JIS B 2005-8-2:2008 工業プロセス用調節弁―第８部：騒音―第２節：調節弁の液体流動騒音の実験室における測定 | ページ 3

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                                                             B 2005-8-2 : 2008(IEC 60534-8-2 : 1991)
   1 ポンプ                                        9 下流側絞り弁
   2 流量測定装置                                 10  マイクロホン (1)
   3 上流側絞り弁                                 11 水槽
   4 温度測定装置                                 12 温度調節計 (2)
   5 圧力測定装置                                 13 静圧増加用エアークッション付容器, 必要な場合
   6 供試品                                       14 排出弁
   7 試験区間の配管                               15 圧力調節計 (2)
   8 音響的環境(測定室)及び (1),(2)
                              図 1b 調節弁の代替騒音試験システム

――――― [JIS B 2005-8-2 pdf 11] ―――――

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B 2005-8-2 : 2008(IEC 60534-8-2 : 1991)
                                                                                        単位 m
     5 圧力測定装置
    6 供試品
    7 試験区間の配管
    8 音響的環境(測定室)
   10  マイクロホン(3)
注(3) マイクロホンは,配管の外表面から1 mの距離に配置し,最も近い測定室の表面から0.5 m以上離す。
  (4) マイクロホンの距離は,D
                         6   とする。ただし,1.0 m以上離す。Dは,出口側配管の呼び径 (mm)。
                        図 2a 音響的環境の内側に供試品がある場合の配置

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                                                                                             11
                                                             B 2005-8-2 : 2008(IEC 60534-8-2 : 1991)
                                                                                        単位 m
    5 圧力測定装置
   6 供試品
   7 試験区間の配管
   8 音響的環境(測定室)
  10  マイクロホン (5)
注(5) マイクロホンは,配管の外表面から1 mの距離に配置し,最も近い測定室の表面から0.5 m以上離す。
                            とする。ただし,1.0 m以上離す。Dは,出口側配管の呼び径 (mm)。
  (6) マイクロホンの距離は,D
                         6
                        図 2b 音響的環境の外側に供試品がある場合の配置

――――― [JIS B 2005-8-2 pdf 13] ―――――

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B 2005-8-2 : 2008(IEC 60534-8-2 : 1991)
                               図 3 特性圧力比 xの代表的な曲線
                                                 Fz
                                                                                      単位 mm
                          図 4 基準試験オリフィスプレート(6.1参照)

――――― [JIS B 2005-8-2 pdf 14] ―――――

                                                                                             13
                                                             B 2005-8-2 : 2008(IEC 60534-8-2 : 1991)
                        図 5 ピーク周波数法による xの決定(6.3.1参照)
                                                    Fz

――――― [JIS B 2005-8-2 pdf 15] ―――――

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