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附属書(参考) JISと対応する国際規格との対比表
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IEC 61298-3 : 1998プロセス計測制御機器−性能評価の一般的方法及び手順−第3部 影響
JIS C 1805-3 : 2001プロセス計測制御機器−性能評価の一般的方法及び手順−
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第3部 影響量の効果に関する試験 量の効果に関する試験
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の項目ごとの (V) JISと国際規格との技術的差異の理由
国際規 評価及びその内容 及び今後の対策
格番号 表示箇所 : 本体,附属書
表示方法 : 点線の下線
項目番号 内容 項目 内容 項目ごとの 技術的差異の内容
番号 評価
1.適用範囲 プロセス計測制御機器の影 IEC 1. JISに同じ IDT −
響量の効果に関する試験に 61298-3
ついて規定
2.引用規格 JIS B 0155,JIS C 0022,JIS C 2. IEC 60654-1, IDT JISではIECの引用規格と整合した JISはIECと整合している。
0040,JIS C 0043,JIS C IEC 60902, JISを追記している。
1000-4-2,JIS C 1000-4-3,JIS IEC 60068-2-3,
C 1000-4-4,JIS C 1000-4-5, IEC 60068-2-6,
JIS C 1805-1,JIS C 1805-2, IEC 60068-2-31,
JIS C 1805-4,JIS C 1804, IEC 61000-4-2,
IEC 60654-1,IEC 60902,IEC IEC 61000-4-3,
60068-2-3,IEC 60068-2-6, IEC 61000-4-4,
IEC 60068-2-31, IEC IEC 61000-4-5,
61000-4-2,IEC 61000-4-3, IEC 61298-1,
IEC 61000-4-4 , IEC IEC 61298-2,
61000-4-5, IEC 61298-1,IEC IEC 61298-4,
61298-2, IEC 61298-4
3.定義 影響量,レンジ,スパンなど 3. JISに同じ IDT −
4.一般的考察 試験の基準,一般手順 4. JISに同じ IDT −
5.周囲温度の 周囲温度の影響に関する試 5. JISに同じ MOD/変更 クラスD2例示数値の誤りを訂正 IECに提案する
影響 験
6.周囲相対湿 周囲相対湿度の影響に関す 6. JISに同じ IDT −
度の影響 る試験
――――― [JIS C 1805-3 pdf 21] ―――――
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の項目ごとの (V) JISと国際規格との技術的差異の理由
国際規 評価及びその内容 及び今後の対策
格番号 表示箇所 : 本体,附属書
表示方法 : 点線の下線
項目番号 内容 項目 内容 項目ごとの 技術的差異の内容
番号 評価
7.振動 振動試験 7. JISに同じ IDT −
8.衝撃,落下,衝撃,落下,及び転倒試験 8. JISに同じ IDT −
及び転倒
9.取付姿勢 取付姿勢の影響に関する試 9. JISに同じ IDT −
験
10.オーバーレ オーバーレンジの影響に関 10. JISに同じ IDT −
ンジ試験 する試験
11.出力負荷の 出力負荷の変動による電気 11. JISに同じ IDT −
影響 出力,空気出力への影響
12.電源の影響 ・電源電圧及び周波数変動 12. JISに同じ IDT −
・電源電圧の過渡的変動
・電源電圧降下
・電源瞬断
・バーストイミュニティ試験
・サージイミュニティ試験
・逆極性電源電圧保護等
13.電気的干渉 コモンモード干渉,シリーズ 13. JISに同じ IDT −
モード干渉試験
14.高調波ひず 高調波による交流電源のひ 14. JISに同じ IDT −
みの影響 ずみが出力に及ぼす影響
15.磁界の影響 磁界の影響に関する試験 15. JISに同じ IDT −
16.放射無線周 試験目的,試験条件を規定し 16. JISに同じ MOD/変更 題名が異なる。JISでは放射無線周 IEC 61298-3では放射電磁干渉となって
波電磁界イミ ている。 波電磁界イミュニティ試験とした。 いるが,内容を考慮して題名を訂正した。
ュニティ試験 IECに提案する。
17.静電気放電 試験目的及び試験条件を規 17. JISに同じ IDT −
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定している。
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18.入力開放及 試験目的及び試験方法につ 18. JISに同じ IDT −
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び短絡の影響いて規定している。
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――――― [JIS C 1805-3 pdf 22] ―――――
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(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の項目ごとの (V) JISと国際規格との技術的差異の理由
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国際規 評価及びその内容 及び今後の対策
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格番号 表示箇所 : 本体,附属書
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3:
表示方法 : 点線の下線
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項目番号 内容 項目 内容 項目ごとの 技術的差異の内容
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番号 評価
19.出力開放及 試験目的,試験方法について 19. JISに同じ IDT −
び短絡の影響規定している。
20.プロセス媒 試験対象機器及び測定方法 20. JISに同じ
体条件の影響について規定。
20.1プロセス 試験対象機器及び測定方法 20.1. JISに同じ MOD/選択 ・IECでは入力数値は, (10%,90%,・流体温度を一定にして入力を変化させ
流体の温度 について規定。 50%) となっているが,JISでは ること,また入力を一定にして流体の温
(0%,100%) を併記した。 度を変化させることが難しい場合がある
ため。
20.2機器を通 試験対象機器及び測定方法 20.2. JISに同じ MOD/選択 ・IECでは入力数値は, (10%,90%) ・ガス分析形や水質系などに適用する。
過するプロセ について規定。 となっているが,JISでは (0%, 入力を数値設定して試験するのは難しい
ス流体の流量 100%) を併記した。 場合があるため。
20.3静圧の影 試験目的,構成図,試験方法 20.3. JISに同じ MOD/選択 ・IECでは入力数値は, (10%,90%) ・高静圧時に入力電圧を数値設定するこ
響 及び試験結果の考察につい となっているが,JISでは (0%, とが難しい場合があるため。
て規定。 100%) を併記した。
21.大気圧の影 試験目的,試験方法及び試験 21. JISに同じ IDT −
響 結果の考察について規定。
22.機器のパー 試験方法及び測定方法につ 22. JISに同じ IDT −
ジガス流量 いて規定している。
23.加速寿命試 接続,試験方法及び測定項目 23. JISに同じ IDT −
験 について規定している。
24.長期ドリフ 試験方法及び測定方法につ 24. JISに同じ IDT −
ト試験 いて規定している。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : MOD
――――― [JIS C 1805-3 pdf 23] ―――――
備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は,次のとおりである。
− IDT・・・・・・・・・・・ 技術的差異がない。
− MOD/変更・・・・・ 国際規格の規定内容を変更している。
− MOD/選択・・・・・ 国際規格の規定内容と別の選択肢がある。
2. JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次のとおりである。
− MOD・・・・・・・・・ 国際規格を修正している。
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――――― [JIS C 1805-3 pdf 24] ―――――
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C 1805-3 : 2001
JIS C 1805-3(プロセス計測制御機器−性能評価の一般的方法及び手順−
第3部 : 影響量の効果に関する試験)原案作成委員会 構成表
氏名 所属
(委員長) 土 屋 喜 一 早稲田大学理工学部
(幹事) ○ 福 田 達 夫 横河電機株式会社
窪 田 明 通商産業省機械情報産業局
橋 爪 邦 隆 通商産業省工業技術院標準部
橋 本 進 財団法人日本規格協会
梅 田 浩 和 日石三菱株式会社
白 川 公 一 千代田化工建設株式会社
○ 鈴 木 国 夫 千代田化工建設株式会社
近 藤 久 男 株式会社キャトックス
○ 公 江 春 樹 株式会社島津製作所
○ 小野瀬 俊 宏 株式会社日立製作所
○ 鍋 田 栄 一 富士電機インスツルメンツ株式会社
○ 島 方 哲 也 株式会社山武
(事務局) 新 畑 隆 司 社団法人日本電気計測器工業会
○印は,小委員会委員を兼ねる。
JIS C 1805-3:2001の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61298-3:1998(MOD)
JIS C 1805-3:2001の国際規格 ICS 分類一覧
- 25 : 生産工学 > 25.040 : 産業オートメーションシステム > 25.040.40 : 工業計測及び制御
JIS C 1805-3:2001の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0155:1997
- 工業プロセス計測制御用語及び定義
- JISC1805-1:2001
- プロセス計測制御機器―性能評価の一般的方法及び手順―第1部:一般的考察
- JISC1805-2:2001
- プロセス計測制御機器―性能評価の一般的方法及び手順―第2部:基準状態における試験
- JISC1805-4:2001
- プロセス計測制御機器―性能評価の一般的方法及び手順―第4部:評価報告書の内容
- JISC60068-2-3:1987
- 環境試験方法(電気・電子)高温高湿(定常)試験方法
- JISC60068-2-31:2013
- 環境試験方法―電気・電子―第2-31部:落下試験及び転倒試験方法(試験記号:Ec)
- JISC60068-2-6:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)
- JISC61000-4-2:2012
- 電磁両立性―第4-2部:試験及び測定技術―静電気放電イミュニティ試験
- JISC61000-4-4:2015
- 電磁両立性―第4-4部:試験及び測定技術―電気的ファストトランジェント/バーストイミュニティ試験
- JISC61000-4-5:2018
- 電磁両立性―第4-5部:試験及び測定技術―サージイミュニティ試験