JIS B 7440-9:2017 製品の幾何特性仕様(GPS)―座標測定システム(CMS)の受入検査及び定期検査―第9部:マルチセンサシステム付き座標測定機 | ページ 4

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B 7440-9 : 2017 (ISO 10360-9 : 2013)
附属書A
(参考)
仕様書の例
注記 表A.1の全ての記載事項及び値は,例示のためだけに使用している。
表A.1−プロービングシステムの動作条件の記載例
プロービングシステムの動作条件接触式プローブタイプXYZ離散点モード
略号 CPD
条件 − 離散点モード
− スタイラス長さ<200 mm
− ラム軸に鉛直に取り付ける
プロービングシステムの動作条件接触式プローブタイプABC離散点モード
略号 CPS
条件 − 離散点モード
− スタイラス長さ<100 mm
− ラム軸に鉛直に取り付ける
プロービングシステムの動作条件画像プローブ倍率5倍
略号 VP5
条件 − 倍率5倍
− 透過照明,暗視野又は明視野照明
プロービングシステムの動作条件画像プローブ倍率10倍
略号 VP10
条件 − 倍率10倍
− 透過照明
− XY平面だけに制限
プロービングシステムの動作条件レーザフォーカス
略号 LF
条件 − 最大許容表面傾斜角度±45°
− 50 nm − 金属光沢表面
全てのプロービングシステムの組合せに対応するため,次の3種類の表記方法によることができる。
(二次元プローブVP10を含めても三次元評価が可能と仮定した場合)
PForm.Sph.n×25::MPS,MPE=··· m
PSize.Sph.n×25::MPS,MPE=··· m
LDia.n×25::MPS,MPE=··· m
表の形式で複数のプロービングシステムの仕様を記載する代わりに,製造業者は,次の形式でMPEを
指定してもよい。
PForm.Sph.n×25::MPS,MPE (CPS,VP5)=... m
さらに,製造業者は,二つ以上のプローブの組合せのMPEを指定するため,例えば,次の形式のMPE
を指定してもよい。
PForm.Sph.n×25::MPS,MPE (CPS,VP5,LF)=... m

――――― [JIS B 7440-9 pdf 16] ―――――

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B 7440-9 : 2017 (ISO 10360-9 : 2013)
表A.2−プロービングシステムの組合せによる最大許容誤差の記載例
略語 CPD CPS VP5 VP10 b) LF
CPD プロービング誤差a) − − − −
CPS プロービング誤差a)
PForm.Sph.n×25::MPS,MPE= − − −
PSize.Sph.n×25::MPS,MPE=
LDia.n×25::MPS,MPE=
VP5 PForm.Sph.n×25::MPS,MPE= プロービング誤差a)
PForm.Sph.n×25::MPS,MPE= − −
PSize.Sph.n×25::MPS,MPE=
PSize.Sph.n×25::MPS,MPE=
LDia.n×25::MPS,MPE= LDia.n×25::MPS,MPE=
VP10 b) PForm.Cir.n×25:XY:MPS,MPE=
PForm.Cir.n×25:XY:MPS,MPE= プロービング誤差a)
PForm.Cir.n×25:XY:MPS,MPE= −
PSize.Cir.n×25:XY:MPS,MPE=
PSize.Cir.n×25:XY:MPS,MPE= PSize.Cir.n×25:XY:MPS,MPE=
LDia.Cir.n×25:XY:MPS,MPE=
LDia.Cir.n×25:XY:MPS,MPE= LDia.Cir.n×25:XY:MPS,MPE=
LF PForm.Sph.n×25::MPS,MPE=
PForm.Sph.n×25::MPS,MPE=
PForm.Sph.n×25::MPS,MPE= プロービング誤差a)
PForm.Cir.n×25::XY:MPS,MPE=
PSize.Sph.n×25::MPS,MPE=
PSize.Sph.n×25::MPS,MPE= PSize.Cir.n×25::XY:MPS,MPE=
PSize.Sph.n×25::MPS,MPE=
LDia.n×25::MPS,MPE= LDia.n×25::MPS,MPE= LDia.n×25::MPS,MPE= LDia.Cir.n×25::XY:MPS,MPE=
B 7440-7及びJIS B 7440-8による。
注a) この場合のプロービング誤差は,それぞれJIS B 7440-5,JIS
b) 検査用標準円は,30 mmリングゲージを使用する。
B7 440-
9 : 2017(ISO1 0360-9 : 2013
2
)

――――― [JIS B 7440-9 pdf 17] ―――――

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B 7440-9 : 2017 (ISO 10360-9 : 2013)
附属書B
(参考)
GPSマトリックス
B.1 一般
GPSマトリックスモデルの詳細は,ISO/TR 14638による。
注記 ISO/TR 14638は廃止され,ISO 14638として制定されている。
B.2 規格及びその使用に関する情報
ISO/TR 14638で示されるISO/GPSマスタープランは,この規格がISO/GPSシステムのどの一部になっ
ているかの概要を示す。ISO 8015に示すISO/GPSの基本的な規則は,この規格に適用し,また,JIS B 0641-1
に示す標準的な決定規則は,指示がない限り,この規格に従って作成された仕様に適用する。
B.3 GPSマトリックスモデルにおける位置付け
この規格は,図B.1に示すGPS基本規格マトリックスにおける,サイズ,距離,半径,角度,形状,姿
勢,位置,振れ及びデータムの各チェーンのリンク番号5に関わる基本規格である。

――――― [JIS B 7440-9 pdf 18] ―――――

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B 7440-9 : 2017 (ISO 10360-9 : 2013)
GPS共通規格
GPS基本規格
リンク番号 1 2 3 4 5 6
サイズ ×
距離 ×
半径 ×
角度 ×
データムに無関係な線の形状 ×
データムに関係する線の形状 ×
GPS原理
姿勢 ×
規格
位置 ×
円周振れ ×
全振れ ×
データム ×
粗さ曲線
うねり曲線
断面曲線
表面欠陥
エッジ
面領域の表面性状
リンク番号
1 記号と指示法
2 形体に対する要求事項
3 形体の性質
4 測定
5 測定機器
6 校正
図B.1−GPSマトリックスモデルにおける位置付け
B.4 関連規格
関連する国際規格又は日本工業規格(日本産業規格)は,図B.1に示す規格チェーンに含まれる規格である。

――――― [JIS B 7440-9 pdf 19] ―――――

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B 7440-9 : 2017 (ISO 10360-9 : 2013)
参考文献
[1] ISO 8015,Geometrical product specifications (GPS)−Fundamentals−Concepts, principles and rules
[2] JIS B 7440-2:2013 製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第
2部 : 長さ測定
注記 対応国際規格 : ISO 10360-2:2009,Geometrical product specifications (GPS)−Acceptance and
reverification tests for coordinate measuring machines (CMM)−Part 2: CMMs used for measuring
linear dimensions(IDT)
[3] JIS B 7440-3:2003 製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第
3部 : ロータリテーブル付き座標測定機
注記 対応国際規格 : ISO 10360-3:2000,Geometrical Product Specifications (GPS)−Acceptance and
reverification tests for coordinate measuring machines (CMM)−Part 3: CMMs with the axis of a
rotary table as the fourth axis(IDT)
[4] JIS B 7440-4:2003 製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第
4部 : スキャニング測定
注記 対応国際規格 : ISO 10360-4:2000,Geometrical Product Specifications (GPS)−Acceptance and
reverification tests for coordinate measuring machines (CMM)−Part 4: CMMs used in scanning
measuring mode(IDT)
[5] ISO/TR 14638,Geometrical product specification (GPS)−Masterplan
[6] ISO 15530 (all parts),Geometrical product specifications (GPS)−Coordinate measuring machines (CMM):
Technique for determining the uncertainty of measurement
[7] ISO/TS 23165:2006,Geometrical product specifications (GPS)−Guidelines for the evaluation of coordinate
measuring machine (CMM) est uncertainty
[8] ISO 14638,Geometrical product specifications (GPS)−Matrix model

JIS B 7440-9:2017の引用国際規格 ISO 一覧

  • ISO 10360-9:2013(IDT)

JIS B 7440-9:2017の国際規格 ICS 分類一覧

JIS B 7440-9:2017の関連規格と引用規格一覧