この規格 プレビューページの目次
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
3 用語と定義
この文書には用語や定義は記載されていません。
ISO と IEC は、標準化に使用する用語データベースを次のアドレスで維持しています。
参考文献
| 1 | Lee Y.-H.、Kwon D.、鋭い圧子を使用したインストルメントによる二軸表面応力の推定、Acta Mater.、5, 1555 |
| 2 | Lee Y.-H.、Kwon D.、DLC/Si および Au/Si システムの残留応力: ナノインデンテーション技術への応力緩和モデルの適用、J. Mater. Res.、1, 901 |
| 3 | ジェイクス JE, ストーン DS, 2011)ナノインデンテーションのエッジ効果。哲学雑誌、91, (7-9)、1387-139 |
| 4 | Choi M.-J.、Kang S.-K.、Kang I.、Kwon D.、ヌープ圧子を使用した非等二軸残留応力の評価、J. Mater. Res.1, (2011)、121 |
| 5 | Kwon D.、Kim JS, Sperko W.、Kim JH, Lee JS, The Technical Basis for Code Case Record# 13-526, ASME, (2017)、72 |
| 6 | Kim KH, Lee KW, Kim JY, Kwon D.、Kim KH, 小規模テストのための計装インデンテーション技術の応用、PVP Proceedin, 271 |
| 7 | ISO 14577-3, 金属材料 — 硬度および材料パラメーターの計装による押し込み試験 — Part 3: 基準ブロックの校正 |
3 Terms and definitions
No terms and definitions are listed in this document.
ISO and IEC maintain terminology databases for use in standardization at the following addresses:
Bibliography
| 1 | Lee Y.-H., Kwon D., Estimation of biaxial surface stress by instrumented indentation with sharp indenters, Acta Mater., 52 (2004), 1555 |
| 2 | Lee Y.-H., Kwon D., Residual stresses in DLC/Si and Au/Si systems: Application of a stress-relaxation model to the nanoindentation technique, J. Mater. Res., 17 (2002), 901 |
| 3 | Jakes J. E., Stone D. S., 2011). The edge effect in nanoindentation. Philosophical Magazine, 91(7-9), 1387-1399. |
| 4 | Choi M.-J., Kang S.-K., Kang I., Kwon D., Evaluation of nonequibiaxial residual stress using Knoop indenter, J. Mater. Res.1, (2011), 121 |
| 5 | Kwon D., Kim J.S., Sperko W., Kim J.H., Lee J.S., The Technical Basis for Code Case Record# 13-526, ASME, (2017), 72 |
| 6 | Kim K.H., Lee K.W., Kim J.Y., Kwon D., Kim K.H., Application of Instrumented Indentation Technique for Small Scale Testing, PVP Proceeding (2007), 271 |
| 7 | ISO 14577-3, Metallic materials — Instrumented indentation test for hardness and materials parameters — Part 3: Calibration of reference blocks |