この規格ページの目次
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B 7440-8 : 2015
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条(V) JISと国際規格との技術的差
国際規格 ごとの評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
番号
箇条番号 内容 箇条番号 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
及び題名 の評価
附属書JA 光学式距離センサ − − 追加 ISO 10360-8は非直交形座標測2013年現在,非直交形座標測定機
(参考) 付き座標測定機の の規格化に向けて日本から再度
定機の検査を規定していない。
光学式距 形式には,直交形だ JIS B 7440-8は附属書JA(参 の提案準備と合意形成を図って
離センサ けでなく非直交形 いる。非直交形座標測定機の規格
考)によって,産業界での非直
付き座標 を含めると多様な 交形座標測定機への適用を可 化を待ってJIS B 7440-8をISO
測定機本 ものがあるため,代 能とする。 10360-8にIDTとする。
体部の各 表的な形式につい
種形式 て概要とともに示
す。
附属書JB この規格の本文は − − 追加 ISO 10360-8は非直交形座標測2013年現在,非直交形座標測定機
(参考) 直交形座標測定機 の規格化に向けて日本から再度
定機の検査を規定していない。
光学式距 について規定して JIS B 7440-8は附属書JB(参 の提案準備と合意形成を図って
離センサ いる。この規格を非 いる。非直交形座標測定機の規格
考)によって,産業界での非直
付き非直 直交形座標測定機 交形座標測定機への適用を可 化を待ってJIS B 7440-8をISO
交形座標 に適用する場合の 能とする。 10360-8にIDTとする。
測定機の 注意点を記す。
検査
附属書JC 座標測定機の測定 − − 追加 ISO 10360-8はつなぎ合わせに特に非直交形座標測定機ではつ
(参考) 領域に比べ,光学式 よる検査を規定していない。 なぎ合わせが多用されており,非
つなぎ合 距離センサのセン JIS B 7440-8は附属書JC(参 直交形座標測定機の規格化には
わせによ サエリアが十分で つなぎ合わせの規定が必須であ
考)によって,産業界でのつな
る検査 ないとき,又は入手 ぎ合わせによる検査への適用 る。非直交形座標測定機の規格化
可能な検査用標準 を可能とする。 を待ってJIS B 7440-8をISO
器の長さが十分で 10360-8にIDTとする。
ないとき,つなぎ合
わせによって座標
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測定機の検査を実
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施する場合の注意
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点を記す。
-
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――――― [JIS B 7440-8 pdf 66] ―――――
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B 7440-8 : 2015
B7
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(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条(V) JISと国際規格との技術的差
4
国際規格 ごとの評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
40
番号
-
8
箇条番号 内容 箇条番号 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
: 2
及び題名 の評価
01
附属書JD 6.3に規定の長さ測 − − 追加 ISO 10360-8は球間距離測定誤非直交形座標測定機の規格化を
5
(参考) 定誤差の検査を行 差による検査を規定していな 待ってJIS B 7440-8をISO
球間距離 うためには,五つの い。JIS B 7440-8は附属書JD 10360-8にIDTとする。
測定誤差 検査長さを採用す (参考)によって,産業界での
の検査 る必要がある。特に 球間距離測定誤差による検査
非直交形座標測定 への適用を可能とする。
機の中には五つの
検査長さの測定が
困難なことがある
ため,1種類の検査
長さによる球間距
離測定誤差を記載
する。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : ISO 10360-8:2013,MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
− 追加·················· 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
− MOD··············· 国際規格を修正している。
JIS B 7440-8:2015の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 10360-8:2013(MOD)
JIS B 7440-8:2015の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.040 : 線及び角度の測定 > 17.040.30 : 測定機器
JIS B 7440-8:2015の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0641-1:2020
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―製品及び測定装置の測定による検査―第1部:仕様に対する合否判定基準
- JISB7440-1:2003
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査―第1部:用語
- JISB7440-2:2013
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査―第2部:長さ測定
- JISB7440-5:2013
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査―第5部:シングル及びマルチスタイラス測定