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B 7440-8 : 2015
長さ測定
注記 対応国際規格 : ISO 10360-2:2009,Geometrical product specifications (GPS)−Acceptance and
reverification tests for coordinate measuring machines (CMM)−Part 2: CMMs used for measuring
linear dimensions(IDT)
JIS B 7440-5 製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第5部 :
シングル及びマルチスタイラス測定
注記 対応国際規格 : ISO 10360-5:2010,Geometrical product specifications (GPS)−Acceptance and
reverification tests for coordinate measuring machines (CMM)−Part 5: CMMs using single and
multiple stylus contacting probing systems(IDT)
ISO/IEC Guide 99,International vocabulary of metrology−Basic and general concepts and associated terms
(VIM)
注記 上記ガイドは,TS Z 0032として公表されている。
ISO/TS 23165:2006,Geometrical product specifications (GPS)−Guidelines for the evaluation of coordinate
measuring machine (CMM) est uncertainty
3 用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS B 0641-1,JIS B 7440-1及びISO/IEC Guide 99によるほか,
次による。
3.1
光学式距離センサ(optical distance sensor)
光学式距離測定の原理によって補正後測定点を決定する非接触プロービングシステム。
注記 代表的な測定原理は三角測量及び同軸距離測定である。前者は構造化光投影法,モアレ法,ス
リット光投影法,ポイントスキャン法などを含み,後者は,光干渉法及び共焦点法を含む。
3.2
プロービング性能検査用標準平面(local test flat)
プロービング性能を検査するとき,プロービング形状誤差を評価するために使う平面形状標準器。
注記1 しま投影など,プロービング動作の明らかでない測定機もあるため,この規格におけるプロ
ービング性能は座標測定機の局所的な測定性能の指標と位置付ける。
注記2 プロービング形状誤差及びプロービング寸法誤差を評価するために使う検査用標準球に加え
て,プロービング性能検査用標準平面を使う。
注記3 光学式距離センサに対して,より大きな校正された検査用標準球を使用することが実質的に
困難な場合は,プロービング性能検査用標準平面がプロービング性能の検査に有効である。
図5は,検査用標準を選ぶためのフローチャートを示す。
3.3
平面形状測定誤差検査用標準平面(global test flat)
平面形状測定誤差を検査するときに用いる平面形状標準器。
注記 センサエリアよりも広いエリアを測定するためにシステムを使う場合には,光学式距離センサ
を備えた座標測定機の形状測定性能を検査するために,平面形状測定誤差検査用標準平面を使
うことを推奨する。
――――― [JIS B 7440-8 pdf 6] ―――――
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B 7440-8 : 2015
3.4
センサエリア(sensor area)
二次元像を投影する種類のセンサを使う場合には,光学式距離センサによって測定される領域(図1参
照)。
注記 ラインスキャン又はポイントスキャンセンサを使う場合には,センサエリアは,センサの投影
線の長さ及び座標測定機によって実現するセンサの移動長さによって決まる。
e
a c b
Ls
LD
d
a) ラインスキャン又は b) 二次元像投影センサの例
ポイントスキャンセンサの例
LS : 投影線の長さ
LD : センサの移動長さ
a : ラインスキャン又はポイントスキャンセンサ
b : 二次元像投影センサ
c : センサ中心軸
d : センサエリア
e : センサの移動方向
図1−センサエリアの定義
3.5
プロービング形状誤差(25点),PForm.Sph.1×25:j:ODS(probing form error)
球形の寸法標準器上で測定された点の最小二乗当てはめによって決まる球の中心から各点までの距離の
幅で表す指示誤差,又はプロービング性能検査用標準平面上で測定された点の最小二乗当てはめによって
決まる平面から各点までの法線方向の距離の幅で表す指示誤差(図2参照)。
注記1 PForm.Sph.1×25:j:ODSの記号“P”は,誤差がプロービングシステムの性能に関連することを示す。
添字“Form”は,誤差が形状誤差に関連することを示し,添字“Sph”は検査用標準球を参
照して測定することを示す。また,添字“ODS”は誤差が光学式距離センサに関連すること
を示す。添字“j”は,座標測定機の測定条件を示す。PForm.Sph.1×25:Tr:ODSは,座標測定機によっ
てセンサを移動し,測定を幾つかの位置で行った場合に与えた光学式プロービング形状誤差
(25点,並進)を表す。PForm.Sph.1×25:Art:ODSは,センサの姿勢が回転機構によって変更できる
場合に与えた光学式プロービング形状誤差(25点,回転)を表す。PForm.Sph.1×25:St:ODSは,測定
――――― [JIS B 7440-8 pdf 7] ―――――
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中にセンサを座標測定機によって移動しない場合に与えた光学式プロービング形状誤差(25
点,静止)を表す(図3参照)。添字1×25は,25点の測定点を1組用いて測定を行ったこと
を示す。
注記2 プロービング形状誤差(25点)は,ノイズ,デジタル化誤差,画像ひずみ,参照標準器の表
面との光学的相互作用,センサの校正誤差,測定データ処理の不完全なアルゴリズムなどの
センサの誤差と座標測定機の誤差とによって決まる。
注記3 この規格だけを使う場合には,光学式プロービングの“光学式”は必要ではないが,JIS B 7440
の他の部と一緒に使うときは,“光学式”を使い,区別しやすくする。
Dcal
GS
MP
Dmeas
Dcal
PForm.Sph.1×25:j:ODS
PSize.Sph.1×25:j:ODS = Dmeas - Dcal
Dcal 検査用標準球の直径の校正値
Dmeas 検査用標準球の直径の測定値
GS 最小二乗球
MP 測定点
図2−PForm.Sph.1×25:j:ODS及びPSize.Sph.1×25:j:ODSの図
――――― [JIS B 7440-8 pdf 8] ―――――
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xtr xart
ODS
ODS
ODS
s s s
a) 並進(Tr) b) 回転(Art) c) 静止(St)
ODS : 光学式距離センサ
xtr : 並進
xart : 回転
s : 検査用標準球
図3−添字Tr,Art及びStの説明
3.6
プロービング形状誤差(95 %),PForm.Sph.D95%:j:ODS(probing dispersion value)
検査用標準球又はプロービング性能検査用標準平面上で測定された全ての測定点の95 %をその間に包
含する同心二球面の最小間隔又は平行二平面の最小間隔。
注記1 PForm.Sph.D95%:j:ODSの記号“P”は,誤差がプロービングシステムの性能に関連することを示す。
添字“Form”は,誤差が形状誤差に関連することを示し,添字“Sph”は検査用標準球を参
照して測定することを示す。また,添字“D95 %”は,全ての測定点の95 %のプロービング
点のばらつきに関連することを示す。添字“ODS”は,誤差が光学式距離センサに関連する
ことを示す。添字“j”は,座標測定機の測定条件を示す。PForm.Sph.D95%:Tr:ODSは,座標測定機
によってセンサを移動し,測定を幾つかの位置で行う場合に与えた光学式プロービング形状
誤差(95 %,並進)を示す。PForm.Sph.D95%:Art:ODSは,センサの姿勢が回転機構によって変更で
きる場合に与えた光学式プロービング形状誤差(95 %,回転)を示す。PForm.Sph.D95%:St:ODSは,
測定中にセンサを座標測定機によって移動しない場合に与えた光学式プロービング形状誤差
(95 %,静止)を示す(図3参照)。
注記2 プロービングシステムのばらつきは,プロービング点群の範囲又は厚さともいう。
注記3 測定点の5 %はPForm.Sph.D95%:j:ODSを決定するためには用いない。測定データの中にあり得る異
常なデータ点も,また,この処理によって削除される。
注記4 平面は半径無限大の球とみなすことができる。
注記5 この規格だけを使う場合には,光学式プロービングの“光学式”は必要ではないが,JIS B 7440
の他の部と一緒に使うときは,“光学式”を使い,区別しやすくする。
――――― [JIS B 7440-8 pdf 9] ―――――
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B 7440-8 : 2015
3.7
プロービング寸法誤差(25点),PSize.Sph.1×25:j:ODS(probing size error)
検査用標準球の表面の25の代表点に最小二乗当てはめを行って得た球の直径と検査用標準球の直径の
校正値との差である指示誤差(図2参照)。
注記1 PSize.Sph.1×25:j:ODSの記号“P”は,誤差がプロービングシステムの性能に関連することを示す。
添字“Size”は,誤差が寸法誤差に関連することを示し,添字“Sph”は検査用標準球を参照
して測定することを示す。また,添字“ODS”は誤差が光学式距離センサに関連することを
示す。添字“j”は,座標測定機の測定条件を示す。PSize.Sph.1×25:Tr:ODSは,座標測定機によって
センサを移動し,測定を幾つかの位置で行う場合に与えた光学式プロービング寸法誤差(25
点,並進)を表す。
PSize.Sph.1×25:Art:ODSは,センサの姿勢が回転機構によって変更できる場合に与えた光学式プロ
ービング寸法誤差(25点,回転)を表す。PSize.Sph.1×25:St:ODSは,測定中にセンサを座標測定機
によって移動しない場合に与えた光学式プロービング寸法誤差(25点,静止)を表す(図3
参照)。添字“1×25”は,25点の測定点を1組用いて測定することを示す。
注記2 プロービング寸法誤差は,ノイズ,デジタル化誤差,画像ひずみ,参照標準器の表面との光
学的相互作用,センサの校正誤差,測定データ処理の不完全なアルゴリズムなどのセンサの
誤差と座標測定機の誤差とによって決まる。
注記3 この規格だけを使う場合には,光学式プロービングの“光学式”は必要ではないが,JIS B 7440
の他の部と一緒に使うときは,“光学式”を使い,区別しやすくする。
3.8
プロービング寸法誤差(100 %),PSize.Sph.All:j:ODS(probing size error All)
検査用標準球の全ての測定点に最小二乗当てはめを行って得た球の直径と検査用標準球の直径の校正値
との差である指示誤差。
注記1 PSize.Sph.All:j:ODSの記号“P”は,誤差がプロービングシステムの性能に関連することを示す。添
字“Size”は,誤差が寸法誤差に関連することを示し,添字“Sph”は検査用標準球を参照し
て測定することを示す。また,添字“All”は全ての測定点を計算に用いることを示す。添字
“ODS”は,誤差が光学式距離センサに関連することを示す。添字“j”は,座標測定機の測
定条件を示す。PSize.Sph.All:Tr:ODSは,光学式距離センサ付き座標測定機によってセンサを移動し,
測定を幾つかの位置で行う場合に与えたプロービング寸法誤差(100 %,並進)を表す。
PSize.Sph.All:Art:ODSは,センサの姿勢が回転機構によって変更できる場合に与えたプロービング
寸法誤差(100 %,回転)を表す。PSize.Sph.All:St:ODSは,測定中にセンサを座標測定機によって
移動しない場合に与えたプロービング寸法誤差(100 %,静止)を表す(図3参照)。
注記2 プロービング寸法誤差は,ノイズ,デジタル化誤差,画像ひずみ,参照標準器の表面との光
学的相互作用,センサの校正誤差,測定データ処理の不完全なアルゴリズムなどのセンサの
誤差と座標測定機の誤差とによって決まる。
注記3 この規格だけを使う場合には,光学式プロービングの“光学式”は必要ではないが,JIS B 7440
の他の部と一緒に使うときは,“光学式”を使い,区別しやすくする。
3.9
長さ測定誤差,EBi:j:ODS,EUni:j:ODS(length measurement error)
校正された検査用の長さを測定した時の指示誤差。
――――― [JIS B 7440-8 pdf 10] ―――――
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JIS B 7440-8:2015の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 10360-8:2013(MOD)
JIS B 7440-8:2015の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.040 : 線及び角度の測定 > 17.040.30 : 測定機器
JIS B 7440-8:2015の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0641-1:2020
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―製品及び測定装置の測定による検査―第1部:仕様に対する合否判定基準
- JISB7440-1:2003
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査―第1部:用語
- JISB7440-2:2013
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査―第2部:長さ測定
- JISB7440-5:2013
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査―第5部:シングル及びマルチスタイラス測定