JIS B 7440-7:2015 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）―座標測定機（ＣＭＭ）の受入検査及び定期検査―第７部：画像プローブシステム付き座標測定機

                                                                B 7440-7 : 2015 (ISO 10360-7 : 2011)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 記号・・・・[7]
•  5 測定特性に対する要求・・・・[8]
•  5.1 環境条件・・・・[8]
•  5.2 操作条件・・・・[8]
•  5.3 座標測定機の条件設定に対する要求・・・・[8]
•  6 受入検査及び定期検査・・・・[10]
•  6.1 一般・・・・[10]
•  6.2 長さ測定誤差・・・・[11]
•  6.3 直角度誤差ESQ・・・・[16]
•  6.4 長さ測定誤差の繰返し範囲RB又はRU・・・・[18]
•  6.5 プロービング誤差(PF2D)・・・・[18]
•  6.6 画像プローブプロービング誤差PFV2D・・・・[20]
•  7 仕様との適合・・・・[22]
•  7.1 受入検査・・・・[22]
•  7.2 定期検査・・・・[23]
•  8 適用事例・・・・[23]
•  8.1 受入検査・・・・[23]
•  8.2 定期検査・・・・[24]
•  8.3 中間点検・・・・[24]
•  9 製品の附属文書及びデータシートでの表記・・・・[24]
•  附属書A(参考)中間点検・・・・[26]
•  附属書B(規定)校正された検査用の長さを実現するアーティファクト・・・・[27]
•  附属書C(参考)直角誤差を検査するための代替法・・・・[33]
•  附属書D(規定)低熱膨張係数をもつアーティファクトの補正計算・・・・[35]
•  附属書E(参考)GPSマトリックス・・・・[37]

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――――― [JIS B 7440-7 pdf 1] ―――――

B 7440-7 : 2015 (ISO 10360-7 : 2011)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工
業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済
産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS B 7440の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS B 7440-1 第1部 : 用語
    JIS B 7440-2 第2部 : 長さ測定
    JIS B 7440-3 第3部 : ロータリーテーブル付き座標測定機
    JIS B 7440-4 第4部 : スキャニング測定
    JIS B 7440-5 第5部 : シングル及びマルチスタイラス測定
    JIS B 7440-6 第6部 : ソフトウェア検査
    JIS B 7440-7 第7部 : 画像プローブシステム付き座標測定機
    JIS B 7440-8 第8部 : 光学式距離センサ付き座標測定機
    JIS B 7440-9 第9部 : 複数のプローブによる測定(予定)

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――――― [JIS B 7440-7 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           B 7440-7 : 2015
                                                                          (ISO 10360-7 : 2011)

製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第7部 : 画像プローブシステム付き座標測定機

Geometrical product specifications (GPS) -Acceptance and reverificationtests for coordinate measuring machines (CMM)-Part 7: CMMs equipped with imaging probing systems

序文

  この規格は,2011年に第1版として発行されたISO 10360-7を基に,技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。
  この規格は,製品の幾何特性仕様(GPS)規格の一つであり,GPS基本規格(ISO/TS 23165:2006参照)
として取り扱う。この規格は,サイズ,距離,半径,角度,形状,姿勢,位置,振れ及びデータムに関す
る規格チェーンのリンク番号5に関係する。
  この規格と他の規格及びGPSマトリックスとの詳細な関係は,附属書Eを参照する。

1 適用範囲

  この規格は,画像プローブシステムをもつ座標測定機の性能の受入検査及び定期検査について規定する。
  この規格で規定する受入検査及び定期検査は,離散点プロービングモードで動作するあらゆる形式の画
像プローブシステムをもつ直交形座標測定機だけに適用する。
  この規格は,次の座標測定機には適用しない。
  − 非直交形座標測定機(ただし,受渡当事者間の合意によってこの規格を非直交形座標測定機に適用
      してもよい。)
  − 画像プローブ以外の光学式プローブを用いる座標測定機(ただし,受渡当事者間の合意によってこ
      の規格を画像プローブ以外の光学式座標測定機に適用してもよい。)
  − JIS B 7440-2で規定する接触式プロービングシステムをもつ座標測定機
  JIS B 7440規格群では,座標測定機の製造業者又は使用者が指定する性能要求事項を規定しており,受
入検査及び定期検査での要求事項及び合否判定の基準並びにそれらの検査で使用され得るアプリケーショ
ンについて記載している。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          ISO 10360-7:2011,Geometrical product specifications (GPS)−Acceptance and reverification tests for
              coordinate measuring machines (CMM)−Part 7: CMMs equipped with imaging probing systems
              (IDT)

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2
B 7440-7 : 2015 (ISO 10360-7 : 2011)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS B 0641-1 製品の幾何特性仕様(GPS)−製品及び測定装置の測定による検査−第1部 : 仕様に対
        する合否判定基準
      注記 対応国際規格 : ISO 14253-1:1998,Geometrical Product Specifications (GPS)−Inspection by
             measurement of workpieces and measuring equipment−Part 1: Decision rules for proving
             conformance or non-conformance with specifications(IDT)
    JIS B 0672-1 製品の幾何特性仕様(GPS)−形体−第1部 : 一般用語及び定義
      注記 対応国際規格 : ISO 14660-1:1999,Geometrical Product Specifications (GPS)−Geometrical
             features−Part 1: General terms and definitions(IDT)
    JIS B 7440-1 製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第1部 : 
        用語
      注記 対応国際規格 : ISO 10360-1:2000,Geometrical Product Specifications (GPS)−Acceptance and
             reverification tests for coordinate measuring machines (CMM)−Part 1: Vocabulary(IDT)
    JIS B 7440-2 製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第2部 : 
        長さ測定
      注記 対応国際規格 : ISO 10360-2:2009,Geometrical product specifications (GPS)−Acceptance and
             reverification tests for coordinate measuring machines (CMM)−Part 2: CMMs used for measuring
             linear dimensions(IDT)
    ISO/TS 23165:2006,Geometrical product specifications (GPS)−Guidelines for the evaluation of coordinate
        measuring machine (CMM)   est uncertainty
    ISO/IEC Guide 99,International vocabulary of metrology−Basic and general concepts and associated terms
        (VIM)
      注記 このガイドは,TS Z 0032として発行されている。

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS B 0641-1,JIS B 0672-1,JIS B 7440-1,JIS B 7440-2,ISO/IEC
Guide 99及びISO/TS 23165によるほか,次による。
3.1
画像プローブシステム(imaging probing system)
  画像システムによって測定点を取り込むプロービングシステム。
    注記1 この規格は,主としてプローブの光軸に直交する方向の測定に対応した画像プローブシステ
            ムについて規定するものである。
    注記2 ビデオプローブシステム及びビジョンプローブシステムは画像プローブシステムの一つであ
            る。

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                                                                B 7440-7 : 2015 (ISO 10360-7 : 2011)
3.2
画像プローブ付き座標測定機(imaging probe CMM)
  画像プローブシステムを備えた座標測定機。
3.3
視野,FOV(field of view)
  画像プローブシステムによって取り込まれる画像領域(図1参照)。
    注記 視野の測定範囲又はサイズは,最終的な画像において再現される物体空間の測定範囲として指
          定することができる。
3.4
測定ウインドウ(measuring window)
  測定点を決定するために使用する視野内の測定対象範囲(図1参照)。
    注記 測定ウインドウの設定は,座標測定機のタイプ又は同じ座標測定機でもアプリケーションによ
          って大きく変わる場合がある。
               1 画像を取り込むカメラ又は装置
               2 画像プローブシステムの光学系
               3 測定対象物
               4 視野(対象物上)
               5 視野(画像上)
               6 測定ウインドウ
               7 測定点
                         図1−画像プローブシステム各部の名称及び軸方向
3.5
測定平面[measuring plane(of the imaging probing system)]
  画像プローブシステムの視野によって決まる二次元平面。
3.6
熱膨張係数,CTE(coefficient of thermal expansion)
  20 ℃における材料の線膨張係数。

――――― [JIS B 7440-7 pdf 5] ―――――

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