charts in Japan. Frontiers in Statistical Quality Control. 2005, 8 pp. 136–150 |