JIS C 4604:2017 高圧限流ヒューズ | ページ 11

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C 4604 : 2017
E.7   フルレンジヒューズ : I3電流の決定
  この手順は,製造業者が行ってもよい。
  I3の決定には,3本のサンプルを使用する。各サンプルは,E.6.2に規定する,製造業者がヒューズにつ
いて指定する定格の温度(MAT)に設定した温度の安定した環境に置く。
  ヒューズリンク本体が安定した温度になったとき,ヒューズに電流を流す。その後,再びヒューズリン
ク本体の温度が安定したとき,電流値を上げる。ヒューズが動作するまで,この操作を繰り返す。温度上
昇が1 h当たり2 %又は1 Kを超えていない状態を,温度が安定しているとする。
  電流の増分については規定しないが,通常,5 %10 %の範囲とする。
  3本のヒューズが溶断することなく通電した最大電流を調べる。I3は,これらの3本の値のうち最も小
さい電流値の0.9倍とする。製造公差を許容するために0.9とし,これによって,製造業者が指定する定格
最大周囲温度でヒューズリンクを使用したときにヒューズリンクが溶断する最小電流よりも若干低い電流
でI3試験を行うことになる。

――――― [JIS C 4604 pdf 51] ―――――

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                                          附属書F
                                          (参考)
                        限流ヒューズの温度低減に関する指針
  IEC/TR 62655:2013のAnnex Aを用いる。

――――― [JIS C 4604 pdf 52] ―――――

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C 4604 : 2017
                                          附属書G
                                          (参考)
                               It試験の有効性判定の基準
G.1   一般事項
  It試験を必要とするヒューズは,電流の大きさによって,異なるシリーズのエレメントが電流試験系列
のほとんどを担うようなヒューズである。大電流試験(試験系列1及び2)及び小電流試験(試験系列3)
が,異なるエレメントがそれぞれ遮断する電流の狭間にある領域を網羅していない場合,遮断できない電
流がないことを示すためにIt試験を行い,試験は項目ごと又は組合せで行う。ヒューズの設計には,様々
なものがあるため,そのような試験の有効性を確認できるような簡単な規則はない。この附属書は,実施
されたIt試験が実際に意図した結果を示しているかどうかを検証するための一般的な指針を示す。
G.2   遮断の動作
  It現象は,限流部(狭あい部)を設けた単一のエレメント,及びそれに直列する放出部(スリーブに入
ったエレメント)をもつヒューズリンクによって,簡単に説明できる。大電流では,狭あい部だけが溶融
及び発弧する(全狭あい部がほぼ同時に溶断する)のに対し,小電流では,放出部だけが溶融及び発弧す
る。そのような設計の場合,これら二つの部分の溶断時間−電流特性(TCC)は,小電流領域と最低一つ
の狭あい部が溶融及び発弧する大電流領域の中間電流との箇所で交わる。交わる箇所の電流値が,ヒュー
ズのIt電流である。このIt電流の少し上及び少し下の二つの電流レベルでの試験によって,ヒューズリン
クが小電流領域の遮断する最大電流を(大電流領域が遮断しないで)遮断し,かつ,大電流領域が遮断す
る最小電流を(小電流領域が遮断しないで)遮断できることになる。
  したがって,大電流領域はItより大きい全ての電流を遮断可能であり,小電流領域はItより小さい全て
の電流を遮断可能と仮定することは,適切である。各試験電流で関連する領域だけが発弧している場合,
この規格を満足できることになる。これは,物理的検査(ヒューズリンクを開く。),X線による検査,又
はそれらと同等の手段によって確認できる。
  上記の簡単な説明は,全てのヒューズに該当する基本的原理である。ただし,多くのヒューズの設計は,
この単純な動作ではない。直列の溶断領域TCCでの交差角度が浅いために一つのIt値に決められず,どの
電流値についてもその±20 %より大きい交差範囲がある場合がある。設計によっては,溶断TCCが全く
交わらない場合もあり,遮断の大部分をある領域が行う場合でも,もう一つの領域が全ての電流値で溶断
を行う可能性がある。多くのエレメントを並列にした設計の場合,大電流領域が溶融及び遮断動作が始ま
る電流値が,異なる領域のTCCカーブの交点に対応する“交差”値よりかなり下になる場合がある。これ
は,任意の電流値において,並列のエレメントが同時ではなく,順番に発弧するためである。これらの事
象全てにおいて,ヒューズ製造業者が規定を満足することを立証する電流値を決定する。また,多くの場
合,製造業者が,特定の試験が望ましい結果かどうかについて判断する。これは,電流遮断を行うことだ
けでは,交差範囲が十分に検証されたことを示す基準にはならないからである。このため,6.6.1.3におい
て,1.2It及び0.8Itが適切でない場合は,これらの値以外の試験電流値を製造業者が指定してもよい。

――――― [JIS C 4604 pdf 53] ―――――

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                                         附属書JA
                                          (参考)
                                        I2tの求め方
JA.1 溶断時間が10サイクル以上の場合の溶断I2t
  図JA.1に,電流オシログラムを示す。
  電流の包絡線 AA及び
                 '    BB間の縦線に平行な距離の2等分
                         '                            CCを描き,時間軸上の溶断時間tを10等分
                                                         '
し,次の式によって溶断I2tを求める。
                              t  2     2   2    2   2   2     2    2   2   2    2
                         I2t    I0  4 I1  I3  I5  I7  I9   2 I2  I4  I6  I8   I10
                             30
                                   2
                               X0      2
                         I0          Y0
                                2
                                  2
                               X1     2
                         I1          Y1
                                2
                                   2
                               X10      2
                         I10         Y10
                                 2
                         X0  F0E0       Y0  0F0
                         X1  F1E1       Y11F1
                         X10 F10E10     Y10  10F10

――――― [JIS C 4604 pdf 54] ―――――

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C 4604 : 2017
                   図JA.1−溶断時間が10サイクル以上の場合の電流オシログラム

――――― [JIS C 4604 pdf 55] ―――――

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