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A 1481-2 : 2016
スベスト及びその他使用された可能性があるアスベストを対象とし,一次分析試料を用いて,8.1.2に
よって新たに標本を作製して分析を行う。
再分析の結果,アスベストが4繊維状粒子未満の場合は,“アスベスト含有なし”の試料と判定し,
アスベストが4繊維状粒子以上認められた場合は,“アスベスト含有”の試料と判定する。
注記1 アスベストの種類を特定する方法として,走査電子顕微鏡又は透過電子顕微鏡による場合
がある。
d) 線回折による定性分析の結果,図2に示すアスベストの回折ピークが認められず,かつ,顕微鏡に
よる定性分析の結果,三つの標本で計数した合計3 000粒子中,アスベストが4繊維状粒子未満の場
合は,“アスベスト含有なし”の試料と判定する。
注記2 クリソタイルと同様なX線回折ピークが認められる鉱物には,蛇紋石(アンチゴライト,
リザルダイト),緑泥石(クロライト),カオリン鉱物(カオリナイト,ハロイサイト)及
びブラウンミレライトがある。また,アモサイト,クロシドライト及びアンソフィライト
と同様なX線回折角度(910°)に,タルクがある。
e) 吹付けバーミキュライト中のアスベスト含有の有無の判定は,塩化カリウム処理した一次分析試料に
アスベストと考えられる回折ピーク(図2参照)が認められないか,又はその積分強度が標準試料の
同ピークの積分強度以下である場合は,“アスベスト含有なし”の試料と判定する。これら以外の場合
は“アスベスト含有”の試料と判定する。
11 判定結果の報告
次の項目について報告する。
a) 分析機関
b) 分析実施日
c) 試料採取履歴(5.3による。)
d) 試料粉砕方法(粉砕機器,ふるいの目開き)
e) 使用した測定機器
1) 線回折装置製造業者名及び形式
2) 位相差・分散顕微鏡の製造業者名及び形式(照明系,コンデンサ及び対物レンズの形式も含む。)
f) 判定結果
1) 線回折装置の定性条件(附属書A及び附属書Cに関わる項目)及びX線回折分析による定性分
析結果
2) 位相差・分散顕微鏡の定性分析結果(分析室の温度及び浸液の屈折率も含む。)
3) 線回折分析方法及び位相差・分散顕微鏡の定性分析結果に基づく判定結果
注記 判定結果の報告に係る様式例を,附属書Cに示す。
なお,附属書Cは,判定結果を報告する上で必要最低限の項目を示したものである。
――――― [JIS A 1481-2 pdf 16] ―――――
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A 1481-2 : 2016
附属書A
(規定)
アスベスト定性に用いるX線回折装置の条件
A.1 定性に用いるX線回折装置の条件
アスベストの定性に用いるX線回折装置は,表A.1によるか,又はこれと同等以上の検出精度を確保で
きる装置などによってもよい。
表A.1−X線回折装置の定性分析における測定条件
設定項目 測定条件
X線対陰極 銅(Cu)
管電圧(kV) 40
管電流(mA) 3040
単色化(Kβ線の除去)Niフィルタ又はグラファイトモノクロメータ
フルスケール(cps) 1 0002 000
時定数(s) 1
走査速度(°/min) 12
発散スリット(°) 1
散乱スリット(°) 1
受光スリット(mm) 0.3
走査範囲(2θ)(°) 570
A.2 吹付けバーミキュライトの定性に用いるX線回折装置の条件
吹付けバーミキュライトの定性に用いるX線回折装置は,表A.2によるか,又はこれと同等以上の検出
精度を確保できる装置などによってもよい。
表A.2−吹付けバーミキュライトのX線回折装置の定性分析における測定条件
設定項目 測定条件
X線対陰極 銅(Cu)
管電圧(kV) 40
管電流(mA) 3040
単色化(Kβ線の除去) Niフィルタ又はグラファイトモノクロメータ
フルスケール(cps) 1 0002 000
時定数(s) 1
走査速度(°/min) 12
発散スリット(°) 1
散乱スリット(°) 1
受光スリット(mm) 0.3
走査範囲(2θ)(°) 270
A.3 吹付けバーミキュライト中のアスベスト有無の判定のためのX線回折装置の分析条件
吹付けバーミキュライト中のアスベスト有無の判定のためのX線回折装置は,表A.3によるか,又はこ
れと同等以上の検出精度を確保できる装置などによってもよい。
――――― [JIS A 1481-2 pdf 17] ―――――
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A 1481-2 : 2016
表A.3−吹付けバーミキュライト中のアスベスト有無の判定のための
X線回折装置の分析における測定条件
設定項目 測定条件
X線対陰極 銅(Cu)
管電圧(kV) 40
管電流(mA) 3040
単色化(Kβ線の除去) Niフィルタ又は
グラファイトモノクロメータ
時定数(s) 1
走査速度 連続スキャニング(°/min) 1/81/16
(°/min) ステップスキャニング 0.02°×10秒0.02°×20秒
発散スリット(°) 1
散乱スリット(°) 1
受光スリット(mm) 0.3
走査範囲(2θ)(°) クリソタイル11.013.0
(回折ピーク位置12.1付近)
トレモライト10.011.0
(回折ピーク位置10.4付近)
――――― [JIS A 1481-2 pdf 18] ―――――
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A 1481-2 : 2016
附属書B
(規定)
位相差・分散顕微鏡の仕様
B.1 位相差・分散顕微鏡の仕様
位相差・分散顕微鏡の仕様は,次による。
a) 透過照明光源(ハロゲン電球100 W以上)を備え,コンデンサには,位相差及び分散の対物レンズに
対応するリング絞りが組み込まれているもの。
b) ステージ(載物台)は,JIS R 3703に規定するスライドガラス(標準形)が1枚以上装着でき,その
全面を移動観察できるもの。
c) 対物レンズは,分散染色観察用分散対物レンズで10倍(開口数0.25)及び40倍(開口数0.75)を備
えているもの。
d) レボルバは,c) の対物レンズが同時に装着できるもの。
e) 接眼レンズは,10倍又は15倍を備え,いずれも計数用のアイピースグレーティクルを備えているも
の(双眼顕微鏡の場合は,いずれか片方)。
注記 対物レンズと接眼レンズとの間に180°回転できる,振動方向の表示されたアナライザ(偏
光板)を組み込んだ装置を備えているものが望ましい。
――――― [JIS A 1481-2 pdf 19] ―――――
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A 1481-2 : 2016
附属書C
(参考)
判定結果の報告書の様式例
C.1 判定結果の報告書の様式例
判定結果の報告書の様式例を,表C.1に示す。
表C.1−判定結果の報告書の様式例
a) 分析機関
名称 代表者氏名
所在地
TEL : FAX :
登録番号
(作業環境測定機関)
連絡担当者
項目 氏名 項目 氏名
X線回折分析
一次分析試料の作成 法による定
性分析
項目 氏名 HSE/NPL検 氏名 グループ番号
出限界試験
位相差・分散顕微鏡に 用スライド
よる定性分析 グループ番
号
b) 分析実施日
分析実施日 平成 年 月 日 平成 年 月 日
c) 試料採取履歴
採取日 年 月 日 試料NO.
建材名称
建物,配管設備,機器等の名称 名称
及び用途 用途
施工年及び建築物への施工など
年 月 日
を採用した日
採取部位
建物などの採取部位及び場所
場所
試料の概要 形状又は材質
(形状又は材質,試料の大きさ,試料の大きさ
採取方法) 採取方法
採取者氏名
――――― [JIS A 1481-2 pdf 20] ―――――
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JIS A 1481-2:2016の国際規格 ICS 分類一覧
- 13 : 環境.健康予防.安全 > 13.040 : 気質 > 13.040.20 : 雰囲気
JIS A 1481-2:2016の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISK3850-1:2006
- 空気中の繊維状粒子測定方法―第1部:光学顕微鏡法及び走査電子顕微鏡法
- JISK8121:2007
- 塩化カリウム(試薬)
- JISK8264:2020
- ぎ酸(試薬)
- JISR3503:1994
- 化学分析用ガラス器具
- JISR3702:1996
- 顕微鏡用カバーガラス
- JISR3703:1998
- 顕微鏡用スライドガラス