JIS C 4604:2017 高圧限流ヒューズ | ページ 7

28
C 4604 : 2017
テムで検証する。
    注記 試験系列3の直接試験の場合,試験回路の校正は行わなくてもよい。ただし,校正する場合は,
          電流は適切な周波数応答特性をもった計測システムの記録に替わるものとして,指示電流計で
          測ってもよい。
                       図7−短絡試験 : 試験系列1及び2の代表的な試験回路
   図7及び図8の記号
          A :     回路校正のための模擬リンク       O3 :      基準電圧測定
          B :     供試ヒューズ                     T1,T2 :  変圧器の設置位置
          D :     バックアップ遮断器               Z :       電流調整用インピーダンス
          E :     投入器                           RP :      並列抵抗
          O1 :    電流測定                         RS :      直列抵抗
          O2 :    回復電圧測定
                          図8−短絡試験 : 試験系列3の代表的な試験回路
6.6.2.2  試験方法
  模擬リンクAは取り外し,試験中のヒューズ又はヒューズリンクBに置き換える。
  投入器Eは,表13で規定する条件を満たすように閉路する。
  試験系列1,2及び3並びにItは,動作過電圧を計測する。試験系列1及び2の場合,限流値を決定する。
  試験系列3では,電流は,適切な周波数応答特性をもった計測システムの代替又は追加的に電流計を使
用してもよい。
  ヒューズが動作した後,回復電圧は,表13に規定する期間ヒューズの端子間に印加する。最初の数サイ
クルは,適切な周波数応答特性をもった計測システムで記録し,残りの期間は,電圧計で観察してもよい。

――――― [JIS C 4604 pdf 31] ―――――

                                                                                             29
                                                                                   C 4604 : 2017
  この期間,商用周波数は,規定する最小値を下回ってもよい。
6.6.2.3  適切な周波数応答特性をもった計測システムの説明
  試験系列1及び2の場合,固有遮断電流は,電流の交流成分の実効値で,校正試験の短絡後1/2サイク
ルで計測された値である(図9及び図10参照)。
  試験系列3及びIt試験の場合,遮断電流は遮断試験で発弧瞬時の対称分電流実効値とする(図11参照)。
  商用周波回復電圧の値は,2番目の影響を受けていない半波のピークと,直前のピークから直後のピー
クまでの間を結んだ直線との間で算出する(図9,図10及び図11参照)。
   O1 : 電流測定
  O2 : 回復電圧測定
  O3 : 基準電圧測定
                                       A
  規約遮断電流の交流成分の実効値電流 :  I
                                      2 2
                B
  回復電圧 : V
               2 2
  注記 図9,図10及び図11はイラストである。電流は同じスケールではない。
                            図9−遮断試験 : 試験系列1のオシログラム例

――――― [JIS C 4604 pdf 32] ―――――

30
C 4604 : 2017
   O1 : 電流測定
  O2 : 回復電圧測定
  O3 : 基準電圧測定
                          図10−遮断試験 : 試験系列2のオシログラム例
                               [図9のとおりに回路校正を実施]
   O1 : 電流測定
  O2 : 回復電圧測定
  O3 : 基準電圧測定
                          図11−遮断試験 : 試験系列3のオシログラム例
6.6.2.4  試験で使用するパラメータ
  試験時に使用するパラメータは,表13による。
  試験を規定する条件より厳しい条件で行い,試験に合格した場合,この試験は有効とする。
6.6.3  試験系列3の代替試験法
  試験系列3は,試験中,試験系列1及び2のように,一つの単相高電圧電源を用いて行ってもよい。
  ただし,溶断時間が長い,及び/又は試験設備に制限がある場合,試験系列3は,二つの部分に分けて

――――― [JIS C 4604 pdf 33] ―――――

                                                                                             31
                                                                                   C 4604 : 2017
試験してもよい。試験期間中の最初の部分は,電流は低電圧電源から供給する。2番目の部分は,ヒュー
ズによる遮断を含んでおり,電流は,高電圧電源から供給する。
  二つの部分に分けた試験の場合,溶断期間中の力率は,小さい値の高電圧電源を用いて行ってもよい。
この場合,正しい力率への切換えは,アーク発生前に行う。
6.6.3.1  回路の必要条件
  回路の必要条件は,次による。
a) 試験中,ヒューズを通して規定の電流を流せる低電圧の電源。試験中,電流を一定に保てなければな
    らない。
b) 6.6.1.2に規定する高電圧電源。
      高電圧の電流値は,6.6.1.1に規定する電流I3とする。
c) 試験中に必要な,低電圧電源から高電圧電源への瞬時の手動又は自動での切換え。
      電流が遮断される時間は,0.2 sを超えてはならない。高電圧電源へ切り換えた瞬時に流れる電流は,
    非対称電流であってはならない。
      一般的に,切換えはヒューズエレメント1個が電流を通電している間に行うことが望ましい。マル
    チエレメントヒューズの場合,ヒューズの電圧にステップ状の増加が見られるように,ヒューズエレ
    メントが順次溶断している期間である。
d) 製造業者が同意する場合,切換えを全てのヒューズエレメント(ストライカ線ではない。)が溶断する
    まで延ばしてもよい。c)で規定する他の全てのパラメータは,引き続き適用する。
      この手順は,エレメントの溶断開始を検出するのが困難である場合,又は溶断電流が試験系列3電
    流の選択した値より非常に大きくなければならない場合に有用である(6.6.3.2参照)。
      ただし,この方法は,c)よりもヒューズをより過酷にするため,失敗した場合,後者の方が実際の
    使用条件に近いため,c)の方法を用いて試験系列3を再度行ってもよい。
6.6.3.2  試験系列3の溶断試験電流値
  値は,次による。
a) バックアップヒューズの場合,溶断時間は1 h未満とし,低電圧電源の電流はI3に設定し,試験中,
    この値を維持することが望ましい。
b) ジェネラルパーパスヒューズの場合,溶断する最小時間は1 hを要求するが,低電圧電源の電流はI3
    に設定し,1 h経過後は,溶断を誘発するためにI3の15 %まで増加させてもよい。
c) フルレンジヒューズの場合,ヒューズの定格電流に等しいI3値に対してであり,結果として,溶断時
    間が1 h未満でないときには,不必要に長い試験時間を避けるために,試験の低電圧部分をI3より大
    きい値に設定してもよい。ただし,低電圧電流は,この溶断期間中,I3は42 %を超えてはならない。
    1 h経過後,低電圧電流は,溶断を誘発するために,更に15 %まで増加させてもよい。この増加させ
    た値でも長い試験時間となる場合,溶断時間が1 h以上得られるときは,冷却を制限した容器にヒュ
    ーズリンクを設置してもよい。このような容器の使用が,適切な時間で溶断を生じさせるのに不十分
    である場合,附属書Eに規定する試験法を使用してもよい。
6.6.4  同形シリーズのヒューズリンクの遮断試験
6.6.4.1  同形シリーズのヒューズリンクの特性
  ヒューズリンクはそれらの特性が次に一致する場合,同形シリーズを形成しているものとする。
a) 定格電圧,最大遮断電流及び周波数が等しい。
b) 充材及びその粒子の配分を含み,全ての材料が同じである。

――――― [JIS C 4604 pdf 34] ―――――

32
C 4604 : 2017
c)   )   h)に示すように,ヒューズエレメントのサイズ及び本数を除き,ヒューズリンクのサイズが同じ
    である。
d) いかなるヒューズリンクにおいても,全てのヒューズエレメントが同じである。
e) 個々のヒューズエレメントの長さに沿った断面積の変化の法則が同じである。
f)  厚さ,幅及び数の変化は,定格電流に関して単調1)である。ただし,ヒューズエレメントの本数を減
    らして,断面積を増加させてバランスさせる,及びその逆は行ってはならない。
       注1) 単調な機能 : 変数が一定の方向に同じ方向に常に変化する機能。
g) 距離の変化がある場合,個々のヒューズエレメント間の距離,ヒューズエレメントとヒューズ筒との
    間の距離は,定格電流に関して単調である。
h) 表示器又はストライカ用に使用する特殊なヒューズエレメントは,e)及びf)は除外されるが,全ての
    ヒューズリンクに対し共通である。
6.6.4.2  試験の要求
  同形シリーズのヒューズリンクでは,遮断試験は,表16にだけ従って実施する。
                         表16−同形ヒューズリンクの遮断試験の要求事項
                     試験系列     試験するヒューズリンク(X印が行う試験を示す)
                                       A               B              C
                       1               X              −              X
                       2 a)           X c)            −              X
                       3 b)           X d)            X d)            X
                  注a) ヒューズリンクA及びCに対する試験電流I2は,A及びCの定格
                       電流に応じて選定する。
                    b) ヒューズリンクの最小定格電流は,ストライカを動作させるための
                       エレメントに加えて,主エレメントを2本以上もつ。
                    c) この試験は,それぞれエレメントの断面積が,ヒューズリンクCよ
                       り小さい場合に適用する。
                    d) この試験は,ヒューズリンクA及びBのI3/sの比がヒューズリンク
                       Cの比より小さい場合に適用する。この場合,最も小さいI3/sの比
                       の試験系列3のために選定する。
  表16の記号は,次の意味で使用する。
    A : 最小の電流定格のヒューズリンク
    B : AとCとの間の電流定格のヒューズリンク
    C : 最大の電流定格のヒューズリンク
    s : それぞれのヒューズエレメントの断面積
6.6.4.3  遮断試験の説明
  表16に従って実施した試験の結果が5.1.3の要求を満たす場合,同形シリーズ内のいかなる電流定格の
ヒューズリンクも,この仕様の遮断要求に一致しているものとする。
  ヒューズリンクが一つ以上の試験で5.1.3を満足できない場合,そのヒューズリンクは,同形シリーズと
しては扱わない。ただし,他の電流定格品は,同形シリーズとして扱う。
  製造業者は,同形シリーズの有効な電流定格のヒューズリンクに対して,最小遮断電流の有効な値を指
定する。これらの値は,シリーズのヒューズリンクCの試験系列3の遮断試験を基にする。同じ同形シリ

――――― [JIS C 4604 pdf 35] ―――――

次のページ PDF 36