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ーズの他の電流定格に対する最小遮断電流値は,計算で決めてもよい。主のヒューズエレメントの電流密
度は,ヒューズリンクCの電流密度と同等以上とする。
6.6.5 同形ヒューズリンクの展開による受入れ
定格電圧がUx及びUzの異なる二つの同形シリーズX及びZの試験が成功する場合,両者の中間の定格
電圧の第三の同形シリーズYは,次の条件に該当したとき,通常,試験を行う必要はない。
a) 定格電圧Uzは,2Uxを超えない。
b) の定格電流は,X及びYで既に試験した共通の定格電流の範囲外でない。
c) 定格電圧がUx及びUzで定格遮断電流が同じ,又はそれらが異なっていた場合は,低い値をUyに適用
する。
d) 定格電圧Ux及びUzで同じ定格電流のヒューズリンクの最小遮断電流が同じ,又は異なった場合は,
高い値をUyに適用する。
e) 定格周波数が同じである。
f) 全ての材料が同じである。
g) ヒューズリンク及びヒューズエレメントの長さを除く全ての寸法が同じである。
h) 各定格電流で,個々のヒューズエレメントの数及び断面積が同じで,中間電圧のヒューズエレメント
の長さを変える場合は,単位長さ当たりの変化量として示す断面積の変化の法則が一定である。
i) ヒューズエレメントの長さは,既に試験した定格電圧のヒューズエレメントの長さから線形に変わる。
6.6.6 長さが異なる同形ヒューズリンクへの受入れ
ヒューズスイッチ又はヒューズホルダの異なるタイプの固定されたサイズを供給するために,二つ以上
の異なる円筒長さに有効なヒューズリンクの設計をもつ必要がある。通常,最も短い円筒長さで全ての試
験を実施した場合,次の要求事項に従うときは,指定したものより長い円筒長さを実施する必要はない。
次の基準が一致する場合,指定する同形シリーズについて6.6.2及び6.6.4に従って実施した試験を基に
して宣言した遮断特性及び定格は,円筒の長さが長い他の同形シリーズに対して有効である。
a) 試験していない同形シリーズのヒューズのそれぞれの円筒長さは,同じ定格電圧で試験した同形シリ
ーズの円筒長さの1.6倍を超えない。主のヒューズエレメントの巻きピッチは長くなってもよいが,
それらの長さは,そのシリーズの試験したヒューズの長さと同じである。
b) 試験していない範囲は,円筒長さを除いて6.6.4.1の全ての項目で一致する。
c) 試験していない範囲の最大定格電流は,試験した範囲の最大定格電流以下で,かつ,試験していない
範囲の最小定格電流は,試験した範囲の最小定格電流以上である。
6.6.6A コンデンサの遮断試験
種類Cヒューズの組合せ遮断試験は,次の各項によって行う。
a) 供試品の組合せ ヒューズの定格電流に対応した最大適用容量のコンデンサと組み合わせる。
b) 試験回路 組合せ遮断試験は,図11Aに示す三相回路でその都度3個のヒューズを用いて行う。ただ
し,動作しない相のヒューズは,あらかじめ導体で短絡しておいてもよい。
c) 固有電流 固有電流は,供試ヒューズを無視し得る程度の低いインピーダンスの導体に置き換え,図
11AのRS相間を短絡して測定した電流から求める。
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a) 三角結線の場合 b) 星形結線の場合
A : バックアップ遮断器 C : コンデンサ
B : 供試ヒューズ S : 投入器
図11A−遮断試験開路
d) 遮断試験条件 遮断試験条件は,次による。
1) 試験系列 ヒューズの遮断試験は,表16Aに規定する試験系列4及び5について行う。
表16A−組合せ遮断試験系列
試験系列 試験目的
4 固有電流I4が定格遮断電流に等しい場合の遮断性能検証
5 発弧時電流波高値が固有電流(交流分実効値)の85 %106 %
となる固有電流I5における遮断性能の検証
2) 試験条件 組合せ遮断試験は,表16Bに規定する条件によって行う。
表16B−組合せ遮断試験条件
試験条件 試験系列
4 5
商用周波回復電圧 V 定格電圧以上
固有過渡回復電圧 V 表9による。 表14による。
短絡力率(遅れ) 0.070.1a)
固有電流 A I4 I5
発弧時電流波高値 A − 0.85I51.06I5
投入位相角 − 電圧ゼロ後0°20°
発弧位相角b) 30°90° −
回復電圧の継続時間 15 s以上 60 s以上
試験回数 回 3
注a) 短絡力率は,使用者と製造業者との協定によって0.07以下としてもよい。附属書JF
も参照。
b) 投入及び発弧位相角は,電圧ゼロ点から測定する。
6.7 溶断特性試験
6.7.1 試験の実施
溶断特性試験は,6.3,6.7.1.1及び6.7.1.2の条件下で実施する。
6.7.1.1 周囲温度
溶断特性は,15 ℃40 ℃のいずれかの周囲温度で確認する。
それぞれの試験を開始するときには,ヒューズは,ほぼ周囲温度になっていなければならない。
6.7.1.2 装置の配置
遮断試験(6.6.1.5参照)とは別にこの試験を行う場合は,温度上昇試験を行うときと同一に装置を配置
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する(6.5.1.2参照)。
6.7.2 試験方法
溶断特性試験は,6.7.2.16.7.2.4のとおり実施する。
6.7.2.1 溶断時間−電流試験
ヒューズに流れる電流が実質的に一定に保たれるように回路を構成している場合,溶断特性試験の回路
電圧は,規定しない。
遮断試験から得られた時間−電流データを使用してもよい。
6.7.2.2 時間範囲,試験電流及び試験回数
クラスに応じて,次の時間範囲で試験を実施する。
・ バックアップヒューズ : 0.01 s600 s
・ ジェネラルパーパスヒューズ及びフルレンジヒューズ: 0.01 s1 h。フルレンジヒューズの場合,1 h
より拡張することが望ましい。
さらに,ヒューズの種類を指定する場合は,ヒューズの種類に応じ,表16Cに規定する試験を行う。試
験のために通じる電流は,次の値とし,試験回数は,各項目ごとに各1回とする。
表16C−試験電流
G(一般用) T(変圧器用) M(電動機用) C(リアクトルなし LC(リアクトル
コンデンサ用) 付きコンデンサ用)
不溶断電流a) 不溶断電流a) 不溶断電流a) 不溶断電流a) 不溶断電流a)
定格電流×2.0 最小遮断電流b) 定格電流×10 定格電流×10
600 s溶断電流 600 s溶断電流 600 s溶断電流 600 s溶断電流
10 s溶断電流 10 s溶断電流 10 s溶断電流 10 s溶断電流 10 s溶断電流
0.1 s溶断電流 0.1 s溶断電流 0.1 s溶断電流 0.1 s溶断電流 0.1 s溶断電流
0.01 s溶断電流 0.01 s溶断電流 0.01 s溶断電流 0.01 s溶断電流 0.01 s溶断電流
この表中,溶断電流は,溶断特性曲線上の指定時間に対する電流値とし,実際の通電電流は,その値±10 %とする。
注a) 不溶断電流は,表10Aによる。
b) 最小遮断電流における溶断時間が600 sを超える場合にだけ実施する。
6.7.2.3 電流の測定
溶断特性試験中のヒューズに流れる電流は,電流計,適切な周波数応答特性をもった計測システム,又
は他の適切な計器によって測定する。
6.7.2.4 時間の決定
適切な周波数応答特性をもった計測システムによって時間を記録した場合,溶断時間は,バーチャル時
間又は実時間とし,いずれを選択したかを明示する。
6.7A 許容時間−電流特性試験
許容時間−電流特性試験は,許容時間−電流特性(4.13A参照)を確かめるために行う。
許容時間−電流特性試験は,通風の影響がない場所で,あらかじめ通電・加熱しないヒューズについて,
次の各項によって行う。
a) 周囲温度 特に指定がない限り常温で行い,40 ℃を超えない。
b) 試験品の取付け及び個数 温度上昇試験と同じ状態に取り付けて行う。接続導体は,表12による。試
験品の個数は,試験の種類ごとに各3台とし,直列に接続して行ってもよい。
c) 試験電圧,周波数及び電流波形 試験電圧は,定格電圧以下でもよい。試験周波数は,48 Hz62 Hz
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とし,電流波形は,正弦波とする。
d) 通電時間 通電時間は,60 sとする。
e) 通電電流 通電電流は,許容時間−電流特性上の60 sに対応する電流とする。
f) 通電間隔 通電間隔は,30 min間隔又はそれ以下とする。
g) 通電回数 通電回数は,次による。
1) 試験の種類 A 繰り返し3回通電した後,60 s溶断電流によって溶断特性試験を行う。
2) 試験の種類 B 繰り返し100回通電し,溶断の有無を調べる。
6.7B 繰返し過電流特性試験
繰返し過電流特性試験は,繰返し過電流特性(4.13B参照)を確かめるために行う。
繰返し過電流特性試験は,通風の影響がない場所で,あらかじめ通電・加熱しないヒューズについて,
次の各項によって行う。
a) 周囲温度 特に指定がない限り常温で行い,40 ℃を超えない。
b) 試験品の取付け及び個数 温度上昇試験と同じ状態に取り付けて行う。接続導体は,表12による。試
験品の個数は,試験の種類ごとに各3台とし,直列に接続して行ってもよい。
c) 試験電圧,周波数及び電流波形 試験電圧は,定格電圧以下でもよい。試験周波数は,48 Hz62 Hz
とし,電流波形は,なるべく正弦波とする。
d) 通電時間 通電時間は,ヒューズの種類によって表16Dに規定する時間とする。
e) 通電電流 通電電流は,ヒューズの種類によって表16Dに規定する電流とする。
f) 通電間隔 通電間隔は,30 min間隔又はそれ以下とする。
g) 通電回数 通電回数は,ヒューズの種類によって表16Dに規定する回数とする。
表16D−繰返し過電流特性試験の条件
ヒューズの種類 通電時間 通電電流 通電回数
s A 回
T 0.1 ヒューズ定格電流の10倍 100
(変圧器用)
M 10 ヒューズ定格電流の5倍 10 000
(電動機用)
C 0.002 ヒューズ定格電流の70倍 100
(リアクトルなし
コンデンサ用)
LC 0.1 ヒューズ定格電流の5倍 100
(リアクトル付き
コンデンサ用)
なお,表16Dに規定する通電時間及び通電電流による試験が困難な場合は,熱的に等価と考えられる可
能な限り短い通電時間及びそれに対応する通電電流を選んで試験してもよい。
6.8 ストライカ試験
6.8.1 一般
ストライカ試験は,5.1.3 c)で4.14を満足することが要求される場合にだけ実施する。
これらの試験は,電流又は電圧が低い値となることもある使用状態でもストライカが表11に規定するエ
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ネルギーを伝達できるかどうか確認することを意図している。6.8.3の試験は,ストライカ引外し式のヒュ
ーズコンビネーションユニットが確実に正しく動作するほどストライカの動作が十分に速いかどうか実演
することも意図している。
ばねによって蓄積したストライカのエネルギーは,動作試験中に振子による方法で確認するか,又は動
作試験後に力−移動距離特性から測定してもよい(6.8.4.1参照)。
中荷重及び大荷重(表11参照)のストライカの押出し力は,動作試験後に試験する。
6.8.2 供試ストライカ
ストライカ試験に使用するヒューズリンクは,ある与えられたタイプのストライカシステムを使用する
ヒューズリンクの範囲における最大定格電流及び/又は最大のワット損のものとする。
ストライカと直列抵抗線とからなるストライカシステムが,ある与えられたヒューズの範囲で共通2)の
場合,その範囲全体でそのストライカの動作を実証するため,ある定格電圧の一つのヒューズリンクにだ
け試験する。その結果を,抵抗線の長さが定格電圧にほぼ比例すると仮定して,同一のストライカシステ
ムを使用する他の定格電圧のヒューズリンクに適用する。
注2) 抵抗線の材質及び断面積が全ての場合で同一であり,抵抗線の長さだけ異なるストライカシス
テムである場合,共通のストライカシステムとする。
6.8.3 動作試験
ストライカ試験に使用するヒューズリンクをまず低電圧回路に挿入し,主可溶体が溶断するように通電
する。電圧は,ヒューズのストライカ回路が損傷しないように十分低い電圧とする。試験電流の値は,溶
断時間が20 min以上となるような値とする。
注記 規定する動作試験の最初の部分は,追加熱リレーを備えるストライカには適切でないことがあ
る。早すぎる熱的トリップは,規定どおりの試験の適切な継続を妨害することがある。この場
合の適切な試験の要求事項は,規定していない。
主可溶体が溶断したヒューズリンクで,不必要な時間をかけないようにして,次の試験a)及びb)を実施
する。
試験a) : 試験電流 : 10 A以下
試験電圧 : 規定しない。
試験b) : 試験電圧 : ヒューズリンクの定格電圧の0.075倍以下
試験電流 : 規定しない。
試験回路の力率は,規定しない。
試験a)及び試験b)に従って,それぞれ3本のサンプルについて試験を行う。
試験a)及び試験b)の両方の条件を満足するように試験することが可能な場合,合計で3本のサンプルの
試験を行えばよい。
6.8.4 試験の実施
6.8.4.1 一般
6.8.3の試験a)及び試験b)において,ストライカの移動距離,実際に移動したときのエネルギー出力及び
押出し力は,表11の規定値内でなければならない。
6.8.3の試験b)では,ストライカの移動時間を測定し,表11の規定値を超えてはならない。
6.8.4.2 エネルギー試験
エネルギーを力−移動距離特性から測定する場合,この測定は,動作試験後,次のとおり実施する。図
4に示すストライカの移動ABの最初及び最後の位置におけるスプリングの力FA及びFBをそれぞれあるサ
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JIS C 4604:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60282-1:2009(MOD)
- IEC 60282-1:2009/AMENDMENT 1:2014(MOD)
JIS C 4604:2017の国際規格 ICS 分類一覧
- 29 : 電気工学 > 29.120 : 電気付属部品 > 29.120.50 : ヒューズ及びその他過電流保護装備
JIS C 4604:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB7722:2018
- 金属材料のシャルピー衝撃試験―試験機の検証
- JISC4003:2010
- 電気絶縁―熱的耐久性評価及び呼び方
- JISK7111:1996
- プラスチック ― シャルピー衝撃強さの試験方法