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B 7440-6 : 2004 (ISO 10360-6 : 2001)
附属書A表3 存在範囲のさらなる仕様(続き)
当てはめ形体 基準データセットの種類 仕様b
頂角 円すい台cの最大直径に対す
−
る高さの比
F rad 2 rad
P rad rad
4
1 2
rad rad 及び
15 3
M 1 1
4 2tan2
円すい
1 1
rad rad 及び
100 15
1 又は,
5
2tan2
I
2 9
rad rad 及び
3 10
1 1
15 2tan2
rad 2 rad
FM,FI 1 3
rad rad
2 2
輪環
rad rad
PM,PI 2
3 5
rad rad
4 4
注b 表で使用する記号の幾何学的な定義に関しては,JIS B 7440-1の11.13を参照。
c され,次に される。 に関しては,A.2のa)が区間の極値に優先して適用される。
――――― [JIS B 7440-6 pdf 16] ―――――
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B 7440-6 : 2004 (ISO 10360-6 : 2001)
A.4 形状偏差の重ね合わせ それぞれの存在範囲は,附属書A表4の規則に従って変形されなければな
らない。サンプル点の最大形状偏差 稀 照]は,基準データセットの種類(FM,PM)に関しては10-4,
基準データセットの種類(FI,PI)に関しては10-3が存在範囲のサイズに掛けられる。
附属書A表4 公称存在範囲に形状偏差を加える規則
当てはめ形体 規則 基準データセ n
ットの種類
(二次元)直線 線分に次数nまでのフーリエ級数を加える。 FM 3
FI 6
(三次元)直線 −
線分を含む二つの直交する平面を選び,それぞれの平面内で線分を二 −
次元直線と同様に変形する。変形された線分は,三次元の線分の変形
結果の平面への投影となっている。
平面 FM
長方形のそれぞれの方向に次数nまでの二次元フーリエ級数を加え 3
る。 FI 6
(二次元)円 FM,PM
円弧は,円の中心に座標原点をとる極座標系で表現される。二次元直 5
線と同様に次数nまでのフーリエ級数によって変形される。 FI,PI 8
(三次元)円 −
円を含む平面内で,円弧を二次元の円と同様に変形する。外接長方形 −
は平面と同様に変形する。
球 FM,PM
球は球の中心に原点をもつ球面座標系で表現される。生じる長方形は, 5
極点に対応する長方形の辺を同じ値となるように制限し,次数nのフ
FI,PI 8
ーリエ級数を加えられ平面と同様に変形されるd。
円筒 FM,PM
円筒は軸に沿った円筒座標系で表現される。生じる長方形はそれぞれ 5
の方向に次数nのフーリエ級数を加え,平面と同様に変形されるa。
FI,PI 8
円すい FM,PM
円すいは軸に合わせた円筒座標系で表現される。生じる長方形はそれ 5
ぞれの方向に次数nのフーリエ級数を加え,平面と同様に変形される。
FI,PI 8
生じた形状偏差は長方形よりもむしろ円すいに垂直である。
輪環 FM,PM
一般的な輪環の点pはp=r2(θ)+r1(θ,φ)と表現される。ここで,θは 5
軸回りの角度であり,φは環r2回りの角度である。環からpの最短距
FI,PI 8
離r1とする。結果の長方形r1(θ,φ)はそれぞれの方向に次数nのフー
リエ級数を加え,平面と同様に変形される。環は三次元の円と同様に
変形される。
注d この制限は,変形された存在範囲の連続性を保証する。
A.5 サンプリング それぞれの公称存在範囲は,附属書A表5に規定するように,(二次元の存在範囲の
場合には)多くの同じ長さの直線分に分割され,(三次元の存在範囲の場合には)多くの等しい面積の区画
に分割されなければならない。
公称サンプリング点は,それぞれの部分集合内でランダムに生成され,変形された存在範囲に,公称存
在範囲に垂直に,投影されなければならない。
――――― [JIS B 7440-6 pdf 17] ―――――
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B 7440-6 : 2004 (ISO 10360-6 : 2001)
附属書A表5 直線分又は区画に公称存在範囲を分割するための仕様
当てはめ形体 仕様 パラメータ値
(二次元)直線 存在範囲は等しい長さのn本の線分に分割される。 4 n 100
(三次元)直線
平面 存在範囲は,xn行 n列の格子に規則的に配置された長方
2 nx 10
y
形に分割される。
2 ny 10
(二次元)円 存在範囲は,等しい長さのn本の円弧に分割される。 5 n 100
(三次元)円
存在範囲は, 囲をそれぞれ等しい長さの区間に
球 3 n 10
zn個に分割することによって得られる区画に分割さ
n 燿
れる。ここで, 2
当てはめ円筒の座標系(,,) z 10
r z
の角度座標値及び高さ座標値であるe。
存在範囲は, 囲をそれぞれ等しい長さの区間に
円筒 3 n 10
n 燿zn個に分割することによって得られる区画に分割さ
3 nz 10
れる。
存在範囲は,
囲を等しい長さの区間にn に分割
円すい 3 n 10
され,z(原点は頂点にある)の範囲を極値の二乗の差(す
2 3 nz 10
なわち,z
i 1 z2 が一定)が等しくなるようにznの区間に
i
分割されるf。
存在範囲は, び 囲をそれぞれ等しい長さの区間
輪環 4 n 10
にn 燿 n に分割することによって得られる区画に分割
されるg。
3 n 10
注e 球のサンプリング面積が極と赤道で異なることがないように,円筒座標系で分割する。
f 湎
円すい台の半径の範囲が平均半径の1 %以下(ほぼ円筒の円すい又は薄い円すい板)のとき,式は,n
のiについて zi
1 zi を定数とすることによって近似できる。その結果,頂点の仰角の悪条件の問題を解くこと
ができる。
g この方法で生成された区画は,正確に同じ面積ではない。軸に近い輪環の部分ではオーバーサンプリングが容
認される。
A.6 プロ−ビング誤差及び偶然誤差の重ね合わせ それぞれの点は,附属書A表6で規定される標準偏差
をもつノイズのランダムベクトル[A.2 j)参照]によってかき乱される。異なる点のノイズベクトルは,互い
に統計的に独立であると仮定される。
附属書A表6 ノイズ成分の標準偏差
ノイズの標準偏差
基準データセットの種類
FM,PM 2
FI,PI 10
――――― [JIS B 7440-6 pdf 18] ―――――
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B 7440-6 : 2004 (ISO 10360-6 : 2001)
附属書B(参考)GPSマトリックス
この附属書は,本体及び附属書(規定)に関連する事柄を補足するもので,規定の一部ではない。
GPSマトリックスモデル詳細は,TR B 0007を参照する。
B.1 規格及びその利用についての情報 この規格は,座標測定機で最小二乗当てはめ形体を計算するた
めに用いるソフトウェアの誤差を評価する方法を規定している。この規格の検査は,
−直線,平面,円,球,円筒,円すい及び輪環を計算するソフトウェアに適用する。
−座標測定機によって測定したデータの最小二乗評価のために用いる。
−ソフトウェアだけで実行されるので,座標測定機から独立している。
B.2 GPSマトリックスにおける位置付け この規格は,附属書B図1に示すGPS基本マトリックスにお
けるサイズ,距離,半径,角度,形状,姿勢,位置,振れ及びデータムの規格チェーンのリンク番号5に
関係する。
B.3 関連規格 関連国際規格は,附属書B図1に示す規格チェーンに含まれた規格である。
GPS共通規格
GPS一般規格
リンク番号 1 2 3 4 5 6
サイズ
距離
半径
角度
GPS データムに無関係な線の形状
原理 データムに関係する線の形状
規格
データムに無関係な面の形状
データムに関係する面の形状
姿勢
位置
円周振れ
全振れ
データム
粗さ曲線
うねり曲線
断面曲線
表面欠陥
エッジ
附属書B図1
参考文献
――――― [JIS B 7440-6 pdf 19] ―――――
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B 7440-6 : 2004 (ISO 10360-6 : 2001)
JIS B 0021 製品の幾何特性仕様(GPS)−幾何公差表示方式−形状,姿勢,位置及び振れの公差表示方
式
備考 ISO DIS/1101 Geometrical Product Specifications(GPS)−Geometrical tolerancing−Tolerancing
of form,orientation,location and run-outが,この規格と一致している。
JIS B 0022 幾何公差のためのデータム
備考 ISO 5459:1981 Technical drawings−Geometrical tolerancing−Datums and datum-systems for
geometrical tolerancesからの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
JIS B 7440-3 製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第3部 : ロー
タリテーブル付き座標測定機
備考 ISO 10360-3:2000 Geometrical product speciications(GPS)−Acceptance and reverification test for
coordinate measuring machines(CMM)−Part 3:CMMs with the axis of a rotary table as the fourth
axisが,この規格と一致している。
JIS B 7440-4 製品の幾何特製仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第4部 : スキ
ャン測定
備考 ISO 10360-4:2000 Geometrical product specifications(GPS)−Acceptance an reverification test for
coordinate measuring machines(CMM)−Part 4:CMMs used in scanning measuring modeが,この規
格と一致している。
JIS B 7440-5 製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査ー第5部 : マル
チスタイラス測定
備考 ISO 10360-5:2000 Geometrical product specifications(GPS)−Acceptance and reverification test
for coordinate measuring machines(CMM)−Part 5:CMMs using multiple-stylus probing systemsが,
この規格と一致している。
TR B 0007 製品の幾何特性仕様(GPS)−マスタープラン
備考 ISO/TR 14638:1995 Geometrical Product Specifications(GPS)−Masterplanが,この規格と一致
している。
JIS B 7440-6:2004の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 10360-6:2001(IDT)
JIS B 7440-6:2004の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.040 : 線及び角度の測定 > 17.040.30 : 測定機器
JIS B 7440-6:2004の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0641-1:2020
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―製品及び測定装置の測定による検査―第1部:仕様に対する合否判定基準
- JISB0672-1:2002
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―形体―第1部:一般用語及び定義
- JISB0672-2:2002
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―形体―第2部:円筒及び円すいの測得中心線,測得中心面並びに測得形体の局部寸法