JIS C 5260-1:2014 電子機器用可変抵抗器―第1部:品目別通則 | ページ 2

                                                                                              3
C 5260-1 : 2014 (IEC 60393-1 : 2008)
JIS C 60068-2-6 環境試験方法−電気・電子−第2-6部 : 正弦波振動試験方法(試験記号 : Fc)
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-6:2007,Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration
(sinusoidal)(IDT)
JIS C 60068-2-13:1989 環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-13:1983,Environmental testing−Part 2: Tests. Test M: Low air
pressure(IDT)
JIS C 60068-2-14 環境試験方法−電気・電子−第2-14部 : 温度変化試験方法(試験記号 : N)
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-14:2009,Environmental testing−Part 2-14: Tests−Test N: Change of
temperature(IDT)
JIS C 60068-2-17:2001 環境試験方法−電気・電子−封止(気密性)試験方法
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-17:1994,Basic environmental testing procedures−Part 2: Tests−Test
Q: Sealing(IDT)
JIS C 60068-2-20 環境試験方法−電気・電子−第2-20部 : 試験−試験T−端子付部品のはんだ付け
性及びはんだ耐熱性試験方法
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-20:2008,Environmental testing−Part 2-20: Tests−Test T: Test
methods for solderability and resistance to soldering heat of devices with leads(IDT)
JIS C 60068-2-21 環境試験方法−電気・電子−第2-21部 : 試験−試験U : 端子強度試験方法
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-21:2006,Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test U: Robustness
of terminations and integral mounting devices(IDT)
JIS C 60068-2-27 環境試験方法−電気・電子−第2-27部 : 衝撃試験方法(試験記号 : Ea)
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-27:2008,Environmental testing−Part 2-27: Tests−Test Ea and
guidance: Shock(IDT)
JIS C 60068-2-30 環境試験方法−電気・電子−第2-30部 : 温湿度サイクル(12+12時間サイクル)
試験方法(試験記号 : Db)
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-30:2005,Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test Db: Damp
heat, cyclic (12 h + 12 h cycle)(IDT)
JIS C 60068-2-45:1995 環境試験方法−電気・電子−耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-45:1980,Environmental testing. Part 2: Tests. Test XA and guidance:
Immersion in cleaning solvents及びAmendment 1:1993(IDT)
JIS C 60068-2-58:2006 環境試験方法−電気・電子−表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の
耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-58:2004,Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test Td: Test
methods solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface
mounting devices (SMD)(IDT)
JIS C 60068-2-78:2004 環境試験方法−電気・電子−第2-78部 : 高温高湿(定常)試験方法
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-78:2001,Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab: Damp
heat, steady state(IDT)
JIS Z 8000-1 量及び単位−第1部 : 一般
ISO 9000 (all parts),Quality management systems
IEC 60027-1,Letter symbols to be use in electrical technology−Part 1: General

――――― [JIS C 5260-1 pdf 6] ―――――

4
C 5260-1 : 2014 (IEC 60393-1 : 2008)
IEC 60050 (all parts),International Electrotechnical Vocabulary (IEV)
IEC 60410:1973,Sampling plans and procedures for inspection by attributes
注記 対応日本工業規格(日本産業規格) : JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部 : ロットごと
の検査に対するAQL指標型抜取検査方式(MOD)
IEC QC 001002-3:2005,IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ)−Rules of
procedure−Part 3: Approval procedures

2 技術的なデータ

2.1 単位及び記号

  単位,図記号及び文字記号は,できるだけ次の規格の中から引用することが望ましい。
− JIS C 0617(規格群)
− JIS Z 8000-1
− IEC 60027-1
− IEC 60050
その他の単位,図記号及び文字記号の必要がある場合は,上記の規格の原則に従って用いることが望ま
しい。

2.2 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
2.2.1
品種(type)
同じ設計思想をもち,品質認証及び品質評価試験で製造技術が類似であると分類した可変抵抗器のグル
ープ。これらの可変抵抗器は,通常,一つの個別規格の中に含める。
注記1 可変抵抗器が幾つかの個別規格で規定していても,同一の品種に属するとみなす場合がある。
したがって,品質認証及び品質評価試験では,この場合,同一品種とみなしてもよい。
注記2 取付用附属品は,試験の結果に著しい影響を与えなければ無視する。
注記3 定格は,個別規格に規定する。
2.2.2
形状(style)
一般に寸法的な要素に基づく品種の細分類。形状には,幾つかの異なったものを含むが,通常は,機械
的構造によって分類する。
2.2.3
等級(grade)
一般的特性に付け加えて意図する目的,例えば,長寿命などを表すもの。等級は,一つ又は幾つかの用
語と組み合わせて(例えば,長寿命等級)だけ用い,一つの文字又は数字によって表さない。等級の後に
付け加える数字は,アラビア数字とする。
2.2.4
特殊品(variant)
形状を更に細分類したもの。可変抵抗器の構造上のある部分,例えば,端子,操作軸の平形又は長さで,
特定の寸法をもつものである(附属書F参照)。

――――― [JIS C 5260-1 pdf 7] ―――――

                                                                                              5
C 5260-1 : 2014 (IEC 60393-1 : 2008)
2.2.5
ファミリ(可変抵抗器における)[family (of electronic components)]
主として固有の物理的性質を表し,及び/又は,規定の性能を満たす可変抵抗器のグループ。
2.2.6
サブファミリ(可変抵抗器における)[sub-family (of electronic components)]
ファミリの中で,類似の技術的方法で製造する可変抵抗器のグループ。
2.2.7
カテゴリ温度範囲,使用温度範囲(category temperature range)
可変抵抗器が,連続的に動作するよう設計した周囲温度範囲。カテゴリ温度範囲は,適切なカテゴリの
限界温度によって定義する。
2.2.8
カテゴリ上限温度,最高使用温度(upper category temperature)
規定のカテゴリ電力(2.2.13参照)で,可変抵抗器が,連続的に動作するよう設計した最高周囲温度。
2.2.9
カテゴリ下限温度,最低使用温度(lower category temperature)
可変抵抗器が,連続的に動作するよう設計した最低周囲温度。
2.2.10
臨界抵抗値(critical resistance)
定格電圧が,素子最高電圧に等しいときの抵抗値。臨界抵抗値以下の場合は,可変抵抗器の両終端端子
に印加できる最大電圧は定格電圧となる。臨界抵抗値を超える場合には,最大電圧は,素子最高電圧とな
る(2.2.12,2.2.14及び2.2.15参照)。
2.2.11
公称全抵抗値(nominal total resistance)
通常,可変抵抗器に表示した抵抗値。
2.2.12
定格電力(rated dissipation)
周囲温度70 ℃で,可変抵抗器の終端端子aとc(2.2.29参照)との間に連続して負荷できる最大電力。
この場合,70 ℃の電気的耐久性試験で,全抵抗値の変化が規定値を超えてはならない。
注記 実際の電力は,次の条件によって変わることがある。
a) 抵抗値が高く,素子最高電圧(2.2.15参照)が定格電力を制限する場合。
b) 70 ℃以外の温度での電力の場合。関連の個別規格に定格図表を規定することが望ましい。
c) 端子a及びb,又はb及びcだけを用い,操作軸を有効電気的操作範囲の100 %未満に設定
する場合。しゅう動接点の許容電流(2.2.17参照)も考慮することが望ましい。
2.2.13
カテゴリ電力(category dissipation)
カテゴリ上限温度に等しい周囲温度で,連続して負荷できる最大許容電力。通常,定格電力に対する百
分率で表す。
注記 可変抵抗器のカテゴリ電力は,通常ゼロである。可変抵抗器のカテゴリ電力は,個別規格に規
定する軽減曲線から求める。

――――― [JIS C 5260-1 pdf 8] ―――――

6
C 5260-1 : 2014 (IEC 60393-1 : 2008)
2.2.14
定格電圧(rated voltage)
公称全抵抗値と定格電力との積の平方根によって算出する直流電圧又は交流電圧(実効値)。
注記 抵抗値が高い場合には,定格電圧は,可変抵抗器の大きさ及び構造によって適用できないこと
がある(2.2.10,2.2.12及び2.2.15参照)。
2.2.15
素子最高電圧,最高使用電圧(limiting element voltage)
可変抵抗器の素子の両端に印加できる直流電圧又は交流電圧(実効値)の最大値。
注記1 この規格で,交流電圧(実効値)の用語を用いた場合には,ピーク電圧は,実効値の1.42倍
を超えないことが望ましい。
注記2 この電圧は,全抵抗値が臨界抵抗値に等しいか又は大きい可変抵抗器だけに適用することが
望ましい。
2.2.16
絶縁電圧(insulation voltage)
連続動作状態で,可変抵抗器の端子を一括して接続した部分とその他の外部導通部を一括して接続した
部分との間に印加できる最高のピーク電圧。
注記 絶縁電圧値は,通常の大気下では,素子最高電圧の1.42倍以上とすることが望ましい。また,
減圧下での絶縁電圧値は,通常よりも低くし,個別規格に規定することが望ましい。
2.2.17
しゅう動接点許容電流(limiting moving contact current)
抵抗素子としゅう動接点との間に流すことができる最大電流。
2.2.18
温度による抵抗値及び出力電圧比の変化(variation of resistance and voltage output ratio with temperature)
次に定義する温度特性又は温度係数のいずれかで表す温度による変化。
2.2.18.1
抵抗温度特性(temperature characteristic of resistance)
カテゴリ温度の範囲内で生じる正負の最大変化。通常,基準温度20 ℃の抵抗値に対する百分率で表す。
2.2.18.2
抵抗温度係数,αr(temperature coefficient of resistance)
二つの規定した温度間の相対的抵抗変化を温度差で除した商(平均係数)。通常,抵抗温度係数(αr)は,
10−6/Kで表す。
注記 この用語を用いる場合は,この変化が直線的であることを示すものではなく,また,このこと
を想定するものでもないことに留意することが望ましい。
2.2.18.3
出力電圧比温度係数,αo(temperature coefficient of output ratio)
二つの規定した温度間の相対的出力電圧比変化を温度差で除した商(平均係数)。
なお,しゅう動接点は,規定の位置に設定して規定の負荷をかける。出力電圧比係数(αo)は,10−6/K
で表す。
注記1 出力電圧比係数(αo)の値は,出力電圧比の設定が異なれば変わることがある。
注記2 この用語の使用は,出力電圧比変化の直線性の度合いを示すものではなく,このことを想定

――――― [JIS C 5260-1 pdf 9] ―――――

                                                                                              7
C 5260-1 : 2014 (IEC 60393-1 : 2008)
するものでもない。
2.2.19
外観の損傷(visual damage)
可変抵抗器の意図した使用目的に対し,その有用性を低下させる(その機能が喪失する)外部の損傷。
2.2.20
可変抵抗器(potentiometer)
三つの端子をもち,分圧器として使用するもので,二つの端子は抵抗素子の両端に接続し,残りの端子
は抵抗素子に沿って機械的に移動することができるしゅう動接点に接続した抵抗器。
2.2.21
半固定又は微調整形可変抵抗器(pre-set, trimmer or trimming potentiometer)
比較的操作の少ない調整用に設計した可変抵抗器。
2.2.22
ねじ駆動形可変抵抗器(lead-screw actuated potentiometer)
多回転調整機構として,ねじ駆動部をもつ微調整用の可変抵抗器。
2.2.23
連動形可変抵抗器(ganged potentiometer)
1本の共通の操作軸で,二つ以上の可変抵抗器を同時に操作できる構造の可変抵抗器。連結する可変抵
抗器の数は,品名を含め,例えば,二連形又は四連形可変抵抗器とする。
2.2.24
同心二重軸形可変抵抗器(dual concentric potentiometer)
同心軸によって,二つの可変抵抗器をそれぞれ単独に操作できる構造の可変抵抗器。
2.2.25
操作軸気密形可変抵抗器(shaft-sealed potentiometer)
操作軸の軸受けで,外部から可変抵抗器の内部へ異物が侵入,又は液体が浸入するのを防止する構造の
可変抵抗器(図1参照)。
2.2.26
操作軸及びパネル気密形可変抵抗器(shaft-sealed and panel-sealed potentiometer)
可変抵抗器をパネルに取り付けたとき,操作軸及びパネルから機器の内部に異物が侵入,又は液体が浸
入するのを防止する構造の可変抵抗器(図2参照)。
2.2.27
完全気密形可変抵抗器(fully sealed potentiometer)
操作軸の軸受けが気密で,可変抵抗器のケース本体も外部から異物が侵入,又は液体が浸入するのを防
止する構造の可変抵抗器(図3参照)。
必要がある場合,パネル気密を追加してもよい。

――――― [JIS C 5260-1 pdf 10] ―――――

次のページ PDF 11

JIS C 5260-1:2014の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60393-1:2008(IDT)

JIS C 5260-1:2014の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 5260-1:2014の関連規格と引用規格一覧

規格番号
規格名称
JISC5005-2:2010
品質評価システム―第2部:電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)
JISC5062:2008
抵抗器及びコンデンサの表示記号
JISC5063:1997
抵抗器及びコンデンサの標準数列
JISC5270:2011
電子機器用コンデンサ及び抵抗器―軸操作形部品の操作軸,取付ねじ及び取付孔の形状並びに推奨寸法
JISC5402-2-1:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第2-1部:導通及び接触抵抗試験―試験2a:接触抵抗―ミリボルトレベル法
JISC5402-2-2:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第2-2部:導通及び接触抵抗試験―試験2b:接触抵抗―規定電流法
JISC60068-2-1:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
JISC60068-2-14:2011
環境試験方法―電気・電子―第2-14部:温度変化試験方法(試験記号:N)
JISC60068-2-2:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
JISC60068-2-20:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-20部:試験―試験T―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
JISC60068-2-21:2009
環境試験方法―電気・電子―第2-21部:試験―試験U:端子強度試験方法
JISC60068-2-27:2011
環境試験方法―電気・電子―第2-27部:衝撃試験方法(試験記号:Ea)
JISC60068-2-30:2011
環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
JISC60068-2-6:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)
JISZ8000-1:2014
量及び単位―第1部:一般