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a) 試験の厳しさ 電源供給線及び各通信線のいずれも次の振幅による。ただし,通信線が平衡線路であ
る場合は,線間への印加の試験を省略することができる。
振幅(ピーク値)
− 0.5 kV(線間)
− 1 kV(線と接地との間)
b) 最大許容変動 妨害が加わった場合と妨害なしの場合との質量表示の差が目量を超えないか,又はは
かりが有意な誤りを検出し,対処しなければならない。
注記 JIS C 61000-4-5を参照。
B.3.4 静電気放電
試験は,試験器物(EUT)を規定した直接,又は間接的な静電気放電にさらすことからなる。
静電気放電発生器は,JIS C 61000-4-2に定められた能力を参照して,使用しなければならない。試験を
開始する前に,その静電気放電発生器の性能を調整しておく。
この試験は,該当する場合,塗装材を貫通させ導電層に接触させる方法を含む。また,接触放電が適用
できない場合は,直接放電における気中放電を用いなければならない。
試験器物(EUT)を一定の環境条件下で安定させる。
少なくとも10回の直接放電と10回の間接放電とを適用しなければならない。連続した放電間の放電間
隔は,少なくとも10秒でなければならない。
試験は,一つの小さい試験荷重で行わなければならない。
接地端子を備えていない試験器物(EUT)では,静電気放電の試験の間に試験器物(EUT)を十分に放
電しておかなければならない。接触放電は導電面に印加し,気中放電は非導電面に印加する。
直接放電,間接放電,試験の厳しさ及び最大許容変動は,次による。また,JIS C 61000-4-2を参照とす
る。
a) 直接放電 接触放電モードでは,電極は試験器物(EUT)と接触していなければならない。気中放電
モードでは,電極を試験器物(EUT)に徐々に近づけることによって,放電させる。
b) 間接放電 試験器物(EUT)の近くに取り付けた結合板に,接触放電モードで印加する。
c) 試験の厳しさ 6 kVまでの接触放電及び8 kVまでの気中放電。
d) 最大許容変動 最大許容変動は,妨害が加わった場合と妨害なしの場合との質量表示の差が目量を超
えないか,又ははかりが有意な誤りを検出し,対処しなければならない。
B.3.5 放射電磁界イミュニティ
試験は,規定された電磁界に試験器物(EUT)をさらすことからなる。
試験装置,試験設定及び試験手順は,JIS C 61000-4-3を参照。
試験器物(EUT)を一定の環境条件下で安定させる。
試験器物(EUT)は,試験の厳しさのレベルによって規定した強さ及び特性の電磁界にさらされなけれ
ばならない。
試験は,一つの小さい試験荷重で行わなければならない。
試験の厳しさ及び最大許容変動は,次による。また,JIS C 61000-4-3を参照。
a) 試験の厳しさ 試験の厳しさは,レベル別に次による。
− 高レベル
周波数範囲1) : 80 MHz2 000 MHz
電界強度 : 10 V/m
――――― [JIS B 7611-2 pdf 96] ―――――
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変調 : 80 %の振幅変調された1 kHzの正弦波
− 低レベル
周波数範囲 : 26 MHz1 000 MHz
電界強度 : 3 V/m
変調 : 80 %の振幅変調された1 kHzの正弦波
注1) 主電源又は入出力の接続ポートがなく,B.3.6によって試験が行えない場合は,周波数範囲
の下限は26 MHzであってもよい。
b) 最大許容変動 最大許容変動は,妨害が加わった場合と妨害なしの場合との質量表示の差が目量を超
えないか,又ははかりが有意な誤りを検出し,対処しなければならない。
B.3.6 伝導無線周波電磁界イミュニティ
試験は,伝導無線周波電磁界によって誘導された妨害に試験器物(EUT)をさらすことからなる。
試験装置,試験の設定及び試験手順は,JIS C 61000-4-6を参照。
試験器物(EUT)を一定の環境条件下で安定させる。
試験器物(EUT)は,試験の厳しさのレベルによって規定した強さ及び特性の伝導妨害にさらされなけ
ればならない。
試験は,一つの小さい試験荷重で行わなければならない。
試験の厳しさ及び最大許容変動は,次による。また,JIS C 61000-4-6を参照。
a) 試験の厳しさ
周波数範囲 : 0.15 MHz80 MHz
RF振幅 : 10 V
変調 : 80 %の振幅変調された1 kHzの正弦波
b) 最大許容変動 最大許容変動は,妨害が加わった場合と妨害なしの場合との質量表示の差が目量を超
えないか,又ははかりが有意な誤りを検出し,対処しなければならない。
B.3.7 車両用電源駆動のはかりに対する特別EMC要件
B.3.7.1 直流(DC)12 V及び24 Vの車両用電池の電源供給線への過渡電気伝導
試験は,電源供給線に沿った過渡伝導妨害に試験器物(EUT)をさらすことからなる。
試験装置,試験設定及び試験手順は,ISO 7637-2を参照。
試験器物(EUT)を一定の環境条件下で安定させる。
試験器物(EUT)は,試験の厳しさのレベルによって規定した強さ及び特性の伝導妨害にさらさなけれ
ばならない。
試験は,一つの小さい試験荷重で行わなければならない。
試験パルス,試験目的,試験の厳しさ及び最大許容変動は,次による。
a) 試験パルス 2a+2b,3a+3b及び4(表B.4参照)。
b) 試験目的 次の条件の下で,d) の規定を満足しているかを検証する。
− 試験中の機器と並列に接続している機器への電流を急に切断することによって,配線ハーネスのイ
ンダクタンスから発生する過渡現象(パルス2a)
− 始動スイッチを切った後,発電機として働いている直流電動機からの過渡現象(パルス2b)
− スイッチの切替え過程の結果として発生する電源供給線上の過渡現象(パルス3a及び3b)
− 内燃エンジンの始動電動回路への通電で生じる電圧降下(パルス4)
c) 試験の厳しさ 試験の厳しさは,表B.4による。
――――― [JIS B 7611-2 pdf 97] ―――――
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表B.4−試験の厳しさ
電源電圧 試験パルス 伝導電圧
12 V 2a +50 V
2b +10 V
3a −150 V
3b +100 V
4 −7 V
24 V 2a +50 V
2b +20 V
3a −200 V
3b +200 V
4 −16 V
d) 最大許容変動 最大許容変動は,妨害が加わった場合と妨害なしの場合との質量表示の差が目量を超
えないか,又ははかりが有意な誤りを検出し,対処しなければならない。
B.3.7.2 電源供給線以外の供給線への容量結合及び誘導結合による過渡電気伝導
試験は,電源供給線以外の供給線に沿った過渡伝導に試験器物(EUT)をさらすことからなる。
試験装置,試験設定及び試験手順は,ISO 7637-3を参照。
試験器物(EUT)を一定の環境条件下で安定させる。
試験器物(EUT)は,試験の厳しさのレベルによって規定した強さ及び特性の伝導妨害にさらさなけれ
ばならない。
試験は,一つの小さい試験荷重で行わなければならない。
試験パルス,試験目的,試験の厳しさ及び最大許容変動は,次による。
a) 試験パルス a及びb(表B.5参照)。
b) 試験目的 スイッチの切替えスイッチング過程の結果として,電源供給線以外の供給線に発生する過
渡現象の状態の下で,d) の規定を満足しているかを検証する(パルスa及びb)。
c) 試験の厳しさ 試験の厳しさは,表B.5による。
表B.5−試験の厳しさ
電源電圧 試験パルス 伝導電圧
12 V a −60 V
b +40 V
24 V a −80 V
b +80 V
d) 最大許容変動 最大許容変動は,妨害が加わった場合と妨害なしの場合との質量表示の差が目量を超
えないか,又ははかりが有意な誤りを検出し,対処しなければならない。
B.4 スパン安定性試験
試験手順,試験継続期間,測定の間隔,試験荷重及び試験順序は,次による。
a) 試験概要 試験は,試験器物(EUT)の該当する性能試験を受ける前,試験中及び試験後に十分に安
定した周囲条件(通常の研究室環境における十分に一定な状態)で,試験器物(EUT)の器差の変動
を観測することからなる。自動スパン調整装置を内蔵したはかりに対しては,その安定性及びその意
図した使用を証明するため,スパン安定性試験の間の各計量前は,その自動スパン調整装置を作動さ
――――― [JIS B 7611-2 pdf 98] ―――――
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せなければならない。
スパン安定性試験を実施する性能試験は,温度試験を含み,該当する場合は,高温高湿(定常)試
験を含まなければならない。ただし,耐久性試験は含まれてはならない。附属書A及び附属書Bの他
の性能試験によって,実施してもよい。
試験器物(EUT)は,主電源,電池又はその他の電源供給装置から試験期間に少なくとも8時間の
切り離しを2回行わなければならない。切り離し回数は,製造事業者が指定している場合又は承認当
局の判断で増やしてもよい。
この試験の実施に当たっては,製造事業者の操作指示書を配慮しなければならない。
試験器物(EUT)は,電源投入後少なくとも5時間において,十分に一定な周囲状態で安定しなけ
ればならない。ただし,温度試験及び高温高湿試験の後は少なくとも16時間とする。
b) 試験継続期間 28日又は性能試験を行うのに必要な期間の,いずれか短い方。
c) 測定の間隔 半日10日。全体の試験期間において,測定は均一な配分を明確に行う。
d) 試験荷重 ひょう量付近。試験期間中は,同じ試験荷重を使用しなければならない。
e) 試験回数 少なくとも8回。
f) 試験手順
− 全ての要因を十分に一定な周囲状態で安定させる。
− 試験器物(EUT)をできるだけ零点近くに調整する。
− 零トラッキング装置は作動させてはならない。また,はかりに内蔵された自動スパン調整装置は作
動しなければならない。
− 試験荷重を負荷し,器差を測定する。
− 1回目の試験では,零点設定と荷重の負荷とを合計5回繰り返し,器差の平均値を測定する。
2回目以降の試験では,結果が規定の許容範囲外でないか,又は1回目の試験の5回の器差の範
囲が目量の1/10(±0.1 e)より大きくなければ,測定は1回だけ行う。
− 次のデータを記録する。
日付及び時刻,温度,気圧,相対湿度,試験荷重,表示値,器差及び試験場所の変更
− 試験中は,温度,圧力及びそれぞれの測定の間の試験荷重によるその他の影響因子から生じる全て
の必要な補正を適用する。他のいかなる試験も行う前には,試験器物(EUT)を完全に回復させる。
g) 最大許容変動 器差の変動は,N回の測定においていかなる回にも,目量の1/2(0.5 e)又は負荷した
試験荷重における検定公差の絶対値の1/2のいずれか大きいものを超えてはならない。
結果間の違いが,目量の1/4(0.25 e)又は負荷した試験荷重における検定公差の絶対値の1/4のい
ずれか大きいもの以上の傾向を示す場合は,傾向がなくなる若しくは傾向が反転する又は器差が最大
許容変動を超えるまで,試験を続けなければならない。
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附属書C
(規定)
非自動はかり用モジュールとしての指示計及び
アナログデータ処理装置の試験
C.1 適用要件
この附属書において,指示計の用語にはアナログデータ処理装置も含まれる。
次の要件を指示計に適用する。
− 精度等級の原則(5.1)
− 精度等級の分類(5.2)
− 多目量はかりに対する追加要件(5.3)
− 補助的な表示装置(5.4)
− 公差(5.5)
− 温度(5.9.2)
− 電源(5.9.3)
− 型式承認試験及び審査(5.10)
− 構造の一般要件(6.1)
− 計量結果の表示(6.2)
− アナログ指示装置(6.3)
− デジタル表示装置及び印字装置(6.4)
− 零点設定装置及び零トラッキング装置(6.5)
− 風袋引き装置(6.6)
− プリセット風袋引き装置(6.7)
− 補助検査装置(分離可能形又は固定形)(6.9)
− 複目量はかりの計量範囲の選択(6.10)
− 荷重受け部と荷重計量装置との間の選択装置又は切替装置(6.11)
− 対面販売用はかり(6.13)
− 対面販売用料金算出はかりに対する追加要件(6.14)
− 値付けはかり(6.16)
− 一般要件(7.1)
− 有意な誤りへの対処(7.2)
− 機能要件(7.3)
− 性能試験及びスパン安定性試験(7.4)
− ソフトウェア制御の電子装置の追加要件(7.5)
注記 特にPCに対しては,表18によった区分及び必要な試験を行うことが望ましい。
C.1.1 精度等級
指示計の精度等級は,完成したはかりと同じ精度等級でなければならない。ただし,使用する予定のは
かりよりも上位の精度等級の指示計は,要件を満足すれば,より低い精度等級のはかりに使用することが
できる。
――――― [JIS B 7611-2 pdf 100] ―――――
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JIS B 7611-2:2015の引用国際規格 ISO 一覧
- OIML R 76-1:2006(MOD)
JIS B 7611-2:2015の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.100 : 力,重さ及び圧力の測定
JIS B 7611-2:2015の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB7609:2008
- 分銅
- JISB7612-1:2008
- 質量計用ロードセル―第1部:アナログロードセル
- JISB7612-2:2008
- 質量計用ロードセル―第2部:デジタルロードセル
- JISZ8103:2019
- 計測用語