JIS C 1805-3:2001 プロセス計測制御機器―性能評価の一般的方法及び手順―第３部：影響量の効果に関する試験

C 1805-3 : 2001

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本電気計測器工業会 (JEMIMA) /
財団法人日本規格協会 (JSA) から工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本
工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  今回の制定は,日本工業規格(日本産業規格)を国際規格に整合させるため,IEC 61298-3 : 1998を基礎として用いた。
  JIS C 1805-3には,次に示す附属書がある。
    附属書(参考) JISと対応する国際規格との対比表
  JIS C 1805の規格群は,次に示す4部から構成する。
    JIS C 1805-1 第1部 : 一般的考察
    JIS C 1805-2 第2部 : 基準状態における試験
    JIS C 1805-3 第3部 : 影響量の効果に関する試験
    JIS C 1805-4 第4部 : 評価報告書の内容

(pdf 一覧ページ番号 )

――――― [JIS C 1805-3 pdf 1] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                         C 1805-3 : 2001

プロセス計測制御機器−性能評価の一般的方法及び手順−第3部 : 影響量の効果に関する試験

Process measurement and control devices−General methods and procedures for evaluating performance−Part 3 : Tests for the effects of influence quantities

序文 この規格は,1998年に第1版として発行されたIEC 61298-3,Process measurement and control devices
−General methods and procedures for evaluating performance−Part 3 : Tests for the effects of influence quantities
を翻訳し,編集上及び/又は技術的内容を一部変更して作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一覧
表をその説明を付けて,附属書1に示す。
1. 適用範囲 この規格は,プロセス計測制御機器の機能及び性能に関する試験の実施と報告のための,
一般的な方法と手順を規定する。この規格に規定された方法と手順はいずれの種類の試験又はいずれのタ
イプのプロセス計測制御機器にも適用できる。各試験は固有の入力変量及び出力変量並びに入力/出力関
係(伝達関数)によって特性付けられるいずれの機器にも適用でき,アナログ機器もディジタル機器も含
まれる。特別な試験が必要な機器に対しては,この規格は,特別な試験を規定したその製品固有の規格と
合わせて使用しなければならない。
JIS C 1805のこの部は,影響量の効果に関する試験を取り扱う。
    備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
            なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD
          (修正している),NEQ(同等でない)とする。
          IEC 61298-3 : 1998,Process measurement and control devices−General methods and procedures for
              evaluating performance−Part 3 : Tests for the effects of influence quantities (MOD)
2. 引用規格 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格のうちで,発効年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定を構
成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は,その
最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS B 0155 工業プロセス計測制御用語及び定義
      備考 IEC 60902 : 1987,Industrial−Process measurement and control−Terms and definitionsからの引

――――― [JIS C 1805-3 pdf 2] ―――――

2
C 1805-3 : 2001
                用事項は,この規格の該当事項と同等である。
    JIS C 0022 環境試験方法(電気・電子)高温高湿(定常)試験方法
      備考 IEC 60068-2-3 : 1969,Environmental testing−Part 2 : Tests−Test Ca : Damp heat, steady stateか
                らの引用事項は,この規格の該当事項と同等である,
    JIS C 0040 環境試験方法−電気・電子−正弦波振動試験方法
      備考 IEC 60068-2-6 : 1995,Environmental testing−Part 2 : Tests−Test Fc : Vibration (sinusoidal) が,
                この規格と一致している。
    JIS C 0043 環境試験方法−電気・電子−面落下,角落下及び転倒(主として機器)試験方法
      備考 IEC 60068-2-31 : 1969,Environmental testing−Part 2 : Tests−Test Ec : Drop and topple, primarily
                for equipment-type specimens及びAmendment 1 (1982) が,この規格と一致している。
    JIS C 1000-4-2 電磁両立性−第4部 : 試験及び測定技術−第2節 : 静電気放電イミュニティ試験
      備考 IEC 61000-4-2 : 1995,Electromagnetic compatibility (EMC) −Part 4 : Testing and measurement
                techniques−Section 2 : Electrostatic discharge immunity testからの引用事項は,この規格の
                該当事項と同等である。
    JIS C 1000-4-3 : 電磁両立性−第4部 : 試験及び測定技術−第3節 : 放射無線周波電磁界イミュニティ
        試験
      備考 IEC 61000-4-3 : 1995,Electromagnetic compatibility (EMC) −Part 4 : Testing and measurement
                techniques−Section 3 : Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity testが,この
                規格と一致している。
    JIS C 1000-4-4 電磁両立性−第4部 : 試験及び測定技術−第4節 : 電気的ファストトランジェント/
        バーストイミュニティ試験
      備考 IEC 61000-4-4 : 1995,Electromagnetic compatibility (EMC) −Part 4 : Testing and measurement
                techniques−Section 4 : Electrical fast transient/burst immunity testからの引用事項は,この規
                格の該当事項と同等である。
    JIS C 1000-4-5 電磁両立性−第4部 : 試験及び測定技術−第5節 : サージイミュニティ試験
      備考 IEC 61000-4-5 : 1995,Electromagnetic compatibility (EMC) −Part 4 : Testing and measurement
                techniques−Section 5 : Surge immunity testからの引用事項は,この規格の該当事項と同等
                である。
    JIS C 1805-1 プロセス計測制御機器−性能評価の一般的方法及び手順−第1部 : 一般的考察
      備考 IEC 61298-1 : 1995,Process measurement and control devices−General methods and procedures for
                evaluating performance−Part 1 General considerationsからの引用事項は,この規格の該当事
                項と同等である。
    JIS C 1805-2 プロセス計測制御機器−性能評価の一般的方法及び手順−第2部 : 基準状態における試
        験
      備考 IEC 61298-2 : 1995,Process measurement and control devices−General methods and procedures for
                evaluating performance−Part 2 : Test under reference conditionsからの引用事項は,この規格
                の該当事項と同等である。
    JIS C 1805-4 プロセス計測制御機器−性能評価の一般的方法及び手順−第4部 : 評価報告書の内容
      備考 IEC 61298-4 : 1995,Process measurement and control devices−General methods and procedures for
                evaluating performance−Part 4 : Evaluation report contentからの引用事項は,この規格の該

――――― [JIS C 1805-3 pdf 3] ―――――

                                                                                              3
                                                                                  C 1805-3 : 2001
                当事項と同等である。
    JIS C 1804 : 1995 工業プロセス計測制御機器の使用環境条件
      備考 IEC 60654-1 : 1993,Industrial-process measurement and control equipment−Operating conditions
                −Part 1 : Climatic conditionsからの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
3. 定義 この規格で用いられる主な用語の定義は,次による。
    備考 “*”のついた用語はJIS B 0155の用語と同一であるが,定義の文章表現については,IEC
          61298-3 (1998) による。
3.1   被試験機器 (DUT)   試験を受ける機器。
3.2                             機器が稼働する環境の一側面を示す状態を表すように選ばれた試験パ
      影響量 (influence quantity)
ラメータ。
3.3   変量* (variable) 値が変化しうる量又は状態であって通常測定ができるもの。(例えば,温度,流
量,速度,信号など)
3.4   信号* (signal) 物理的な変量で,その一つ以上のパラメータは,信号が表す一つ以上の変数に関
する情報を伝える。
3.5   レンジ* (range)対象とする量の上限値と下限値の間の領域。
3.6   スパン* (span) 与えられたレンジの上限値と下限値の間の代数的な差。
3.7   予期せぬ事態 (unexpected event)評価試験中に生じ,機器の製造業者による修理が必要な機器の故
障,動作不良,異常又は不注意による損傷。
3.8   試験手順 (test procedure)製造業者,試験所と購入者/使用者の間で事前に同意された,実施すべ
き試験と試験条件に関する記述。
4. 一般的考察
4.1   基準 特に断わらない限り,この規格で述べる影響評価は,単一の影響量に対する機能上及び性能
上の変化について行う。
  被試験機器のどの点においても影響量のオーバーシュートが生じないように,影響量の変化速度は十分
に遅くする。値を読み取る前に影響量の値や状態が安定するように,十分の時間を取る。影響量が被試験
機器の特性に変化を生じさせるかどうかを確かめるために,この規格に記載されたもの以外に特別の影響
測定を行うことは有益である。
  警報機器のような非連続的出力機器の場合には,規定の影響の効果が立証されるように試験を行う。
  特定の試験の間は,その試験が目的とする影響量だけを加える。他のすべての影響量は基準動作条件を
維持する。ただし,動作条件を悪化させる2以上の影響量の組合せ(例えば,電気機器に対する温度と電
源電圧)に対しても考慮しなければならない。
  製造業者又は使用者によって他の限界値が定められていない場合は,この規格で定めた影響量の限界値
を用いることが望ましく,これらの値で行った試験結果は合意によって報告書に追加することができる。
4.2   一般手順 影響量の効果を決定するために用いられる手順は,試験の種類,被試験機器の種類及び
最も重要な特性(ゼロ,スパンなど)によって決まる。
  手順は,あまりに厳し過ぎる試験を避けるために,JIS C 1805-1の5.1及び5.2の基準に従っていること
が望ましい。
  これらの基準を満足させるために試験は被試験機器の性能に影響しそうなすべての量の効果を評価して

――――― [JIS C 1805-3 pdf 4] ―――――

4
C 1805-3 : 2001
行うのが望ましい。この一般的な記述は,性能評価及び形式試験に対してそのままあてはまる。
  定常試験と抜取試験については,最も影響があると考えられる影響量又は両当事者で合意した影響量だ
けを適用することが望ましい。可能な限り,すべての試験は被試験機器の出力変化の測定によって行う。
  特定の影響量の効果によって生じる偏差は,一般に出力スパンの百分率で表すことが望ましい。機器に
よっては,入力スパンによって表現するほうが便利であろう(JIS C 1805-2の4.1.6参照)。入力は,出力
が制限されないように調整することが重要である。したがって,すべての試験において,0%及び100%の
代わりに,例えば,5%及び95%の入力を用いることができる。同じ理由で,出力に大きな偏差が生じる試
験(例 電源断,高速過渡現象など)は,50%出力信号を発生する値に入力レベルを保って行うことがで
きる。
  “警報器”のような離散出力機器の場合は,性能が影響を受ける条件を定めるために,警報レベル又は
切換レベルを公称値より10%上又は下に設定した状態で同様に試験を行う。
5. 周囲温度の形響
5.1   基準 試験測定が行われる前に被試験機器が熱的安定状態となるように,各試験温度において十分
な時間を取る。
  安定時間は,被試験機器の質量と消費エネルギーの関数である。通常は,被試験機器の出力信号を記録
して確認する。3時間程度でよい。
  低温と高温の間でどのような温度サイクルが規定されている場合でも,比較ができるように繰返しサイ
クルの間の測定を同一温度で行うことが重要である。
  空気式機器は,供給空気と入力空気が被試験機器と同一の温度となるように,試験槽内で十分な空気供
給配管を行う。
5.2   試験手順 周囲温度の影響は,製造業者によって定められた温度範囲,又は値が定められていない
場合は表1に示す範囲で測定する。
  周囲温度の試験の範囲は,被試験機器が予定している運転場所に適切なものであることが望ましい。
  試験は基準温度 (+20℃) から開始し,それぞれの選択された試験周囲温度において同一の性能試験を
行う。
                                     表1 周囲温度試験範囲
                           温度℃    温度標準クラス       使用環境
                        最低   最高   (IEC 60654-1)
                        +5   +40        B2        屋内又は覆いのある場所
                         0    +55        −        高温地域の屋内
                        −25  +55        C2        屋外
                        −50  +40        D2        極端な屋外
  試験周囲温度は,被試験機器の固有の限界温度まで,一般に20℃間隔で選択することが望ましい。
  例えば,温度クラスD2の場合,試験温度サイクルは+20℃(基準),+40℃,+20℃,0℃,−20℃,
−40℃,−50℃,+20℃とするのが望ましい。
    参考 下線(点線)の部分はIEC 61298-3の値を変更して表1のD2クラスの値と整合をとった。
  試験プログラムについてすべての当事者の合意が得られるならば,4点の温度 : 20℃(基準),最高,最
低,及び20℃で十分であろう。
  各試験温度の許容範囲は±2℃,周囲温度の変化速度は1℃/min未満が望ましい。試験サイクルの間は被

――――― [JIS C 1805-3 pdf 5] ―――――

次のページ PDF 6