JIS C 5920-3:2017 光伝送用パワー制御受動部品―第３部：シングルモード光ファイバピッグテール形電気制御式可変光減衰器 | ページ 2

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C 5920-3 : 2017
            表1−シングルモード光ファイバピッグテール形電気制御式可変光減衰器の定格
               項目         記号          条件                  定格値            単位
         使用温度範囲        Ta            −                   060 a)             ℃
         保存温度範囲       Tstg           −                  −4085              ℃
         使用波長範囲b)     λband         −          Oバンド :  1 2601 360       nm
                                                       Eバンド :  1 3601 460
                                                       Sバンド :  1 4601 530
                                                       Cバンド :  1 5301 565
                                                       Lバンド :  1 5651 625
                                                       Uバンド :  1 6251 675
         最大入力光パワーc)   max   試験波長 : 公称波長             300             mW
         注a) 使用温度範囲における湿度範囲は,図1の一定水蒸気量曲線を含む閉曲線の範囲内とする。
           b) この使用波長範囲はITU-T Recommendation G-series sup.39に記載している。この内容は,
              要求事項ではなく,推奨値である。実際の使用波長範囲は,製造業者が指定する。
           c)   バンド及びLバンドに適用する。それ以外は,受渡当事者間の協定による。
                注a) 温度30 ℃60 ℃の一定水蒸気量曲線は,温度30 ℃及び相対湿度85 %
                     の条件下と同じ水蒸気量をもつ温度及び相対湿度を示す。
                              図1−温度及び湿度を考慮した環境条件

5 光学特性及び制御特性

  光学特性及び制御特性に関する試験方法,試験条件及び要求性能を,表2及び表3に示す。シングルモ
ード光ファイバピッグテール形電気制御式可変光減衰器は,全ての偏光状態,並びに表1の定格値で規定
する使用温度範囲及び使用波長範囲の入力光に対して,最小値及び最大値を満足する。
  なお,これらの要求性能は,光ファイバピッグテール形電気制御式可変光減衰器に対してだけ適用する。

――――― [JIS C 5920-3 pdf 6] ―――――

                                                                                              5
                                                                                 C 5920-3 : 2017
          表2−シングルモード光ファイバピッグテール形電気制御式可変光減衰器の光学特性
   項目        試験方法                   試験条件                          要求性能
                                                                  最小値          最大値
挿入損失  挿入損失及び反射  減衰量の設定値を0 dBとしたときの挿入    −             1.5 dB
          減衰量の波長依存  損失を測定する。
          性測定(JIS C     供試品の光ファイバ長は,2 m以上とする。
          61300-3-7の方法A)無偏光光源を用いる。
                            測定の不確かさa)は,0.1 dB以下とする。
減衰量可  挿入損失及び反射  供試品の光ファイバ長は,2 m以上とする。20 dB            −
変範囲    減衰量の波長依存  無偏光光源を用いる。
          性測定(JIS C     測定の不確かさa)は,0.5 dB以下とする。
          61300-3-7の方法A)
波長依存  挿入損失及び反射  供試品の光ファイバ長は,2 m以上とする。 −     0.7 dB(減衰量≦10 dB)
性損失    減衰量の波長依存  無偏光光源を用いる。                           1.0 dB(減衰量>10 dB)
          性測定(JIS C     測定の不確かさa)は,0.05 dB以下とする。
          61300-3-7の方法A)
偏光依存  光損失の偏光依存  供試品の光ファイバ長は,2 m以上とする。 −     0.3 dB(減衰量≦10 dB)
性損失                      測定の不確かさa)は,0.05 dB以下とする。
          性(JIS C 61300-3-2)                                            0.5 dB(減衰量>10 dB)
(PDL)
反射減衰  挿入損失及び反射  供試品の光ファイバ長は,2 m以上とする。40 dB            −
量(RL)  減衰量の波長依存  無偏光光源を用いる。
          性測定(JIS C     測定の不確かさa)は,1 dB以下とする。
          61300-3-7の方法A)
最大入力  最大入力光パワー  入力光パワー : 300 mW                試験中及び試験後の挿入損失は,周囲
光パワー                    試験波長 : 1 550 nm
          (JIS C 61300-2-14)                                  条件下で初期値の±0.3 dB以内とす
                            試験光パワー保持時間 : 30 min        る。
                            試験温度 : 30 ℃±2 ℃               試験中及び試験前後の挿入損失は,こ
                            試験相対湿度 : (85±2)%            の表に規定する最大値以下とする。
                                                                試験中及び試験前後の反射減衰量は,
                                                                この表に規定する最小値以上とする。
注a) 測定の不確かさUは,一定の信頼の水準(例えば95 %)において測定結果が分布すると期待される区間(−U,
     +U)を与える量である。
          表3−シングルモード光ファイバピッグテール形電気制御式可変光減衰器の制御特性
    項目         試験方法                      試験条件                         要求性能
                                                                          最小値      最大値
応答時間    切替時間測定(JIS 供試品の光ファイバ長は,2 m以上とする。       −        20 ms
            C 61300-3-21)    最も切替時間の長い条件で試験を行う。特に規定
                              のない場合,最小減衰量から最大減衰量及び最大
                              減衰量から最小減衰量へ切り替える条件で行う。
                              測定の不確かさは,1 ms以下とする。
減衰量設定  可変光減衰器の減  供試品の光ファイバ長は,2 m以上とする。       −     設定値±15 %
誤差        衰量の設定の誤差  無偏光光源を用いる。                                  (dB単位)
(適用でき  及び再現性測定    減衰量の設定の不確かさは,0.1 dB以下とする。
る場合)    (JIS C 61300-3-14)
減衰量設定  可変光減衰器の減  供試品の光ファイバ長は,2 m以上とする。       −     設定値±5 %
再現性(適用衰量の設定の誤差  無偏光光源を用いる。                                 (dB単位)
できる場合)及び再現性測定    減衰量の測定の不確かさは,0.1 dB以下とする。
            (JIS C 61300-3-14)

――――― [JIS C 5920-3 pdf 7] ―――――

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C 5920-3 : 2017

6 環境及び耐久性特性

  屋内環境条件で使用するための環境及び耐久性特性の試験方法,試験条件及び要求性能は,表4による。
    注記 対応国際規格には,“2 m以上の光ファイバ又は光ファイバコードを含めて環境及び耐久性試験
          装置内に入れて試験を実施する。”と記載されているが,実施困難であるため削除した。
     表4−シングルモード光ファイバピッグテール形電気制御式可変光減衰器の環境及び耐久性特性
    項目      試験方法                試験条件                            要求性能
耐寒性      低温試験    温度 : 0 ℃±2 ℃                    試験前後の挿入損失は,表2に規定する最
            (JIS    C  暴露時間 : 96 h                      大値以下とする。試験前後の反射減衰量
            61300-2-17)                                    は,表2に規定する最小値以上とする。さ
                                                            らに,試験後の挿入損失の変化は,周囲条
                                                            件下で初期値の±0.3 dB以内とする。
耐熱性      高温試験    温度 : 60 ℃±2 ℃                   試験前後の挿入損失は,表2に規定する最
            (JIS    C  暴露時間 : 96 h                      大値以下とする。試験前後の反射減衰量
            61300-2-18)                                    は,表2に規定する最小値以上とする。さ
                                                            らに,試験後の挿入損失の変化は,周囲条
                                                            件下で初期値の±0.3 dB以内とする。
耐湿性(定常高温高湿試  温度 : 30 ℃±2 ℃                   試験中及び試験前後の挿入損失は,表2に
状態)      験          相対湿度 : (85±2)%                規定する最大値以下とする。試験中及び試
            (JIS    C  暴露時間 : 96 h                      験前後の反射減衰量は,表2に規定する最
            61300-2-19)                                    小値以上とする。さらに,試験中及び試験
                                                            後の挿入損失の変化は,周囲条件下で初期
                        挿入損失及び反射減衰量は,試験中及び試
                                                            値の±0.3 dB以内とする。
                        験前後にJIS C 61300-3-3の方法3に従って
                        測定する。試験中の測定間隔は10 min以内
                        とする。
温度サイク  温度サイク  高温 : 60 ℃±2 ℃                   試験中及び試験前後の挿入損失は,表2に
ル          ル試験      低温 : 0 ℃±2 ℃                    規定する最大値以下とする。試験中及び試
            (JIS    C  高温/低温保持時間 : 1 h             験前後の反射減衰量は,表2に規定する最
            61300-2-22)温度変化率 : 1 ℃/min                小値以上とする。さらに,試験中及び試験
                        サイクル数 : 5                       後の挿入損失の変化は,周囲条件下で初期
                                                            値の±0.5 dB以内とする。
                        挿入損失及び反射減衰量は,試験中及び試
                        験前後にJIS C 61300-3-3の方法3に従って
                        測定する。試験中の測定間隔は10 min以内
                        とする。
耐振性b)    正弦波振動  振動範囲 : 5 Hz55 Hz                 試験中及び試験前後の挿入損失は,表2に
            試験        変化率 : 1オクターブ/min            規定する最大値以下とする。試験中及び試
            (JIS    C  振動軸 : 直交3軸                     験前後の反射減衰量は,表2に規定する最
            61300-2-1) 掃引サイクル数 : 15回(5 Hz→55 Hz→5 Hz
                                                            小値以上とする。さらに,試験後の挿入損
                        で1サイクル)                       失の変化は,周囲条件下で初期値の±0.3
                        振動振幅 : 0.75 mm                   dB以内とする。
                        挿入損失及び反射減衰量は,表2に示す条
                        件で,試験中及び試験前後に測定する。試
                        験中の挿入損失の変化は,JIS C 61300-3-28
                        に従って測定する。

――――― [JIS C 5920-3 pdf 8] ―――――

                                                                                              7
                                                                                 C 5920-3 : 2017
 表4−シングルモード光ファイバピッグテール形電気制御式可変光減衰器の環境及び耐久性特性(続き)
    項目      試験方法                試験条件                            要求性能
光ファイバ  光ファイバ  引張力 : 2 N                         試験前後の挿入損失は,表2に規定する最
クランプ強  クランプ強  曲げ角度 : ±90°                    大値以下とする。試験前後の反射減衰量
度(繰返し曲度試験−繰  サイクル数 : 30                      は,表2に規定する最小値以上とする。さ
げ)        返し曲げ                                        らに,試験後の挿入損失の変化は,周囲条
                        挿入損失及び反射減衰量は,試験前後に測
            (JIS    C  定する。                            件下で初期値の±0.3 dB以内とする。
            61300-2-44)
                        この試験は光ファイバコードの場合に適
                        用し,光ファイバ心線及び光ファイバ素線
                        に対しては適用しない。
光ファイバ  光ファイバ  引張力は,次による。                試験前後の挿入損失は,表2に規定する最
クランプ強  クランプ強  光ファイバコードに対して5 N/sの変化率
                                                            大値以下とする。試験前後の反射減衰量
度(軸方向引度試験(軸方で10 N±1 N。                       は,表2に規定する最小値以上とする。さ
張り)      向引張り)  光ファイバ心線に対して0.5 N/sの変化率
                                                            らに,試験後の挿入損失の変化は,周囲条
            (JIS    C  で5 N±0.5 N。                      件下で初期値の±0.3 dB以内とする。
            61300-2-4) 光ファイバ素線に対して0.5 N/sの変化率
                        で2 N±0.2 N。
                        引張力を加える位置 : 供試品本体の端から
                        ファイバ長が0.3 mの場所。
                        引張力持続時間 : 10 Nの場合120 s,5 N及
                        び2 Nの場合60 s。
                        取付方法 : 供試品は,引張力が光ファイバ
                        素線,光ファイバ心線又は光ファイバコー
                        ドの軸方向だけにかかるように,強固に固
                        定する。
                        挿入損失及び反射減衰量は,表2に示す条
                        件で,試験前後に測定する。
光ファイバ  光ファイバ  引張力及び保持時間 :                 試験前後の挿入損失は,表2に規定する最
クランプ強  クランプ強  光ファイバコードの場合 : 1 Nで1 h    大値以下とする。試験前後の反射減衰量
度(横方向引度試験(横方光ファイバ心線の場合 : 0.2 Nで5 min  は,表2に規定する最小値以上とする。さ
張り)      向引張り)                                      らに,試験後の挿入損失の変化は,周囲条
            (     IEC                                      件下で初期値の±0.3 dB以内とする。
                        引張荷重は,ファイバ軸に直交する2方向
            61300-2-42)に印加する。
                        挿入損失及び反射減衰量は,試験前後に測
                        定する。
                        この試験は,光ファイバ素線に対しては適
                        用しない。

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C 5920-3 : 2017
 表4−シングルモード光ファイバピッグテール形電気制御式可変光減衰器の環境及び耐久性特性(続き)
    項目      試験方法                試験条件                            要求性能
耐衝撃性    衝撃試験                                        試験前後の挿入損失は,表2に規定する最
                        ピーク加速度は供試品の質量に応じて,次
            (JIS    C  による。                            大値以下とする。試験前後の反射減衰量
            61300-2-9) 質量≦0.125 kg : 5 000 m/s2          は,表2に規定する最小値以上とする。さ
                        0.125 kg<質量≦0.225 kg : 2 000 m/s2らに,試験後の挿入損失の変化は,周囲条
                        0.225 kg<質量≦1 kg a) : 500 m/s2   件下で初期値の±0.3 dB以内とする。
                        パルス作用時間 : 1 ms,正弦半波
                        軸数 : 3軸各2方向
                        衝撃回数 : 2衝撃/軸,総数12
                        挿入損失及び反射減衰量は,表2に示す条
                        件で,試験前後に測定する。
動作中の耐  正弦波振動  周波数 : 50500 Hz                    試験中の挿入損失の変化は,初期値の±0.3
振性b)      試験        加速度 : 2 G(3直交軸に対して)      dB以内とする。
            (JIS    C  振動回数 : 2スイープ/軸
            61300-2-1) 測定サンプリングレート : 5 kHz
                        試験中に挿入損失をJIS C 61300-3-28に従
                        って測定する。
動作中の耐  衝撃試験                                        試験中の挿入損失の変化は,初期値の±0.3
                        衝撃条件 : 40 G,5 ms(3直交軸に対して)
衝撃性b)    (JIS    C  衝撃回数 : 3回/軸                   dB以内とする。
            61300-2-9) 測定サンプリングレート : 5 kHz
                        試験中に挿入損失をJIS C 61300-3-28に従
                        って測定する。
注a) 質量が1 kgを超えるものの試験方法は,受渡当事者間の協定による。
   b) この項目の試験条件は,IEC/TR 62343-6-5に記載している。

7 試料

  試料の入出力端子は,JIS C 6835のSSMA形,SSMAU形,SSMFA形若しくはSSMFB形シングルモ
ード光ファイバ素線又はそれらを用いた光ファイバ心線若しくは光ファイバコードとする。
    注記 表2及び表3での光ファイバの記載は,光ファイバ素線,光ファイバ心線又は光ファイバコー
          ドの意味である。
  各試験に用いるシングルモード光ファイバピッグテール形電気制御式可変光減衰器は試験以前に苛酷条
件にさらされていないものとするが,場合によっては他の試験で用いたものでもよい。特に指定がない場
合,全ての試験は標準的な大気条件の下で行う。試料が温度制御機構を具備している場合は,製造業者が
指定する温度に設定する。

8 試験報告書

  製造業者又は販売業者は,試験を実施し合格した証拠として使用者又は購入業者が受入検査に利用する
ことができるように,試験報告書及びそれを裏付けるデータを使用者又は購入業者に提供する。
  試験報告書には,光学特性及び制御特性は試験条件及び性能値を,環境及び耐久性特性は試験条件,試
料数及び合格判定数を記載する。

――――― [JIS C 5920-3 pdf 10] ―――――

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