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C 5944 : 2005
附属書5(参考)JISと対応する国際規格との対比表
JIS C 5944 : 2005 光伝送用半導体レーザモジュール通則 IEC 62007-1:1999, Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system
applications - Part 1 : Essential ratings and characteristic
(I) ISの規定 (II) 国際 (III) 国際規格の規定 (V) ISと国際規格との技術的差異の理由
(IV) ISと国際規格との技術的差異
規格番号 の項目ごとの評価及びその内容 及び今後の対策
表示箇所 : 本文の左側
表示方法 : 傍線
項目 内容 項目 内容 項目ごと 技術的差異の内容
番号 番号 の評価
1999年以降、伝送用光能動部品のIEC
規格がTC47(半導体デバイス)から
TC86(光ファイバシステム)への体系
移行が行われた。これに伴い規格体系
がTC47の部品ごとの規格体系から
TC86の応用システムごとの規格体系へ
の再編が進められている。JISでは管轄
がTC47のときから部品ごとに分けて
順次、審議してきた経緯により、審議
済みの規格は、部品ごとの規格として
きている。なお、IECでは複数の部品
が一つの規格となっており、引き続き
審議検討予定である。いままでJISで審
議を行ってきた個々の部品を除き、今
後新規に検討を開始するJISについて
は、TC86の規格体系に合わせて整合を
図っていく予定である。
1.適用範 光伝送用半導体レーサ゛モシ゛ュー
IEC 1 光ファイバ増幅器用レ MOD/削 IECでは複数の光能動 削除した製品は別のJISとして制定済
囲 ルの用語、記号、分類、最62007-1 5.1 ーザモジュール以外の 除 部品に対する規定と み又は制定予定である。
大定格、性能などの一般的 10.1" 製品である、一般のレー なっているため、光伝
な共通事項について規定 ザモジュールやLED、 制定済み :
送用レーサ゛モシ゛ュール及び
している。 pin-FETモジュールなど JIS C 5940(光伝送用半導体レーザ)、
アナログ伝送用レーサ゛モ
光能動部品全般に広く JIS C 5942 (光伝送用半導体レーザモジ
シ゛ュール以外の製品を適
適用する記号、分類、最 用範囲から削除した。ュール)、JIS C 5950(光伝送用発光ダ
大定格、性能などの一般 イオード)、JIS C 5990(光伝送用フォ
的な共通事項としてま トダイオード)
――――― [JIS C 5944 pdf 21] ―――――
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C 5944 : 2005
とめてある。
5.1を光伝送用レーザモ 制定予定 :
ジュール 10.1項をア pin-FETモジュール・光変調器モジュー
ナログ伝送用レーザモ ル・デュプレクサモジュール・光ファ
ジュールに適用する項 イバ増幅器用レーザモジュール・LE
目と規定。 Dアレイ
2.引用規 JIS C 60068-2-1 IEC62007 2 レーサ゛安全規格を引用。
MOD/追 IEC規格では、レーザ JISでは本規格の補充を行っており、提
格 JIS C 60068-2-2 -1 加 安全規格について触 案を図る。
JIS C 60068-2-3 れているが、環境試験
JIS C 60068-2-11 規格や単位記号につ
JIS C 0025 いては触れていない。
JIS C 60068-2-17
JIS C 60068-2-38
JIS C 60068-2-6
JIS C 60068-2-32
JIS C 60068-2-7
JIS C 60068-2-20
JIS C 60068-2-21
JIS C 5947
JIS C 6802
JIS Z 8202
JIS Z 8203
3.用語の 絶対最大定格及び電気光 IEC62007 3 MOD/追
他のレーサ゛規格に無い用 追加項目 : スペクトルIEC規格への追加提案を図る。
定義 学的特性等の各項目にお -1 加
語のみを説明、一般的な 線幅,トラッキングエ
いて使用される用語を定 用語の定義については ラー(方法2)
義している。 別規格(IEC60747-5-1) また、各用語に説明を
となっている。 追加
4.個別仕 個別仕様書において規定 − − − MOD/追 個々のモージュール IEC規格への追加提案を図る。
様書 する内容を規定している。 加 の具体的な詳細は個
別仕様書で規定する
ように明記した。
5.単位記 本規格で用いる単位記号 − − − MOD/追 追加項目 : JISでは本規格の補充を行っており、提
号 に対する引用規格につい 加 図記号に関するJIS 案を図る。
て規定している。 (JIS Z 8202, JIS Z
8203) を記載
6.分類 使用するテ゛ハ゛イスの材料や
IEC62007 5.1 MOD/追
使用するテ゛ハ゛イスの材料 追加項目 : JISでは実情にあわせた内容の補充を
構造とハ゜ッケーシ゛構造及び適
-1 5.2 加
や構造とハ゜ッケーシ゛構造及 行っており、提案を図る。
波長帯,接合構造,スト
用光ファイハ゛などについて規 10.1 び適用光ファイバとに ライプ構造,光ファイ
――――― [JIS C 5944 pdf 22] ―――――
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定している。 10.2 ついて規定している。 バ,光出力構造,端子構
10.3 造,用途
7.最大定 最大定格として規定すべ IEC62007 5.4 JISに規定した温度、電MOD/追 追加項目 : 国内外で一般的に広く使用されてお
格 き項目と,保存温度、動作-1 10.5 加
源電圧、入射光強度等の ペルチェ電圧を項目 り、商習慣上必要。IECへ提案を図る。
温度の最大定格として用 /削除
他、振動、衝撃試験など に追加。温度などの試
いるべき数値を規定して の機械的耐久性に関し 験条件に関する数値
いる。 ても規定。 規定を追加。
削除項目 : 8.2項として独立させて記載した。
又、ESDについては一般的でない為削
衝撃及び振動,ESD(アナ
ロク゛LD) 除した。
8.性能 電気・光学的特性及び環境IEC62007 "5.4 5.4,10.5項で最大定格 MOD/追 追加項目 : 国内外で一般的に広く使用されてお
8.1電気 条件に対する性能につい -1 5.5 項目を規定。 加 特性項目として相対 り、商習慣上必要。IECへ提案を図る。
的及び光 て規定している。 5.6 5.5,10.6項で電気・光学
MOD/削 雑音強度(テ゛シ゛タル伝送
学的特性 10.5 的特性項目を規定。 除 用),トラッキンク゛エラー(方法
8.2環境 10.6 5.6,10.7項で代表的特 2)(テ゛シ゛タル,アナロク゛伝
および耐 10.7" 性として付加すべき特 送用),波長チャーフ゜(テ゛
久性に対 性項目を規定。 シ゛タル伝送用),スヘ゜クトル
する性能 線幅(アナロク゛伝送用)を
追加。
測定条件として使用
する電流値および周 一般的には使用されていない。IECへ
波数値の規定を追加。提案を図る。
環境および耐久性に
対する性能を追加。
削除項目 : ターンオン時間,
ターンオフ時間,PD立ち上
がり時間,S21特性を
削除。
9.外形 外形は個別仕様書で規定。 IEC 5.3 外形は個別仕様書によ IDT −
62007-1 10.4 ると規定。
IEC
62007-1
10.測定 測定方法としてJIS C 5945IEC Annex A 測定方法は該当する MOD/追 JIS C 5945は,対応す現在測定方法に関するIEC規格の改訂
を使用することを規定し 62007-1 IECに準拠すると規定 加 るIEC規格が複数の が検討されているところであり、IEC
ている。 している。 MOD/削 光能動部品に対する に提案を図る。
除 規定になっているた
め、光伝送用レーサ゛モシ゛ュ
ール及びアナログ伝送
――――― [JIS C 5944 pdf 23] ―――――
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C 5944 : 2005
用レーサ゛モシ゛ュール以外の
記載内容を削除した
ものである。
11.表示 表示する項目を規定。 − − − MOD/追 − JISでは本規格の補充を行っており、
加 IECに提案を図る。
12.取り − − − MOD/追 − JISでは本規格の補充を行っており、
扱い上の 加 IECに提案を図る。
注意事項
IEC62007 4 発光ダイオードの規定 MOD/削 IECでは各章がそれぞ 削除した製品は別のJISとして制定済
-1 除 れ別々の部品に対応 み又は制定予定である。
pin型受光素子の規定 しており、全体として
6 MOD/削 複数の光能動部品に 制定済み :
除 対する規定となって JIS C 5940(光伝送用半導体レーザ)、
APDの規定 JIS C 5942 (光伝送用半導体レーザモジ
いるため、光伝送用レー
7 MOD/削 ュール)、JIS C 5950(光伝送用発光ダ
サ゛モシ゛ュール及びアナロ
除 イオード)、JIS C 5990(光伝送用フォ
グ伝送用レーサ゛モシ゛ュール
Pin-FETの規定 以外の記載内容をら トダイオード)
8 MOD/削 削除した。
除 制定予定 :
pin-FETモジュール・光変調器モジュー
光ファイバ増幅用ラー ル・デュプレクサモジュール・光ファ
9 ザモジュールの規定 MOD/削 イバ増幅器用レーザモジュール・LE
除 Dアレイ
LEDアレイの規定
11 MOD/削
ディジタル伝送用光変 除
調器の規定
12 MOD/削
TOパッケージ入りレー 除
ザダイオードの規定
13 MOD/削
デュプレクサモジュー 除
ルの
14 MOD/削
除
――――― [JIS C 5944 pdf 24] ―――――
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C 5944 : 2005
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : MOD
備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は,次のとおりである。
― IDT·················· 技術的差異がない。
― MOD/削除········· 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
― MOD/追加········· 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
― MOD/変更········· 国際規格の規定内容を変更している。
2. JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次のとおりである。
― IDT·················· 国際規格と一致している。
― MOD··············· 国際規格を修正している。
― NEQ··············· 技術的内容及び構成において,国際規格と同等でない。
JIS C 5944:2005の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 62007-1:1999(MOD)
JIS C 5944:2005の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.01 : 光ファイバシステム一般
- 31 : エレクトロニクス > 31.260 : オプトエレクトロニクス.レーザー設備
JIS C 5944:2005の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0025:1988
- 環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法
- JISC5945:2005
- 光伝送用半導体レーザモジュール測定方法
- JISC60068-2-1:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
- JISC60068-2-11:1989
- 環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧試験方法
- JISC60068-2-17:2001
- 環境試験方法―電気・電子―封止(気密性)試験方法
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-20:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-20部:試験―試験T―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
- JISC60068-2-21:2009
- 環境試験方法―電気・電子―第2-21部:試験―試験U:端子強度試験方法
- JISC60068-2-27:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-27部:衝撃試験方法(試験記号:Ea)
- JISC60068-2-3:1987
- 環境試験方法(電気・電子)高温高湿(定常)試験方法
- JISC60068-2-32:1995
- 環境試験方法―電気・電子―自然落下試験方法
- JISC60068-2-38:2013
- 環境試験方法―電気・電子―第2-38部:温湿度組合せ(サイクル)試験方法(試験記号:Z/AD)
- JISC60068-2-6:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)
- JISC60068-2-7:1993
- 環境試験方法―電気・電子―加速度(定常)試験方法
- JISC6802:2014
- レーザ製品の安全基準
- JISZ8202-0:2000
- 量及び単位―第0部:一般原則
- JISZ8202-1:2000
- 量及び単位―第1部:空間及び時間
- JISZ8202-2:2000
- 量及び単位―第2部:周期現象及び関連現象
- JISZ8202-3:2000
- 量及び単位―第3部:力学
- JISZ8202-4:2000
- 量及び単位―第4部:熱
- JISZ8202-5:2000
- 量及び単位―第5部:電気及び磁気
- JISZ8202-6:2000
- 量及び単位―第6部:光及び関連する電磁放射
- JISZ8203:1964
- 単位記号
- JISZ8203:2000
- 国際単位系(SI)及びその使い方