この規格ページの目次
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B 7440-5 : 2013 (ISO 10360-5 : 2010)
回転式システムに取り付けたそれぞれのプロービングシステムに対して,パラメータの決定のために,
使用するそれぞれの角度位置において校正球の測定を行わなければならないパラメータを設定する方法。
3.4
実効スタイラスチップ直径(effective stylus tip diameter)
測定した形体の寸法などの補正のための補正ベクトルに使用する直径。
注記1 チップ補正ベクトルの位置については,JIS B 7440-1の図4を参照する。
注記2 実効スタイラスチップ直径は,プロービングシステムのパラメータ設定によって決定される
パラメータであることもある。
3.5
プロービングシステムの事前パラメータ設定(probing-system pre-qualification)
プローブ又はスタイラス交換及び/又は回転式プロービングシステムの位置の再設定前に実施するプロ
ービングシステムのパラメータを設定する方法。
3.6
マルチスタイラス形状(測定)誤差,PFTj(multi-stylus form error)
検査用標準球上を測定した点の最小二乗当てはめによって決定される球の中心から各点までの距離の幅。
座標測定機によって測定空間内の任意の位置に置かれた一つの検査用標準球を五つの異なるスタイラスで
測定する。
JIS B 7440-1の図15を参照。
注記1 PFTjの文字Pはプロービングシステムの性能に関連する誤差であることを示す。添字Fは形
状誤差を意味し,添字Tはプロービングシステムが接触式であることを意味している。した
がって,PF*jのアスタリスク(*)に異なる文字を使用することによって明確に識別されたあ
らゆる別のプロービングシステムでも使用可能である。
注記2 プロービングシステムと動作方法とによって,四つのマルチスタイラス形状誤差がある。そ
れらは,次のとおりである。
j=E,実測によるパラメータ設定を用いた回転式プロービングシステム
j=I,推定によるパラメータ設定を用いた回転式プロービングシステム
j=M,固定マルチスタイラスプロービングシステム
j=N,固定マルチプロービングシステム
注記3 この規格で使用する全ての記号を,附属書Aに示す。
3.7
マルチスタイラス寸法誤差,PSTj(multi-stylus size error)
検査用標準球を測定した点の最小二乗当てはめによって決定される球の直径とその直径の校正値との差。
座標測定機によって測定空間内の任意の位置に置かれた一つの検査用標準球を五つの異なるスタイラス
で測定する。
注記1 PSTjの添字Sは,寸法誤差であることを示す。
注記2 この規格で使用する全ての記号を,附属書Aに示す。
3.8
マルチスタイラス位置誤差,PLTj(multi-stylus location value)
検査用標準球上を測定した点の最小二乗当てはめによって決定される球の中心位置が存在するX,Y及
びZ座標の幅の最大値。
――――― [JIS B 7440-5 pdf 6] ―――――
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B 7440-5 : 2013 (ISO 10360-5 : 2010)
座標測定機によって測定空間内の任意の位置に置かれた一つの検査用標準球を五つの異なるスタイラス
で測定する。
注記1 PLTjの添字Lは位置誤差であることを示す。
注記2 この規格で使用する全ての記号を,附属書Aに示す。
注記3 全て絶対値である。
3.9
シングルスタイラス形状誤差,PFTU(single-stylus form error)
検査用標準球上を測定した点の最小二乗当てはめによって決定される球の中心から各点までの距離の幅。
座標測定機によって測定空間内の任意の位置に置かれた一つの検査用標準球を,一つのスタイラスで測
定する。
JIS B 7440-1の図15を参照する。
注記1 PFTUの文字Pは主としてプロービングシステムの性能に関連する誤差であることを示す。添
字Uはシングル(ただ一つの)スタイラスを用いていることを示す。
注記2 F及びTについての情報は,3.6を参照する。
注記3 この規格で使用する全ての記号を,附属書Aに示す。
注記4 PFTUは,JIS B 7440-2:2003のPと同一である。
3.10
シングルスタイラス寸法誤差,PSTU(single-stylus size error)
検査用標準球を測定した点の最小二乗当てはめによって決定される球の直径とその直径の校正値との差。
座標測定機によって測定空間の任意の位置に置かれた一つの検査用標準球を,一つのスタイラスで測定
する。
注記1 PSTUの文字Pは主としてプロービングシステムの性能に関連する誤差であることを示す。添
字Uはシングル(ただ一つの)スタイラスを用いていることを示す。添字Sは,寸法誤差で
あることを示す。
注記2 この規格で使用する全ての記号を,附属書Aに示す。
3.11
最大許容マルチスタイラス形状誤差,PFTj, MPE(maximum permissible multi-stylus form error)
座標測定機に対して,仕様,規制などで許容されるマルチスタイラス形状誤差(3.6)の限界値。
注記1 最大許容マルチスタイラス形状誤差PFTj, MPEは,次の三つの形式のいずれかで表す(附属書D
参照)。
a) FTj, MPE=(A+LP/K) とBの小さい方
b) FTj, MPE=(A+LP/K)
c) FTj, MPE=B
ここに,
A : 製造業者が提供する,マイクロメートル単位で表記する正の定数。
K : 製造業者が提供する,無次元の正の定数。
LP : ミリメートル単位で表記する校正球と検査用標準球との中心間の三次元距離。
B : 製造業者が提供する,マイクロメートル単位で表記する最大許容誤差PFTj, MPE。
これらの形式は,図D.1図D.3に示す。
注記2 検査測定が誤差を決定する場合,すなわち,MPE仕様の検査に校正されたアーティファクト
――――― [JIS B 7440-5 pdf 7] ―――――
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B 7440-5 : 2013 (ISO 10360-5 : 2010)
を使用する場合は,最大許容限界(MPL)仕様ではなく最大許容誤差(MPE)を使う。
注記3 PFTj, MPEは,プローブチップオフセット長さ又はスタイラスシステム構成仕様によって規定す
る。
3.12
最大許容マルチスタイラス寸法誤差,PSTj, MPE(maximum permissible multi-stylus size error)
座標測定機に対して,仕様,規制などで許容されるマルチスタイラス寸法誤差(3.7)の限界値。
注記1 最大許容マルチスタイラス寸法誤差PSTj, MPEは,三つの形式のいずれかで表す(附属書D参
照)。
a) STj, MPE=(A+LP/K) とBの小さい方
b) STj, MPE=(A+LP/K)
c) STj, MPE=B
ここに,
A : 製造業者が提供するマイクロメートル単位で表記する正の定数
K : 製造業者が提供する無次元の正の定数
LP : ミリメートル単位で表記する校正球と検査用標準球との中心間三次元距離
B : 製造業者が提供するマイクロメートル単位で表記する最大許容誤差PSTj, MPE
これらの形式は,図D.1図D.3に示す。
注記2 検査測定が誤差を決定する場合,すなわち,MPE仕様の検査に校正されたアーティファクト
を使用する場合は,最大許容限界(MPL)仕様ではなく最大許容誤差(MPE)を使う。
注記3 PSTj, MPEは,プローブチップオフセット長さ又はスタイラスシステム表現によって規定する。
3.13
最大許容マルチスタイラス位置限界,PLTj, MPL(maximum permissible limit of the multi-stylus location value)
座標測定機に対して,仕様,規制などで許容されるマルチスタイラス位置誤差(3.8)の限界値。
注記1 最大許容マルチスタイラス位置誤差限界PLTj, MPLは,三つの形式のいずれかで表す。
a) LTj, MPL=(A+LP/K) とBの小さい方
b) LTj, MPL=(A+LP/K)
c) LTj, MPL=B
ここに,
A : 製造業者が提供するマイクロメートル単位で表記する正の定数
K : 製造業者が提供する無次元の正の定数
LP : ミリメートル単位で表記する校正球と検査用標準球との中心間の三次元距離
B : 製造業者が提供するマイクロメートル単位で表記する最大許容限界PLTj, MPL
これらの形式は,図D.1図D.3に示す。
注記2 検査測定が誤差ではない場合,つまりMPL仕様の検査に使用するアーティファクトに関連
する校正を必要としない場合は,最大許容誤差(MPE)仕様ではなく最大許容限界(MPL)
を使う。
注記3 PLTj, MPLは,プローブチップオフセット長さ又はスタイラスシステム表現によって規定する。
3.14
最大許容シングルスタイラス形状誤差,PFTU, MPE(maximum permissible single-stylus form error)
座標測定機に対して,仕様,規制などで許容されるシングルスタイラス形状誤差(3.9)の限界値。
――――― [JIS B 7440-5 pdf 8] ―――――
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B 7440-5 : 2013 (ISO 10360-5 : 2010)
JIS B 7440-1の図15を参照。
注記1 PFTU, MPEは,プローブチップオフセット長さ又はスタイラスシステム構成仕様によって規定
する。
注記2 PFTU, MPEは,JIS B 7440-2:2003のMPEPと同一である。
4 記号
この規格で用いる記号及び定義は,表1による(表2参照)。
表1−記号
記号 説明
A 製造業者が提供する,マイクロメートル単位で表記する最大許容誤差又は最大許容限界を表記するため
に使用する正の定数
K 製造業者が提供する,最大許容誤差又は最大許容限界を表記するために使用する無次元の正の定数
LP ミリメートル単位で表記された,校正球と検査用標準球との中心間の三次元距離
B 製造業者が提供する,マイクロメートル単位で表記する最大許容誤差(例えば,PFTj, MPE)又は最大許
容限界(例えば,PLTj, MPL)
R 最小二乗半径
l 固定マルチスタイラスプロービングシステムスタイラス長さ
lU シングルスタイラス長さ
lO 固定マルチプローブチップオフセット長さ
lA 回転式プロービングシステムプローブエキステンション長さ
X,Y,Z 中心座標
E0 ラム軸スタイラスオフセットが0 mmにおける長さ測定誤差(JIS B 7440-2参照)
E0, MPE ラム軸スタイラスオフセットが0 mmにおける最大許容長さ測定誤差(JIS B 7440-2参照)
EL 長さ測定誤差(JIS B 7440-2参照)
EL, MPE 最大許容長さ測定誤差(JIS B 7440-2参照)
J=E 実測によるパラメータ設定を用いた回転式プロービングシステム
J=I 推測によるパラメータ設定を用いた回転式プロービングシステム
J=M 固定マルチスタイラスプロービングシステム
J=N 固定マルチプロービングシステム
PFTE
PFTI
マルチスタイラス形状誤差,PFTj
PFTM
PFTN
PSTE
PSTI
マルチスタイラス寸法誤差,PSTj
PSTM
PSTN
PLTE
PLTI
マルチスタイラス位置誤差,PLTj
PLTM
PLTN
PFTU シングルスタイラス形状誤差
PSTU シングルスタイラス寸法誤差
――――― [JIS B 7440-5 pdf 9] ―――――
8
B 7440-5 : 2013 (ISO 10360-5 : 2010)
表1−記号(続き)
記号 定義
PFTE, MPE
PFTI, MPE
最大許容マルチスタイラス形状誤差,PFTj, MPE
PFTM, MPE
PFTN, MPE
PSTE, MPE
PSTI, MPE
最大許容マルチスタイラス寸法誤差,PSTj, MPE
PSTM, MPE
PSTN, MPE
PLTE, MPL
PLTI, MPL
最大許容マルチスタイラス位置限界,PLTj, MPL
PLTM, MPL
PLTN, MPL
PFTU, MPE 最大許容シングルスタイラス形状誤差
5 環境条件及び計測特性に対する要求
5.1 シングルスタイラスプロービング誤差
シングルスタイラス形状誤差PFTUは,次による。
− 受入検査においては製造業者が指定する。
− 定期検査においては使用者が指定する,最大許容シングルスタイラス形状誤差PFTU, MPEを超えてはな
らない。シングルスタイラス形状誤差PFTU及び最大許容シングルスタイラス形状誤差PFTU, MPEは,マ
イクロメートル単位で表記する。
注記1 シングルスタイラスプロービング誤差は,固定マルチプローブ,固定マルチスタイラス,
又は回転式プロービングシステムに適用してもよい(6.2.1参照)。
注記2 シングルスタイラス形状誤差PFTUに寄与する要因の影響は,通常,JIS B 7440-2のE0又は
ELにも表れる。
5.2 シングルスタイラスプロービング構成
規定されたPFTUの指定された値が適用されるプロービングシステム構成(スタイラス,スタイラスエキ
ステンション,スタイラスの姿勢,スタイラスシステムの質量など)に関する仕様限界は,受入検査の場
合は製造業者が,定期検査の場合は使用者が指定する。
いずれの場合も使用者は,仕様限界の範囲でプロービングシステムの構成要素,及び必要に応じて6.2
の要求事項を自由に選択してもよい。
典型的な測定物に対する測定タスクに用いるスタイラスの使用が望ましい。
注記1 シングルスタイラスで,かつ一定の角度位置で使用される回転式プロービングシステムは,
シングルスタイラスプロービングシステムとみなされる。
注記2 ここにおけるプロービングシステム構成の仕様限界は5.4のそれとは異なる。
5.3 マルチスタイラスプロービング誤差
固定マルチスタイラスプロービングシステムにおいては,次のとおり。
− マルチスタイラス形状誤差PFTMは,最大許容マルチスタイラス形状誤差PFTM, MPEを超えてはならない。
− マルチスタイラス寸法誤差PSTMは,最大許容マルチスタイラス寸法誤差PSTM, MPEを超えてはならない。
− マルチスタイラス位置誤差PLTMは,最大許容マルチスタイラス位置限界PLTM, MPLを超えてはならない。
――――― [JIS B 7440-5 pdf 10] ―――――
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JIS B 7440-5:2013の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 10360-5:2010(IDT)
JIS B 7440-5:2013の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.040 : 線及び角度の測定 > 17.040.30 : 測定機器
JIS B 7440-5:2013の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0641-1:2020
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―製品及び測定装置の測定による検査―第1部:仕様に対する合否判定基準
- JISB7440-1:2003
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査―第1部:用語
- JISB7440-2:2013
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査―第2部:長さ測定