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B 7440-8 : 2015
注記1 EBi:j:ODS又はEUni:j:ODSの記号“E”は,誤差が長さ測定誤差に関連することを示す。添字“Bi”
又は“Uni”は,誤差が双方向の長さ測定誤差又は単一方向の長さ測定誤差に関連することを
示す。添字“ODS”は誤差が光学式距離センサに関連することを示す。添字“j”は,座標測
定機の測定条件を示す。EBi:Tr:ODS又はEUni:Tr:ODSは座標測定機によってセンサを移動し,測定
を幾つかの位置で行う場合に与えた,移動する光学式距離センサを使用する場合の長さ測定
誤差(並進)を表す。EBi:Art:ODS又はEUni:Art:ODSは,センサの姿勢が回転機構によって変更でき
る場合に与えた回転機構のある光学式距離センサを使用する場合の長さ測定誤差(回転)を
表す。EBi:St:ODS又はEUni:St:ODSは,測定中にセンサを座標測定機によって移動しない場合に与
えた,静止した光学式距離センサを使用する場合の長さ測定誤差(静止)を表す。
注記2 校正された検査用の長さが,双方向又は単一方向で校正されていることがある。詳細は附属
書Bを参照。
3.10
平面形状測定誤差,EForm.Pla.D95%:j:ODS(flat form measurement error)
平面形状測定誤差検査用標準平面上の測定点の95 %を包含する平行二平面の最小間隔。
注記1 EForm.Pla.D95%:j:ODSの記号“E”は,誤差が長さ測定誤差に関連することを示す。添字“Form”
は,誤差が形状誤差に関連することを示し,添字“Pla”は検査用標準平面を参照して測定す
ることを示す。添字“D95 %”は,誤差が全ての測定点の95 %のプロービング点のばらつき
に関連することを示す。添字“ODS”は誤差が光学式距離センサに関連することを示す。添
字“j”は,座標測定機の測定条件を示す。EForm.Pla.D95%:Tr:ODSは座標測定機によってセンサを移
動し,測定を幾つかの位置で行う場合に与えた光学式プロービング平面形状測定誤差(並進)
を表す。EForm.Pla.D95%:Art:ODSは,センサの姿勢が回転機構によって変更できる場合に与えた光学
式プロービング平面形状測定誤差(回転)を表す。
注記2 平面形状測定誤差は複数のセンサエリアについての測定を行う必要があるため,光学式プロ
ービング平面形状測定誤差(静止)を実施することはできない。
3.11
最大許容プロービング形状誤差(25点),PForm.Sph.1×25:j:ODS,MPE(maximum permissible probing form error)
最大許容誤差として仕様によって許容されるPForm.Sph.1×25:j:ODSの最大値。
注記 最大許容プロービング形状誤差(25点)PForm.Sph.1×25:j:ODS,MPEは,三つの形式のいずれかで表す。
a) Form.Sph.1×25:j:ODS,MPE = (A+LP/K) 又はBの小さい方
b) Form.Sph.1×25:j:ODS,MPE = (A+LP/K)
c) Form.Sph.1×25:j:ODS,MPE = B
ここに,
A : 製造業者が提供するマイクロメートル単位で表記する正の定数。
K : 製造業者が提供する無次元の正の定数。
LP : ミリメートル単位で表記する校正球と検査用標準球(又は検査用標準平面の測定面の重
心)との中心間の三次元距離。
B : 製造業者が提供するマイクロメートル単位で表記する正の定数。
――――― [JIS B 7440-8 pdf 11] ―――――
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B 7440-8 : 2015
3.12
最大許容プロービング形状誤差(95 %),PForm.Sph.D95%:j:ODS,MPL(maximum permissible limit of probing
dispersion)
最大許容誤差として仕様によって許容されるPForm.Sph.D95%:j:ODSの最大値。
注記1 最大許容プロービング形状誤差(95 %)PForm.Sph.D95%:j:ODS,MPLは,三つの形式のいずれかで表
す。
a) Form.Sph.D95%:j:ODS,MPL = (A+LP/K) 又はBの小さい方
b) Form.Sph.D95%:j:ODS,MPL = (A+LP/K)
c) Form.Sph.D95%:j:ODS,MPL = B
ここに,
A : 製造業者が提供するマイクロメートル単位で表記する正の定数。
K : 製造業者が提供する無次元の正の定数。
LP : ミリメートル単位で表記する校正球の中心と検査用標準球の中心(又は検査用標準平面
の測定面の重心)との間の三次元距離。
B : 製造業者が提供するマイクロメートル単位で表記する正の定数。
注記2 最大許容プロービング誤差の記号は,ISO 10360-8と同一のMPL(Maximum permissible limit)
である。
3.13
最大許容プロービング寸法誤差(25点),PSize.Sph.1×25:j:ODS,MPE(maximum permissible probing size error)
最大許容誤差として仕様によって許容されるPSize.Sph.1×25:j:ODSの最大値。
注記 最大許容プロービング寸法誤差PSize.Sph.1×25:j:ODS,MPEは,三つの形式のいずれかで表す。
a) Size.Sph.1×25:j:ODS,MPE = (A+LP/K) 又はBの小さい方
b) Size.Sph.1×25:j:ODS,MPE = (A+LP/K)
c) Size.Sph.1×25:j:ODS,MPE = B
ここに,
A : 製造業者が提供するマイクロメートル単位で表記する正の定数。
K : 製造業者が提供する無次元の正の定数。
LP : ミリメートル単位で表記する校正球と検査用標準球との中心間の三次元距離。
B : 製造業者が提供するマイクロメートル単位で表記する正の定数。
3.14
最大許容プロービング寸法誤差(100 %),PSize.Sph.All:j:ODS,MPE(maximum permissible probing size error all)
最大許容誤差として仕様によって許容されるPSize.Sph.All:j:ODSの最大値。
注記 最大許容プロービング寸法誤差PSize.Sph.All:j:ODS,MPEは,三つの形式のいずれかで表す。
a) Size.Sph.All:j:ODS,MPE = (A+LP/K) 又はBの小さい方
b) Size.Sph.All:j:ODS,MPE = (A+LP/K)
c) Size.Sph.All:j:ODS,MPE = B
ここに,
A : 製造業者が提供するマイクロメートル単位で表記する正の定数。
K : 製造業者が提供する無次元の正の定数。
LP : ミリメートル単位で表記する校正球と検査用標準球との中心間の三次元距離。
――――― [JIS B 7440-8 pdf 12] ―――――
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B : 製造業者が提供するマイクロメートル単位で表記する正の定数。
3.15
最大許容長さ測定誤差,EBi:j:ODS,MPE,EUni:j:ODS,MPE(maximum permissible length measurement error)
最大許容誤差として仕様によって許容されるEBi:j:ODS又はEUni:j:ODSの最大値。
3.16
最大許容平面形状測定誤差,EForm.Pla.D95%:j:ODS,MPE(maximum permissible flat form measurement error)
最大許容誤差として仕様によって許容されるEForm.Pla.D95%:j:ODSの最大値。
注記 最大許容平面形状測定誤差EForm.Pla.D95%:j:ODS,MPEは,三つの形式のいずれかで表す。
a) Form.Pla.D95%:j:ODS,MPE = (A+LF/K) 又はBの小さい方
b) Form.Pla.D95%:j:ODS,MPE = (A+LF/K)
c) Form.Pla.D95%:j:ODS,MPE = B
ここに,
A : 製造業者が提供するマイクロメートル単位で表記する正の定数。
K : 製造業者が提供する無次元の正の定数。
LF : ミリメートル単位で表記する検査用標準平面の長い方の側面寸法。
B : 製造業者が提供するマイクロメートル単位で表記する正の定数。
3.17
回転位置誤差,LDia.5×25:Art:ODS(articulated location value)
五つの異なる姿勢で測定した球の中心座標を包含する最小球の直径。
注記1 検査用標準球の位置は,測定空間の任意の位置に置いた一つの検査用標準球を異なる五つの
姿勢で測定し,得られた測定点の最小二乗当てはめによって決定する。
注記2 LDia.5×25:Art:ODSの記号“L”は,位置誤差であることを示す。添字“Dia”は誤差が複数の中心
座標を包含する球の直径に関連することを示す。添字“Art”は,座標測定機の測定条件を示
し,添字“ODS”は,光学式距離センサと関連することを示す。
3.18
最大許容回転位置誤差,LDia.5×25:Art:ODS,MPL(maximum permissible limit of the articulated location value)
座標測定機の仕様及び規格などによって許容される,回転位置誤差LDia.5×25:Art:ODSの最大値。
注記1 最大許容回転位置誤差LDia.5×25:Art:ODS,MPLは,三つの形式のいずれかで表す。
a) Dia.5×25:Art:ODS,MPL = (A+LP/K) 又はBの小さい方
b) Dia.5×25:Art:ODS,MPL = (A+LP/K)
c) Dia.5×25:Art:ODS,MPL = B
ここに,
A : 製造業者が提供するマイクロメートル単位で表記する正の定数。
K : 製造業者が提供する無次元の正の定数。
LP : ミリメートル単位で表記する校正球と検査用標準球との中心間の三次元距離。
B : 製造業者が提供するマイクロメートル単位で表記する正の定数。
注記2 検査測定量が誤差でない場合にMPLをMPEの対語として用いる。MPLの仕様を検査する場
合には,標準器を検査測定量について適切に校正する必要はない。
注記3 最大許容回転位置誤差の記号は,ISO 10360-8と同一のMPL(Maximum permissible limit)であ
るが,日本の実情に合わせて“最大許容誤差”と表している。
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4 記号
この規格で用いる主な記号は,表1による。
表1−記号
記号 用語
プロービング形状誤差(25点)
PForm.Sph.1×25:j:ODS
PForm.Sph.D95%:j:ODSプロービング形状誤差(95 %)
プロービング寸法誤差(25点)
PSize.Sph.1×25:j:ODS
PSize.Sph.All:j:ODSプロービング寸法誤差(100 %)
EBi:j:ODS 双方向長さ測定誤差
EUni:j:ODS 単一方向長さ測定誤差
EForm.Pla.D95%:j:ODS平面形状測定誤差
最大許容プロービング形状誤差(25点)
PForm.Sph.1×25:j:ODS,MPE
PForm.Sph.D95%:j:ODS,MPLa)
最大許容プロービング形状誤差(95 %)
最大許容プロービング寸法誤差(25点)
PSize.Sph.1×25:j:ODS,MPE
最大許容プロービング寸法誤差(100 %)
PSize.Sph.All:j:ODS,MPE
EBi:j:ODS,MPE 最大許容双方向長さ測定誤差
EUni:j:ODS,MPE 最大許容単一方向長さ測定誤差
最大許容平面形状測定誤差
EForm.Pla.D95%:j:ODS,MPE
LDia.5×25:Art:ODS回転位置誤差
LDia.5×25:Art:ODS,MPLb)
最大許容回転位置誤差
上の記号の中のjの位置には,次の添字を用いる。
Tr 並進 : 座標測定機によってセンサを移動し,測定を幾つかの位置で行う場合
Art 回転 : センサの姿勢が回転機構によって変更できる場合
St 静止 : センサを座標測定機によって移動しない場合
注記 記号“P”は誤差がプロービングシステムの性能に関連することを示す。添字“Form”は,誤差が形状誤差
に関連することを示し,添字“Size”は,誤差が寸法誤差に関連することを示す。添字“Sph”は検査用標準
球を参照して測定することを示す。また,添字“Pla”は検査用標準平面を参照して測定することを示す。添
字“ODS”は誤差が光学式距離センサに関連することを示す。添字“j”は,座標測定機の測定条件を示す。
添字“j”に“Tr”を代入した場合,座標測定機によってセンサを移動し,測定を幾つかの位置で行うことを
示す。添字“j”に“Art”を代入した場合,センサの姿勢を回転機構によって変更することを示す(図3参照)。
また,添字“j”に“St”を代入した場合,測定中にセンサを座標測定機によって移動しないことを示す。添
字“1×25”は25点の測定点を1組用いて測定することを示す。添字“D95%”は全ての測定点の95 %のプロ
ービング点のばらつきに関連することを示す。添字“All”は全ての測定点を計算に用いることを示す。添字
“Dia”は誤差が複数の中心座標を包含する球の直径に関連することを示す。
注a) 最大許容プロービング誤差の記号はISO 10360-8と同一のMPL(Maximum permissible limit)である。
b) 最大許容回転位置誤差の記号はISO 10360-8と同一のMPL(Maximum permissible limit)である。
5 計測特性に対する要求
5.1 環境条件
測定に影響を与える環境条件(設置場所の温度条件,湿度,振動,外乱光の状態など)の許容限界は,
受入検査の場合には,製造業者が指定し,定期検査の場合には,使用者が指定する。いずれの場合にも,
使用者は座標測定機のデータシートに与えられている製造業者の許容限界内において環境条件を自由に選
んでよい。
いずれの場合にも,使用者は,この規格の検査を環境条件が製造業者のデータシート(ISO 10360-1,
Cor 1参照)に明記されたとおりの範囲内で実施してもよい。環境が仕様に適合しない場合には,使用者
――――― [JIS B 7440-8 pdf 14] ―――――
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は最大許容誤差の検証を要求することはできない。
5.2 操作条件
箇条6の検査を実施する場合には,製造業者の示す操作手順に従って座標測定機を操作しなければなら
ない。通常,このような手順書は,次の項目を含む。
a) 装置の起動及び暖機サイクル
b) プロービングシステムのパラメータ設定
c) パラメータ設定前のプロービングシステムの温度安定性
d) 温度センサの位置,種類及び数
e) ソフトウェアフィルタ
注記 プロービングシステムのパラメータ設定には,プローブ座標系の設定,光強度の設定,フィル
タ条件の設定などを含む。
5.3 プロービング形状誤差(25点)
プロービング形状誤差(25点)PForm.Sph.1×25:j:ODSは,受入検査の場合には製造業者が指定し,定期検査の
場合には使用者が指定する最大許容プロービング形状誤差(25点)PForm.Sph.1×25:j:ODS,MPEを超えてはならない。
プロービング形状誤差(25点)PForm.Sph.1×25:j:ODS及び最大許容プロービング形状誤差(25点)
PForm.Sph.1×25:j:ODS,MPEは,マイクロメートル単位で表示する。
製造業者の裁量によって,特別な操作条件における異なる最大許容プロービング形状誤差(25点)
PForm.Sph.1×25:j:ODS,MPEを追加して設定してもよい。
5.4 プロービング形状誤差(95 %)
プロービング形状誤差(95 %)PForm.Sph.D95%:j:ODSは,受入検査の場合には製造業者が指定し,定期検査の
場合には使用者が指定する最大許容プロービング形状誤差(95 %)PForm.Sph.D95%:j:ODS,MPLを超えてはならな
い。
プロービング形状誤差(95 %)PForm.Sph.D95%:j:ODS及び最大許容プロービング形状誤差(95 %)
PForm.Sph.D95%:j:ODS,MPLは,マイクロメートル単位で表示する。
製造業者の裁量によって,特別な操作条件における異なる最大許容プロービング形状誤差(95 %)
PForm.Sph.D95%:j:ODS,MPLを追加して設定してもよい。
5.5 プロービング寸法誤差(25点)
プロービング寸法誤差(25点)PSize.Sph.1×25:j:ODSは,受入検査の場合には製造業者が指定し,定期検査の
場合には使用者が指定する最大許容プロービング寸法誤差(25点)PSize.Sph.1×25:j:ODS,MPEを超えてはならない。
プロービング寸法誤差(25点)PSize.Sph.1×25:j:ODS及び最大許容プロービング寸法誤差(25点)
PSize.Sph.1×25:j:ODS,MPEは,マイクロメートル単位で表示する。
製造業者の裁量によって,特別な操作条件における異なる最大許容プロービング寸法誤差(25点)
PSize.Sph.1×25:j:ODS,MPEを追加して設定してもよい。
5.6 プロービング寸法誤差(100 %)
プロービング寸法誤差(100 %)PSize.Sph.All:j:ODSは,受入検査の場合には製造業者が指定し,定期検査の場
合には使用者が指定する最大許容プロービング寸法誤差(100 %)PSize.Sph.All:j:ODS,MPEを超えてはならない。
プロービング寸法誤差(100 %)PSize.Sph.All:j:ODS及び最大許容プロービング寸法誤差(100 %)
PSize.Sph.All:j:ODS,MPEは,マイクロメートル単位で表示する。
製造業者の裁量によって,特別な操作条件における異なる最大許容プロービング寸法誤差(100 %)
PSize.Sph.All:j:ODS,MPEを追加して設定してもよい。
――――― [JIS B 7440-8 pdf 15] ―――――
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JIS B 7440-8:2015の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 10360-8:2013(MOD)
JIS B 7440-8:2015の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.040 : 線及び角度の測定 > 17.040.30 : 測定機器
JIS B 7440-8:2015の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0641-1:2020
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―製品及び測定装置の測定による検査―第1部:仕様に対する合否判定基準
- JISB7440-1:2003
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査―第1部:用語
- JISB7440-2:2013
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査―第2部:長さ測定
- JISB7440-5:2013
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査―第5部:シングル及びマルチスタイラス測定