JIS B 7440-9:2017 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）―座標測定システム（ＣＭＳ）の受入検査及び定期検査―第９部：マルチセンサシステム付き座標測定機

                                                                B 7440-9 : 2017 (ISO 10360-9 : 2013)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 用語及び定義・・・・[3]
•  4 記号・・・・[5]
•  5 要求事項・・・・[6]
•  5.1 マルチセンサシステム誤差・・・・[6]
•  5.2 環境条件・・・・[6]
•  5.3 動作条件・・・・[6]
•  6 受入検査及び定期検査・・・・[6]
•  6.1 一般・・・・[6]
•  6.2 評価原理・・・・[6]
•  6.3 検査用標準器・・・・[7]
•  6.4 評価方法・・・・[9]
•  6.5 データ解析・・・・[10]
•  7 仕様との適合・・・・[11]
•  7.1 受入検査・・・・[11]
•  7.2 定期検査・・・・[12]
•  8 適用事例・・・・[12]
•  8.1 受入検査・・・・[12]
•  8.2 定期検査・・・・[12]
•  8.3 中間点検・・・・[12]
•  9 製品文書及びデータシートの表記・・・・[13]
•  附属書A(参考)仕様書の例・・・・[14]
•  附属書B(参考)GPSマトリックス・・・・[16]
•  参考文献・・・・[18]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS B 7440-9 pdf 1] ―――――

B 7440-9 : 2017 (ISO 10360-9 : 2013)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工
業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済
産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS B 7440の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS B 7440-1 第1部 : 用語
    JIS B 7440-2 第2部 : 長さ測定
    JIS B 7440-3 第3部 : ロータリテーブル付き座標測定機
    JIS B 7440-4 第4部 : スキャニング測定
    JIS B 7440-5 第5部 : シングル及びマルチスタイラス測定
    JIS B 7440-6 第6部 : ソフトウェア検査
    JIS B 7440-7 第7部 : 画像プローブシステム付き座標測定機
    JIS B 7440-8 第8部 : 光学式距離センサ付き座標測定機
    JIS B 7440-9 第9部 : マルチセンサシステム付き座標測定機
    JIS B 7440-10 第10部 : レーザートラッカによる点と点との距離測定(予定)
    JIS B 7440-11 第11部 : X線CT(予定)
    JIS B 7440-12 第12部 : 多関節座標測定機(予定)

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS B 7440-9 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           B 7440-9 : 2017
                                                                         (ISO 10360-9 : 2013)

製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定システム(CMS)の受入検査及び定期検査−第9部 : マルチセンサシステム付き座標測定機

Geometrical product specifications (GPS)-Acceptance andreverification tests for coordinate measuring systems (CMS)-Part 9: CMMs with multiple probing systems

序文

  この規格は,2013年に第1版として発行されたISO 10360-9を基に,技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格にはない事項である。
  この規格は,製品の幾何特性仕様(GPS)の規格であり,GPS基本規格(ISO/TR 14638:1995参照)と
して取り扱う。この規格は,サイズ,距離,半径,角度,形状,姿勢,位置,振れ及びデータムに関する
規格チェーンのリンク番号5に関係する。
  この規格と他の規格及びGPSマトリックスとの詳細な関係を,附属書Bに示す。
  ISO/TR 14638に示されるISO/GPSマスタープランは,この規格がISO/GPSシステムのどの部分を構成
しているかの概要を示す。ISO 8015に示すISO/GPSの基本的な規則は,この規格に適用し,また,JIS B
0641-1に示す標準的な決定規則は,指示がない限り,この規格に従って作成された仕様に適用する。
  この規格の検査は,接触モード及び非接触モードでマルチセンサシステムを使用する座標測定機に適用
する。この規格は,一連の測定において,二つ以上のプロービングシステムを使用する場合のマルチセン
サシステム付き座標測定機の検査を対象としている。基本的な方法は,JIS B 7440-5のマルチスタイラス
測定における検査方法に従っているが,異なるタイプのプロービングシステムの性能検査を目的としてい
る。例えば,一つのラム軸に画像プローブと接触プローブとが搭載されている座標測定機,複数のラム軸
をもつ座標測定機などがこの規格の対象となる。

1 適用範囲

  この規格は,接触モード及び非接触モードでマルチセンサシステム1) を使用する座標測定機の性能が,
製造業者の仕様に適合するかどうかを検証するための受入検査について規定する。
  さらに,この規格は,使用者が定期的に検証するための定期検査及び中間点検についても規定する。
    注1) この規格のマルチセンサシステムとは,複数の異なるタイプのプローブを使用する場合をいう。
  この規格は,重複する測定範囲が狭い又は広い複数のラム軸をもつ座標測定機,及び単一のラム軸をも
つ座標測定機を対象とする。この規格は,例えば接触プローブと画像プローブとの組合せ,二つの異なっ
た性能をもつ接触プローブの組合せなどの異なるタイプのプロービングシステムをもつマルチセンサシス

――――― [JIS B 7440-9 pdf 3] ―――――

2
B 7440-9 : 2017 (ISO 10360-9 : 2013)
テムに適用できる。
  この検査は,座標測定機及びプロービングシステムによる多くの誤差により影響を受ける。この検査は,
長さ測定の検査及び個別のプロービングシステムにおけるプロービング誤差の検査を補完する。この規格
の検査を行う前に,個別のプロービング誤差の検査及び長さ測定の検査(例えば,JIS B 7440-5,JIS B 7440-7
又はJIS B 7440-8)を行うことが望ましい。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          ISO 10360-9 : 2013,Geometrical product specifications (GPS)−Acceptance and reverification tests for
              coordinate measuring systems (CMS)−Part 9: CMMs with multiple probing systems(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS B 0641-1 製品の幾何特性仕様(GPS)−製品及び測定装置の測定による検査−第1部 : 仕様に対
        する合否判定基準
      注記 対応国際規格 : ISO 14253-1:1998,Geometrical Product Specifications (GPS)−Inspection by
             measurement of workpieces and measuring equipment−Part 1: Decision rules for proving
             conformance or non-conformance with specifications(IDT)
    JIS B 7440-1 製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第1部 : 
        用語
      注記 対応国際規格 : ISO 10360-1:2000,Geometrical Product Specifications (GPS)−Acceptance and
             reverification tests for coordinate measuring machines (CMM)−Part 1:Vocabulary(IDT)
    JIS B 7440-5 製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第5部 : 
        シングル及びマルチスタイラス測定
      注記 対応国際規格 : ISO 10360-5:2010,Geometrical Product Specifications (GPS)−Acceptance and
             reverification tests for coordinate measuring machines (CMM)−Part 5: CMMs using single and
             multiple stylus contacting probing systems(IDT)
    JIS B 7440-7 製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第7部 : 
        画像プローブシステム付き座標測定機
      注記 対応国際規格 : ISO 10360-7:2011,Geometrical product specifications (GPS)−Acceptance and
             reverification tests for coordinate measuring machines (CMM)−Part 7: CMMs equipped with
             imaging probing systems(IDT)
    JIS B 7440-8 製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定システム(CMS)の受入検査及び定期検査−第
        8部 : 光学式距離センサ付き座標測定機
      注記 対応国際規格 : ISO 10360-8:2013,Geometrical product specifications (GPS)−Acceptance and
             reverification tests for coordinate measuring systems (CMS)−Part 8: CMMs with optical distance
             sensors(MOD)
    ISO/IEC Guide 99,International vocabulary of metrology−Basic and general concepts and associated terms
        (VIM)

――――― [JIS B 7440-9 pdf 4] ―――――

                                                                                              3
                                                                B 7440-9 : 2017 (ISO 10360-9 : 2013)
      注記 このガイドは,TS Z 0032として公表されている。

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS B 7440-1,JIS B 0641-1及びISO/IEC Guide 99によるほか,
次による。
3.1
プロービングシステムの動作条件(probing system operating condition)
  製造業者の記載した性能仕様が適用されるプロービングシステムの定格動作条件。
    注記 それぞれのプロービングシステムの動作条件は,それぞれの性能値を参照する略号によって,
          確認できる。一般的に製造業者は,それぞれのプロービングシステムに関してその動作条件を
          指定する。しかし,製造業者は,一つの単一プロービングシステムに関して,複数の動作条件
          を指定することができる。
            これは,次の事項を含むことができる。
          − (適用可能な場合)スタイラス長さ及びプローブエキステンション
          − 固定(回転又は固定,プローブチェンジャの使用)
          − 照明
          − パラメータ設定の手順
          − 許容される表面の傾斜
          − フィルタの設定
          − 許容される表面条件(粗さ,反射率)
3.2
  (対応国際規格では,この用語及びその定義を記載しているが,この規格では不要であり,不採用とし
た。)
3.3
  (対応国際規格では,この用語及びその定義を記載しているが,この規格では不要であり,不採用とし
た。)
3.4
マルチセンサシステム(multiple probing systems)
  二つ以上の異なるタイプのプローブを使用するプロービングシステム及びその動作条件。
    注記1 プロービングシステムの組合せは,同じプロービングシステム又は異なるプロービングシス
            テムの間で生じる(複合モードで動作するデュアルラム座標測定機の場合)。
    注記2 例えば,接触式プローブと画像プローブとの組合せ,又は異なる特性をもつ二つの接触式プ
            ローブの組合せのような場合には,プロービングシステムの検証にこの規格を適用する。一
            方,全てのプローブが接触式で,同一の特性をもつ場合は,プロービングシステムの性能の
            検証は,JIS B 7440-5による。
3.5
許容される表面条件(permissible surface condition)
  アーティファクトの材質及び表面特性に関するプロービングシステムの定格動作条件。
3.6
動作モード(modes of operation)

――――― [JIS B 7440-9 pdf 5] ―――――

次のページ PDF 6