JIS B 7611-2:2015 非自動はかり―性能要件及び試験方法―第２部：取引又は証明用 | ページ 21

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C.1.2 目量の数(n)
  指示計の目量の数は,その指示計を使用する予定のはかりと同じ又はそれよりも大きな目量の数を備え
ていなければならない。
C.1.3 使用温度範囲
  指示計の使用温度範囲は,その指示計を使用する予定のはかりと同じか又はそれよりも広い温度範囲を
備えていなければならない。
C.1.4 入力信号範囲
  接続したロードセルのアナログ出力信号の範囲は,指示計に規定された入力信号範囲内でなければなら
ない。
C.1.5 目量当たりの最小入力信号
  指示計に規定された目量当たりの最小入力信号(μV)は,接続したロードセルのアナログ出力信号をそ
のはかりの目量の数で除したものに等しいか,それより小さくなければならない。
C.1.6 ロードセルインピーダンスの範囲
  指示計に接続したロードセルに生じるインピーダンスは,その指示計に規定された範囲内でなければな
らない。
C.1.7 最大ケーブル長
  ロードセルのケーブルが長くなるか,又は複数のロードセルが指示計と分離したロードセル接続ボック
スとを使って接続されている場合,ロードセルの印加電圧のリモートセンシングをもつ6線式の技術を使
った指示計だけを使用しなければならない。ただし,ロードセル又はロードセル接続ボックスと指示計間
との延長ケーブル長は,その指示計に規定された最大長を超えてはならない。この最大ケーブル長は,単
心の材料及び断面積によって,インピーダンスの単位で規定される最大線抵抗値でも表すことができる。
C.2 試験の一般原則
  試験の数を限定するために,できる限り最大の適用範囲を包含する条件下で指示計を試験することが望
ましい。これは,ほとんどの試験を最悪の条件下で行うべきことを意味する。多くの試験をロードセル又
はシミュレータのいずれかを使って行うことができるが,この両方ともA.4.1.7の要件を満足しなければな
らない。しかし,妨害試験は,ロードセル又は最も現実的な状態の荷重受け部で行うことが望ましい。
  指示計の同一型式の試験については,5.10.4に加えて,C.2.1C.2.7による。
    注記 異なる機種の指示計については,EMC及び温度による影響が異なる可能性のあるものは,特に
          注意を払わなければならない。
C.2.1 最悪条件
  試験の数を限定するために,指示計の最大の適用範囲を包含する条件下で試験しなければならない。
    注記 このことは,ほとんどの試験が,最悪条件下で行われなければならないことを意味している。
C.2.1.1 目量当たりの最小入力信号(μV/e)
  指示計は,製造事業者が規定した目量当たりの最小入力信号(通常は,最小入力電圧)で試験を行わな
ければならない。性能試験及び妨害における性能試験にとっても厳しい条件の場合であると考えられてい
る。
    注記 厳しい条件の要因として,性能試験におけるロードセル出力信号の大部分を占める固有雑音,
          妨害における性能試験での信号と高周波数電圧レベルとの好ましくない比率などがある。

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C.2.1.2 疑似最小荷重
  疑似した最小荷重は,製造事業者が規定した最小値でなければならない。指示計の低い入力信号は,直
線性及び他の重要な特性に関して最大の問題範囲を包含している。より大きな最小荷重をもつより大きな
零ドリフトの可能性は,あまり重要な問題であるとはみなされていない。しかし,最小荷重の最大値をも
つ可能性のある問題(例えば,入力増幅器の飽和)を考慮しておかなければならない。
C.2.2 疑似ロードセルのインピーダンスの値
  7.4.3の影響因子における性能試験は,シミュレータの代わりにロードセルを使って製造事業者が規定し
たとおり接続したロードセルに対して,規定のインピーダンスの現実的な最高値(少なくとも規定の最高
インピーダンスの1/3)で行わなければならない。放射電磁界イミュニティ試験では,ロードセルを電波
無響室内部の均一領域内に置くのが望ましい。ロードセルケーブルは,はかりの重要な部分であり,周辺
装置(モジュールEUTの試験設定を示したJIS C 61000-4-3の図6参照)ではないと考えられるので,分
離してはならない。
  7.4.3の妨害における性能試験は,ロードセル又はシミュレータのいずれかを使って行う。ただし,この

ロードセル

ロードセル

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C.2.3 周辺装置
  申請者は,システム又はサブシステムが正常に機能し,計量結果に不正がないことを立証するための周
辺装置を提供しなければならない。
  7.4.3の妨害における性能試験を行っている間,周辺装置はあらゆるいろいろなインタフェースに接続し
なければならない。ただし,全てのオプションの周辺装置が入手できない場合,又は試験現場に設置でき
ない(特に,放射電磁界イミュニティ試験において,均一領域にそれらを設置しなければならない。)場合,
少なくとも周辺装置のケーブルをインタフェースに接続しておく。周辺装置のケーブルの形式及びその長
さは,製造事業者によって規定されたとおりでなければならない。ただし,3 mを超えるケーブル長が規
定されている場合,3 mの長さでの7.4.3の妨害における性能試験を行えばよい。
C.2.4 調整及び性能試験
  調整は,製造事業者が定めたとおりに行わなければならない。試験は,目量当たりの最小入力電圧で零
から目量の数の最大数(nmax)まで達する少なくとも五つの異なる疑似荷重で行わなければならない。高
感度指示計では,目量当たりの最大入力電圧でも行わなければならない(C.2.1.1参照)。誤差限度値の切
替点に近い点を選択するのが好ましい。
C.2.5 目量より小さい表示
  指示計がより小さい表示桁(pi×eの1/5より大きくない高解像モード)で質量値を表示する装置を備え
ている場合,この装置を使って器差を測定することができる。また,アナログ−デジタル変換器のカウン
ト値などが得られる場合,サービスモードでも試験することができる。いずれかの装置を使用する場合,
評価報告書に記録するのが望ましい。
  試験の前に,この表示モードが測定誤差を確立するのに適していることを検証しなければならない。高
解像モードがこの要求を満足しない場合,ロードセル,荷重及び小さい追加荷重を使ってpi×eの1/5より
よい不確かさをもつ切替点を決定しなければならない(A.4.4.4参照)。
C.2.6 ロードセルシミュレータ
  シミュレータは,この指示計に適していなければならない。そのシミュレータは,指示計及びアナログ
データ処理装置の使用印加電圧に対して校正しなければならない(AC印加電圧とはAC校正も意味する。)。
C.2.7 誤差配分(pi)
  標準の誤差配分は,完成はかりの検定公差の0.5倍(pi=0.5)である。しかし,これは誤差配分が0.3
と0.8との間で変動することを妨げない。
  製造事業者は,誤差配分の範囲を割り当てている試験に対する基礎として使用する誤差配分を固定しな
ければならない(表C.1参照)。
  繰返し性に関して,誤差配分の値が与えられていない。不十分な繰返し性は,ある種の摩擦を引き起こ
す可能性のある,てこ,刃及び皿並びにその他機械的構造をもつ機械的はかりの代表的な問題点である。

指示計

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− 20 ℃において規定の調整を実行する。
− 試験温度を変更し,測定ポイントが誤差限度値内にあるかを確認する。その場合,零点をシフトして
    もよい。
  この手順は,指示計が調整可能であり,かつ,誤差曲線に認められる非直線性が試験設備に起因しない
ことが十分に確実な程度の精度で測定が可能である最大増幅率及び最低インピーダンスで実施しなければ
ならない。
  この精度が得られない場合(例えば,高感度指示計),次の手順で2度行わなければならない(C.2.1.1
参照)。
− 第1測定 : 最小増幅率で最低5点の測定箇所
− 第2測定 : 最大増幅率で測定範囲の上限値及び下限値
  この2点を引いた直線(零点を補正する。)が第1測定時と同形な誤差曲線が誤差範囲内にある場合,温
度による増幅率の変化は許容できる(誤差包絡線)。
  無負荷時の表示に対する温度影響は,μV単位の入力信号の変化で表される零点に対する温度変化の影
響である。零点ドリフトは,隣接した二つの温度で表示された値を通る直線によって計算する。零ドリフ
トは,pi×e/5K未満であることが望ましい。
C.3.1.1 高増幅率及び低増幅率での試験
  目量当たりの最小入力電圧が極めて低い場合(1 μV/e以下である場合),直線性を決定するためのシミュ
レータ又はロードセルを選択することは非常に困難である。
  1 μV/eをもつ指示計に対して誤差配分の値が0.5である場合(pi=0.5),目量の数が500(500 e)より小
さい疑似荷重に対する検定公差は0.25 μV/eである。このシミュレータの誤差が0.05 μV/eを超える影響を
引き起こさないか,又は少なくともその繰返し性が0.05 μV/e以下であることが望ましい。
  いずれの場合も,次の点を考慮しなければならない。
a) 指示計の直線性を全入力範囲にわたって試験する。
      例 ロードセルの印加電圧が12 Vの代表的な指示計が,24 mVの計測範囲をもっているとする。こ
          の指示計が目量の数が6 000(6 000 e)に対して規定されている場合,その直線性は,24 mV/6 000
          e=4 μV/eで試験することができる。
b) 同じ設定で,増幅に対する温度影響は,静的温度試験中及び高温高湿(定常)試験中に測定しなけれ
    ばならない。
c) 指示計は,指定された最小荷重及び目量当たりの最小入力電圧に設定する。この値が1 μV/eであると
    想定する。それは入力範囲の25 %だけが使用されていることを意味する。
d) 指示計を0 mV及び6 mVに近い入力電圧で試験する。
      この二つの入力電圧での表示を20 ℃,40 ℃,−10 ℃,5 ℃及び20 ℃において記録する。20 ℃
    における6 mVでの表示(0 mVでの表示に補正)と他の温度における表示間の差をグラフに表す。
      点を,a) 及びb) を行ったのと同じ形の様式の曲線を使って零点と結ぶ。ここで描いた曲線が,目
    量の数が6 000(6 000 e)に対する誤差包絡線内に入っていなければならない。
e) この試験の間,無負荷表示の温度影響も測定して,5 ℃当たりの零ドリフトが,目量と誤差配分との
    積(pi×e)未満であるかどうかを調べることができる。
  指示計がa)   e) の要件を満足する場合には,5.9.2.15.9.2.3に準拠し,また,静的温度試験及び高温高
湿(定常)試験の要件に準拠していることになる。

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C.3.2 風袋
  計量時に及ぼす風袋引きの影響は,専ら誤差曲線の直線性に依存する。この直線性は,通常の性能試験
を行うことによって決定する。誤差曲線が著しい非直線性を示した場合,その誤差包絡線をその曲線に沿
って移動させて,この指示計がその階段状の検定公差に応じた風袋量に対する要求を満足するかどうか検
証することができる。
C.3.3 センシング機能
C.3.3.1 一般
  ひずみゲージ式ロードセルを使用した指示計のうち,4線式を使った指示計を使用するときは,ロード
セルケーブルを長くする又は余分のケーブルをもつロードセル接続ボックスを使用することは許容されな
い。6線式を使った指示計では,長くしたケーブル1)によるロードセル印加電圧の変動又は温度によるケ
ーブルの抵抗変化を指示計が補正できるように,センシング入力を備えている。しかし,この機能の理論
的原理に反して,ロードセル印加電圧の変動補正は,そのセンシング入力の限定された入力抵抗のため制
限を受ける。これが温度変動によるケーブル抵抗変動による影響につながり,スパンの有意なシフトを生
じることになる。
    注1) 4線式のひずみゲージ式ロードセルと6線式を使った指示計の間との延長ケーブルは,6線式の
          延長ケーブルによって,ロードセル接続ボックスから指示計まで延長することができる
          (C.3.3.2.2参照)。
C.3.3.2 試験
  センシング機能は,次の最悪な条件で試験しなければならない。
− ロードセルの印加電圧の最大値
− 疑似できるならば,接続する可能性のあるロードセルの最大数
− 疑似できるならば,最大ケーブル長
C.3.3.2.1 ロードセルの最大数
  ロードセルの最大数は,印加回路に可変分流抵抗器を入れ,シミュレータ又はロードセルそれぞれに並
列に接続して疑似試験することができる。
C.3.3.2.2 最大ケーブル長
  最大ケーブル長は,全ての6線式に可変抵抗器を挿入することで疑似試験することができる。その抵抗
器をそのケーブルの最大抵抗値(最大ケーブル長)に設定する(予定の材料,例えば,銅又はその他,及
び断面積による。)。しかし,ほとんどの場合,抵抗器を印加回路及びセンシング回路だけに入れることで
十分である。それは信号入力電流の入力インピーダンスがそのセンシング入力のものに比べて極めて高い
からである。したがって,信号入力電流は,印加回路及びセンシング回路の電流に比較してほぼ零又は少
なくとも極めて小さくなる。この入力電流が零に近いので電圧降下を無視でき,有意の影響が予想できな
い。
C.3.3.2.3 指示計の再調整
  ケーブルシミュレーション抵抗器を設定した後,指示計を再調整しなければならない。
C.3.3.2.4 スパン変動測定
  零と最大荷重間とのスパンを測定しなければならない。最悪条件下では,はかりの使用温度範囲に対応
した温度変動による抵抗変化が生じる可能性がある。したがって,最小動作温度間と最大動作温度間との
差に対応した温度変動ΔRtempを疑似試験する必要がある。この抵抗の予想される変動は,次の式に基づい
て決定する。

――――― [JIS B 7611-2 pdf 105] ―――――

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