ISO/IEC 8441-1:1991 情報技術—高密度デジタル記録(HDDR)—パート1:(HDDR)アプリケーション用の記録されていない磁気テープ | ページ 6

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

3 つの定義

ISO/IEC 8441 のこの部分では、次の定義が適用されます。

注記 4特に明記しない限り、テープ速度は 3,048 m/s (120 in/s) とする。

3.1

摩耗

ヘッド上をテープが通過することにより、磁気テープが記録ヘッドの摩耗を引き起こす傾向。

1年生から入園まで:
  • 5これは、通過するテープ 1 メートルあたりのヘッド摩耗のマイクロメートル (1 インチあたりのマイクロインチ)、または特定の基準テープに対する相対値として表すことができます。
  • 6記録ヘッドで発生する実際の摩耗は、テープの速度と張力にも依存します (付録 B を参照)

3.2

耐久性

リファレンス テスト レコーダーを一定回数通過した後、出力の均一性とドロップアウト特性を維持するテープの能力。

3.3

消しやすさ

テープに記録された信号のレベルを特定のレベルに低下させる、特定の消去フィールドの能力。

3.4

電気表面抵抗

必要に応じて、磁気コーティングまたはテープの裏面の表面抵抗 (1 平方あたりのオーム)

注記 1:表面抵抗率の SI 単位はオームですが、実際にはオーム/スクエアが使用されます。

3.5

応力下での伸び

引張荷重による試験片の基準線間の距離の増加。基準線間の初期距離のパーセンテージとして表されます。

3.6

E値

0.109 N/mm ± 0.033 N/テープ幅 mm (10 ozf/in ± 3 ozf/in テープ幅) の張力下で、リールに巻かれたテープの最外層を超えてリール フランジが伸びる半径方向の距離。 .

注記 1: 0.109 N/mm ± 0.033 N/mm は、282 gf/インチ ± 85 gf/インチに相当します。

3.7

瞬間的な不均一性 (ドロップアウト)

データの回復を危うくしたり損なうのに十分な再生信号振幅の減少を引き起こすテープの欠陥。
ISO/IEC 8441 のこの部分の目的のために、ドロップアウト イベントの開始は、1.524 |im (60 ピン) の 0.635 mm (0.025 インチ) 幅のトラックからの出力レベルの 12 dB の減少によって示されます。飽和レベルをわずかに上回る方形波として記録された波長テスト信号(8.5.1 を参照)。ドロップアウト イベントの終了は、信号が平均レベルの 9 dB 以内に回復したことで示されます。
1年生から入園まで:
  • 9各ドロップアウト イベントに関連するドロップアウト カウントは、ドロップアウト イベント中に発生するテスト信号周期数の半分として表されるイベントの持続時間です。
  • 10テープ速度が 3 048 m/s (120 in/s) の場合、テスト信号の周期は 0.5 ps です。したがって、ドロップアウト カウントは、テープ速度が 3 048 m/s (120 インチ/秒) の場合の持続時間 (マイクロ秒) に等しくなります (一般的な定義については、ISO/IEC 8441-2 を参照してください)

3.8

動作バイアス電流

2.0 MHz 信号が基準レベル(3.13 参照)でテープ速度 3 048 m で記録されたときに,基準テープからのピーク出力の 2 dB 減衰(オーバーバイアス ピーク)を与える記録ヘッドを流れるバイアス電流。/秒 (120 インチ/秒)

3.9

出力レベル均一性(長期)

最大ピーク出力レベルと最小ピーク出力レベルの差。いずれの場合もピーク値はピークの 95% を含む値です (図 1 および 8.4 を参照)

図 1 —出力均一性試験の再生波形

3.10

基準テープ

参考として使用される未録音の長さのテープ。

注記1参照テープは交換当事者間の合意によって採用されたものでなければならない。絶対的な定量的性能レベルと標準参照テープの国際的な供給源が確立された場合、そのような合意は標準参照テープへの参照に置き換えられる場合があります。

3.11

リファレンスヘッド

リファレンステープと組み合わせて使用​​するヘッド。

注記 1:参照ヘッドは交換当事者間で合意する必要があります。

3.12

基準出力レベル

標準記録レベル 3 048 m/s (120 in/s) より 6 dB 低く、動作バイアス電流で基準テープに記録された 200 kHz 信号の再生レベル。

3.13 参考記録レベル

3.13.1

ACバイアス付き

基準テープに 3048 m/s (120 インチ/秒) で記録された 200 kHz 信号の入力レベル。再生時に出力信号の 3 次高調波歪みが 1% になるような動作バイアス電流を波形で測定アナライザ。

3.13.2

ACバイアスなし

AC バイアスなしのレコード ヘッドの基準電流レベル (一般にミリアンペア ピーク ツー ピークで表される) は、ISCYIEC 8441-2 に従って確立されます。レコードヘッドで 200 kHz まで、テープ速度 3084 m/s (120 インチ/秒) で確立された同じ電流レベル (ミリアンペア) が基準レコードレベルとして定義されます。

3.14

二次参照テープ

記録されていない長さのテープで、磁気特性 (つまり、感度、波長応答、バイアス特性、歪み特性) が基準テープに対して校正されています。

3.15

感度

基準テープからの出力と比較したテープ サンプルとテストの出力は、通常はデシベルで表され、どちらの場合も周波数は 200 kHz です。

3.16

信号対雑音比

テープから再生された信号パワーと、システム帯域幅全体で測定された広帯域ノイズ パワー (テープと機器) の比率。

3.17

波長応答

基準テープの応答と比較して、特定の波長に正規化した場合のテープの出力電圧周波数特性。

附属書 G

(参考)

参考文献

[1]Ownsend 、K. 80 年代の磁気テープ録音。エド。 F カリル NASA 出版物 1071972 年 4 月、77 ページ。
[2]Perry , MA, Blackwell , F. およびHarris , R. Int. confビデオとデータの記録、サウサンプトン。 IERE会議proいいえ。 54, 1982年 4 月、23 ページ。
[3]磁気テープの摩耗度測定方法の見直し。インターナショナルconfビデオとデータの記録、 IERE Con​​ proいいえ。 54, 1982年 4 月。
[4]Cuddihy 、EF 磁気記録テープの老化、磁気に関する IEEE トランザクション、1980 年 7 月、16, no. 4.
[5]バートラム、HN および Cuddihy, EF 磁気記録テープの湿潤老化の速度論、磁気に関する IEEE トランザクション、1982 年 9 月、18, no. 5.
[6]ISO 6068:1985, 情報処理 - 計装用磁気テープの記録特性 (テレメトリ システムを含む) - 交換要件。
[7]ISO/IEC TR 6371:1989, 情報処理 — 記録されていない計装用磁気テープの交換方法と試験方法。
[8]IEC 94-4:1986, 磁気テープ録音および再生システム。 [への改訂4 文書 60A (事務局)95]に基づく、

3 Definitions

For the purpose of this part of ISO/IEC 8441, the fol-lowing definitions apply.

NOTE 4 Tape speed is taken to be 3 048 m/s (120 in/s), unless otherwise stated.

3.1

abrasivity

The propensity of a magnetic tape to cause wear of a recording head, by the passage of the tape over the head.

Note 1 to entry:
  • 5 It may be expressed as micrometres of head wear per metre of tape passed (microinches per inch), or as a value relative to a given reference tape.
  • 6 The actual wear produced in the recording head will also depend on the tape speed and tension (see annex B).

3.2

durability

The ability of a tape to maintain its output uniformity and dropout characteristics after a given number of passes on the reference test re-corder.

3.3

ease of erasure

The ability of a specified eras-ing field to effect a specified reduction in the level of a signal recorded on a tape.

3.4

electrical surface resistance

The surface re-sistance, in ohms per square, of the magnetic coat-ing or the back surface of a tape, as appropriate.

Note 1 to entry: The SI unit of surface resistivity is the ohm, al-though ohms per square is used in practice.

3.5

elongation under stress

The increase in the distance between reference lines on the test piece due to a tensile load, expressed as a percentage of the initial distance between the reference lines.

3.6

E value

The radial distance by which the reel flanges extend beyond the outermost layer of tape wound on a reel under a tensile force of 0,109 N/mm ± 0,033 N/mm of tape width (10 ozf/in ± 3 ozf/in of tape width).

Note 1 to entry: 0,109 N/mm ± 0,033 N/mm is equivalent to 282 gf/in ± 85 gf/in.

3.7

instantaneous nonuniformities (dropouts)

A tape defect which causes a reduction in the repro-duced signal amplitude sufficient to jeopardize or impair data recovery.
For the purpose of this part of ISO/IEC 8441, the on-set of a dropout event is denoted by a 12 dB re-duction in the output level from a 0,635 mm (0,025 in) wide track of a 1,524 |im (60 pin) wavelength test signal recorded as a square wave slightly above saturation level (see 8.5.1). The end of a dropout event is denoted by recovery of the signal to within 9 dB of the average level.
Note 1 to entry:
  • 9 The dropout count associated with each dropout event is the duration of the event expressed as one-half of the number of test signal periods occurring during the dropout event.
  • 10 For a tape speed of 3 048 m/s (120 in/s) the test signal period is 0,5 ps. Hence, the dropout count is equal to theduration, in microseconds, for a tape speed of 3 048 m/s (120 in/s) (for a general definition, see ISO/IEC 8441-2).

3.8

operating bias current

That bias current through the recording head which gives a 2 dB fall-off (overbias peak) of the peak output from the ref-erence tape when a 2,0 MHz signal is recorded at reference level (see 3.13), at a tape speed of 3 048 m/s (120 in/s).

3.9

output level uniformity (long term)

The differ-ence between the maximum and minimum peak output levels, the peak value in either case being the value that contains 95 % of the peaks (see figure 1and 8.4).

Figure 1—Replayed waveform for output uniformity test

3.10

reference tape

An unrecorded length of tape used as a reference.

Note 1 to entry: The reference tape should be one adopted by agreement between the interchange parties. When abso-lute quantitative performance levels and an international source of standard reference tapes have been estab-lished, such agreements may be replaced by reference to standard reference tapes.

3.11

reference head

A head used in conjunction with the reference tape.

Note 1 to entry: The reference head should be agreed on be-tween the interchange parties.

3.12

reference output level

The reproduce level of a 200 kHz signal recorded on the reference tape at 6 dB below standard record level 3 048 m/s (120 in/s) and with operating bias current.

3.13 reference record level

3.13.1

with a.c. bias

The input level of a 200 kHz signal recorded on the reference tape at 3048 m/s (120 in/s), with operating bias current such that on play back, the output signal has 1 % third-harmonic distortion as measured with a wave analyser.

3.13.2

without a.c. bias

The record head reference current level without a.c. bias (generally expressedin milliamperes peak-to-peak) is established in accordance with ISCYIEC 8441-2. The same current level (in milliamperes) established at the record head to 200 kHz and for tape speed 3084 m/s (120 in/s) is defined as the reference record level.

3.14

secondary reference tape

An unrecorded length of tape, the magnetic characteristics (i.e. sensitivity, wavelength response, bias character-istic, distortion characteristics), of which have been calibrated against the reference tape.

3.15

sensitivity

The output of the tape sample un-der test compared to that from the reference tape expressed as a ratio, normally quoted in decibels, the frequency being 200 kHz in both cases.

3.16

signal-to-noise ratio

The ratio of the repro-duced signal power from a tape and the wideband noise power (tape and equipment) measured over the system bandwidth.

3.17

wavelength response

The output voltage fre-quency characteristic of the tape when normalized to a specific wavelength compared to the response of the reference tape.

Annex G

(informative)

Bibliography

[1]T ownsend, K. Magnetic tape recording for the eighties. Ed. F Kalil N.A.S.A. Publication 1075. April 1972, page 77.
[2]P erry, M.A., B lackwell, F. and H arris, R. Int. Conf. on Video and Data Recording, Southampton. IERE Conf. Proc. No. 54, April 1982, page 23.
[3]Review of the methods of measuring abrasiveness of magnetic tapes. Int. Conf. on Video and Data Recording, IERE Conf. Proc. No. 54, April 1982.
[4]C uddihy, E.F. Ageing of magnetic recording tape, IEEE transactions on magnetics, July 1980, 16, No. 4.
[5]B ertram, H.N. and C uddihy, E.F. Kinetics of the humid ageing of magnetic recording tape, IEEE transactions on magnetics, September 1982, 18, No. 5.
[6]ISO 6068:1985, Information processing — Re-cording characteristics of instrumentation magnetic tape (including telemetry systems) — Interchange requirements.
[7]ISO/IEC TR 6371:1989, Information processing — Interchange practices and test methods for unrecorded instrumentation magnetic tape.
[8]IEC 94-4:1986, Magnetic tape sound recording and reproducing systems. [Revision to 4 based on Document 60A (Secretariat)95],