JIS B 7440-8:2015 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）―座標測定システム（ＣＭＳ）の受入検査及び定期検査―第８部：光学式距離センサ付き座標測定機

                                                                                 B 7440-8 : 2015

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[2]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 用語及び定義・・・・[3]
•  4 記号・・・・[11]
•  5 計測特性に対する要求・・・・[11]
•  5.1 環境条件・・・・[11]
•  5.2 操作条件・・・・[12]
•  5.3 プロービング形状誤差(25点)・・・・[12]
•  5.4 プロービング形状誤差(95 %)・・・・[12]
•  5.5 プロービング寸法誤差(25点)・・・・[12]
•  5.6 プロービング寸法誤差(100 %)・・・・[12]
•  5.7 長さ測定誤差・・・・[13]
•  5.8 平面形状測定誤差・・・・[13]
•  5.9 測定物質量による影響・・・・[13]
•  6 受入検査及び定期検査・・・・[13]
•  6.1 一般・・・・[13]
•  6.2 プロービング特性・・・・[13]
•  6.3 長さ測定誤差・・・・[21]
•  6.4 平面形状測定誤差・・・・[25]
•  7 仕様との適合・・・・[27]
•  7.1 受入検査・・・・[27]
•  7.2 定期検査・・・・[29]
•  8 適用事例・・・・[29]
•  8.1 受入検査・・・・[29]
•  8.2 定期検査・・・・[29]
•  8.3 中間点検・・・・[29]
•  9 製品の附属文書及びデータシートでの表記・・・・[30]
•  附属書A(参考)構造分解能の評価・・・・[31]
•  附属書B(規定)校正された検査用の長さを実現する標準器・・・・[35]
•  附属書C(参考)標準器の方向調整・・・・[45]
•  附属書D(規定)光学式距離センサ用回転式プロービングシステムを備えた座標測定機の回転位置誤差・・・・[47]
•  附属書E(参考)GPSマトリックス・・・・[50]
•  附属書JA(参考)光学式距離センサ付き座標測定機本体部の各種形式・・・・[51]

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――――― [JIS B 7440-8 pdf 1] ―――――

B 7440-8 : 2015

pdf 目次

ページ

•  附属書JB(参考)光学式距離センサ付き非直交形座標測定機の検査・・・・[54]
•  附属書JC(参考)つなぎ合わせによる検査・・・・[57]
•  附属書JD(参考)球間距離測定誤差の検査・・・・[59]
•  附属書JE(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[62]

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                                                                                 B 7440-8 : 2015

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,国立研究開発法人産業技術総合研究所(AIST)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出
があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS B 7441:2009は廃止され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS B 7440の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS B 7440-1 第1部 : 用語
    JIS B 7440-2 第2部 : 長さ測定
    JIS B 7440-3 第3部 : ロータリテーブル付き座標測定機
    JIS B 7440-4 第4部 : スキャニング測定
    JIS B 7440-5 第5部 : シングル及びマルチスタイラス測定
    JIS B 7440-6 第6部 : ソフトウェア検査
    JIS B 7440-7 第7部 : 画像プローブシステム付き座標測定機
    JIS B 7440-8 第8部 : 光学式距離センサ付き座標測定機
    JIS B 7440-9 第9部 : 複数のプローブによる測定(予定)
    JIS B 7440-10 第10部 : レーザトラッカによる点と点の距離測定(予定)
    JIS B 7440-11 第11部 : X線CT(予定)
    JIS B 7440-12 第12部 : 多関節座標測定システム(予定)

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           B 7440-8 : 2015

製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定システム(CMS)の受入検査及び定期検査−第8部 : 光学式距離センサ付き座標測定機

Geometrical product specifications (GPS)-Acceptance and reverificationtests for coordinate measuring systems (CMS)-Part 8: CMMs with optical distance sensors

序文

  この規格は,2013年に第1版として発行されたISO 10360-8を基に,対応する部分については対応国際
規格を翻訳し,技術的内容を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)であるが,対応国際規格には規定さ
れていない規定項目(非直交形座標測定機,つなぎ合わせ及び球間距離測定誤差)を日本工業規格(日本産業規格)として
追加している。
  なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格にはない事項である。変更の一覧表に
その説明を付けて,附属書JEに示す。
  この規格は,製品の幾何特性仕様(GPS)規格の一つであり,GPS基本規格(ISO/TR 14638参照)とし
て取り扱う。この規格は,サイズ,距離,半径,角度,形状,姿勢,位置,振れ及びデータムに関する規
格チェーンのリンク番号5に関係する。
  この規格と他の規格及びGPSマトリックスとの詳細な関係は,附属書Eを参照。
  ISO/TR 14638で与えられたISO/GPSマスタープランは,この規格がその一部であるISO/GPSシステム
の全体像を与える。ISO 8015が与えるISO/GPSの基本ルールがこの規格に適用され,他に指示がない場合,
JIS B 0641-1の適合判定規則が,この規格に従う仕様に適用される。
  この規格の検査は,次に示す二つの技術的な目的をもつ。
a) 光学式距離センサを使って,校正された検査長さの指示誤差を検査する。
b) 光学式距離センサの誤差を検査する。
  この規格では,光学式距離センサを,次に示す二つの種類に分類する。
  − 点測定センサ
  − 面測定センサ[例えば,ポイントスキャン,ラインスキャン,しま(縞)投影]
  これらの検査の効果は,それによって得られる測定結果が長さの単位であるメートルに対して直接トレ
ーサビリティが確保できること,及び長さに関する同様の測定を行った場合に,座標測定機の挙動につい
ての情報を得ることである。
  この規格は,接触式プロービングシステムを用いた座標測定機に対するJIS B 7440-2及びJIS B 7440-5
と同等である。

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B 7440-8 : 2015
  これらの三つの規格における検査方法は,同じになるように設計されている。

1 適用範囲

  この規格は,長さ測定における座標測定機の性能が,製造業者の仕様に適合するかどうかを検証するた
めの受入検査について規定する。さらに,使用者が定期的に検証するための定期検査についても規定する。
  この規格で規定する受入検査及び定期検査は,光学式距離センサ付きの直交形座標測定機に適用する。
  この規格を非直交形座標測定機に適用する場合には,附属書JA及び附属書JBを参照する。
  この規格による受入検査及び定期検査について,つなぎ合わせの検査によって座標測定機の性能を検証
する場合には,附属書JCを参照する。
  この規格による受入検査及び定期検査について,球間距離測定誤差の検査によって座標測定機の性能を
検証する場合には,附属書JDを参照する。
    注記1 この規格は,測定範囲が検査用標準球の寸法より非常に小さい座標測定機には適用しない。
            ただし,原理的には,この規格の標準器及び検査手順は,検査用標準器の寸法,測定数など
            のパラメータを変更したとしても,これらの座標測定機の受入検査及び定期検査に有用であ
            る。
  この規格は,次に示すことを規定している。
  − 座標測定機の製造業者又は使用者が指定する性能要求事項
  − 指定された要求を実証するための受入検査及び定期検査を実施する方法
  − 合否判定の基準
  − 受入検査及び定期検査で使用し得るアプリケーション
    注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            ISO 10360-8:2013,Geometrical product specifications (GPS)−Acceptance and reverification tests
                for coordinate measuring systems (CMS)−Part 8: CMMs with optical distance sensors(MOD)
              なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
            ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS B 0641-1 製品の幾何特性仕様(GPS)−製品及び測定装置の測定による検査−第1部 : 仕様に対
        する合否判定基準
      注記 対応国際規格 : ISO 14253-1:1998,Geometrical Product Specifications (GPS)−Inspection by
             measurement of workpieces and measuring equipment−Part 1: Decision rules for proving
             conformance or non-conformance with specifications(IDT)
    JIS B 7440-1 製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第1部 : 
        用語
      注記 対応国際規格 : ISO 10360-1:2000,Geometrical Product Specifications (GPS)−Acceptance and
             reverification tests for coordinate measuring machines (CMM)−Part 1: Vocabulary(IDT)
    JIS B 7440-2 製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第2部 : 

――――― [JIS B 7440-8 pdf 5] ―――――

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