JIS C 2135:2011 乾燥固体電気絶縁材料―高電圧小電流耐アーク性試験方法 | ページ 3

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C 2135 : 2011
単位 mm
図2−柄に固定した電極の例

――――― [JIS C 2135 pdf 11] ―――――

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C 2135 : 2011
単位 mm
図3−電極装置の例
参考文献 ASTM D495-99 (2004),Standard Test Method for High-Voltage, Low-Current, Dry Arc Resistance of
Solid Electrical Insulation
JEC-6149-1995 固体絶縁材料の乾燥時における高電圧小電流耐アーク性試験方法通則

――――― [JIS C 2135 pdf 12] ―――――

                                                                  附属書JA
(参考)
JISと対応国際規格との対比表
JIS C 2135:2011 乾燥固体電気絶縁材料−高電圧小電流耐アーク性試験方法 IEC 61621:1997 Dry, solid insulating materials−Resistance test to high-voltage,
low-current arc discharges
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (V) JISと国際規格との技術的差異の理
(IV) JISと国際規格との技術的差異の箇
国際規 条ごとの評価及びその内容 由及び今後の対策
格番号
箇条番号 内容 箇条番 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
及び題名 号 の評価
4 試験装 4.1.3 電圧計 4.1.3
置 測定精度±2.5 %と規定。 測定精度±0.5 %と規 変更 電圧計の測定精度を下げ 試験結果に影響が小さいため,測定精
定。 た。JEC規格と同様な精度 度を下げた。
とした。
4.1.4 電流計 4.1.4
測定精度±0.5 %と規定。 測定精度±5 %と規 変更 電流計の測定精度を上げ 試験結果に影響が大きいため,測定精
可動鉄片形を規定 定。 た。JEC規格と同様な精度 度を上げた。
とした。
形式の規定はない。 追加 可動鉄片形を規定。 整流形の電流計では,誤差が大きくな
る場合があるため。
適切な時期にIECに改正提案を行う。
4.1.11 高電圧スイッチ及 − 高電圧スイッチ及び 追加 高電圧スイッチ及びバイパ内容を明確にするため。
びバイパススイッチ バイパススイッチの ススイッチを規定。 適切な時期にIECに改正提案を行う。
高電圧スイッチ及びバイ 規定がない。
パススイッチを規定。
4.2.3.2 研削・研磨 4.2.3.2
電極のだ円の長さを 電極のだ円の長さの 追加 電極のだ円の長さを4.5 mm電極損耗の影響を避けるため。
4.5 mm超と規定。 規定はない。 超と規定。 適切な時期にIECに改正提案を行う。
C2 135 : 2011
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2
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (V) JISと国際規格との技術的差異の理
(IV) JISと国際規格との技術的差異の箇
国際規 条ごとの評価及びその内容 由及び今後の対策
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箇条番号 内容 格番号 箇条番 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
: 2
及び題名 号 の評価
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8 試験結 8.2 破損の形態 8.2
果 破損の形態を1種類追加, 破損の形態を4種類 追加 トラッキングを起こさずに実際に起こる場合がある破損の形態を
合計5種類規定 規定 孔があく場合を規定した。記載。
適切な時期にIECに改正提案を行う。
表1 過酷度の段階1/8 表1 過酷度の段階1/8 変更 点弧・消弧の時間が異なる我が国では,点弧時間1/8秒,消弧時間
点弧・消弧の時間を1/4・ 点弧・消弧の時間を 7/8秒は用いられていない。国際規格の
7/4と規定 1/8秒点弧・7/8秒消弧 元となっているASTM D495-99(2004)
と規定 は,1/4秒点弧・7/4秒消弧となってい
る。
図1 電圧計VLを変圧器TVの一 図1 電圧計VLが可変自動 変更 電圧測定の箇所を変圧器の電圧計の接続箇所が本体の規定(4.4.1)
次側に接続。 変圧器TCの出力側に 一次側とした。 と異なっている。
接続されている。
図2 電極のだ円の長径を記載。 図2 電極のだ円の長径の 追加 実際のだ円の長径を記載し電極損耗の影響を避けるため。
記載はない。 たものであり,技術的差異適切な時期にIECに改正提案を行う。
はない。
図3 電極装置を例示。 図3 平面図に試験片台及 追加 側面図に合わせて平面図に電極損耗の影響を避けるため。
平面図に試験片台及び試 び試験片の記載がな 試験片台及び試験片を追記適切な時期にIECに改正提案を行う。
験片を追記 い した。
技術的差異はない。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : IEC 61621:1997,MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
− 追加·················· 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更·················· 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
− MOD··············· 国際規格を修正している。

JIS C 2135:2011の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 61621:1997(MOD)

JIS C 2135:2011の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 2135:2011の関連規格と引用規格一覧