この規格ページの目次
4
B 7440-7 : 2015 (ISO 10360-7 : 2011)
3.7
通常の熱膨張係数をもつ材料(normal CTE material)
CTEが,8×10−6/℃13×10−6/℃の間にある材料。
3.8
円形状標準器(test circle)
受入検査及び定期検査で使用する円形状評価標準器。
3.9
双方向長さ測定誤差,EB(bidirectional length measurement error)
画像プローブ付き座標測定機を使って,双方向に校正された検査用の長さをそれぞれの端における一つ
の測定点(又は等価な点)によって測定した場合の指示誤差。
注記1 双方向に校正された検査用の長さの詳細については,附属書Bを参照する。
注記2 EBは,三次元空間測定に対応した画像プローブ付き座標測定機に対してだけ適用するもので
あって,全ての座標測定機に適用するものではない。
3.10
双方向長さ測定誤差の繰返し範囲,RB(repeatability range of the bidirectional length measurement error)
双方向に校正された検査用の長さを3回繰り返して測定した長さ測定誤差の範囲(最大値と最小値との
差)。
3.11
単一方向長さ測定誤差,EU(unidirectional length measurement error)
画像プローブ付き座標測定機を使って,単一方向に校正された検査用の長さをそれぞれの端における一
つの測定点(又は等価な点)によって測定した場合の指示誤差。
注記 EUは,三次元空間の測定に対応した画像プローブ付き座標測定機に対してだけ適用し,全ての
座標測定機に適用するものではない。
3.12
単一方向長さ測定誤差の繰返し範囲,RU(repeatability range of the unidirectional length measurement error)
単一方向に校正された検査用の長さを3回繰り返して測定した長さ測定誤差の範囲(最大値と最小値と
の差)。
3.13
Z軸双方向長さ測定誤差,EBZ(Z bidirectional length measurement error)
画像プローブの測定平面に対して垂直で,双方向に校正された検査用の長さをそれぞれの端における一
つの測定点(又は等価な点)によって測定した場合の指示誤差。
注記 この規格では画像プローブの測定平面に垂直な軸をZ軸としている。そうでない場合はX軸又
はY軸として扱うものとする。
3.14
Z軸単一方向長さ測定誤差,EUZ(Z unidirectional length measurement error)
画像プローブの測定平面に対して垂直で,単一方向に校正された検査用の長さをそれぞれの端における
一つの測定点(又は等価な点)によって測定した場合の指示誤差。
注記 この規格では画像プローブの測定平面に垂直な軸をZ軸としている。そうでない場合はX軸又
はY軸として扱うものとする。
――――― [JIS B 7440-7 pdf 6] ―――――
5
B 7440-7 : 2015 (ISO 10360-7 : 2011)
3.15
XY平面双方向長さ測定誤差,EBXY(XY bidirectional length measurement error)
画像プローブの測定平面に平行で,双方向に校正された検査用の長さをそれぞれの端における一つの測
定点(又は等価な点)によって測定した場合の指示誤差。
注記 この規格では画像プローブの測定平面に並行な平面をXY平面としている。そうでない場合は
XZ平面又はYZ面として扱うものとする。
3.16
XY平面単一方向長さ測定誤差,EUXY(XY unidirectional length measurement error)
画像プローブの測定平面に平行で,単一方向に校正された検査用の長さをそれぞれの端における一つの
測定点(又は等価な点)によって測定した場合の指示誤差。
注記 この規格では画像プローブの測定平面に並行な平面をXY平面としている。そうでない場合は
XZ平面又はYZ面として扱うものとする。
3.17
直角度誤差,ESQ(squareness error)
座標測定機の画像プローブの測定平面に対する垂直な動作と,画像プローブの測定平面に平行な動作と
の間における真直度,直角度の組合せによる指示誤差。
注記 この用途としては,画像プローブの測定平面に対する垂直なZ軸と画像プローブの測定平面に
平行なXY平面との関係に用いる。
3.18
画像プローブ双方向長さ測定誤差,EBV(imaging probe bidirectional length measurement error)
画像プローブの測定平面に対して平行で校正された双方向検査用の長さを,それぞれの端における点を
一つの測定点(又は等価な点)によって,画像プローブの視野内の任意の場所で測定した場合の指示誤差。
注記1 この検査では座標測定機の軸動作を含めない。
注記2 この誤差は画像プローブの視野内測定に対応した座標測定機に適用し,全ての場合に適用す
るものではない。
3.19
画像プローブ単一方向長さ測定誤差,EUV(imaging probe unidirectional length measurement error)
画像プローブの測定平面に対して平行で校正された単一方向検査用の長さを,それぞれの端における点
を一つの測定点(又は等価な点)によって,画像プローブの視野内の任意の場所で測定した場合の指示誤
差。
注記1 この検査では座標測定機の軸動作を含めない。
注記2 この誤差は画像プローブの視野内測定に対応した座標測定機に適用し,全ての場合に適用す
るものではない。
3.20
プロービング誤差,PF2D(probing error)
円形状標準器を測定した点の最小二乗当てはめによって決定する円の中心から各点までの距離の幅。画
像プローブの使用に適した視野にわたって均等に配置した全ての測定点について,離散点プロービング設
定の画像プローブ付き座標測定機によって座標測定機の軸動作を利用して測定空間内の任意の位置に置か
れた一つの円形状標準器を測定するもの。
――――― [JIS B 7440-7 pdf 7] ―――――
6
B 7440-7 : 2015 (ISO 10360-7 : 2011)
3.21
画像プローブのプロービング誤差,PFV2D(probing error of the imaging probe)
円形状標準器を測定した点の最小二乗当てはめによって決定する円の中心から各点までの距離の幅。画
像プローブの使用に適した視野に配置した全ての測定点について,座標測定機の軸動作を利用せずに離散
点プロービング設定の画像プローブ付き座標測定機によって円形状標準器を測定するもの。
注記 この誤差は,画像プローブの視野内の測定に対応した画像プローブ付き座標測定機に適用する
ことができるが,全ての画像プローブ付き座標測定機に適用できるとは限らない。
3.22
双方向長さ測定の最大許容誤差,EB,MPE(maximum permissible error of bidirectional length measurement)
仕様として許容される双方向長さ測定の最大許容限界。
3.23
双方向長さ測定誤差の繰返し範囲の最大許容限界,RB,MPL(maximum permissible limit of the bidirectional
repeatability range)
仕様として許容される双方向長さ測定誤差の繰返し範囲における最大の許容限界。
3.24
最大許容単一方向長さ測定誤差,EU,MPE(maximum permissible error of unidirectional length measurement)
仕様として許容される最大の単一方向長さ測定誤差。
3.25
単一方向長さ測定誤差の繰返し範囲の最大許容限界,RU,MPL(maximum permissible limit of the unidirectional
repeatability range)
仕様として許容される単一方向長さ測定誤差の繰返し範囲の最大許容限界。
3.26
最大許容Z軸双方向長さ測定誤差,EBZ,MPE(maximum permissible error of Z bidirectional length measurement)
仕様として許容される最大のZ軸双方向長さ測定誤差。
3.27
最大許容Z軸単一方向長さ測定誤差,EUZ,MPE(maximum permissible error of Z unidirectional length
measurement)
仕様として許容される最大のZ軸単一方向長さ測定誤差。
3.28
最大許容XY平面双方向長さ測定誤差,EBXY,MPE(maximum permissible error of the XY bidirectional length
measurement)
仕様として許容される最大のXY平面双方向長さ測定誤差。
3.29
最大許容XY平面単一方向長さ測定誤差,EUXY,MPE(maximum permissible error of the XY unidirectional length
measurement)
仕様として許容される最大のXY平面単一方向長さ測定誤差。
3.30
最大許容直角度誤差,ESQ,MPE(maximum permissible squareness error)
仕様として許容される最大の直角度誤差。
――――― [JIS B 7440-7 pdf 8] ―――――
7
B 7440-7 : 2015 (ISO 10360-7 : 2011)
3.31
最大許容双方向画像プローブプロービング誤差,EBV,MPE(maximum permissible error of imaging probe
bidirectional length measurement)
仕様として許容される最大の双方向画像プローブプロービング誤差。
3.32
最大許容単一方向画像プローブプロービング誤差,EUV,MPE(maximum permissible error of imaging probe
unidirectional length measurement)
仕様として許容される最大の単一方向画像プローブプロービング誤差。
3.33
最大許容プロービング誤差,PF2D,MPE(maximum permissible probing error)
仕様として許容される最大のプロービング誤差。
3.34
最大許容画像プローブプロービング誤差,PFV2D,MPE(maximum permissible probing error of the imaging probe)
仕様として許容される最大の画像プローブプロービング誤差。
4 記号
この規格で用いる主な記号及び意味は,表1による。
表1−記号
記号 用語
EB 最大許容双方向長さ測定誤差
RB 双方向長さ測定誤差の繰返し範囲
EU 単一方向長さ測定誤差
RU 単一方向長さ測定誤差の繰返し範囲
EBZ Z軸双方向長さ測定誤差
EUZ Z軸単一方向長さ測定誤差
EBXY XY平面双方向長さ測定誤差
EUXY XY平面単一方向長さ測定誤差
EBX X軸双方向長さ測定誤差
EUX X軸単一方向長さ測定誤差
EBY Y軸双方向長さ測定誤差
EUY Y軸単一方向長さ測定誤差
ESQ 直角度誤差
EBV 画像プローブ双方向長さ測定誤差
EUV 画像プローブ単一方向長さ測定誤差
PF2D プロービング誤差
PFV2D 画像プローブプロービング誤差
EB,MPE 最大許容双方向長さ測定誤差
RB,MPL 繰返し範囲の双方向最大許容限界
EU,MPE 最大許容単一方向長さ測定誤差
RU,MPL 繰返し範囲の単一方向最大許容限界
EBZ,MPE 最大許容Z軸双方向長さ測定誤差
EUZ,MPE 最大許容Z軸単一方向長さ測定誤差
EBXY, MPE 最大許容XY平面双方向長さ測定誤差
――――― [JIS B 7440-7 pdf 9] ―――――
8
B 7440-7 : 2015 (ISO 10360-7 : 2011)
表1−記号(続き)
記号 用語
EUXY,MPE 最大許容XY平面単一方向長さ測定誤差
EBX,MPE 最大許容X軸双方向長さ測定誤差
EUX,MPE 最大許容X軸単一方向長さ測定誤差
EBY,MPE 最大許容Y軸双方向長さ測定誤差
EUY,MPE 最大許容Y軸単一方向長さ測定誤差
ESQ,MPE 最大許容直角度誤差
EBV,MPE 最大許容双方向画像プローブプロービング誤差
EUV,MPE 最大許容単一方向画像プローブプロービング誤
差
PF2D,MPE 最大許容プロービング誤差
PFV2D,MPE 最大許容画像プローブプロービング誤差
注記 製品の附属文書,図面及びデータシートにおけるこれらの記号
の対応する表記については箇条9を参照。
5 測定特性に対する要求
5.1 環境条件
測定に影響を与える設置場所の温度条件,湿度及び振動のような環境条件の最大許容限界は,受入検査
の場合には製造業者が指定し,定期検査の場合には使用者が指定する。
いずれの場合にも,使用者は,この規格の検査を製造業者のデータシートに明記されたとおりの環境条
件の範囲内で実施してもよい。
使用者は,座標測定機の設置環境が,製造業者によってデータシートに指定された環境に適合している
ことに責任をもつ。
環境が仕様に適合しない場合,使用者は,最大許容誤差及び最大許容限界の検証を要求することはでき
ない。
5.2 操作条件
箇条6の検査を実施する場合には,製造業者の示す操作手順で座標測定機を操作しなければならない。
通常,このような手順書は,次の項目を含む。
a) 機械の起動及び暖機サイクル
b) 清掃手順
c) プロービングシステムのパラメータ設定
d) 校正前におけるプロービングシステムの温度ならし
e) プロービングするアプローチ方向
f) 周囲の照明
g) 照明システムの設定
h) 温度センサの位置,種類及び数
i) 倍率を含む画像プローブの設定
j) 画像処理方法
5.3 座標測定機の条件設定に対する要求
5.3.1 概要
この規格は,画像プロービングシステム付き座標測定機の構成に様々な種類があることを認識し,製造
――――― [JIS B 7440-7 pdf 10] ―――――
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JIS B 7440-7:2015の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 10360-7:2011(IDT)
JIS B 7440-7:2015の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.040 : 線及び角度の測定 > 17.040.30 : 測定機器
JIS B 7440-7:2015の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0641-1:2020
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―製品及び測定装置の測定による検査―第1部:仕様に対する合否判定基準
- JISB0672-1:2002
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―形体―第1部:一般用語及び定義
- JISB7440-1:2003
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査―第1部:用語
- JISB7440-2:2013
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査―第2部:長さ測定