JIS C 1509-3:2019 電気音響―サウンドレベルメータ（騒音計）―第３部：定期試験 | ページ 2

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C 1509-3 : 2019 (IEC 61672-3 : 2013)
誤った電圧の商用電源への接続でない場合には,故障と判断し,定期試験を行わない。
    注記 電源出力に対する変化は,バッテリの初期電圧の割合の変化として,又は同等の手順によって
          判断することができる。

7 環境条件

7.1   定期試験は,次の環境条件の範囲内で実施する。
− 静圧 : 80 kPa105 kPa
− 周囲温度 : 20 ℃26 ℃
− 相対湿度 : 25 %70 %
7.2   この規格に規定する定期試験を行う前後の静圧,周囲温度及び相対湿度を測定して記録する。
7.3   97 kPa未満の静圧で行われる周波数重み付け特性の定期試験において,サウンドレベルメータの形
式への影響に対して利用可能なデータがない限り,試験機関は3 kHz以下の周波数において測定の標準不
確かさとして0.09 dB,3 kHzより高い周波数において標準不確かさとして0.14 dBを用いる。
    注記 12.6に示す情報が利用できない場合には,これら二つの標準不確かさを用いる。これらは,バ
          ックキャビティ内に最大のエアスティフネスをもつマイクロホンの形式に対して,周波数特性
          に及ぼす静圧の影響が最大となる条件で,それぞれ0.15 dB及び0.25 dBの推定値から決定した
          ものである。

8 試験の一般要求事項

8.1   この箇条以降に規定する定期試験は,JIS C 1509-1:2017の中で性能を規定する機能のうち,試験に
提供されるサウンドレベルメータで利用できるものに限って適用する。該当する全ての機能について試験
を行う。
8.2   全ての定期試験において,サウンドレベルメータの構成は,附属品を含め規格に適合する旨を取扱
説明書に記載するノーマルモードのうち,使用者が指定するもので試験する。附属品の影響又はサウンド
レベルメータの他の構成の影響に対する相対周波数レスポンスの補正が,選択可能なサウンドレベルメー
タについては,使用するノーマルモードにおけるサウンドレベルメータの構成に対して,適切な設定条件
で試験する。この設定条件は,試験中は変更しない。
8.3   サウンドレベルメータに電気信号を印加する場合は,取扱説明書に指定する入力装置又は手段を用
いる。指定した周波数に対する入力信号の周波数の偏差は,±0.25 %を超えてはならない。
8.4   電気出力端子をもつサウンドレベルメータが,定期試験で電気出力端子を用いる場合,電気出力か
ら得られる指示値とサウンドレベルメータの表示装置上の指示値とが,JIS C 1509-1:2017の5.19.4に規定
する受容限度値内で一致していることを確認する。複数の出力端子をもち,取扱説明書に試験のための指
定がある場合,定期試験にはその出力を用いる。
8.5   試験機関は,適切に校正された機器を使用しなければならない。必要に応じて,国家標準へのトレ
ーサビリティをもって校正したものでなければならない。

9 音響校正器

9.1 一般

  音響校正器は,取扱説明書に指定する形式,又はその形式と同じ公称音圧レベル及び公称周波数を発生
する音響校正器のいずれかとする。後者の場合,音響校正器でサウンドレベルメータを校正する場合に適

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用する補正値は,サウンドレベルメータ又は音響校正器の製造業者から入手可能なデータを用いる。
    注記 サウンドレベルメータの取扱説明書に記載されていない音響校正器の補正値は,JIS C
          1509-2:2018に従って確認されていない可能性がある。

9.2 事前に確認する事項

  次の事項について,事前に確認しなければならない。
− サウンドレベルメータのマイクロホンと音響校正器とを接続するために必要なアダプタが使用可能で
    なければならない。
− 音響校正器の取扱説明書も利用できなければならない。
  適切な音響校正器,必要なアダプタ及びその取扱説明書が利用できない場合,定期試験を行わない。

9.3 試験に関する事項

  サウンドレベルメータの定期試験では,JIS C 1515の適用可能なクラスに対する定期試験の要求事項に
適合する音響校正器を用いる。JIS C 1515に規定する方法によって,音圧レベル,周波数及び全ひずみに
ついて適合性が示されていなければならない。音響校正器のJIS C 1515の該当する要求事項への適合性は,
JIS C 1515に規定する手順に従って実施された定期試験の文書によって示してもよい。試験機関は,使用
者に対して音響校正器の校正を提案できる。

9.4 音響校正器の校正

  音響校正器の校正は,国家標準へのトレーサビリティをもって校正した装置で実施する。音響校正器の
校正には,サウンドレベルメータが備えるマイクロホン若しくはこれと等価なマイクロホン,又はサウン
ドレベルメータが備えるマイクロホンに対して適切な補正を行うことのできるマイクロホンを用いる。補
正値を用いる場合,音響校正器,マイクロホン又はサウンドレベルメータの製造業者が,定期試験のため
の文書に記載したデータを用いる。校正結果を示す音響校正器の校正証明書を,試験機関に提出する。

10 校正点検周波数における指示値

10.1   電気音響性能試験を実施する前に,校正点検周波数での指示値を箇条9による音響校正器を用いて
点検する。必要がある場合,周囲の環境条件下で求められる音圧レベルの指示値となるように調整する。
多チャンネルサウンドレベルメータシステムでは,試験を必要とするチャンネルの数だけ,指示値の点検
を行う。調整前及び調整後の指示値を記録する。調整値が音響校正器の特定のアダプタを指定する場合,
サウンドレベルメータを点検するときも同じアダプタを用いる。
10.2   周囲の環境条件が音響校正器の発生する音圧レベルに与える影響は,JIS C 1509-1:2017の箇条4(基
準環境条件)に規定する基準環境条件での音圧レベルを基準として,音響校正器の取扱説明書に記載する
手順に従い,音響校正器の取扱説明書又は校正票のデータを用いて補正する。

11 自己雑音

11.1 マイクロホン装着時の自己雑音

11.1.1  自己雑音の測定は,試験機関の中で音響的なノイズが最小となる場所で行う。ウインドスクリー
ン及びウインドスクリーンの附属品は,自己雑音のレベルを測定するときに用いる必要はない。サウンド
レベルメータは,定期試験に提出された構成で,最も感度が高いレベルレンジ及び周波数重み付け特性A
に設定する。
11.1.2  自己雑音の測定結果を記録し,報告書に記載する。自己雑音は,30 s間以上の時間平均サウンド
レベルで測定することが望ましい。時間平均サウンドレベルは,直接測定しても,音響暴露レベルの指示

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C 1509-3 : 2019 (IEC 61672-3 : 2013)
値及び積分時間から算出して求めてもよい。時間平均サウンドレベルを算出できない場合は,60 s間にわ
たって無作為に10回観測した平均値によって時間重み付きサウンドレベルを求める。時間重み付きサウン
ドレベルを記録する場合,利用できるときは時間重み付け特性Sを,利用できないときは時間重み付け特
性Fを用いる。
    注記1 指示値は測定場所の音響的なノイズ及びサウンドレベルメータの自己雑音の影響を受ける。
    注記2 A特性の自己雑音レベルは,情報として報告され,適合性評価には用いない。自己雑音レベ
            ルは,不確かさを含めず報告する。

11.2 電気信号入力装置置換時の自己雑音

  マイクロホンを電気信号入力装置(又は電気信号を印加するために指定する手段)に置き換え,対応す
る自己雑音のレベルを測定するために取扱説明書に指定する方法で終端した状態で,マイクロホンを装着
時と同じ手順に従って,サウンドレベルメータで利用できる全ての周波数重み付け特性について,最も感
度の高いレベルレンジにおける時間平均サウンドレベル又は時間重み付けサウンドレベルの指示値を記録
し,自己雑音レベルとして報告する。
    注記 自己雑音レベルは,情報として報告するだけで適合性の評価には用いない。自己雑音レベルは,
          不確かさを含まず報告する。

12 周波数重み付け特性の音響信号による試験

12.1   サウンドレベルメータは,定期試験に提出された構成で試験する。サウンドレベルメータは,利用
できる場合は周波数重み付け特性Cに設定し,利用できない場合は周波数重み付け特性Aに設定する。周
波数重み付け特性は,校正済みの複数周波数音響校正器,比較カプラ,静電駆動器又は自由音場を実現す
る設備を用いて試験する。自由音場を用いる試験の場合は,JIS C 1509-2:2018の9.4(音響信号を用いた
周波数重み付け特性の試験)に従うが,試験周波数は,12.7による。複数周波数音響校正器は,JIS C 1515
のクラス1の要求事項への適合性が示されていなければならない。適切な環境条件である場合,クラス1/C
の複数周波数音響校正器を使用してもよい。比較カプラで用いる計測用マイクロホンは,IEC 61094-4に
適合するものを用いる。静電駆動器は,IEC 61094-6の該当する要求事項に適合するものを用いる。
    注記1 適切な自由音場補正値又はランダム入射補正値が利用できる場合,複数周波数音響校正器,
            比較カプラ又は静電駆動器を用いた試験は,自由音場設備を使用した試験より時間を削減で
            きる可能性がある。
    注記2 IEC 61094-1の要求事項に適合する標準マイクロホンは,IEC 61094-4の計測用マイクロホン
            の要求事項にも適合している。
12.2   各試験周波数において,サウンドレベルメータに指示されるサウンドレベルを,適用可能な場合に
は,JIS C 1508又はIEC 62585に規定する手順に従って求めた自由音場又はランダム入射に補正するため
のデータとして利用してもよい。補正値は,次の事項について考慮しなければならない。
− 音源が複数周波数の音を発生することが可能な音響校正器における若しくは比較カプラにおける音場
    である場合,又は擬似音源が静電駆動器から等価的に得られた音場である場合の,サウンドレベルメ
    ータと同等な自由音場又はランダム入射の周波数特性1)。
− 適用可能である場合,通常使用のためにサウンドレベルメータの構成の一部であるウインドスクリー
    ン及び附属品を含む代表的なマイクロホンの周波数特性に与える平均的な影響。
      注1) この項目は,適用可能である場合,音源又は擬似音源に対する等価な自由音場又はランダム
            入射レベルへの補正,並びにサウンドレベルメータのきょう(筐)体からの反射及びマイク

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            ロホンの周囲の回折の影響の代表値を含む。
12.3   補正値は,サウンドレベルメータの取扱説明書から引用する。
12.4   必要な補正値がサウンドレベルメータの取扱説明書から入手できない場合には,マイクロホン,複
数周波数音響校正器,比較カプラ又は静電駆動器の製造業者による補正値を用いてもよい。この値は公的
に利用できるものとする。
    注記 取扱説明書に記載されていない公的に入手可能なデータは,JIS C 1509-2:2018に従って確認さ
          れていない可能性がある。
12.5   自由音場又はランダム入射に対する補正値の出典は,定期試験の文書に記載する。関連する測定の
不確かさの出典は,対応する補正値の不確かさの出典と同じとする。対応する自由音場補正値の不確かさ
が利用できない場合,IEC 62585に規定する適用可能な測定の不確かさの最大許容値を,試験機関の全て
の不確かさの算出に用いる。
12.6   提出されたサウンドレベルメータの通常使用状態の構成に附属品を含むが,附属品が指定するマイ
クロホンの代表的な周波数レスポンスに及ぼす影響に関係するデータが取扱説明書に記載がなく,製造業
者又は供給者のインターネットウェブサイトなどでも利用できない場合には,自由音場を実現する設備を
用いない限り,この規格に従ってサウンドレベルメータの定期試験を行うことはできない。
12.7   音響信号を用いた試験の周波数重み付け特性は,125 Hz,1 kHz及び8 kHzの三つの周波数で測定
する。
12.8   試験機関の判断によって,サウンドレベルメータは,F時間重み付きサウンドレベル,S時間重み
付きサウンドレベル,時間平均サウンドレベル又は音響暴露レベルを測定するように設定する。音響暴露
レベルを測定する場合には,積分時間を考慮してJIS C 1509-1:2017の式(6)によって,対応する時間平均サ
ウンドレベルを算出する。平均時間又は積分時間は,10 s間以上とし,それを記録する。サウンドレベル
メータは,基準レベルレンジに設定する。複数周波数音響校正器,比較カプラ,又は静電駆動器の信号を
表示できる基準レベルレンジに最も近いレベルレンジに設定してもよい。音響信号による周波数重み付け
特性は,適用可能な場合,JIS C 1509-2:2018の自由音場又はランダム入射の試験手順に従って試験する。
12.9   複数周波数音響校正器を用いた周波数重み付け特性の試験では,音響校正器のカプラ内部に発生す
る音圧レベルは,1 kHzにおいては基準音圧レベルに設定し,その他の周波数においては70 dB125 dB
の範囲とする。サウンドレベルメータのマイクロホンを挿入したときの音響校正器のカプラ内部に発生す
る音圧レベルは,各試験周波数で既知なデータを用いる。サウンドレベルメータのマイクロホンの保護グ
リッドをアダプタリングに置き換えて補正値を求めた場合,周波数重み付け特性の音響信号試験を行うと
きには,同じ形式のアダプタリングを用いる。補正値を音響校正器及びアダプタの特定の形式を用いて求
めた場合,周波数重み付け特性の音響信号の試験を行うときには同じ形式のアダプタを用いる。
12.10 比較カプラを用いた周波数重み付け特性の試験では,カプラ内の音圧レベルは,1 kHzにおいては
基準音圧レベルに設定し,その他の周波数においては70 dB125 dBの範囲とする。カプラ内部に発生す
る音圧レベルは,各試験周波数で既知なデータを用いる。サウンドレベルメータのマイクロホンの保護グ
リッドをアダプタリングに置き換えて補正値を求めた場合,音響信号を用いた周波数重み付け特性試験を
行うときは同じ形式のアダプタリングを用いる。特定の形式のアダプタを用いて比較カプラで補正値を求
めた場合,音響信号を用いた周波数重み付け特性試験を行うときは同じ形式のアダプタを用いる。
12.11  周波数重み付け特性試験で静電駆動器を用いる場合,入手可能ならば,静電駆動器の取扱説明書及
びサウンドレベルメータのマイクロホンの取扱説明書に従って静電駆動器をマイクロホンに取り付ける。
静電駆動器に印加する電圧は,サウンドレベルメータの表示するサウンドレベルが1 kHzで70 dB100 dB

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C 1509-3 : 2019 (IEC 61672-3 : 2013)
の範囲となるように調整する。
    注記 静電駆動器を用いて測定した場合,マイクロホンの振動膜に穴のような欠損があった場合でも,
          その影響は,周波数重み付け特性において1 kHz未満の周波数では表れない。
12.12 音響校正器及びマイクロホン,比較カプラ及びマイクロホン,又は静電駆動器及びマイクロホンは
装着の後,安定するまで時間を置く。各試験周波数で,入力信号に応答して表示されたサウンドレベルの
値を記録する。全体で3回以上測定を行うように,測定を2回は反復する。
12.13 各試験周波数で,調整を行った周波数重み付きサウンドレベルの算術平均として,平均サウンドレ
ベルを算出する。
12.14 複数周波数音響校正器,比較カプラ,又は静電駆動器を用いた試験では,各周波数において12.13
の平均サウンドレベルに12.2の適用可能な補正値で,自由音場又はランダム入射周波数重み付きサウンド
レベルと等価な値に補正する。
12.15 1 kHzの応答に対する相対周波数重み付け特性は,各試験周波数における平均自由音場又はランダ
ム入射サウンドレベルから1 kHzにおける平均自由音場又はランダム入射サウンドレベルを減じて求める。
12.16 相対周波数重み付け特性のJIS C 1509-1:2017の表3(周波数重み付け特性及び受容限度値)に対
応する設計目標値からの偏差は,JIS C 1509-1:2017の表3の適用可能な受容限度値を超えてはならない。

13 周波数重み付け特性の電気信号による試験

13.1   JIS C 1509-1:2017の表3に周波数重み付け特性の設計目標値及び受容限度値を規定する周波数重み
付け特性において,サウンドレベルメータが備える全てのものについて,定常正弦波電気入力信号を用い
て,周波数重み付け特性を求める。サウンドレベルメータは,F時間重み付きサウンドレベル,時間平均
サウンドレベル又は音響暴露レベルを表示するように設定する。音響暴露レベルから時間平均サウンドレ
ベルを求める場合は,積分時間からJIS C 1509-1:2017の式(6)によって算出する。平均時間又は積分時間は
10 s間以上とし,それを記録する。
13.2   試験する各周波数重み付け特性で基準レベルレンジに設定し,取扱説明書に指定する基準レベルレ
ンジの1 kHzの直線動作範囲の上限よりも45 dB小さい値を指示するように,1 kHzの入力信号レベルを調
整し,記録する。
13.3   1 kHz以外の試験周波数の,入力信号レベルは,1 kHzの入力信号レベルから試験周波数の周波数重
み付け特性に対して,JIS C 1509-1:2017の表3の周波数重み付け特性の設計目標値を減じて求める。表示
装置上の指示値を記録する。
13.4   次の周波数について,入力信号のレベル及びそれに対応する指示値を記録する。
− クラス1のサウンドレベルメータの場合 : 63 Hz16 kHzのオクターブ間隔の9個の公称周波数。
− クラス2のサウンドレベルメータの場合 : 63 Hz8 kHzのオクターブ間隔の8個の公称周波数。
13.5   それぞれの周波数重み付け特性について,試験周波数におけるサウンドレベルの指示値から1 kHz
におけるサウンドレベルの指示値を減じることによって相対周波数重み付け特性を求める。
13.6   それぞれの周波数重み付け特性について,各試験周波数で,基準方向に対するマイクロホンの自由
音場又はランダム入射周波数特性の補正,サウンドレベルメータのきょう(筺)体からの反射,マイクロ
ホン及びプリアンプ周りの回折の代表的な影響,可能な場合,代表的なマイクロホンの周波数特性,及び
ウインドスクリーンの周波数特性及び通常の使用でサウンドレベルメータの構成要素となる附属品の周波
数特性の代表的な影響の補正を,13.5で求めた相対周波数重み付け特性に適用する。
13.7   自由音場又はランダム入射周波数特性における,反射及び/又は回折による影響及びウインドスク

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