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C 4554 : 2014
7.6 寸法
交流ソレノイドの外形寸法及び取付寸法は,表11による。ただし,表11の図の形状は一例を示し,プ
ッシュ板の形状,枚数及び長さは,特に定めない。
表11−交流ソレノイドの外形寸法及び取付寸法
単位 mm
呼び A a) B a) C a) D b) E b) F G H M c) N d)
(最小)(最小)
AC-10 33±0.3 33±0.3 31±0.3 17 56 21 10 4 4 M4
AC-11 36±0.3 35±0.3 35±0.3 59 25
AC-12 42±0.3 16
AC-13 40±0.3 40±0.3 15 60 5
AC-14 46±0.3 25 74 29 6 6 M5
AC-15 50±0.3 20
AC-16 60±0.3 46±0.3 46±0.3 29 87 35 7 M6
AC-17 60±0.4 50±0.4 50±0.4 26 85 36
AC-18 74±0.4 64±0.4 64±0.4 33 110 45 22 10 8
AC-19 81±0.4 29
注a) ,B及びCは,取付加工穴寸法を示す。
b) 及びEは,吸着状態の寸法を示す。
c) は,適合ピン径を示す。
d) は,取付けに使用するねじの呼びを示す。
8 試験
8.1 標準試験状態及び標準試験電源
8.1.1 標準試験状態
標準状態は,次による。
a) 周囲温度 20±2 ℃
b) 相対湿度 (65±5)%
――――― [JIS C 4554 pdf 11] ―――――
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c) 気圧 1 013 hPa
なお,試験結果の判定に疑義を生じない場合は,周囲温度20±15 ℃,相対湿度(65±20)%,気圧860
1 060 hPaの範囲内で試験してもよい。
8.1.2 標準試験電源
交流ソレノイドの試験のための電源は,特に規定がない限り,表12による。
表12−標準試験電源
項目 許容範囲
電圧変動 ±2 %
電流変動 ±2 %
周波数変動 ±2 %
波形率 0.951.25
8.2 試験方法
8.2.1 構造試験
構造試験は,7.1及び箇条9に規定する事項について試験する。
8.2.2 動作試験
動作試験は,交流ソレノイドに定格電圧の85110 %の電圧を加えて動作を確認する。
8.2.3 吸引力試験
吸引力試験は,交流ソレノイドを,その性能に影響を与えない支持台に取り付け,定格ストローク(又
は,定格ストローク以内の任意のストローク)で定格電圧を加え,瞬時に吸引する力を測定する。
なお,測定は,コイルの温度上昇が無視できる時間内に完了しなければならない。
8.2.4 残留吸着力試験
残留吸着力試験は,交流ソレノイドを,その性能に影響を与えない支持台に取り付け,定格電圧を加え
て,可動鉄心を固定鉄心に吸着させた状態で通電を断った直後,可動鉄心の中央に反吸引方向に力を加え,
離脱するときの力を測定する。
8.2.5 保持電流試験
保持電流試験は,可動鉄心を固定鉄心に吸着させた位置に保ち,定格電圧を加えたときの電流を測定す
る。
なお,測定は,コイルの温度上昇が無視できる時間内に完了しなければならない。
8.2.6 始動電流試験
始動電流試験は,可動鉄心を定格ストロークの位置に保ち,定格電圧を加えたときの電流を測定する。
なお,測定は,コイルの温度上昇が無視できる時間内に完了しなければならない。
8.2.7 温度上昇試験
温度上昇試験は,可動鉄心を固定鉄心に吸着させた位置に保ち,コイルに定格周波数の定格電圧を加え,
コイルの通電を断った直後に,発熱によって変化したコイル抵抗値を測定して,そのコイルの温度上昇値
を次の式によって算出する。ただし,t1−t2≦5 ℃でなければならない。
R2 R1
T K t1 t1 t2
R1
ここに, T : コイルの温度上昇値(℃)
t1 : 試験開始時の周囲温度(℃)
t2 : 試験終了時の周囲温度(℃)
――――― [JIS C 4554 pdf 12] ―――――
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R1 : 試験開始時のコイル抵抗値(Ω)
R2 : 試験終了時のコイル抵抗値(Ω)
K : 定数。銅に対しては,K=234.5
8.2.8 絶縁抵抗試験
絶縁抵抗試験は,JIS C 1302に規定する絶縁抵抗計を使用し,コイルと非充電金属部との間の絶縁抵抗
を測定する。試験電圧は,500 Vとする。
8.2.9 耐電圧試験
耐電圧試験は,コイルと非充電金属部との間に交流の試験電圧を加え,ゼロから一様な割合(電圧計で
読み取れる速さ)で規定の耐電圧値まで上昇させた後,1分間保持する。ただし,受渡試験では,最初か
ら試験電圧の120 %の電圧を1秒間加えてこれに代えることができる。耐電圧値は,表13による。
表13−耐電圧値
単位 V
定格電圧 耐電圧値(交流実効値)
サージ電圧による種別
1種 2種 3種
100 500 1 000 1 500
200 1 000 1 500 1 500
サージ電圧による種別を次に示す。
1種 : サージ電圧がほとんどなく,サージ電圧による制御機器の劣化の心配がないか,又はサージ電圧
の影響を考慮する必要がないほどに保護された制御回路に使用される制御機器。
例 CRサージ吸収回路,バリスタなどによって保護された制御回路,シールド付変圧器によっ
て外来サージを遮断した二次側制御回路。
2種 : 大きなサージ電圧がない制御回路に使用される制御機器。
例 一般家庭,事務所用電源による制御回路。
3種 : 通常予想されるサージ電圧を考慮した制御回路に使用される制御機器。
例 一般工場設備の制御回路。
8.2.10 騒音試験
騒音試験は,交流ソレノイドを共鳴の影響を受けない支持台に取り付け,定格電圧及び定格吸引力に相
当する負荷を加え,JIS C 1509-1に規定する周波数重み付け特性A(クラス2)の騒音計を用いて,交流ソ
レノイドから50 cm離れた位置で吸着状態における騒音をAレンジで10回繰り返して測定する。ただし,
暗騒音は,40 dB(A)以下とする。
8.2.11 耐湿性試験
耐湿性試験は,交流ソレノイドを周囲温度40±2 ℃かつ相対湿度9095 %の環境に連続48時間保ち,
標準試験状態に取り出して1時間2時間放置した後,8.2.1,8.2.2,8.2.8及び8.2.9の試験を行う。
8.2.12 低温保管試験
低温保管試験は,JIS C 60068-2-1:2010によって,交流ソレノイドを−25±3 ℃の恒温槽に連続72時間
保ち,標準試験状態に取り出して,水滴が付着した場合は拭き取り,1時間2時間放置した後,8.2.1,8.2.2,
8.2.8及び8.2.9の試験を行う。
8.2.13 高温保管試験
高温保管試験は,JIS C 60068-2-2:2010によって,交流ソレノイドを85±3 ℃の恒温槽に連続16時間保
ち,標準試験状態に取り出して,1時間2時間放置した後,8.2.1,8.2.2,8.2.8及び8.2.9の試験を行う。
――――― [JIS C 4554 pdf 13] ―――――
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8.2.14 リード線部強度試験
リード線部強度試験は,交流ソレノイドのリード線に任意の方向へ引張力を徐々に加え,20 Nに達した
後,1分間保持する。
8.2.15 耐久性試験
耐久性試験は,定格ストロークの位置で定格吸引力の50 %,及び可動鉄心を固定鉄心に吸着した位置で
定格吸引力相当の一定勾配のばね負荷(図4参照)を,可動鉄心の中心軸に軸方向に取り付けて,定格電
圧を加え,表7の耐久回数動作させ,8.2.2,8.2.3,8.2.4及び8.2.8の試験を行う。
連続定格ではない場合,コイルの温度上昇が表6の値以下となる動作頻度で行う。また,連続定格の場
合は,原則として表14の動作頻度で行う。
図4−耐久性試験に用いるばね負荷の特性
表14−動作頻度
呼び 動作頻度
回/分
AC-10及びAC-11 60
AC-12及びAC-13 50
AC-14及びAC-15 40
AC-16及びAC-17 20
AC-18及びAC-19 10
9 表示
交流ソレノイドには,見やすいところに次の事項を表示しなければならない。
a) 呼び
b) 定格電圧
c) 定格ストローク
d) 定格吸引力
e) 原産国
f) 製造業者名又はその略号
g) 製造年月又はその略号
――――― [JIS C 4554 pdf 14] ―――――
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10 検査
10.1 形式検査
形式検査は,次の検査項目を検査し,箇条6,7.1及び箇条9の規定に適合しなければならない。
なお,a) i)については,同一試験品について試験を実施し,j) p)については,同一形式を代表する個
別の試験品でそれぞれの試験を実施する。
a) 構造
b) 動作
c) 吸引力
d) 残留吸着力
e) 保持電流
f) 始動電流
g) 温度上昇
h) 絶縁抵抗
i) 耐電圧
j) 騒音
k) 耐湿性
l) 低温保管
m) 高温保管
n) リード線部強度
o) 耐久性
p) 表示
10.2 受渡検査
受渡検査は,同一試験品について次の検査項目の検査を実施し,箇条6,7.1及び箇条9の規定に適合し
なければならない。
a) 構造
b) 動作
c) 耐電圧
d) 表示
11 製品の呼び方
交流ソレノイドの呼び方は,呼び,作動形式及び取付形式,定格電圧,定格ストローク並びに定格吸引
力による。
例 AC-15 プッシュ形両面取付け 200 V 20 mm 25 N
参考文献 JIS C 2134 固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法
JIS C 4003 電気絶縁−熱的耐久性評価及び呼び方
JIS C 60664-1 低圧系統内機器の絶縁協調−第1部 : 基本原則,要求事項及び試験
JIS C 4554:2014の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 4554:2014の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC1302:2018
- 絶縁抵抗計
- JISC1509-1:2017
- 電気音響―サウンドレベルメータ(騒音計)―第1部:仕様
- JISC3306:2000
- ビニルコード
- JISC3316:2000
- 電気機器用ビニル絶縁電線